薄膜磁性测试系统(TMT)
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控制程序子界面
控制程序界面
退磁曲线自动分析界面
2
薄膜材料物性分析领跑者
技术原理
本测试系统以感应法为基础，将样品放置在稳定的磁场中，并使样品相对探测线圈做小幅度周 期振动，可得到与被测样品磁矩成正比的信号，再将信号用适当的电子技术放大、检波转换成易于 测量的电压信号，即可直接或通过数据处理得到材料的各项磁学参数。
作为薄膜材料物性分析领跑者，嘉仪通科技已建立完善的薄膜材料物性分析科学仪器产品线：
相变温度分析仪（PCA） 热膨胀系数分析仪（TEA） 光功率热分析仪（OPA） 热电参数测试系统（Namicro） 薄膜热电参数测试系统（MRS） 薄膜热导率测试系统（TCT） 薄膜热应力测试系统（TST） 薄膜变温电阻测试仪（TRT） 薄膜磁性测试系统（TMT） 霍尔效应测试系统（HET） ......
薄膜磁性测试系统（TMT）
Thin-Film Magnetic Test System
薄膜材料物性分析领跑者
嘉仪通科技
嘉仪通科技成立于 2009 年，总部位于武汉市东湖开发区未来科技城，拥有研发及办公面积 1100 多平方米，在北京、上海、成都建有办事处，并与当地科研院所合作建立了联合实验室。
嘉仪通科技是一家研发、生产和销售关于新材料、尤其是薄膜材料物性分析科学仪器的高新技 术企业，从而为客户新材料的研发及改进提供理论依据和实验平台。嘉仪通科技秉承技术创新、应 用为上的价值理念，遵循“穷理致用”的原则，踏踏实实、认认真真做好每一台科学仪器。嘉仪通科 技拥有一批海归研发团队，解决了纳米级薄膜材料物性分析的国际难题，并获得多项荣誉。
目前功能最强、软件自动化程度最高的国产磁性测试系统，已在国内多家高校和科研院所及磁 性材料生产企业中应用；
采用进口数字锁相放大器 SR810、高斯计采集磁矩和磁场数据，在国内率先采用振动头交流恒 流驱动技术，大大提高了仪器测量精度和稳定性；
软件功能全面，放置好样品后全部测量及控制参数（如锁相放大器的时间常数、相移、灵敏度， 扫描磁场的幅值与周期以及数据采样间隔等）均由微机控制，自动完成测量；
相对精度
优于 ± 1%，重复性优于 ± 1%
振动稳定性
预热 10 分钟，稳定性优于 0.01%
应用
应用材料 测量样品可为粉末、颗粒、薄膜、液体、块状等磁性材料
可测参数 检测各类物质内禀磁特性，如磁化强度 Ms(σs)、居里温度 Tc、矫顽力 Hc、剩磁 Mr 等； 可间接得出其他的有关技术磁参量，如：Bs、Br、(BH)max 和磁导率(包括初始磁导率)等； 可根据回线的特点而判断被测样品的磁属性； 能绘制磁滞回线、磁导率曲线、起始磁化曲线、退磁曲线、热磁曲线等。
部分使用客户
清华大学 中科院电工所 福建省特检院 北京科技大学 安徽工业大学 西华大学 Queen Mary of University London,UK
中科院金属所 中科院上海微系统所 华中科技大学 武汉理工大学 武汉工程大学 盐城工学院
1
薄膜材料物性分析领跑者
薄膜磁性测试系统（TMT）
产品优势
3
技术参数
温度范围
液氮温区到 500℃连续变化（用户可选购）
磁矩量程范围
10-3emu ~ 100emu，最高灵敏度优于 2.5 × 10-5emu
磁场可调范围
在 0~2.0T 可调，在低场条件下步进精度为 1Oe
锁相放大器灵敏度
从 2nV 到 1nV 共 27 档可调，时间常数从 10us 到 30s 共 14 档可选
可实时显示采来自百度文库到的数据与曲线，如：物质的磁滞回线、磁化曲线、退磁曲线、热磁曲线等。 测量结果可以保存为数据文件，也可保存和打印微机屏幕显示结果界面；
物质的各种磁特性参数诸如矫顽力、磁能积最大值、剩磁和磁化率等均可直接给出； 可原位测量磁性材料从液氮温区到 500℃温区的磁性能随温度的变化曲线（M-T）； 可测量磁性薄膜材料的磁电阻（AMR、GMR）曲线（R-H）及霍尔效应曲线（VH-H）。
控制程序界面
退磁曲线自动分析界面
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薄膜材料物性分析领跑者
技术原理
本测试系统以感应法为基础，将样品放置在稳定的磁场中，并使样品相对探测线圈做小幅度周 期振动，可得到与被测样品磁矩成正比的信号，再将信号用适当的电子技术放大、检波转换成易于 测量的电压信号，即可直接或通过数据处理得到材料的各项磁学参数。
作为薄膜材料物性分析领跑者，嘉仪通科技已建立完善的薄膜材料物性分析科学仪器产品线：
相变温度分析仪（PCA） 热膨胀系数分析仪（TEA） 光功率热分析仪（OPA） 热电参数测试系统（Namicro） 薄膜热电参数测试系统（MRS） 薄膜热导率测试系统（TCT） 薄膜热应力测试系统（TST） 薄膜变温电阻测试仪（TRT） 薄膜磁性测试系统（TMT） 霍尔效应测试系统（HET） ......
薄膜磁性测试系统（TMT）
Thin-Film Magnetic Test System
薄膜材料物性分析领跑者
嘉仪通科技
嘉仪通科技成立于 2009 年，总部位于武汉市东湖开发区未来科技城，拥有研发及办公面积 1100 多平方米，在北京、上海、成都建有办事处，并与当地科研院所合作建立了联合实验室。
嘉仪通科技是一家研发、生产和销售关于新材料、尤其是薄膜材料物性分析科学仪器的高新技 术企业，从而为客户新材料的研发及改进提供理论依据和实验平台。嘉仪通科技秉承技术创新、应 用为上的价值理念，遵循“穷理致用”的原则，踏踏实实、认认真真做好每一台科学仪器。嘉仪通科 技拥有一批海归研发团队，解决了纳米级薄膜材料物性分析的国际难题，并获得多项荣誉。
目前功能最强、软件自动化程度最高的国产磁性测试系统，已在国内多家高校和科研院所及磁 性材料生产企业中应用；
采用进口数字锁相放大器 SR810、高斯计采集磁矩和磁场数据，在国内率先采用振动头交流恒 流驱动技术，大大提高了仪器测量精度和稳定性；
软件功能全面，放置好样品后全部测量及控制参数（如锁相放大器的时间常数、相移、灵敏度， 扫描磁场的幅值与周期以及数据采样间隔等）均由微机控制，自动完成测量；
相对精度
优于 ± 1%，重复性优于 ± 1%
振动稳定性
预热 10 分钟，稳定性优于 0.01%
应用
应用材料 测量样品可为粉末、颗粒、薄膜、液体、块状等磁性材料
可测参数 检测各类物质内禀磁特性，如磁化强度 Ms(σs)、居里温度 Tc、矫顽力 Hc、剩磁 Mr 等； 可间接得出其他的有关技术磁参量，如：Bs、Br、(BH)max 和磁导率(包括初始磁导率)等； 可根据回线的特点而判断被测样品的磁属性； 能绘制磁滞回线、磁导率曲线、起始磁化曲线、退磁曲线、热磁曲线等。
部分使用客户
清华大学 中科院电工所 福建省特检院 北京科技大学 安徽工业大学 西华大学 Queen Mary of University London,UK
中科院金属所 中科院上海微系统所 华中科技大学 武汉理工大学 武汉工程大学 盐城工学院
1
薄膜材料物性分析领跑者
薄膜磁性测试系统（TMT）
产品优势
3
技术参数
温度范围
液氮温区到 500℃连续变化（用户可选购）
磁矩量程范围
10-3emu ~ 100emu，最高灵敏度优于 2.5 × 10-5emu
磁场可调范围
在 0~2.0T 可调，在低场条件下步进精度为 1Oe
锁相放大器灵敏度
从 2nV 到 1nV 共 27 档可调，时间常数从 10us 到 30s 共 14 档可选
可实时显示采来自百度文库到的数据与曲线，如：物质的磁滞回线、磁化曲线、退磁曲线、热磁曲线等。 测量结果可以保存为数据文件，也可保存和打印微机屏幕显示结果界面；
物质的各种磁特性参数诸如矫顽力、磁能积最大值、剩磁和磁化率等均可直接给出； 可原位测量磁性材料从液氮温区到 500℃温区的磁性能随温度的变化曲线（M-T）； 可测量磁性薄膜材料的磁电阻（AMR、GMR）曲线（R-H）及霍尔效应曲线（VH-H）。