第十五章 太赫兹在无损检测及航天器检测中的应用

第十五章太赫兹在无损检测及航天器检测中的应用

15.1 应用时域太赫兹探测航天飞机隔离层中的缺陷

太赫兹脉冲成像技术被应用于航天飞机隔离层泡沫材料中缺陷的探测。通过逐点扫描的方法得到各个点的时域波形。然后分析波形的变化来判断缺陷的大小，形状，位置和种类。太赫兹脉冲成像技术有微波成像系统的优点：

（1）对非金属的穿透能力强，其衰减系数比超声波小2-3个数量级；

（2）有极宽的频谱可供使用，可根据被测对象的特点选择不同的测试频率；

（3）除能检测体积型缺陷外，还能检测x射线难以检测的平面型缺陷，如裂纹、分层、脱粘等；

（4）非接触式检测，无需使用祸合剂，避免了祸合剂对特殊构件的污染和相互作用；

（5）检测效率高，易于实现实时监控；

（6）测量本身就是电信号，无需进行非电量的转换，从而简化了传感器与处理器的接口；

（7）在烟雾、粉尘、水汽、化学气氛以及高低温环境中对检测信号的传播影响极小。

2003年2月1日，刚刚完成16天航行的哥伦比亚号航天飞机即将返回地球，还有16分钟着陆的时候，在距离得克萨斯上空62公里的高空发生爆炸。机上7名宇航员全部遇难。5个月之后，虽然尚未对事故原因做出明确的定论，但是事故调查委员会相信哥伦比亚号的悲剧应该归因于外置燃料箱的泡沫隔离层的脱粘所致，如图 15-1所示。

图15-1 哥伦比亚号航天飞机失事原因

如上图所示，（a）为哥伦比亚号航天飞机，图中白色箭头所指之处就是泡沫脱粘的地方，（b）外置燃料箱的泡沫隔离层内部结构的示意图，（c）航天飞机机翼被泡沫所砸出的洞。在初步报告中，调查委员会认为：根据地面上的长焦距摄像显示，在航天飞机升空的过程当中有一块泡沫材料脱落并与机身发生了撞击。导致这种悲剧的原因可能是由于泡沫中存有缺陷，一块手提箱大小的泡沫绝缘材料在起飞过程中发生脱离，然后击中航天飞机的左翼并在隔热板上砸出一个洞来。当航天飞机重返大气层的时候，隔热板上的这个洞使3000摄氏度的高温气体进入了左翼，融化了它的金属支架，最终导致机毁人亡。在一次模拟试验中，美国宇航局的研究人员将泡沫隔离块射向航天飞机机翼, 泡沫隔离块在飞机机翼的隔热板上撞出一个16英寸大小的洞。这一实验有力地支持了上述假设。据称，这已经不是第一次发生泡沫隔离材料撞击航天飞机的事情了，类似的情况在以前的发射中至少发生过7次。因此，泡沫材料中缺陷的检查成为确保之后航天飞机安全发射的关键所在。

太赫兹波成像被美国宇航局选为未来探测发射中缺陷的四种技术之一。这四种技术包括：太赫兹成像，X光成像，超声波成像和激光剪切力成像。已经证明：泡沫塑料材料在太赫兹波段具有非常低的吸收率和折射率。因此，太赫兹波可以穿过几英寸厚的泡沫材料，并探测到深埋其中的缺陷。图 15-2和图 15-3分别给出了航天飞机使用的泡沫绝缘材料SOFI（Sprayed-On Foam Insulation）在太赫兹频段的吸收率和折射率曲线，以及对它进行检测的太赫兹成像装置。传统成像技术只能提供每个像素的强度信息，而太赫兹时域成像记录了每个像素点上太赫兹脉冲的整个

时域波形，从而提供了多维信息。举例来说，记录各个交界层反射的太赫兹脉冲后，利用太赫兹成像就能看到不同层中存在的缺陷。

图 15-2 SOFI对太赫兹波的吸收系数曲线和折射率曲线

图 15-3 太赫兹波成像装置和SOFI（Spray-on Foam Insulation）的照片

通过测量一系列预先存在缺陷的泡沫材料样品，可以来研究太赫兹成像技术在检测泡沫材料缺陷方面的应用。这些样品均是由航天飞机燃料箱的制造商洛克希德--马丁公司按照真实航天飞机泡沫隔离材料的规格制造的。图 15-3中的探测样品名为PAL Ramp Pannel SOFI。这块样品面积为2英尺乘2英尺，材料的厚度分布从2英寸到9英寸。另外，它还具有十分复杂的底板结构，包括三个纵桁和两个凸缘。样品由两层SOFI组成，中间被绝热材料隔开。其中预埋了两种燃料箱隔离层中可能出现的缺陷：空洞（空气泡）和脱胶（两层泡沫脱离或泡沫和底板脱离），大小从1/4英寸到2英寸。这些预埋缺陷最深可达9英寸，最浅只有1/4英寸，不

仅分布在铝制底板上，同时也散布在纵桁和凸缘的边缘地带或底端。将太赫兹脉冲从顶部和侧面入射，记录其反射波，并从57个缺陷中成功探测到49个。有3个缺陷受其所在位置限制，太赫兹脉冲无法照射到。

图 15-4 空洞缺陷处的反射脉冲波形（虚线）与正常点的波形（实线）

图 15-3中还显示了太赫兹成像系统，太赫兹波从样品顶部进行扫描。太赫兹脉冲的产生采用飞秒激光照射大孔径GaAs天线的方法，并通过4英寸焦距的抛物面镜聚焦在样品上。反射的太赫兹射线经由一个平面镜反射后，被另一个抛物面镜会聚并聚焦到探测晶体上。最终，利用电光晶体（<110>晶向的ZnTe晶体）通过电光取样的方式记录下太赫兹脉冲的时域波形。在太赫兹波扫描样品的过程中,如果太赫兹脉冲在某一位置经过了缺陷，则此处的反射脉冲波形与临近的正常点波形会有所不同。具体来说，如果通过的缺陷是空洞，那么这个脉冲所经过的光程比临近点要小，波形的变化具体体现在脉冲峰值的时间延迟和强度变化上。如果通过的缺陷是脱胶，则由于缺陷上下表面反射脉冲的相互叠加，波形的变化一般体现在波包的展宽（频率变化）等细微变化上。将每个像素点用一个波形特征值表示，样品中的缺陷就会在特征值的二位图中显现出来(见图 15-4)。概括而言，图像处理过程主要用到的太赫兹波特征信息有三种：峰值到达时间，峰值强度和形状变化。下文中将会分别讨论这三种信息的处理情况。

15.1.1将时间和强度的峰值信息处理

最直接的方法是将各波形最大值的强度和时间做成二维矩阵，用不同深浅的灰

度来代表强度大小，缺陷位置将会呈现与邻近位置反差较大的灰度。缺陷部位对太赫兹波的调制往往很小，直接的强度和时间矩阵不能提供足够的反衬度。交叉相关(cross correlation)的处理方法可以用来提高反衬度，更精确地定位缺陷位置。该算法的表述如下：

[]∑∑∑−−−−−×−=i i i

mY d i Y mX i X mY d i Y mX i X d r 22

))(())(())(())(()(, (15-1)

其中，X 和Y 分别是两组时域空间的波列（X 为参考波）；r 是X 和Y 的交叉相关波列；d 是X 和Y 波列之间的时间延迟，也是r 波列中的序列号；i 是序列号；mX 和mY 分别是X 和Y 数组的平均值。r 波列体现了Y 波列与X 波列之间的相关性。

但大多情况下，样品本身厚度不均或底板不平所造成的时间或强度的峰值变化会超过缺陷本身造成的变化。利用一个平均值过滤器过滤二维峰值矩阵，将得到的矩阵与初始矩阵相减，可以减掉低频噪声，体现出缺陷的位置。这种方法一般用来处理空洞缺陷。

15.1.2 对波形变化的处理

某些缺陷不能引起太赫兹脉冲峰值或峰值到达时间的明显变化（如小的脱胶），但在反射面处可能引起脉冲形状的变异。处理这种变异就能测得缺陷的位置。先将波形的时间和强度分别作归一化处理，使所有波形具有相同的峰值强度和时间。之后，在几个窗口中比较波形的各个特征部分（极大值、极小值等等）。这种方法对脱胶缺陷等差别较小的缺陷十分有效。另外，还能通过计算归一化后波形的系统偏差来寻找异常点。计算系统偏差的公式如下

2112)))((1(∑=−=n

i mX i X n s , (15-2)

也可将已知缺陷的波形设为标准波形，与所有波形进行比较或计算相关系数。这种方法也对脱胶缺陷十分有效。