一种基于光线光学的杂光分析模型_岑兆丰
合集下载
相关主题
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
和相应的发散角安排取样光线, 从而使每一取样光线所代表的 能量权重相同。 光线的传播是携带能量的,当对取样光线进行光路追迹 时, 光线通过不同的路径, 经过拥有不同透过率与反射率的光 学面后拥有不同大小的能量权重。 将光学面等分为 !"! 的网格 点, 每一网格点代表光学面的某一区域。记录下所有光线与各 光学面的交点及其能量权重, 由此可计算通过光学面各网格点 的能量。 一个网格点所接受的全部能量是所有通过该网格点的 正常光束和所有鬼光束的能量贡献的迭加。
图% 某透镜五次鬼像光线追迹示意图
要对每个面加上透射系数和反射系数; 描述系统外部参数一般 值的结构体用来存放系统总面数、 总波长数、 光阑位置、 主波长 号、 物距、 视场、 孔径等; 描述系统外部参数具体值的结构体用 来存放各波长值、 孔径数及各孔径值、 视场数及各视场值、 渐晕 情况等。 光学系统中的鬼像主要由透射界面的残余反射所形成, 鬼 像计算的难点就在于描述它的数学模型。 以往的杂散光分析软 件一般采用对系统展开的方法, 即当光线从第一面入射到第二 面, 再反射回第一面时, 后一个“ 第一面” 作为第三面来处理。 如 ( %) 果系统只有两个面, 计算一次反射鬼像就需要构造一个有三个 面的新的光学系统。 这样计算若干个鬼像就要首先构造若干个 鬼像系统, 对各鬼像分别进行计算。这种方法的弊端是显而易 见的: 首先, 当光学系统结构比较复杂, 面数较多时, 采用这种 方法将占用大量的时间和内存; 其次, 不能全局分析系统中不 同阶鬼像的总体影响。为了比较全面地描述光学系统的结构, 采用结构体类型来描述一个光学系统。 考虑到一束光入射于某光学表面,如果正常光路是透射,
文章编号 %""!.?##%.( !""# ) !#."%??."#
来自百度文库
! "#$%&’() *#+(,-./ 0#) 1’)23 4-/5’ !.2,36-6 726(+ #. 8(#$(’)-92, :%’-96
"(. ;52#0(./< =( ;5-%-./< 4- >-2#’#./< ;5& ?-5&2@ ;52./ ?-./A&2.@ % ( CD0D8 E8F G0H IJ KI=896 L5D1>02 M6ND9</86D0D1I6 , O38;1067 P61Q89N1DF, R06743I< #%""!*) ! ( S8N809>3 T86D89 IJ G0N89 U<N1I6 , T@-B, K106F067 +!%,"")
*./0(. 123(4536 72089:( : ;)0894 $ , %, &, /, 0, 1; ;)0894 2"234% ; :<. 5267!82 , 9:6*:8; 8))9 4=:*. ; *./0(. 123(4536 >94?. , >/:@A. , >23/4<. ; B;
$’" ()*, +"()*,
对光源发出的光进行合理高密度取样, 形成大量的取样光 线, 每一取样光线代表的能量相同, 光线在系统中继续传播, 在 每一光学表面按菲涅尔方程形成反射或折射部分, 其中各光学 面上的多次反射为鬼像形成的主要原因。 已知光线由第 ! 面( 折 射 率 为 ") 如图 ! 所示: #" ( $", %", & ") , 入 射 到 第 !’% 光 学 面 ( 折射率为 发出, 方向余弦为( !, ", #) , 则光线方程为: "&) $($" ’ %(%" ’ &(& " ! " #
+
+
&+ "!’$・)$ !+ ( " ( (+ ""’$・)+ + % ・ ". -. ’$ *-’ + " ( (+ "#’$・)+ & ( #+ " )
可求出经过 !,% 光学面折射光线方程为:
( #)
$($% ’ %(%% ’ &(& % + + + ! " #
机光路的模拟。
( -)
这里, 一个结点就代表入射于某表面的一条实际光线。其 中, $, %, & 表示 光 线 在 光 学 面 上 的 交 点 , /, 0, 1 表示光线的方向 余弦, 由此, 能唯一地确定一条光线。 ;"234% 表示光线所代表的 能量, 9:6":8 表示面号, 5267!82 表示反射次数,并对这条光线 加上左指针、 右指针和父指针, 以便容易地找出经反射后的下 一条光线、 经透射后的下一条光线、 该光线的前一条光线。 应当指出, 这棵二叉树所占用的内存是不会小的, 但为了 后续计算, 又必须保留各条光线的数据, 所以, 这棵树中每个结 点的数据都是尽可能精简的,只要能够确定该条光线就可以 了。作为一棵描述系统中所有有效光线( 束) 的树, 其中不仅有 鬼光束结点, 也有表示正常光路的结点。 为了正确地建构光学系统杂光分析的模型, 还必须要获得
基金项目: 国家自然科学基金委、 中国工程物理研究院联合基金资助项目( 批准号: %""*+"%+ ) 作者简介: 岑兆丰, 男, 硕士, 副教授, 从事光学设计及软件开发。
%?? !""#$!#
计算机工程与应用
对光学系统中的鬼像进行分析,首先要获得系统光学参 数。 目前程序中主要用到三种结构体: 描述一个面的结构体; 描 述系统外部参数一般值的结构体和描述系统外部参数具体值 的结构体。 对于一个面, 人们在计算时要了解该面的曲率半径、 介质厚度或空气间隔、 该面两边的介质及其折射率, 如果是非 球面还要知道各项非球面系数等, 另外还要知道以上各参数有 什么属性, 界面是否有偏心和倾斜, 考虑到鬼像计算的需要, 还
化后得来的( 设最大能量密度值为 * ) , 它直观地 描 述 系 统 中 元 件处能量分布情况。 在实践中发现, 改变光路中元件间隔、 改变元件参数、 稍 微倾斜对杂光贡献较大的关键元件等方法都可能避开或减少 鬼像的危害。光学元件的位置变动常常导致安装空间扩大, 并 可能改变光路总体布局, 增加系统造价, 因而在实际中并不可 取。 在光学系统设计和制造中, 预防鬼点危害的常用措施是: 在 不改变光路总体布局的前提下, 适当改变元件参数, 使鬼点偏 离脆弱光学元件, 同时修正因此而产生的像差。
光学面由方程( 表示: !) ( )( $, %, &) ’" !) ) 代 入 方 程 ( ) 可 求 出 光 线 与 光 学 面 交 点 ( 将方程( % ! #% $%,
+ + ! , 并 由 此 可 求 出 光 学 面 #% 处 单 位 法 线 矢 量 为 * ( %%, & %) )$ , )% ,
!
杂光计算理论基础
尽管光学系统光路中透射元件大都已镀增透膜, 但光束在
透射面间的多次反射仍然是产生杂光的主要原因。 将光学系统 中的任意透射表面看成反射面,将不完全反射面看成透射面, 整个系统就成为折反射系统, 这就是鬼像的来源。图 % 所示为 光线在某透镜内五次反射形成五阶鬼像的光线追迹示意图。 光线光学认为,人们可以将光源看成是由许多几何点组 成, 这就是发光点。 它们发出的光是像几何线一样的光线, 携带 着能量向外传播。 光线光学方法虽然只是一种对真实情况的近 似处理方法, 但在解决杂散光等实际光学技术问题时与实际情 况相符, 便于实现且也是足够精确的。
一种基于光线光学的杂光分析模型
岑兆丰 %
% !
何志平 %
李晓彤 %
朱启华 !
张清泉 !
( 浙江大学光学仪器国家重点实验室, 杭州 #%""!*)
-./012: 34516789:4;<$8=<$>6
( 中国工程物理研究院激光聚变研究中心, 绵阳 +!%,"" )
摘
要
光学系统的杂散光极易在系统内形成多个鬼像, 这不仅严重影响光束质量和传输特性, 并可能对系统光学元件
造成永久性损伤。 该文提出了一种基于光线追迹的分析光学系统杂光影响的有效方法, 建立适合各类光学系统杂散光及 鬼像分析的数理模型。编制了专门的杂散光分析软件, 通过计算机光路模拟, 对光学系统中的鬼 光 束 进 行 全 面 、 系统分 析, 可得出系统鬼像及关键元件处的能量密度, 从而在光学系统设计阶段排除鬼像的潜在危害。 关键词 鬼像 杂光 光线追迹 计算机光路模拟 文献标识码 @ 中图分类号 AB#,%
%
引言
最近十几年来, 随着航空摄影、 红外夜视、 特别是各种空间
发, 系统分析了光束在系统中的传输过程, 提出了鬼像分析的 光线光学方法。 根据实际条件通过追迹系统中的高密度取样光 线, 建立适合此类光学系统杂散光及鬼像分析的数理模型。编 制了专门的杂散光分析软件, 通过计算机光路模拟, 可得出系 统鬼像及关键元件处的能量密度, 为光路优化提供充足的参考 依据, 从而在光学系统设计阶段排除杂光的潜在危害。
依照上述规则, 通过追迹系统中所有取样光线, 实现计算
图!
实际光线追迹
系统准确的入射光束信息。 必须知道这种光学系统的典型运作 环境, 得知进入系统的光束的能量分布的数学表达式, 依据其 对光线进行合理的高密度取样。 笔者根据入射光束的能量分布 计算机工程与应用
#
杂光数据结构及计算模型
!""#$!# %CD
!B6’)29’: CD90F 2173D 786890D8= 16 I5D1>02 NFND8/ JI9/N 0 2ID IJ 73IND 1/078N, V31>3 6ID I62F N891I<N2F 16J2<86>8 D38 H80/ W<021DF 06= 59I5070D1I6 59I589D18N, H<D 02NI =0/078 I5D1>02 >I/5I686DN$X0N8= I6 D38 H0N1> 5916>1528 IJ 78I/8D91>02 I5D1>N, D38 D906N/1NN1I6 IJ H80/ 1N 0602F48= , 0 90F D90>167 /8D3I= IJ 73IND 0602FN1N 1N /86D1I68=, D38 /0D38/0D1>02 06= 53FN1>02 /I=82 JI9 0602FN1N IJ ND90F 2173D 06= 73IND 1/078N 1N N8D <5, D38 0602FN1N NIJDV098 1N 598N86D8=$A0Y86 0 N1/528 J0>121DF 0N 8Z0/528, D38N8 73IND 1/078N 06= D38 86897F =86N1DF IJ Y8F >I/5I686DN 098 7IDD86 >I998>D2F$[091I<N Y16=N IJ 59ID8>D1Q8 /80N<98N 0HI<D D38 >I/5I686D =0/078N 098 =1N><NN8= 06= 0NN8NN8=$A38 98N<2DN 098 16ND9<>D1Q8 DI D38 0>D<02 VI9Y$ C(3D#)+6: \3IND 1/078N, CD90F 2173D, S0F D90>167 , L5D1>02.50D3 N1/<20D1I6
, 由: )& ) ・ ・ ・ "()*,-"! )$ ’"" )% ’"# )&
! "()*, " ()*, ’" %+ "+! , + " " + + + + + +
+
则反射光束即为杂散光束; 反之如果正常光路是反射, 则透射
! % !
$ " #%
+
光束为杂散光束, 这些杂光继续在系统中传播, 从而形成各阶 鬼像。 于是, 一束光经过一个光学面将变为两束光。 这些杂光继 续在系统中传播, 从而形成系统的各阶鬼像。 据于以上分析, 认 为对于鬼像计算, 二叉树是一种合适的数据结构。笔者建立了 如下实际光线鬼像分析的二叉树结点类型:
光学系统、 热核聚变、 强激光武器等高功率系统的不断发展, 对 杂散光的研究提出了更高的要求。空间科学的发展, 需要在强 背景光存在的条件下探测微弱目标, 而高功率系统还要考虑光 学器件的光学损伤问题, 在这些光学系统设计制造时, 杂散光
#’ 。 更是成了问题的关键 &%,
任何实际光学系统中都存在杂散光。杂散光, 就是存在于 光学系统中的非预期光线, 它是光学系统中的有害光束。对于 大面积光源来说, 杂散光的存在将在接收面上产生一个亮的背 景, 引起对比度下降, 影响成像质量; 对于诸如一些高功率激光 系统这样的小面积高亮度光源,杂散光不仅将在接收面上, 而 且在系统中产生光能相对集中的微小区域, 即鬼点或鬼像。接 收面上的鬼像将对真正的成像信息造成危害, 引起接收器响应 失常, 无法识别目标, 而光学系统内部的鬼像由于其光能的集 中, 还会造成光学元件的永久性损伤 &%()’。 杂光的分析和抑制已成为光学工程中的关键技术之一, 并 严重影响着其它方面的发展。该文从光线光学的基本原理出