实验六 相位干涉仪测向技术

合集下载

相位干涉仪测向算法及其在TMS320C67上的实现

相位干涉仪测向算法及其在TMS320C67上的实现

相位干涉仪测向算法及其在TMS320C67上的实现相位干涉仪测向算法是一种基于光学干涉原理的方向测量方法。

它通过测量光信号在不同光路中的相位差,来确定信号源相对于干涉仪的方向。

TMS320C6711是德州仪器公司推出的一款数字信号处理器,它具有高性能、低功耗和灵活性等优点,非常适用于实现相位干涉仪测向算法。

本文将介绍相位干涉仪测向算法的原理及其在TMS320C6711上的实现。

1.光信号采集:相位干涉仪中的光信号通过光电探测器转换为电信号,并经过滤波和放大等处理,以便后续的数字处理。

2.相位测量:通过将光信号分为两路,分别经过两个迥尔回路,使得两路信号的相位差与待测信号的相位差呈线性关系。

然后使用相位测量电路来测量两路信号的相位差。

3.方向计算:根据已知的干涉仪结构参数和测量得到的相位差,通过一系列的运算和公式推导,计算出待测信号源相对于干涉仪的方向。

在TMS320C6711上实现相位干涉仪测向算法可以分为以下几个步骤:1.数据采集:通过模拟输入和ADC模块,将光信号转换为数字信号。

TMS320C6711的ADC模块具有高速采样率和高精度的特点,能够满足相位干涉仪的信号采集需求。

2.信号处理:使用TMS320C6711的数字信号处理器对采集到的信号进行预处理,包括滤波、放大、采样和校正等。

可以利用内置的FIR滤波器和运算单元,对信号进行实时处理和计算。

3.相位测量:可以使用TMS320C6711的计数器和定时器来测量两路信号的相位差。

通过配置计数器和定时器的计数范围和计数频率,将测量结果转换为相位差。

4.方向计算:根据已知的干涉仪结构参数和测量得到的相位差,使用TMS320C6711的数学运算库对方向计算公式进行数值计算。

并将计算结果进行校正和显示。

需要注意的是,在TMS320C6711上实现相位干涉仪测向算法需要对硬件和软件进行充分优化。

硬件上可以选择合适的模拟输入电路、ADC模块和计数器等,以满足高速和高精度的要求。

干涉仪测向技术研究

干涉仪测向技术研究

干涉仪测向技术研究I. 绪论A. 研究背景B. 研究意义C. 研究现状D. 研究内容和目的II. 干涉仪的基本原理A. 干涉仪的结构与原理B. 干涉条纹的形成C. 干涉仪测向的基本过程III. 干涉仪测向技术的研究现状A. 干涉仪测向算法B. 干涉仪测向误差及其补偿C. 干涉仪测向精度和可靠性评价IV. 干涉仪测向技术的应用与展望A. 干涉仪测向技术在机械加工中的应用B. 干涉仪测向技术在光学制造中的应用C. 干涉仪测向技术的发展趋势和展望V. 结论与展望A. 定量总结研究结果B. 阐述研究意义C. 展望未来的研究方向和挑战第一章节:绪论A. 研究背景干涉仪是一种精密仪器,主要利用光的干涉原理来测量物体的形状、光学质量等参数。

干涉仪测向技术在现代制造业中广泛应用,例如机械加工、光学制造等领域,已成为重要的检测手段之一。

因此,对干涉仪测向技术的研究具有重要的理论和实践意义。

B. 研究意义干涉仪测向技术具有高精度、高灵敏度、非接触式测量等特点,对于提高工件质量、提高加工精度、降低人工干预等都发挥着重要作用。

此外,干涉仪测向技术具有在线和快速测量的优势,在制造过程中及时发现问题,提高生产效率和降低生产成本。

因此,对于干涉仪测向技术的研究和应用,可以提高制造业的技术水平和竞争力,推动制造业的可持续发展。

C. 研究现状干涉仪测向技术的研究一直以来都是制造业中的热点问题。

目前,国内外已开展了大量的研究工作,并涌现出了许多重要的成果。

例如,基于干涉仪测向技术的六自由度测量系统、高精度等离子切割机床干涉测程装置、基于Michelson干涉仪的加工误差在线检测方法等等。

这些研究成果表明,干涉仪测向技术在制造业中具有广阔的应用前景和重要的研究价值。

D. 研究内容和目的本论文将围绕干涉仪测向技术展开研究,主要包括三个方面的内容。

第一,分析干涉仪测向技术的基本原理和特点,了解干涉条纹的形成过程、干涉仪的结构和测量原理等。

干涉仪测向原理

干涉仪测向原理

干涉仪测向原理
干涉仪的测向原理是基于干涉效应的原理而构建的。

干涉效应是指当两束光波相遇时,在其相遇的区域内形成明暗的交替条纹。

这是由光波的波动性所导致的。

干涉仪利用了两束光波的干涉效应,通过测量光波相位的变化来确定光源的方向。

具体而言,干涉仪中包括一个分光器和两个光路,每个光路中分别有一个半透明镜。

当两束光波经过分光器后,在透射镜和反射镜的作用下,光波被分为两束,分别沿着不同的光路传播。

当这两束光波再次相遇时,它们会发生干涉。

干涉的结果是,在光屏上形成一系列明暗相间的干涉条纹。

通过观察这些条纹的分布情况,可以得到光波到达光屏上各点的相位差。

干涉仪的测向原理就是利用这个相位差来确定光源的方向。

在干涉仪中,可以通过改变光路的长度或者调节反射镜的角度来改变光波的相位差。

通过观察干涉条纹的移动或者变化情况,可以推断出光源的方向。

总的来说,干涉仪的测向原理是基于干涉效应的,通过测量光波的相位差来确定光源的方向。

利用干涉条纹的移动或者变化情况,可以准确地测定目标光源的位置和方向。

相位干涉仪测向定位研究

相位干涉仪测向定位研究

3. 5 0. 046 0. 046 0. 049 0. 053 0. 060 0. 070 0. 091 0. 13
标准偏差 。
在推导式 (9) 的过程中已假定各误差源 是相互独立的 。一般说来 ,电磁波波长 (或频 率) 和基线长度都能加以精确测定 ,所以在式 (9) 中 ,主要的误差来源是右边的第一项 。而 引起σφ 的主要误差源是 :接收通道的相位不 一致性 、热噪声引起的随机相位抖动 ,以及数 字逻辑处理引入的相位噪声 (主要是量化噪 声) 等 。天线相位中心的移动既可造成基线
长度的变化 ,又可引起通道相位不一致 ,但一 般可以做到足够小 。其中热噪声引起的单通
道随 机 相 位 抖 动 的 标 准 偏 差 可 按 下 式 计
算[1 ]
σφ1 = 1 2 ( S N R)
(10)
© 1994-2010 China Academic Journal Electronic Publishing House. All rights reserved.
Keywords :Radiation source positioning ; Electronic reconnaissance ; + Phase interferometer ; + Direction finding and positioning
0 引言
众所周知 ,对辐射源进行测向定位的相 位干涉仪在军事和民用领域内都有着重要而 广泛 的 应 用[1 ,2 ] 。在 军 事 领 域 , 对 港 口 、机 场 、军舰和导弹发射场地等军事设施的雷达 、 通讯 、测控等无线电辐射源进行侦察定位 ,对
相位干涉仪的基本设计问题之一 , 就是 要解决高的测向灵敏度 (精度) 和有限的不模 糊视角之间的矛盾 。

相位干涉仪测向原理(一)

相位干涉仪测向原理(一)

相位干涉仪测向原理(一)相位干涉仪测向相位干涉仪测向是一种常用的测向方法,在无线电通信和雷达测量中广泛应用。

本文将从浅入深地解释相关原理。

什么是相位干涉仪相位干涉仪是一种精密测量光程差的仪器。

它利用干涉现象测量两束光线的相对相位差,从而测量出介质的折射率、厚度等参数。

相位干涉仪的核心原理相位干涉仪的核心原理是利用光波的相干性和光程差引起的光波干涉现象。

当两束相干的光线在一定角度下相遇,其光程差引起干涉,产生互相加强或抵消的现象。

通过测量干涉现象,可以间接测量光程差。

相位干涉仪测向的原理相位干涉仪测向是利用干涉现象,测量来自不同方向的电磁波在空间中传播的相对相位差。

一般采用两个相位干涉仪,同时测量两个天线接收的信号幅度的变化,从而分析信号来源的方向。

相位干涉仪测向的应用在无线电通信中,相位干涉仪可用于测定信号源的方向和距离。

在雷达测量中,相位干涉仪可用于精确定位和跟踪目标。

结论相位干涉仪测向是一种利用干涉现象测量不同方向电磁波相对相位差的精密测向方法。

它在无线电通信和雷达测量中有着广泛的应用,对提高通信和雷达的定位精度有着重要的作用。

相位干涉仪测向的优势相比于其他测向方法,相位干涉仪测向具有以下优势:1.精度高:相位干涉仪在测量光程差和相对相位差的方面具有很高的精度。

因此,在测定信号源的方向和距离时,其精度也会高于其他方法。

2.适用范围广:相位干涉仪测向可以测量不同频段和波段的信号。

3.抗干扰性强:由于相位干涉仪测向依赖于信号的相位差,对于一些干扰信号(如噪声等),由于其相位并不会随时间变化而发生明显的变化,因此不会对测向结果产生显著影响。

相位干涉仪测向的局限性相比于其他测向方法,相位干涉仪测向也存在一些局限性:1.成本高:相位干涉仪是一种精密的光学仪器,制造和维护成本相对较高。

2.对环境条件要求高:相位干涉仪测向需要比较稳定的环境条件,如温度、压强、湿度等要求较高,否则可能会对测向结果产生影响。

干涉仪测向原理、方法与应用

干涉仪测向原理、方法与应用

干涉仪测向原理、方法与应用
干涉仪测向,是一种用于测量振动方向特性的特殊仪器,其原理是通过观察两个或更多具有不同振动方向的振动源之间的振动互相移动的情况,以便确定测量的振动方向的特性。

它是针对特定的测量对象,来测量特定频率的振动方向,可以更准确的说明物体的动态变化情况。

干涉仪的测量方法主要是双源测向(DirectionalMethod),假设有两源的振动,两个振动源的信号应该有差异,比如一个在水平面上振动,另一个在垂直面上振动,双源测向应用两个振动源监测方向特性,以振动信号来检测。

首先把这两个源靠近在一起,然后使用双源测向仪器从两个振动源采集数据,最后计算两个振动源之间的相位差来测量振动方向特性,也可以画出测量振动的方向图。

干涉仪测向可以应用于多个行业,是一种重要的检测测量仪器。

在机械行业,干涉仪测向可以用于检测轴承、齿轮和螺旋轮等零件的转动情况,确定振动方向,进而帮助判断发动机或液压系统等机械系统振动方向特性;在航空航天及防空防御行业,它用于测量发动机振动特性,以确定发动机性能指标的方向变化;在固体冲击行业,干涉仪测向可以用于测量核爆炸、战地炮弹爆炸产生的空气压力波振动方向特性,其结果反映了爆炸着陆的实际效果;在音乐音响领域,双源测向测量扩声器在特定空间中的声音方向特性;还有在电力行业,干涉仪测向用于检测电力变压器线圈变压情况,确定变压器是否存在振动,从而确保电力系统的安全。

干涉仪测向是一种能够测量振动方向特性的特殊仪器,可以根据双源测向方法来进行测量,它的原理主要是通过观察两个振动源之间的振动情况来判断振动方向特性,有着广泛的应用范围,对各行各业多个行业有重要意义与价值。

干涉仪测向原理

干涉仪测向原理

干涉仪测向原理干涉仪是一种利用光的干涉现象来测量物体表面形貌或者测向的仪器。

其测向原理是基于光的干涉现象,通过测量光波的相位差来确定物体表面的形貌或者测向信息。

干涉仪可以分为自发光干涉仪和外发光干涉仪两种类型,它们在测向原理上有一些不同,但都是基于光的干涉现象来实现测向的。

自发光干涉仪是利用物体自身发出的光波进行干涉测向的一种仪器。

在自发光干涉仪中,光源发出的光波照射到物体表面后,被反射或者透射回来,与光源发出的光波发生干涉现象。

通过测量干涉条纹的位置和形状,可以推导出物体表面的形貌或者测向信息。

自发光干涉仪通常用于测量透明或反射率较高的物体的形貌或者测向信息。

外发光干涉仪是利用外部光源照射到物体表面进行干涉测向的一种仪器。

在外发光干涉仪中,外部光源发出的光波照射到物体表面后,与反射或透射回来的光波发生干涉现象。

通过测量干涉条纹的位置和形状,可以推导出物体表面的形貌或者测向信息。

外发光干涉仪通常用于测量不透明或反射率较低的物体的形貌或者测向信息。

干涉仪测向原理的核心是光的干涉现象。

光波是一种电磁波,具有波动性质。

当两束光波相遇时,它们会发生干涉现象,即互相叠加形成干涉条纹。

干涉条纹的位置和形状取决于光波的波长、相位差和入射角等因素。

通过测量干涉条纹的位置和形状,可以推导出光波的相位差,进而得到物体表面的形貌或者测向信息。

在实际应用中,干涉仪可以通过调节光路、使用干涉滤波器、改变光源的波长等方式来实现对不同物体的测向。

通过精密的光学设计和精准的数据处理,干涉仪可以实现对微小形貌或者微弱信号的高精度测量,具有广泛的应用前景。

总之,干涉仪是一种利用光的干涉现象来测量物体表面形貌或者测向的仪器,其测向原理是基于光的干涉现象,通过测量光波的相位差来确定物体表面的形貌或者测向信息。

干涉仪在科研、工业、医疗等领域具有重要的应用价值,对于实现精密测量和探测具有重要意义。

相位干涉仪测向原理

相位干涉仪测向原理

相位干涉仪测向原理概述相位干涉仪是一种用于测量光波到达方向的仪器。

它利用光的相位差引起的干涉现象来确定光波的入射方向。

相位干涉仪广泛应用于天文观测、地球物理勘探、无线通信、雷达测向等领域。

本文将详细解释相位干涉仪的基本原理,包括光波的干涉现象、干涉条纹的形成和解读、以及测向角度的计算方法。

光波的干涉现象干涉现象指的是两个或多个光波相互叠加形成的干涉图样。

当两个光波相遇时,它们会相互干涉并产生干涉效应。

光波的干涉效果可以通过干涉级数来描述。

在两个光波相遇的地方,它们的相位差会影响干涉图样的形成。

干涉条纹的形成当光波经过相位干涉仪的光路后,会形成一系列干涉条纹。

干涉条纹是由两个或多个光波相遇后形成的交替明暗的光纹。

条纹的明暗程度取决于光波的相位差。

当相位差为0或整数倍的2π时,光波处于相位相同的状态,并产生明亮的干涉条纹。

当相位差为奇数倍的π时,光波处于相位相反的状态,并产生暗淡的干涉条纹。

干涉条纹的解释干涉条纹的形成与光波的干涉效果有关。

在相位干涉仪中,光波经过分束器被分成两束,然后在干涉区域再次相遇。

在干涉区域,两束光波会产生干涉效应。

当两束光波的相位一致时,它们会增强彼此的干涉效应,形成明亮的干涉条纹。

当两束光波的相位相差π时,它们会相互抵消,形成暗淡的干涉条纹。

相位干涉仪的工作原理相位干涉仪通常由两个分束器和一个干涉区域构成。

光波首先通过第一个分束器,被分成两束光。

然后,这两束光波分别通过两条光路,并在干涉区域再次相遇。

在干涉区域,光波会产生干涉效应,并形成干涉条纹。

根据干涉条纹的特征,可以计算出光波的入射方向。

干涉条纹的计算方法干涉条纹的计算通常使用以下公式来计算:Δθ=2πd λ其中,Δθ是测向角度,d是干涉区域两条光路的光程差,λ是入射光波的波长。

测向角度的计算方法根据干涉条纹的计算方法,可以通过测量干涉区域两条光路的光程差和入射光波的波长,计算出测向角度。

实际测量中,通常使用一个移动装置来调整干涉区域两条光路的光程差。

基于相位干涉仪的同时信号测向技术

基于相位干涉仪的同时信号测向技术

基于相位干涉仪的同时信号测向技术刘东文;郭少华【摘要】针对传统的相位干涉仪无法进行同时信号测向的问题,提出了一种基于相位干涉仪的同时信号测向方法,在干涉仪测向中引入了数字信道化技术来解决同时信号分辨,同时采用多基线天线结构来提高测向精度.通过理论分析及仿真实验,验证了该方法可实现同时信号测向的能力.【期刊名称】《电子科技》【年(卷),期】2015(028)002【总页数】4页(P143-146)【关键词】相位干涉仪;数字信道化;同时信号;测向【作者】刘东文;郭少华【作者单位】西安电子科技大学电子工程学院,陕西西安710071;西安电子科技大学电子工程学院,陕西西安710071【正文语种】中文【中图分类】TN820.1+2相位干涉仪具有较高的测向精度以及较快的测向速度,在无源探测中得到了广泛应用。

传统的相位干涉仪测向只能对单个到达脉冲信号到达多个天线的相位差来进行雷达信号到达方向的估计,故存在对同时多信号无法分辨造成测向错误的缺陷。

针对这一缺点本文提出了一种具有同时信号测向能力的相位干涉仪测向方法,在干涉仪测向中引入了数字信道化技术来解决同时信号分辨,并采用多基线天线结构提高测向精度,天线间距的设计较为灵活,且算法简单、容易实现。

1 基于相位干涉仪同时信号测向原理式中,{dk}N-1k=1为各天线阵元至0阵元(第一个基线为0阵元)的距离,也称为基线长度[1]。

各基线接收到的信号分别进行数字化滤波,将滤波后接收通道0的输出信号分别与其它各通道滤波输出在同一信道内的信图1为N基线基于相位干涉仪的同时信号的测向系统示意图,当平面电磁波从θ方向入射到线阵时,各阵元接收到的信号为号进行相关运算,输出各阵元接收信号与0阵元接收信号的正交相位差,送至相位差测量与测向处理机。

当有同时多信号到达时,可对各阵元进行FFT变换,即对各阵元的输出信号进行频域处理,并进行门限检测,实现同时多信号频域分离,根据频率标记出每个信号所在信道,这就是频域信道化。

干涉仪测向原理

干涉仪测向原理

干涉仪测向原理干涉仪是一种非常重要的光学仪器,它主要用于测量光的干涉现象,具有很高的测量精度和测量范围。

干涉仪测向原理是指利用光的干涉现象来确定光源位置和光源运动方向的一种光学测量方法。

光的干涉现象是指两束或多束光线在相遇时互相干扰,使它们的干涉产生可见的干涉图样。

在干涉现象中,光的振动方向和相位差会发生变化,这些变化被应用在光学测量中进行测量。

干涉仪通过干涉现象来测量光源位置的方法被分为两类,分别是干涉平行搜索法和干涉角测量法。

干涉平行搜索法是通过比较两个反射镜之间的光程差来确定光源位置的。

一个反射镜做微小的平行移动,观察到干涉条纹产生的移动,根据干涉条纹移动的方向和幅度,可以计算出光源位置。

这种方法的优点是在一定范围内,可以测量到较小的光源位移,但需要在测量范围内进行一系列的平移操作。

干涉角测量法则是通过测量干涉条纹中的相对角度来确定光源位置的方法。

两束光线从不同方向入射到一个透明物体表面,通过反射、折射和干涉效应,产生干涉条纹。

通过测量干涉条纹相邻条纹之间的夹角,可以确定光源位置。

这种方法可用于非接触测量,并可以避免测量范围限制的问题。

但是,这种方法需要用到相对复杂的光路布置和提高测量精度的算法。

无论哪种测量方法都需要对光路进行设计和优化,以保证测量精度和可靠性。

由于光学参数的变化,比如光源位置、温度、压力等因素的变化,都会影响测量精度。

因此,干涉仪测向技术需要很高的技术和实验经验来进行优化和稳定性改进。

总的来说,干涉仪测向原理是光学测量的一种优秀方法,具有高精度和灵活性的特点,可以广泛应用于各种工程和实验研究领域。

最新-相位干涉仪测向算法及其在TMS320C672019上的实现 精品

最新-相位干涉仪测向算法及其在TMS320C672019上的实现 精品

相位干涉仪测向算法及其在TMS320C6711上的实现摘要对实施被动无源测向定位的主要工具之一的相位干涉仪进行了较为详细和系统的研究,给出了一维相位干涉仪的基本关系式,分析了五通道相位干涉仪测向定位算法及其性能指标?熏对解相位模糊问题进行了探讨。

最后,在高速浮点数字信号处理器3206711系统上实现了五通道相位干涉仪测向定位算法,达到了性能指标及实时实现。

关键词相位干涉仪测向定位相位模糊定位误差实时处理相位干涉仪测向技术广泛应用于天文、雷达、声纳等领域。

将干涉仪原理用于无线电测向始于上世纪五十年代和六十年代,随着数字信号处理器的出现,通过数字信号处理器来实现高精度实时测向成为可能。

本文在对一维和二维相位干涉仪进行研究的基础上给出了五通道相位干涉仪的基本关系式,分析了测向精度,并对解相位模糊问题和信道校正问题进行了探讨。

采用多基线五元圆形天线阵列为模型,由天线阵列接收到的信号求解出五元天线阵列的互相关信号,并由此提取测向所需的方位信息。

本文以五通道相位干涉仪硬件实现为目标,采用高速浮点数字信号处理芯片TMS320C6711进行测向处理。

范文先生网收集整理1相位干涉仪测向原理1.1一维相位干涉仪测向原理图1所示为一个最简单的一维双阵元干涉仪模型。

图中,间隔为dd称为基线的两根天线A1和A2所接收的远场辐射信号之φ=4πd/λcosθ1式1中,λ为接收电磁波的波长。

因此,只要测量出φ,就能算出辐射源的到达方向θθ=arccosφλ/4πd21.2测向误差的分析在实际系统中,两根天线A1和A2接收的信号为xit=stexp[-1jj2πλcosθ]+nit,i=1,23其中,ni代表对应阵元i接收的噪声,两阵元的噪声统计相互独立,且与信号统计独立。

两个阵元接收信号的互相关为r=E{x1tx2*t}=Psexpj4πλcosθ4式中,E代表数学期望运算,*代表复共轭运算,Ps代表信号功率,相关以后噪声得到抑制。

相位干涉仪测向原理

相位干涉仪测向原理

相位干涉仪测向原理相位干涉仪是一种常用于测量物体方向和位置的工具。

它基于光学原理和干涉现象,通过测量光波的相位差来推算出物体的方向和位置。

下面将详细介绍相位干涉仪的原理及其应用。

相位干涉仪的原理是利用干涉现象。

当光波通过两个不同路径到达一个相遇点时,二者处于不同的相位位置,如果它们处于相位差相等,则可产生干涉现象。

这时光波会互相干涉形成干涉条纹。

相位干涉仪利用这种干涉现象,可以精确地测量物体的位置和方向。

相位干涉仪主要由一个光源、两个反射镜和一个平台组成。

在测量中,物体被置于平台上,光源发射一束光线,经过反射镜反射后,会形成两条不同的光线,并在测量屏幕上相遇。

其中一条光线经过物体后,会发生不同的相位变化,造成干涉现象。

这时,观察干涉条纹的形态和位置,可以推算出物体的位置和方向。

具体的测量方法有两种,分别是相位差法和相位移法。

相位差法是指测量两条光线的相位差。

这种方法需要精确地测量光线的距离和反射镜的位置信息,可以得到非常精确的测量结果。

相位移法则是利用物体的运动或外界干扰的作用,引起干涉条纹的移动。

这种方法适用于快速测量物体位置的场合,但需要注意外界干扰的影响。

相位干涉仪广泛应用于科学研究和工业生产中。

在科学研究中,它被广泛应用于精确测量物体的位置和方向,例如精密测量仪器、天文望远镜等领域。

在工业生产中,相位干涉仪被广泛应用于检测零件表面的缺陷、质量控制和精密加工中。

它可以帮助工人快速准确地检测零件表面的缺陷,从而提高生产效率和质量。

综上所述,相位干涉仪是一种非常重要的测量工具,它利用干涉现象测量物体位置和方向,具有精度高、可靠性强等优点,应用范围广泛,在科学研究和工业生产中都有重要的位置。

基于机载平台的干涉仪测向技术

基于机载平台的干涉仪测向技术

实验与分析
04
选择开阔的室外场地,以确保无障碍物阻挡信号传播,同时避免多径效应和电磁干扰。
实验场景
使用高精度的干涉仪测向设备,包括发射机和接收机,确保设备性能稳定且精度高。
设备介绍
在实验场景中,将发射机放置在已知位置,调整其发射信号的方向;然后使用接收机在一定范围内扫描空间,记录接收到的信号强度和相位信息。
精度与稳定性
提高测向精度和稳定性是另一个关键技术问题。可以通过优化算法、改进硬件设计和加强校准等方法来实现。
数据传输与处理速度
在实时测向应用中,数据传输与处理速度至关重要。采用高速数据传输技术和高效的数据处理算法可以提高系统的响应速度和实时性。
系统集成与测试
在机载平台上集成干涉仪测向系统需要进行严格的测试和验证,以确保系统在各种环境和条件下能够稳定可靠地工作。这包括系统集成、测试方案设计、测试实施和结果分析等方面的工作。
平台稳定性
机载平台应具备良好的机动性,以便快速响应并到达指定区域进行测向任务。
平台机动性
根据干涉仪测向系统的规模和需求,合理选择机载平台的容量,包括载荷、体积和重量等参数。
平台容量
测向天线阵列:在机载平台上安装多个测向天线,组成阵列以实现多通道信号接收。
Байду номын сангаас
抗干扰能力
在复杂电磁环境下,提高系统的抗干扰能力是关键技术之一。可以采用信号处理算法、天线技术和电磁屏蔽等手段来降低干扰影响。
谢谢您的观看
THANKS
应用实例
在军事领域,基于机载平台的干涉仪测向技术可用于定位敌方通信和雷达设施,提高打击精度。在民用领域,可用于气象观测、地质勘查、森林防火等领域,提高相关工作的效率和准确性。
技术发展趋势

干涉仪测向技术研究

干涉仪测向技术研究


鉴 相 器 时 两 信 号 的 相 位 差 还 是 ‰ 。在 已 知 雷 达 信 号 频 率
,时 , 利用鉴相器测 出相位差 A后 就可测 出信号方位角 o B : 一aci[ e d rs ‰ / ,  ̄ n r () 2
维 ” 指 测 向天 线 为 “ 型 ” 阵 , 所 有 的测 向天 是 线 布 即
如 图 1单基线 干涉 仪由两个信 道组成 , , 两个 接收 天线
之间的距离 d, 辐射源 与天线 轴线 夹角 为 , 电磁 波 到达 则 两天线 的行程 差 z X R—d iO雷 达信号 的波 长为 , s , n 相应 两
a y e he d r c i n fn i g ( l z st i e to i d n DF) p i i l f p a e i t r e o e e .Re a d n mbi u t o vi n n e n r a ha e, h a e r s r p e o h s n e f r m t r nc g r i g ofa g iy s l ng a d a t n a a r y s p t e p p r p e —
TN9 1 7 中 图分 类 号
R e e r h o ie to nd ng Te hn l g fPh e I t r e o e e s a c n D r c i n Fi i c o o y o as n e f r m t r
LUO a x n LI Gua bi W ANG o g Xi n i U ng n Zh n ( e S c n t lr g ne r Th e o d Ari e y En i e i Uni e s t l ng vri y,Xia 7 0 2 ) n 1 0 5

相关干涉仪测向原理及实现

相关干涉仪测向原理及实现

相关干涉仪测向原理及实现引言干涉仪在科学研究领域有着广泛的应用,其中之一便是干涉测向技术。

相关干涉仪作为一种精确的测向工具,可以用于确定无线信号的方向和位置。

本文将介绍相关干涉仪的测向原理以及实现方式。

一、相关干涉仪的测向原理相关干涉仪的测向原理基于干涉现象,通过测量信号的相位差来确定信号源的方向。

其工作过程可以分为以下几个步骤:1. 信号接收:干涉仪通过天线接收到来自信号源的无线信号。

天线通常采用阵列天线结构,通过将多个天线组合在一起,可以提高信号接收的灵敏度和方向性。

2. 信号分配:接收到的信号被分配到多个通道上,每个通道连接一个接收器。

通常情况下,会使用相同类型和参数的接收器,并保证它们的性能相一致。

3. 快拍数据记录:接收到的信号在每个通道上以高速率进行采样。

这些数据称为快拍数据,包含信号的幅度和相位信息。

快拍数据记录的时间足够短,以保证在采样期间信号的相位关系保持不变。

4. 数据传输和处理:快拍数据通过高速数据总线传输到信号处理系统中。

数据传输通常采用并行方式,以保证高速率的数据传输。

在信号处理系统中,进行相关运算以计算信号的相位差。

5. 相位差计算:通过对快拍数据进行相关运算,可以确定信号的相位差。

相关运算是一种将两个信号进行相乘并累加的计算方法,可以提取出信号的相位信息。

6. 测向计算:通过相位差的计算结果,可以确定信号源的方向。

测向计算通常使用三角几何方法,结合接收阵列的几何参数,可以计算信号源的方位和仰角。

二、相关干涉仪的实现相关干涉仪的实现需要考虑多个方面的因素,包括硬件设计和软件开发。

下面分别介绍相关干涉仪的硬件和软件实现。

1. 硬件实现硬件实现包括天线设计、信号接收和数据传输等方面。

a. 天线设计:天线设计是相关干涉仪的重要组成部分。

天线应具有良好的方向性和信号接收特性。

常见的天线设计包括线性阵列天线和圆阵列天线。

b. 信号接收:信号接收器通常采用射频前端和模数转换器。

射频前端负责将接收到的信号放大和滤波,模数转换器将模拟信号转换为数字信号。

相位干涉仪测向原理

相位干涉仪测向原理

相位干涉仪测向原理相位干涉仪是一种常用的光学测量仪器,其原理基于干涉现象。

在干涉现象中,两束光线相遇时会产生干涉条纹,其条纹形态与光程差有关。

相位干涉仪利用这种干涉现象,通过测量光程差来确定光源的方向,从而实现测向。

相位干涉仪主要由两个部分组成:光路和检测系统。

光路通常包括两个光路,即参考光路和测试光路。

参考光路中的光线被分成两束,经过两个不同的路径后再次合并。

测试光路中的光线则经过被测物体后再与参考光路中的光线相遇。

两束光线的干涉会产生干涉条纹,其形态与光程差有关。

通过测量干涉条纹,可以得到两束光线的相位差,从而计算出光程差。

检测系统通常采用相位差检测器。

相位差检测器是一种可以测量两个信号相位差的仪器。

在相位干涉仪中,相位差检测器可以用来测量两束光线的相位差。

相位差检测器通常由两个探测器和一个相位计组成。

探测器接收两个光路中的光线,并将其转换为电信号。

相位计根据两个电信号的相位差计算出光程差。

相位干涉仪的测向原理基于光程差与方向的关系。

在相位干涉仪中,参考光路的光程是已知的,而测试光路的光程与被测物体的方向有关。

当被测物体的方向发生变化时,测试光路的光程也会发生变化。

通过测量光程差,可以得到被测物体的方向。

具体来说,当被测物体的方向发生变化时,测试光路的光程差也会发生变化。

这时,干涉条纹的位置也会发生变化。

通过测量干涉条纹的位置变化,可以计算出光程差的变化,从而得到被测物体的方向。

相位干涉仪的测向原理具有高精度、高灵敏度、高分辨率等优点。

相位干涉仪可以广泛应用于航空航天、机械制造、材料科学、生物医学等领域。

例如,在航空航天领域中,相位干涉仪可以用于测量航空器表面的形变和变形,从而评估航空器的机械性能和耐久性。

相位干涉仪是一种基于干涉现象的光学测量仪器,其测向原理基于光程差与方向的关系。

通过测量干涉条纹的位置变化,可以计算出光程差的变化,从而得到被测物体的方向。

相位干涉仪具有高精度、高灵敏度、高分辨率等优点,可以广泛应用于航空航天、机械制造、材料科学、生物医学等领域。

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

学 院 通信工程学院 专 业 信息对抗技术 指导教师 沈雷老师/孙闽红老师
学生姓名
邓斌
学 号
11073115
实验日期
2014.05.
实验六 相位干涉仪测向技术
一、实验目的
无线电测向和定位就是确定通信辐射源的来波方向和位置。

对通信信号的测向和定位是通信侦察对抗领域的一个重要且相对独立的技术领域。

干涉仪测向又称为相位法测向。

本实验主要目的为通过实验,了解并掌握通信测向中相位法测向的基本原理和方法。

二、实验原理
1、相位干涉仪测向原理
图 1
以单基线干涉仪测向为例,其电波到达相邻天线阵元形成的波程差如上图所示。

图中测向天线阵由两个阵元组成,假设辐射源与阵元相距很远,所以可认为辐射源发射到阵元1和2的信号平行。

假设阵元1和阵元2之间的间距为d ,来波方向与阵列法线方向的夹角为θ。

测向的实质是测量夹角θ。

阵元1和阵元2接收到的信号传播存在波程差,因而也存在相位差。

设阵元1接收信号为
20()()cos(2)r t s t E f t π==
则阵元2的接收信号为
102sin ()()cos(2)d r t s t E f t πθ
τπλ
=-=-
其中0/c f λ=为信号波长。

从上可以看出,信号传播距离差为θsin ⨯=∆d l ,则相位差为:
λθπϕ/sin 2⨯⨯=∆d
实际中d 、λ均已知,所以只要得到阵元1和2接收信号的相位差,便可以求出θ。

需要注意的是,为了避免相位模糊问题,常需要满足条件πϕ<∆,πλπϕ<⨯=∆/2max d ,即d 必须小于/2λ。

2、时域干涉仪测向方法
将12(),()r t r t 改写为复数形式得:
021()j f t r t Ee π= 0(2)2()j f t r t Ee πϕ-=
其中2sin /d ϕπθλ=。

对1()r t 取共轭得
02*1()j f t r t Ee π-=
将*1()r t 与2()r t 相乘得
*221()()j r t r t E e ϕ-=
对上式求相角,再乘以/2d λπ-可得
再对上式取反正弦,最后通过乘以0180/π转换为角度,可得到方向角的估计θ。

时域法测向的数学模型如下图所示:
图 2
3、频域干涉仪测向方法 对12(),()r t r t 分别作FFT 可得
10()()R E f f ωδ=-
20()()j R E f f e ϕωδ-=-
由相位谱计算公式
()
arctan
()
I Q R R ωϕω∠= 式中()I R ω与()I R ω分别为信号频谱的虚部与实部,可求出两阵元接收信号的相位差为
sin 2d
ϕλπθ=-
2121()()
arctan
arctan ()()
I I
Q Q R k R k R k R k ϕ=- 然后可采用前述相同的方法得到方向角的估计θ。

频域法测向的数学模型如下图所示:
E
cos(2E
图 3
三、Simulink 框图说明及参数设计:
A.模型框图:
图 4
其中Subsystem 如图 5
图 5
Subsystem1如图6
图6
B.参数设计
Bernoulli模块参数
图7
由于
2sin
d
πθ
ϕπ
λ
=<
得,2
d
λ
<
, 由
m
f
c
5
3
8
10
3
10
1
10
3

=


=
=
λ
,可取1
d m
=. 则:
Subsystem1 Gain的参数
2
/1.5
d
pi
π
λ
-=-
;同理Gain1,Gain4的参数为
1.5/
2
pi
d
λ
π
-=-
.
Gain3和Gain5的参数:180/pi
四、仿真数据处理,图表及得出相关结论
假设: 0160θ= ; 0245θ= .
①由图得时域测向结果 O =98.591θ , O
=99.442θ;
测向误差%03.06098.59601=-=O O O ε, %02.04599.44452=-=O
O
O ε;
②由图得频域测向结果O =04.601θ , O
=03.452θ;
测向误差%
07.060
60.04
-601==
O
O
O ε ,
%
07.045
45.03
-452==
O
O
O ε.。

相关文档
最新文档