EL测试标准培训资料
EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估精品课件(一)
EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估精品课件(一)随着现代科技的发展，电子元器件逐渐被广泛应用于各个领域。
然而，电子元器件的质量问题却时有发生，这不仅会影响机器的正常运行，还可能会产生较大的安全隐患。
因此，对于电子元器件的质量检测显得尤为重要。
当前，EL检测仪成为了电子元器件质量检测的主要工具之一。
本文将介绍EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估精品课件。
一、EL检测仪的使用方法1. 准备工作在使用EL检测仪之前，必须要做好准备工作。
首先，需要准备好电子元器件样本和EL检测仪。
其次，在操作之前应详细阅读EL检测仪的使用说明书，并熟悉仪器的使用方法。
最后，对检测环境进行专门安排，保持环境干净，安静，避免对实验的干扰。
2. 开始检测a. 将样品固定在检测台上，接通电源并启动仪器。
b. 在软件界面上选择对应的检测模式，并对检测参数进行设置。
c. 等待仪器自检完成后，可以开始进行检测。
d. 检测过程中，仪器会自动采集样品的光电流数据，并通过软件实时显示样品的发光图像。
e. 检测完成后，可以通过分析光电流数据来确定样品的质量状况，并对发光图像进行评估。
3. 注意事项在使用EL检测仪时，需要注意以下事项：a. 严格按照使用说明书要求进行操作。
b. 应根据实际需求选择适当的检测模式和参数。
c. 在检测过程中应保持安静，避免干扰检测结果。
d. 每次检测完毕后应及时清理仪器，以保证其正常使用。
二、组件隐裂图像评估精品课件组件隐裂图像评估精品课件是一种基于EL检测仪的解决方案，可以帮助用户更好地评估电子元器件的质量。
该课件主要包括以下内容：1. 课件简介介绍课件的目的和使用场景。
2. 检测流程详细介绍EL检测仪的使用流程，并附带相关图片和说明。
3. 组件隐裂检测标准介绍常见的组件隐裂检测标准，包括对检测参数的要求等。
4. 组件隐裂图像篇该篇主要针对检测过程中产生的图像，对图像分析过程进行详细叙述，并提供了评估图像质量的方法。
EL测试标准培训资料
断栅片
电池片过焊一般是在焊接工序产生的， 过焊会造成电池部分电流的收集障碍，该缺 陷发生在主栅线的旁边。成像特点是在EL图 像下，黑色阴影部分从主栅线边缘延副栅线 过焊片 方向整齐延伸。栅线外侧区域，一般为全黑 阴影。栅线之间一种是全黑阴影，一种是由 深至浅的过渡阴影。我们通过计算黑色区域 的面积来判定缺陷的级别。
明暗片是由于转换效率不同的电池片混 入同一个组件中，特别明亮的电池片是电流 较大的电池片，电流差异越大，亮度的差异 明暗片 就越明显。混档会导致高档次的电池片在组 件工作过程中不能彻底发挥其发电能力，从 而造成浪费。
四、常见缺陷不良介绍
缺陷种类 不良现象 不良图片
电池片沿着主栅线的一边全部为黑色 表明这一边的电子无法被主栅线收集，通 常是由于电池片背面印刷偏移导致铝背场 局部短路片 和背电极印无法接触从而形成了局部断路。 我们应该在层压前EL加强检验及时将这种 电池片挑出，防止流入后道工序。
向有关系。
2、电池片的隐裂会加速电池片功率衰减。 3、电池片的隐裂会影响组件的正常使用寿命。
4、电池片的隐裂会在机械载荷下扩大，有可能会导致开路性的破
损。 5、长度超过1mm的隐裂将不能承受2400PA的压力
黑芯片会对组件造成哪些影响呢？
1、黑芯片会造成热击穿。 2、黑芯片会影响功率测试的曲线台阶。 3、黑芯片会影响组件功率。 注：EL发现黑芯片必须 返工处理。（如图）
备注
该组件判为 OK 级
组 件 混 档 判 定
三、EL测试标准判定及定义
亮片判定标准及定义：
亮片的定义：沿主栅线附近或主栅线上出现局部发亮的电池片称为亮片。
判定标准 项目 组件系列 125/96片 该组件判为 NG 级 125/72片 无台阶 156/72片 156/60片 不允许 125/96片 125/72片 无台阶 156/72片 156/60片 亮片判定 I-V曲线 备注
EL测试岗位培训综述
其他(qítā)原因
8.组件扒皮返修过程中人员用力按压电池(diànchí)片也极易造成破
片。
9.层叠工序5S较差时异物吸附到组件内经过层压机层压 产生破片。 10.层压件堆放在托盘上超过规定数量或是运输过程中颠簸 均有可能导致电池片隐裂纹。
11.摔组件更是导致隐裂纹的罪魁祸首
精品文档
总结(zǒngjié)
精品文档
缺陷(quēxiàn)种类五：非短路黑片
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短路(duǎnlù)黑片、非短路(duǎnlù)黑片成因
电池片黑片有两种，全黑的我们(wǒ men)称之为短路黑片， 通常是由于焊接造成的短路或者混入了低效电池片造成的。 而边缘发亮的黑片我们(wǒ men)称之为非短路黑片，这种电池 片大多产生于单面扩散工艺或是湿法刻蚀工艺，单面扩散 放反导致在背面镀膜印刷，造成是PN结反，也就是我们通 常所说的N型片，这种电池片会造成IV测试曲线呈现台阶，整
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其他(qítā)原因
4.来料电池片本身存在“内伤”（晶体疏松），这些电池片在 经过单焊、串焊过程大部分都会破碎，但也有少量的隐裂 片仍保持原状，但是经过层压后就会变成破片。 5.层叠头部人员在铺绝缘条和背板时将汇流带翘起导致应力集 中在主栅线上，经过层压后产生破片。 6.层压机参数设定不合理，保压阶段压力过大导致电池 片隐裂纹或者破片。 7.分选作业人员或者焊接人员手势不合理或者用力(yòng 太 lì) 大都有可能造成电池片隐裂甚至破片。
黑斑片一般是由于硅料受到其他杂质(zázhì)污染所致。通常
少数载流子的寿命和污染杂质(zázhì)含量及位错密度有关。黑 斑中心区域位错密度>107 个/cm2，黑斑边缘区域位错密度 >106个/cm2 均为标准要求的1000～10000倍这是相当大的位 错密度。
EL测试标准
EL测试标准编号 EL特征特征图像描述判断标准1 电池短路电池正负极短路导致整片失效不允许2 电池串短路电池正负极短路导致整串失效不允许3 混档不同档位电池片混在同一片组件中（以电池片大部分颜色为基准）数量≤3片4 隐裂图像显示为淡淡的细栅，隐裂贯穿的栅线未断裂，隐裂两边的区域颜色是相同的单片隐裂≤1处，长度小于52mm；数量≤3片5 多线隐裂交叉多条隐裂相互交叉不允许6 隐裂导致失效孤岛/黑斑/缺角/缺边或一条以上裂纹穿过相同细栅导致局部失效单片失效面积≤单片电池面积的5%；数量≤1处7 显裂明显破裂，图像显示为较粗线条（肉眼可见）不允许8 虚焊焊接时互连条虚焊，虚焊部位有异样的黑色区域单片失效面积≤10%；数量≤5片9 断栅电池细栅线处有条带状暗黑色条纹单片失效面积≤单片电池面积的5%，数量≤5片10 部分不良失效电池片不良单片失效面积≤5%，数量≤3片11 不良失效电池片不良不允许12 过焊导致局部失效过焊时将细栅线刮掉，导致无电流收集不允许13 烧结缺陷背场烧结问题不允许14 材料污染硅片材料不纯或污染不允许15 黑心、黑斑电池片的中心处呈不规则圆形黑色不允许16 过刻电池片边缘有参差不齐缺口单片失效面积≤5%；数量≤3片17 穿孔电池片缺陷不允许18 网格片电池片在烧结过程中温度不当所致数量≤3片19 电池漏电边缘短路不允许20 圆弧形电池片不良不允许21 弯曲形电池片不良不允许注：以上所有电池片EL缺陷单块组件总数≤15片。
（EL）测试方法及其应用
电致发光（EL）检测方法及其应用Willurpimd, Jacky电致发光，又称场致发光，英文名为Electroluminescence，简称EL。
目前，电致发光成像技术已被很多太阳能电池和组件厂家使用，用于检测产品的潜在缺陷，控制产品质量。
一、EL测试原理EL的测试原理如图1所示【1】，晶体硅太阳电池外加正向偏置电压，电源向太阳电池注入大量非平衡载流子，电致发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断地复合发光，放出光子；再利用CCD相机捕捉到这些光子，通过计算机进行处理后显示出来，整个的测试过程是在暗室中进行。
本征硅的带隙约为1.12eV，这样我们可以算出晶体硅太阳电池的带间直接辐射复合的EL光谱的峰值应该大概在1150nm附近，所以，EL的光属于近红外光（NIR）。
图1 EL测试原理图EL图像的亮度正比于电池片的少子扩散长度与电流密度（见图2【2】），有缺陷的地方，少子扩散长度较低，所以显示出来的图像亮度较暗。
通过EL图像的分析可以有效地发现硅材料缺陷、印刷缺陷、烧结缺陷、工艺污染、裂纹等问题。
图2 EL强度决定于正向注入电流密度和少子扩散长度二、EL图像分析1.隐裂硅材料的脆度较大，因此在电池生产过程中，很容易产生裂片，裂片分两种，一种是显裂，另一种是隐裂。
前者是肉眼可直接观察到，但后者则不行。
后者在组件的制作过程中更容易产生碎片等问题，影响产能。
通过EL图就可以观测到，如图3所示，由于（100）面的单晶硅片的解理面是（111），因此，单晶电池的隐裂是一般沿着硅片的对角线方向的“X”状图形。
图3 单晶硅电池的隐裂EL图及区域放大图但是由于多晶硅片存在晶界影响，有时很难区分其与隐裂，见图4的红圈区域。
所以给有自动分选功能的EL测试仪带来困难。
图4 多晶片的EL图2.断栅印刷不良导致的正面银栅线断开，从图5的EL图中显示为黑线状。
这是因为栅线断掉后，从busbar上注入的电流在断栅附近的电流密度较小，致EL发光强度下降。
EL测试与电池片缺陷培训
推动电池片缺陷检测技术的创新 和发展
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加强电池片缺陷培训的针对性和 实用性
促进电池片缺陷培训与实际生产 相结合提高生产效率和产品质量
感谢观看
汇报人：
EL测试在电池片缺陷培训中的应用案例
案例二：利用EL测试结果 优化电池片生产工艺提高产 品质量
案例三：通过EL测试发现 电池片缺陷原因进行预防性
培训
案例一：通过EL测试发现 电池片缺陷进行针对性培训
案例四：EL测试在电池片 缺陷培训中的实际应用效果
分析
EL测试对电池片缺陷培训的未来展望
提高电池片缺陷检测的准确性和 效率
判断缺陷类型：EL测试可以判断 缺陷的类型如裂纹、气泡、杂质 等以便采取相应的处理措施。
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定位缺陷位置：EL测试可以准确 定位缺陷的位置便于进行修复或 更换。
评估缺陷影响：EL测试可以评估 缺陷对电池片性能的影响如降低 转换效率、缩短使用寿命等。
EL测试在缺陷分类中的作用
EL测试在缺陷检测标准制定中的作用
检测标准：EL测 试可以检测电池 片的缺陷如裂纹、 气泡等
制定标准：根据 EL测试的结果可 以制定电池片缺 陷的检测标准
标准应用：在生 产过程中可以根 据EL测试的标准 进行缺陷检测
标ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ更新：随着 技术的发展EL测 试的标准也需要 不断更新和完善
05
EL测试的操作流程 及注意事项
电性能测试：通过EL测试观察电池片内部是否有暗斑、黑点等缺陷
机械性能测试：通过拉伸、弯曲等测试观察电池片是否有破损、变形 等缺陷 环境测试：通过高温、低温、湿度等测试观察电池片是否有老化、 腐蚀等缺陷
EL(电致发光)测试仪培训
Conduction band
P hoton, E h ν
Valence band
图一.电子-空穴复合能带模型图
Addr.:Huangtang Industrial Zone, Jiangyin, Jiangsu, P.R China, P.C. 214407 Tel.:+86 510 86530222 Fax:+86 510 86530828
典型EL图片分析
Delighting The Future
特征：线痕片导致的黑线，从电池 片外观表现为条状的粗细不均和结点 在MicroView下可明显看到突起的线 痕。 原因：线痕处扩散，镀膜均较差且 此处复合大，所以导致线痕处发暗。
线痕黑片
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版权所有 未经许可 请勿传播
EL测试原理
Delighting The Future
电致发光的亮度正比于少子扩散长度，正比于电流密度，如图三所示。
Total Carrier Number
Excess Minority Carrier Density
N n p (0) Le
Edge of Depletion layer(x=0)
Delighting The Future
EL（电致发光）测试仪培训
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EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估 ppt课件
ppt课件
38
实例展示
标称功率衰减5.36% 的组件EL图像
ppt课件
39
EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估
ppt课件
1
EL检测仪的使用方法及组 件隐裂图像评估
• EL测试仪的原理 • EL测试仪的结构及使用方法 • EL测试仪的功能及应用场合 • 常见缺陷问题介绍,原因和危害 • 实例展示
ppt课件
2
一、EL测试仪的原理
原理描述:
EL测试仪是通过对电池片通入1-40mA的正向电流，利用 光生伏打效应的逆过程，给太阳电池通电使其发光即电致发 光，利用成像系统将信 号发送到计算机软件，经过处理后 将太阳电池的EL图像显示在屏幕上。太阳电池电致发光亮度 正比于电子扩散长度，正比于电流密度。通过EL图像的分析 可以有效地发 现光伏组件是否存在隐裂和破片等现象。
（1）成像系统：
（2）电源系统：
IPAD通过外置WiFi模 块连接相机拍照取样
电源模块有两种，一种是测试 单块组件的，一种是测试单个组 串的，每串组件最多25块。
ppt课件
7
EL测试仪的结构及使用方法
（3）支架系统：
（4）暗室系统：
支架用于固定相机，便于拍照 取样，全影仪可投射出十字光标 ，便于相机定位。
ppt课件
分布式断栅
22
集中式断栅
危害：造成断栅处电流收集障碍，影响组件的发电效率。
值得注意的是，如果电池片焊接中出现过焊现象，导致主栅线电流收集堵 塞也会显现上述情况。（下图）
ppt课件
23
缺陷种类五：混档
混档是由于转换效率不同的电池片混入同一个组件中，特别明亮 的电池片是电流较大的电池片，电流差异越大，亮度的差异就越明显。
EL测试介绍doc资料
E L测试介绍晶体硅太阳电池及组件EL测试介绍近年来随着光伏行业的迅猛发展，光伏组件质量控制环节中测试手段的不断增强，原来的外观和电性能测试已经远远不能满足行业的需求。
目前一种可以测试晶体硅太阳电池及组件潜在缺陷的方法为行业内广泛采用，即el测试。
el是英文electroluminescence的简称，译为电致发光或场致发光。
目前el测试技术已经被很多晶体硅太阳电池及组件生产厂家应用，用于晶体硅太阳电池及组件的成品检验或在线产品质量控制。
1.el测试的原理在太阳电池中，少子的扩散长度远远大于势垒宽度，因此电子和空穴通过势垒区时因复合而消失的几率很小，继续向扩散区扩散。
在正向偏置电压下，p-n结势垒区和扩散区注入了少数载流子，这些非平衡少数载流子不断与多数载流子复合而发光，这就是太阳电池电致发光的基本原理[1]。
发光成像有效地利用了太阳电池间带中激发电子载流子的辐射复合效应。
在太阳能电池两端加入正向偏压, 其发出的光子可以被灵敏的ccd 相机获得, 即得到太阳电池的辐射复合分布图像。
但是电致发光强度非常低, 而且波长在近红外区域，要求相机必须在900-1100nm 具有很高的灵敏度和非常小的噪声。
el测试的过程即晶体硅太阳电池外加正向偏置电压，直流电源向晶体硅太阳电池注入大量非平衡载流子，太阳电池依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断地复合发光，放出光子，也就是光伏效应的逆过程；再利用ccd相机捕捉到这些光子，通过计算机进行处理后以图像的形式显示出来，整个过程都在暗室中进行。
el测试的图像亮度与电池片的少子寿命（或少子扩散长度）和电流密度成正比，太阳电池中有缺陷的地方，少子扩散长度较低，从而显示出来的图像亮度较暗。
通过el测试图像的分析可以清晰的发现太阳电池及组件存在的隐性缺陷，这些缺陷包括硅材料缺陷、扩散缺陷、印刷缺陷、烧结缺陷以及组件封装过程中的裂纹等。
2.el测试常见缺陷及分析2.1破片组件中的破片多出现在组件封装过程的焊接和层压工序，在el测试图中表现为电池片中有黑块，因为电池片破裂后在电池片破裂部分没有电流注入，从而导致该部分在el测试中不发光。
EL测试作业指导书
版本
版次页码文件号编号名称数量
方式数量1
手套数个2
周转车数个目视检查100%3标签数个目视检查100%
编制： 审核： 受控状态： 抄送：
日期： 日期： 日期： 日期：
作 业 步 骤作 业 重 点7.当日工作结束后，记得关掉设备电源。
5.搭接引出线要注意区分正负极。
5.双击“solar EL”开启软件测试窗口，同时点击“启动相机”图表，开始进行测试图
6.对成像后无法判定的图像除了要保存留档外，还要及时通像。
知检验员进行判定。
6.根据图片判定是否符合品质要求。
2.抬半成品要轻拿轻放，防止撞击其它物件导致裂片。
2.双手将待测半成品放于EL测试仪内（要求位于玻璃台面正中间位置）3.半成品要在EL测试内平整放置，防止电池片整体移位。
3.将半成品引出线与测试仪的接口相连接
4.作业过程一定要正确有序开启设备按钮，需要整改测试数4.按下直流电源供电器“POWER”按钮，
本页所叙述的部分流程为：吸起串联电池串-翻转后检查电池串-放下串焊电池串-检查电池串反面-做标识所用的工装/工具
检查方法1.作业前五分钟进行卫生清扫。
1.按下气源按钮开启EL测试仪盖EL测试作业指导书
第1版适用范围：适用于在串联焊接后，串联电池片正反面外观检查
第0次修改工艺流程：吸起串联电池串-反转后检查电池串正反面-放下串焊电池串-检查电池串反面-做标识
第1页共1页。
EL检测标准
2/6
5
主栅线一 侧发黑
不允许
单晶
6
划痕
划痕长度小于等于 1/4 电池片边长
7
(若相邻两侧同 时有发黑现象,则以宽度较大的一侧为准)
多晶
8
主栅线一 侧发黑
不允许
6/6
电池片 EL 质量标准
9
细栅线断 开
断栅个数≤4 个
多晶
11
划痕
划痕长度小于等于 1/4 电池片边长
电池片 EL 质量标准
EL 测试检验标准 序号 检查项目 EL 照片图示 EL 检测标准
1
云雾状发 黑
以图片上的黑心程度为标准， 超过此标准的需 挑出；
2
倒角发黑
以图片上的黑角程度为标准超过此标准判定 为不合格黑角片， 且黑角深度小于对角线长度 的 1/8；
单晶
3
同心圆
不允许
4
细栅线断 开
断栅个数≤4 个
5/5
组件层压前EL测试作业标准书
3.1 依据《EL测试检验标准》判断是否合格，对测试不合格的产品进行确认，找到不良位置在产品流转单上做好
4.1 抬放组件时，必须双手操作，不得单手操作。 4.2 设置曝光时间≥5s，逐步提升电流至图像清晰即可,检测时间不少于10s； 4.3 必须将流程卡夹在引出线上，使旁边两根引出线露在上面，中间两根压在下面； 4.4 判定合格、不合格组件EL图像分别进行保存。 4.5 如设备出现异常立刻通知相关部门进行解决。 4.6 不合格返修后组件必须100%经过EL测试。
适用范围
晶体硅太阳能组件 层压前 EL 测试 2015.11.06
文件编号 版次
RS/JS-QI-Z01-001/01-2015
标准作业指导书
1 准备工作 1.1 确认待测试的组件是外观合格品； 1.2 确认待测试组件规格与流转单上的一致； 1.3 检查组件引线间距是否符合要求； 1.4 清洁工作台和所有操作工具，不得有灰尘、油污、锡渣等不洁物； 2 作业流程
图5
编制
校对
审核
批准
实施日期
图6
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
工序 本版更新
A/0[2015]
2.1 检查插线是否连接牢固，打开电源开关； 2.2 检查气管是否连接正常，打开电脑，并进入测试软件界面； 2.3 按下稳压电源开关按钮，调节电压、电流至规定范围；(电流设置范围为组件短路电流的1到1.5倍)，图1 2.4 鼠标双击电脑桌面上的测试仪软件图标打开该软件 图2 2.5 将待测试组件送入EL测试机， （如有探针未压到位或黑屏现象需流出后重新测试， ） 测试结束后对比标准文件， 点击“OK”或“NG”按钮。图3、图4 2.6 将合格的半成品通过流水线直接流入下道工序，不合格的半成品流入不合格待返修区。图5 2.7 在MES系统中输入相关班次信息，设置好保存路径，并将组件信息上传至系统。图6 3 自检互验 标识，不合格叠层件必须返回上道工序返修， 3.2 所有组件生产过程中必须进行100%的EL测试。 4 注意事项 图3 图4 图1 图2
EL测试培训资料
EL测试能测出哪几大不良？ 1、 2、 3、 4、 5、 6、 7、 8、 9、 隐裂 黑芯片 暗片 断栅 破片 低效片 污垢片 过刻 正负极接反等
隐裂会对组件造成哪些影响呢？
1 、 隐裂可能会导致热斑效应，特别注意单晶电 池片隐裂，单晶电池片隐裂会沿着晶界方向延伸， 延伸轻则造成热斑重则造成电池片一块失效区。 注：隐裂会不会导致热斑效应与电池片栅线 的分布、隐裂的方向有关系。 2、电池片的隐裂会加速电池片功率衰减。 3、电池片的隐裂会影响组件的正常使用寿命。 4 、电池片的隐裂会在机械载荷下扩大，有可能 会导致开路性的破损。 5、长度超过1mm的隐裂将不能承受2400PA的压 力 注：下页幻灯片为单多晶隐裂图片。
组件质量部
概括
一: El的目的及定义 二： EL主要能测出那几大不良 三：关于隐裂、黑心、断栅 等不良的分析
EL目的及定义
1、EL 目的：为了使组件产品质量满足质量要求
定 义 ： EL ： 电 致 发 光 （electroluminescent） ,是指电流通过物质时或物质处于强电场下 发光的现象。
如图：
低效片会对组件造成哪些影响呢？
1、直接影响组件的设计功率输出。
如图：
低效片在EL测试完的整张图 片当中比其它的电池片要亮 很多。
造成低效片的原因有以下几种：1、若低电流、电压、 FF可能是硅片和PN结的问题 2、也有可能是扩散的问题或原材料的问题如（铝浆）
过刻的危害
1、减小有效光电池面积直接影响短路电流。 2、增加电池材料的高频损伤、降低电池参数。 3、会造成一定程度的漏电。 如图：
谢谢大家！ 若有不足希望大家能够补充！
1、断栅会使电流效率降低。
2、断栅会影响光谱响应、降低转换效率。
EL测试相关培训
EL常见问题及导致原因的介绍·
3.隐裂、碎片 1）隐裂：指那些在组件中肉眼看不出，但通过EL测试图可以看见明显黑色线状裂纹痕迹的轻 微裂片。
2）碎片：指裂纹缺陷严重导致电池片碎裂的现象，通过EL测试图可以明显看出已经碎裂的电 池片。
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
EL常见问题及导致原因的介绍·
3) 主要导致原因：主要是在组件生产过程中组件电池片由于各种受力原因挤压碰
操作界面的介绍及操作要求
一.操作界面的介绍：操作界面包括启动相机（关闭相机），相机 切换及不同测试结果的分类 操作要求： 1.启动相机：在正常测试作业考试之前，首先将外部直流控制器打开， 然后确认图像存盘位臵后，点击启动相机；在组件不测试的情况下 点击关闭相机，减少相机的负载。 2.相机切换：在测试中发现组件成像左右颠倒时，勾选相机切换即可 准确成像。 3.测试结果分类：根据不同图像所呈现的不同问题，可对其进行分类， 便于后续调查及组件层压前后的跟踪对比。
EL各个组成部分的作用
1.相机控制系统：相机控制部分包括：滤光片，温度控制系统, 相 机镜头及照相机。该EL使用专业的CCD照相机拍摄测试中的太阳电 池组件。当太阳电池组件在测试时发出700-1100nm波长的光时， 使用滤光片来避免其他物体光线的影响，以便得到更加清晰的图 像。温度控制系统用来控制工作温度，以保持使用条件不超过一 定的温度。高清晰度的相机镜头可以拍摄更加清晰的图像。 测试电脑计算机系统：计算机系统起到控制缺陷检测仪的运行以 及交换数据的作用。计算机系统包括一个主机，液晶显示器及测 试软件。 控制功能包括：操作模式（启动测试，相机切换，显示测试结果及 分类）；校准模式（设臵测试参数和校准功能）。 外部直流控制器：通过调节加载电压值大小可对不同组件进行测 试：对加载电流值大小的调节可更改组件成像的清晰度进行调整。
EL血沉仪培训
ESR
优
点
缺
点
快速，操作简便，价廉。
受贫血、 RBC 体积等多因素 的影响，可作为筛选项目。 需确定参考值范围，价高， 批量检测回报周期长。
CRP
能快速反映出炎症状况 （该点与ESR互补）
血浆粘度
不受贫血、 RBC 体积影响。 价高，不普及，操作技术要 求高。
HUASIN SCIENCE CO.,LTD
FLOW OF PLASMA
G
RED CELL G PLASMA
红细胞电位变化
ZETA POTENTIAL
-
SIALIC ACID (monosaccarid)
-
-
-
- -
-
HUASIN SCIENCE CO.,LTD
缗钱状细胞形成对ESR的影响
RED CELLS
-
-
++ ++ --
HUASIN SCIENCE CO.,LTD
HUASIN SCIENCE CO.,LTD
ESR的临床意义
三、血沉减慢
意义较小，可因红细胞数量明显增多及 纤维蛋白原含量严重减低所致。见于各种原 因所致的脱水血浓缩、相对性及真红细胞增 多症和弥散性血管内凝血晚期。
综上所述，在排除某些生理性、药物因 素后，若血沉出现多次或持续增快提示有病 变存在，需作进一步检查。
WES 17 20 5 43 40 15 10 16 12 68 82 12 14 10 58 2 15 25 17 86 54 45 46 30 134 80 38 5 68 32
基于炎症反应的急 性时向反应蛋白:
第一组：升高50% u 铜蓝蛋白 u 补体C3、C4 第二组：升高2~4倍 u α1酸性糖蛋白 u α1抗胰蛋白酶 u α1抗糜蛋白酶 u 结合珠蛋白 u 纤维蛋白原 第三组：升高大于1000 倍 u C反应蛋白 u 血清淀粉样蛋白
正基光伏EL培训资料
三、EL检测的目的
• 1、通过EL检测，可以发现电池片或组件的材料缺 陷、做工缺陷 • ，这些缺陷会影响产品的可靠性，影响使用寿命 ，如果使用 • EL检测，能防止或杜绝不合格的产品流入客户， 导致客户投 • 诉、影响公司声誉。 • 2、通过EL检测，及时发现不良现象，然后对这些 不良现象进行 • 分析，再寻找适当的措施，降低甚至杜绝这些不 良现象的发生 • ，提高产品的可靠性，提高公司声誉，提高公司 效益。
四、断栅
电池片断栅是在丝网印刷 时造成的，由于浆料问题 或者网版问题导致印刷不 良。轻微的断栅对组件影 响不是很大，但是如果断 栅严重则会影响到单片电 池片的电流从而影响到整 个组件的电性能。
五、边缘过刻
六、隐裂
七、穿孔
八、边缘玷污电
9、主栅漏电、副栅漏电
10、明暗片
明暗片是由于转换效率不同 的电池片混入同一个组件中， 特别明亮的电池片是电流较 大的电池片，电流差异越大， 亮度的差异就越明显。混档 会导致高档次的电池片在组 件工作过程中不能彻底发挥 其发电能力，从而造成浪费。
• EL的测试原理:晶体硅太阳电池外加正向偏置电压 ，电源向太阳电池注入大量非平衡载流子，电致 发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断 地复合发光，放出光子；再利用CCD相机捕捉到 这些光子，通过计算机进行处理后显示出来，整 个的测试过程是在暗室中进行。 • EL图像的亮度正比于电池片的少子扩散长度与电 流密度，有缺陷的地方，少子扩散长度较低，所 以显示出来的图像亮度较暗。通过EL图像的分析 可以有效地发现硅材料缺陷、印刷缺陷、烧结缺 陷、工艺污染、裂纹等问题。
EL检测培训
2014/5月
请保持快乐、愉悦的心情 请敞开心扉，积极参与 这是共同探讨，不是上课 欢迎分享，您的经验和观点同样 重要
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无台阶 该组件判为 NG 级
156/60片
三、EL测试标准判定及定义
失效判定标准及定义：
电池片失效定义：因过焊、破片等原因造成电池片部分面积不能与组件形成回路， 则为失效。
判定标准 项目 级别判定
组件系列 125/96片
失效片面积
失效片数量
I-V曲线
备注
组 件 失 效 判 定
OK
125/72片 156/72片 156/60片 125/96片
2、EL测试定义：电致发光（electroluminescent ）,
指电流通过物质时或物质处于强电场下发光的现象。
二、EL测试流程及界面介绍
测试流程：
自动扫条码
压绝缘接 地测试
图一：打开测试软件
图二:贴铭牌+安装测试工装
图三：耐压绝缘接地测试 +自动扫条码
图六：卸除测试工装
图五：测试结果判定
图四：组件进入测试仪内拍照
隐裂片数量
单片≤3条且不得交叉，允 许隐裂片数N≤5 单片≤3条且不得交叉允许 隐裂片数N≤4
I-V曲线
备注
OK 组 件 隐 裂 判 定 NG
156/72片 156/60片 125/96片 125/72片 156/72片
无台阶 该组件判为 OK 级
单片＞3条或有交叉隐裂， 隐裂片数N＞5
单片＞3条或有交叉隐裂， 隐裂片数N＞4
组 件 亮 片 判 定
该组件判为 OK 级
三、EL测试标准判定及定义
虚焊判定标准及定义：
虚焊的定义：由于焊接过程中温度差异、员工操作手法差异等原因造成的脱焊或 空焊，此现象会造成EL测试后电池片主栅线边缘有发暗现象。
级别 项目 判定 组件系列 125/96片 125/72片 组 件 虚 焊 判 定 156/72片 OK 156/60片 不允许 不允许 无台阶 该组件判为 NG 级 虚焊片面积 判定标准 虚焊片数量 I-V曲线 备注
组 件 断 栅 判 定
该组件判为 OK 级
三、EL测试标准判定及定义
黑斑判定标准及定义：
黑斑片定义：由于硅料受到其他杂质污染，使得少数载流子的寿命及硅片产生位 错，造成电池片产生局部变黑。
判定标准 项目 级别判定 组件系列 125/96片 125/72片 OK 组 件 黑 斑 判 定 NG 156/72片 156/60片 125/96片 125/72片 156/72片 156/60片 不允许存在，电池片 局部发黑引起不能看 出纹理结构或发黑边 缘有亮斑的电池片。 无台阶 该组件判为 NG 级 允许因晶界纹理产生 的黑斑片电池。 无台阶 黑斑判定 I-V曲线 备注 该组件判为 OK 级
判定标准
项目 级别判定 组件系列 125/96片 OK 125/72片 156/72片 156/60片 125/96片 NG 125/72片 电池片断栅面积 电池片断栅片数 无台阶 ＞单片面积 15% ， 量＞总片数 1/3. 156/72片 156/60片 该组件判为 NG 级 允许电池片断栅 允许存在断栅片 面积≤单片面积 数量≤总片数 无台阶 15%. 1/3. 断栅片面积 断栅片数量 I-V曲线 备注
125/72片
156/72片 156/60片
四、常见缺陷不良介绍
缺陷种类 不良现象 不良图片
EL照片中黑心片是反映在通电情况下 电池片中心一圈呈现黑色区域，该部分没 有发出1150nm的红外光，故红外相片中反 黑心片 映出黑心，此类发光现象和硅衬底少数载 流子浓度有关。这种电池片中心部位的电 阻率偏高 多晶电池片黑团主要是由于硅片供应 商一再缩短晶体定向凝固时间，熔体潜热 黑团片 释放与热场温度梯度失配导致硅片内部位 错缺陷。
造成低效片的原因有以下几种： 1、若低电流、电压、FF可能是硅片和PN结的问题
2、也有可能是扩散的问题或原材料的问题如（铝浆）
短路会对组件造成哪些影响呢？
1、正负极接反的短路是无功率的 2、电池片串与串由异物造成的短路可能就是一片电池片无功率
3、并联之间异物造成的短路可能造成一串或二串电池片短路
如图：
六、EL测试仪日常点检事项
三、EL测试标准判定及定义
混档判定标准及定义：
混档的定义：由于不同转化效率的电池焊接在同一个组件中，特别明亮的是转化 效率比较高的电池片，转化效率相差越大，则混档越严重，混档后，电池片或电
池串整体明亮差异较大。
判定标准 项目 级别判定 组件系列 125/96片 OK 125/72片 156/72片 156/60片 125/96片 NG 125/72片 156/72片 156/60片 混档电池片数量N＞2或低 挡电池片混入高档位组件 无台阶 中。 该组件判 为 NG 级 允许高档电池混入低档位 无台阶 电池且数量N≤2片。 混档片数量 I-V曲线
三、EL测试仪日常点检项目： 3.1整机5S清洁：确认整个测试仪的5S是否做好（测试开始前）。
六、EL测试仪日常点检事项
3.2压缩空气：
a：检查气管接头是否有松 动，如有，通知维修人员及时 紧固。
b：检查起源处压力表指针
是否在0.4-0.8Mpa范围内，如 不在范围内或超出范围及时通
知设备人员进行维修。
黑斑片一般是由于硅料受到其他杂质 污染所致。通常少数载流子的寿命和污染 杂质含量及位错密度有关。黑斑中心区域 黑斑片 位错密度>107 个/cm2，黑斑边缘区域位错 密度>106个/cm2 均为标准要求的1000～ 10000倍这是相当大的位错密度。
四、常见缺陷不良介绍
缺陷种类 不良现象 不良图片
EL测试标准培训
组件品质部
概括
一、El测试目的及定义 二、测试流程及测试界面介绍 三、EL测试标准判定及定义 四：常见缺陷不良介绍 五：不合格品控制程序 六：EL测试仪日常点检事项 七：EL测试仪5S标准 八：操作安全注意事项。 九；测试员工作职责
一、EL测试目的及定义
1、EL测试目的：为了使组件产品质量满足质量要求
二、EL测试流程及界面介绍
界面介绍：
局部放大显示区
图像显示区
结果统计区
用户操作区
三、EL测试判定标准及定义
隐裂判定标准及定义:
电池片隐裂定义：因电池片受到热应力或外力等使内部产生细裂纹。
项目
级别 判定
判定标准
组件系列
125/96片 125/72片
断栅片
电池片过焊一般是在焊接工序产生的， 过焊会造成电池部分电流的收集障碍，该缺 陷发生在主栅线的旁边。成像特点是在EL图 像下，黑色阴影部分从主栅线边缘延副栅线 过焊片 方向整齐延伸。栅线外侧区域，一般为全黑 阴影。栅线之间一种是全黑阴影，一种是由 深至浅的过渡阴影。我们通过计算黑色区域 的面积来判定缺陷的级别。
五、不合格品控制程序
不合格品控制流程图
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六、EL测试仪日常点检事项
一、EL测试仪点检目的：
确保EL测试仪使用过程中的正常运行。 二、设备点检流程：
上班前
查看交接记录， 了解设备运行 情况
执行设备点检
做好《设备日常 点检记录》有异 常及时上报设备 进行维修
六、EL测试仪日常点检事项
1.员工拆取边框时使用橡胶锤猛烈锤 组件拆框导致 击边框 的隐裂或破片 2. EL探针回弹不灵活造成的裂纹
交叉隐裂
员工作业时敲打电池片
隐裂会对组件造成哪些影响呢？
1、隐裂可能会导致热斑效应，特别注意单晶电池片隐裂，单晶电
池片隐裂会沿着晶界方向延伸，延伸轻则造成热斑重则造成电池
片一块失效区。 注：隐裂会不会导致热斑效应与电池片栅线的分布、隐裂的方
向有关系。
2、电池片的隐裂会加速电池片功率衰减。 3、电池片的隐裂会影响组件的正常使用寿命。
4、电池片的隐裂会在机械载荷下扩大，有可能会导致开路性的破
损。 5、长度超过1mm的隐裂将不能承受2400PA的压力
黑芯片会对组件造成哪些影响呢？
1、黑芯片会造成热击穿。 2、黑芯片会影响功率测试的曲线台阶。 3、黑芯片会影响组件功率。 注：EL发现黑芯片必须 返工处理。（如图）
允许单片失 允许存在失效片 无台阶 效面积≤5% 数量N≤3. 该组件判为 OK 级
NG
125/72片 156/72片 156/60片
单片失效面 失效片数量N＞3. 无台阶 积＞5%
该组件判为 NG 级
三、EL测试标准判定及定义
断栅判定标准及定义：
电池片断栅定义：电池片在丝网印刷时，由于浆料问题或者网版问题导致 印刷不良，造成细栅线与主栅线不能形成回路，则为断栅。
明暗片是由于转换效率不同的电池片混 入同一个组件中，特别明亮的电池片是电流 较大的电池片，电流差异越大，亮度的差异 明暗片 就越明显。混档会导致高档次的电池片在组 件工作过程中不能彻底发挥其发电能力，从 而造成浪费。
四、常见缺陷不良介绍
缺陷种类 不良现象 不良图片
电池片沿着主栅线的一边全部为黑色 表明这一边的电子无法被主栅线收集，通 常是由于电池片背面印刷偏移导致铝背场 局部短路片 和背电极印无法接触从而形成了局部断路。 我们应该在层压前EL加强检验及时将这种 电池片挑出，防止流入后道工序。
2、可能是硅片切割不均匀，在30um尺度可能出现断层现象.
破片会对组件造成哪些影响呢？
1、热应力、机械应力作用不均匀 2、损失功率 3、可导致主栅线断裂造成开路性破损。 如图：
低效片会对组件造成哪些影响呢？
1、直接影响组件的设计功率输出。 如图：
低效片在EL测试完的整张图
片当中比其它的电池片要亮 很多。
有关系。 2、电池片的隐裂会加速电池片功率衰减。
3、电池片的隐裂会影响组件的正常使用寿命。
4、电池片的隐裂会在机械载荷下扩大，有可能会导致开路性的破损。 5、长度超过1mm的隐裂将不能承受2400PA的压力