像差检测-光学测量Word版

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光学像差实验报告总结(3篇)

光学像差实验报告总结(3篇)

第1篇一、实验目的本次实验旨在通过光学像差实验,加深对光学像差的理解,掌握光学像差的基本原理和分类,并学会使用光学仪器测量和评估光学系统的像差。

二、实验原理光学像差是光学系统中存在的缺陷,会导致成像质量下降。

根据像差与颜色是否有关、像差是轴上点产生的还是轴外点产生的,可以将像差分为多种类型,如球差、慧差、像散、场曲、畸变等。

三、实验仪器与材料1. 光学系统:包括透镜、反射镜、光阑、光束整形器等;2. 光源:激光器;3. 探测器:光电探测器;4. 仪器:成像系统、光束整形器、光路控制器等。

四、实验内容1. 实验一:测量球差(1)搭建实验光路,将光源、透镜、光阑、探测器等按顺序连接;(2)调整光路,使光线通过透镜后聚焦到探测器上;(3)改变物距,记录不同物距下探测器的信号强度;(4)分析信号强度与物距的关系,得出球差值。

2. 实验二:测量慧差(1)搭建实验光路,将光源、透镜、光阑、探测器等按顺序连接;(2)调整光路,使光线通过透镜后聚焦到探测器上;(3)改变光轴倾斜角度,记录不同倾斜角度下探测器的信号强度;(4)分析信号强度与倾斜角度的关系,得出慧差值。

3. 实验三:测量像散(1)搭建实验光路,将光源、透镜、光阑、探测器等按顺序连接;(2)调整光路,使光线通过透镜后聚焦到探测器上;(3)改变光轴倾斜角度,记录不同倾斜角度下探测器的信号强度;(4)分析信号强度与倾斜角度的关系,得出像散值。

4. 实验四:测量场曲(1)搭建实验光路,将光源、透镜、光阑、探测器等按顺序连接;(2)调整光路,使光线通过透镜后聚焦到探测器上;(3)改变物距,记录不同物距下探测器的信号强度;(4)分析信号强度与物距的关系,得出场曲值。

5. 实验五:测量畸变(1)搭建实验光路,将光源、透镜、光阑、探测器等按顺序连接;(2)调整光路,使光线通过透镜后聚焦到探测器上;(3)改变物距,记录不同物距下探测器的信号强度;(4)分析信号强度与物距的关系,得出畸变值。

光学像差的实验报告(3篇)

光学像差的实验报告(3篇)

第1篇一、实验目的1. 理解光学像差的产生原理及分类;2. 掌握光学像差实验的基本方法;3. 通过实验观察不同类型的光学像差,加深对光学像差理论的理解。

二、实验原理光学像差是指实际光学系统在成像过程中,由于光线传播路径的偏差,导致成像质量下降的现象。

根据像差是否与颜色有关,可以分为色像差和色差;根据像差产生的位置,可以分为轴上像差和轴外像差。

本实验主要研究球差、彗差、像散和场曲等基本像差。

球差是由于光线在通过透镜时,不同入射角度的光线在像平面上聚焦到不同的位置,导致成像质量下降;彗差是由于光线在通过透镜时,同一入射角度的光线在像平面上聚焦到不同的位置,导致成像质量下降;像散是由于光线在通过透镜时,同一入射角度的光线在像平面上聚焦到不同的位置,导致成像质量下降;场曲是由于光线在通过透镜时,不同高度的光线在像平面上聚焦到不同的位置,导致成像质量下降。

三、实验仪器与材料1. 实验仪器:光学像差实验装置、光源、光阑、成像屏、光具座等;2. 实验材料:不同焦距的透镜、不同形状的光阑、成像屏等。

四、实验步骤1. 准备实验装置,将光源、光阑、透镜、成像屏等按照实验要求放置在光具座上;2. 调整光具座,使光源发出的光线垂直照射到透镜上;3. 观察不同类型的光学像差现象,并记录实验数据;4. 分析实验数据,得出结论。

五、实验结果与分析1. 球差实验:观察不同焦距的透镜在成像过程中的球差现象,发现球差随着焦距的增加而增大;2. 彗差实验:观察不同形状的光阑在成像过程中的彗差现象,发现彗差随着光阑形状的变化而变化;3. 像散实验:观察不同高度的光线在成像过程中的像散现象,发现像散随着高度的增加而增大;4. 场曲实验:观察不同高度的光线在成像过程中的场曲现象,发现场曲随着高度的增加而增大。

六、实验结论1. 光学像差是实际光学系统在成像过程中普遍存在的一种现象,对成像质量有较大影响;2. 通过实验,掌握了光学像差实验的基本方法,加深了对光学像差理论的理解;3. 在光学系统设计过程中,应充分考虑像差的影响,采取相应的措施进行像差校正,以提高成像质量。

RLE-ME01-光学系统像差测量实验-实验讲义

RLE-ME01-光学系统像差测量实验-实验讲义

光学系统像差测量实验RLE-ME01实验讲义版本:2012 发布日期:2012年8月前言实际光学系统与理想光学系统成像的差异称为像差。

光学系统成像的差异是《工程光学》课程重要章节,也是教学的难点章节,针对此知识点的教学实验产品匮乏。

RealLight®开发的像差测量实验采用专门设计的像差镜头,像差现象清晰;涉及知识点紧贴像差理论的重点内容,是学生掌握像差理论的非常理想的教学实验系统。

目录1.光学系统像差的计算机模拟1.1.引言---------------------------------------------11.2.实验目的-----------------------------------------11.3.实验原理-----------------------------------------11.4.实验仪器-----------------------------------------41.5.实验步骤-----------------------------------------41.6.思考题-------------------------------------------52. 平行光管的调节使用及位置色差的测量2.1.引言---------------------------------------------62.2.实验目的-----------------------------------------62.3.实验原理-----------------------------------------62.4.实验仪器-----------------------------------------72.5.实验步骤-----------------------------------------82.6.实验数据处理-------------------------------------92.7.思考题-------------------------------------------93. 星点法观测光学系统单色像差3.1.引言---------------------------------------------103.2.实验目的-----------------------------------------103.3.实验原理-----------------------------------------103.4.实验仪器-----------------------------------------113.5.实验步骤----------------------------------------123.6.思考题------------------------------------------144. 阴影法测量光学系统像差与刀口仪原理4.1.引言--------------------------------------------154.2.实验目的----------------------------------------154.3.实验原理----------------------------------------154.4.实验仪器----------------------------------------164.5.实验步骤----------------------------------------164.6.思考题------------------------------------------175. 剪切干涉测量光学系统像差5.1.引言--------------------------------------------185.2.实验目的----------------------------------------185.3.实验原理----------------------------------------185.4.实验仪器----------------------------------------215.5.实验步骤----------------------------------------215.6.思考题------------------------------------------266. 参考文献实验1 光学系统像差的计算机模拟1.1引言如果成像系统是理想光学系统,则同一物点发出的所有光线通过系统以后, 应该聚焦在理想像面上的同一点,且高度同理想像高一致。

光学测试文档

光学测试文档

光学测试概述光学测试是一种用于评估光学设备性能的方法。

光学设备包括光学透镜、激光器、光纤等。

光学测试的目标是测量和分析光学设备的参数,以确保其工作在预期范围内,并进行性能优化和故障排除。

光学测试的重要性光学设备在很多应用中发挥着重要作用,如通信、医疗、工业等。

准确的光学测试可以确保光学设备的稳定性和性能。

如果光学设备性能不符合要求,可能会导致数据传输错误、图像质量下降或设备损坏。

因此,光学测试在光学设备制造、安装和维护过程中都是非常重要的。

光学测试的方法在进行光学测试之前,我们需要选择合适的测试方法。

光学测试的方法多种多样,下面介绍几种常用的光学测试方法。

1. 光束质量测试光束质量测试是评估激光光束质量的方法。

常用的光束质量测试方法包括M²测试和波前测试。

M²测试是一种用来量化和描述光束质量的指标,它可以评估光束的聚焦能力和传输能力。

波前测试可以测量光束的形状、相位和畸变,从而评估光束的质量。

2. 光学系统测试光学系统测试是对整个光学系统进行评估的方法。

光学系统测试包括对光学元件的定位精度、光路中的光强分布以及系统的传输效率进行测量。

光学系统测试的主要目的是检验光学系统是否达到设计要求,并找出可能存在的问题。

3. 光纤传输测试光纤传输测试是对光纤传输性能进行评估的方法。

光纤传输测试主要包括衰减测量、带宽测量和色散测量等。

衰减测量是测量光信号在光纤中的损耗程度,带宽测量是测量光纤传输信号的最大频带宽度,而色散测量是测量光信号在光纤中传播过程中的延时差。

光学测试的设备进行光学测试需要使用专门的光学测试设备。

常用的光学测试设备有以下几种。

1. 光源光源用于产生光信号,常见的光源包括激光器、白光源等。

激光器通常用于高精度的光学测试,而白光源则适用于某些需要宽光谱的测试。

2. 探测器探测器用于检测光信号的强度。

常用的探测器有光电二极管(PD)、光电倍增管(PMT)和光电探测器阵列等。

3. 测量仪器测量仪器用于测量和分析光学信号。

光学系统波前像差的测定 夏克-哈特曼光电测量法-最新国标

光学系统波前像差的测定 夏克-哈特曼光电测量法-最新国标

目次1 范围 (1)2 规范性引用文件 (1)3 术语和定义 (1)4 原理 (2)夏克-哈特曼光电测量法 (2)光学系统波前像差测量 (3)光学零件的面形偏差的测量 (4)5 测量条件 (6)测量环境 (6)样品 (6)6 设备及装置 (6)夏克-哈特曼波前像差测量仪 (6)辅助镜头 (7)7 测量步骤 (7)测量前准备 (7)选择波前复原方法 (7)对准 (8)测量与数据的判定 (8)8 测量数据处理 (8)9 精密度 (8)10 测量报告 (9)附录A(资料性)波前复原方法 (10)附录B(资料性)Zernike多项式序列 (13)光学系统波前像差的测定夏克-哈特曼光电测量法1 范围本文件描述了采用夏克-哈特曼光电测量法测量光学系统波前像差的原理、测量条件、设备及装置、测量步骤、测量数据处理、精密度和测量报告。

本文件适用于采用夏克-哈特曼光电测量法测量光学系统波前像差的测试,也适用于采用夏克-哈特曼光电测量法测量光学零件面形偏差的测试。

2 规范性引用文件本文件没有规范性引用文件。

3 术语和定义下列术语和定义适用于本文件。

波前wavefront又称波面。

光波传播时的等相位面。

[来源:GB/T 13962—2009,2.28,有修改]3.2波前像差wavefront aberration又称波像差。

通过光学系统后的实际波前相对于理想波前的偏差。

[来源:GB/T 13962—2009,5.2,有修改]3.3面形偏差surface form deviation被测光学表面相对于参考光学表面的偏差。

[来源:GB/T 2831—2009,3.1]3.4波前重构wavefront reconstruction通过子孔径的斜率计算得到入射波前的相位分布的过程。

3.5口径diameter仪器能够检测的光学零件或系统的通光孔径。

3.6自准直法autocollimation method使平行光管发出的平行光照射在试样上,再由试样反射回平行光管,根据焦点附近像的情况测定试样的倾斜等的方法。

像差检测_光学测量

像差检测_光学测量
条纹随参考波面(比较波面)不同条纹也不同。
条纹最小时,测量也有困难,因受条件不稳定,受环境影响大。
三、由离焦干涉, 求波面形状
由波差和几何象差的关系
(v不大时)
当研究主面处波面时
可见W2在 一定后与h2成正比即
若拍摄时口径D不等于 直径D0,则由拍摄的干涉园半径r际高度
D——入瞳直径
D0(d)——照片上干涉场直径
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r(h)——照片上干涉图半径
四、由干涉图计算球差的方法
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光学系统像差测量--打印

光学系统像差测量--打印

大学物理实验报告光学系统像差测量实验实验1光学系统像差的计算机模拟1・1引言如果成像系统是理想光学系统,则同一物点发出的所有光线通过系统以后, 应该聚焦在理想像面上的同一点,且高度同理想像高一致。

但实际光学系统成像不可能完全符合理想,物点光线通过光学系统后在像空间形成具有复杂儿何结构的像散光束,该像散光束的位置和结构通常用儿何像差来描述。

12实验目的掌握各种儿何象差产生的条件及其基本规律,观察各种象差现象的计算机模拟效果图。

13实验原理光学系统所成实际象与理想像的差异称为像差,只有在近轴区且以单色光所成像之像才是完善的(此时视场趋近于0,孔径趋近于0)。

但实际的光学系统均需对有一定大小的物体以一定的宽光束进行成像,故此时的像已不具备理想成像的条件及特性,即像并不完善。

可见,象差是山球面本身的特性所决定的,即使透镜的折射率非常均匀,球面加工的非常完美,像差仍会存在。

儿何像差主要有七种:球差、彗差、像散、场曲、畸变、位置色差及倍率色差。

前五种为单色像差,后二种为色差。

a.球差轴上点发出的同心光束经光学系统后,不再是同心光束,不同入射高度的光线交光轴于不同位置,相对近轴像点(理想像点)有不同程度的偏离,这种偏离称为轴向球差,简称球差(刃7)。

如图1-1所示。

透错图1-1轴上点球差b.慧差彗差是轴外像差之一,它体现的是轴外物点发出的宽光束经系统成像后的失对称情况,彗差既与孔径相关乂与视场相关。

若系统存在较大彗差,则将导致轴外像点成为彗星状的弥散斑,影响轴外像点的清晰程度。

如图1・2所示。

图1-2慧差C.像散像散用偏离光轴较大的物点发出的邻近主光线的细光束经光学系统后,其子午焦线与弧矢焦线间的轴向距离表示:式中,分别表示子午焦线至理想像面的距离及弧矢焦线?会得到不同形状的当系统存在像散时,不同的像面位置会得到不同形状的物点像。

若光学系统对直线成像,山于像散的存在其成像质量与直线的方向有关。

例如,若直线在子午面内其子午像是弥散的,而弧矢像是清晰的;若直线在弧矢面内,其弧矢像是弥散的而子午像是清晰的;若直线既不在子午面内也不在弧矢面内,则其子午像和弧矢像均不清晰,故而影响轴外像点的成像清晰度。

像差检测光学测量

像差检测光学测量

§5-3象差测量 概述光学系统成象质量的好坏,是最后评定此光学系统优劣的主要标准。

影响象质的因素有:① 设计水平:校正象差的完善程度② 加工水平:加工误差、装配误差、材料误差 ③ 杂光几何象差与光学设计密切联系 误差测量与物光联系密切§5-3-1 二次截面法(哈特曼法)测几何象差1900—1904年由德国哈特曼提出,利用几何光学概念,找出这些光线经光学系统后的空间位置。

一、 原理用区域光阑将不同孔径的光分开 1、 轴向象差 ① 球差区域光阑(哈特曼光阑)小孔直径')4001~1001(f =Φ②位置色差 2、 垂轴象差 ① 象散轴外球差曲线d b b b S sn sn sn sn 211+=d b b b S tn tn tsn tn 211+=② 场曲d b b b S s d s b b n n n n n n n n 21121+=→-=③ 慧差子午慧差C 1G 1=PA=RG 2=a 1 PB=PA+AB=a 1+ABdS R C PBt=2ds a a AB a d S R C AB a tt =++==+21121AB=-Kt=121a s d a a t -+ 121211)(a S d a a AB S a a ABd d a t t-+=+=+t t S da a a K 211'+-= 弧矢慧差一般不测量(只在大视场时测量)t s K K 31'=哈特曼法无法测畸变,因光轴无法确定,因而也不能测倍率色差。

二、 测量装置及注意事项 1、 装置:阿斯卡 光具座 2、 调整及注意事项① 平行光管小孔校正在物镜焦平面上,转臂在轴向位置② 根据物镜相对孔径选择区域光阑小孔直径,一般Φ=(1/100~1/400)f'小一些好,但太小衍射严重,光斑反而大。

③ 使被测物镜光轴和平行光管光轴重合(光束法线转动物镜法)④ 确定E 1位置,一般'51,'71f S d f n n =-=σ ⑤ 确定曝光时间⑥ 测轴外象差时,使斜光束对称中心线和米字孔光阑中心孔重合,为此要纵向移动物镜,保证每一视场哈特曼光阑中心孔通过的光束通过被测物镜入瞳,同时相应移动E 1和E 2(两者精确相等)。

RLEME01光学系统像差测量实验实验讲义

RLEME01光学系统像差测量实验实验讲义

适用标准文案光学系统像差丈量实验RLE-ME01实验讲义版本: 2012公布日期:2012年8月序言实质光学系统与理想光学系统成像的差异称为像差。

光学系统成像的差异是《工程光学》课程重要章节,也是教课的难点章节,针对此知识点的教课实验产品贫乏。

RealLight?开发的像差丈量实验采用特意设计的像差镜头,像差现象清楚;波及知识点紧贴像差理论的要点内容,是学生掌握像差理论的特别理想的教课实验系统。

目录1.光学系统像差的计算机模拟1.1.前言 ---------------------------------------------11.2.实验目的 -----------------------------------------11.3. 实验原理 -----------------------------------------11.4. 实验仪器 -----------------------------------------41.5. 实验步骤 -----------------------------------------41.6. 思虑题 -------------------------------------------52.平行光管的调理使用及地点色差的丈量2.1.前言 ---------------------------------------------62.2. 实验目的 -----------------------------------------62.3. 实验原理 -----------------------------------------62.4. 实验仪器 -----------------------------------------72.5. 实验步骤 -----------------------------------------82.6. 实验数据办理 -------------------------------------92.7. 思虑题 -------------------------------------------93.星点法观察光学系统单色像差3.1.前言 ---------------------------------------------103.2. 实验目的 -----------------------------------------103.3. 实验原理 -----------------------------------------103.4. 实验仪器 -----------------------------------------113.5. 实验步骤 ----------------------------------------123.6. 思虑题 ------------------------------------------144.暗影法丈量光学系统像差与刀口仪原理4.1. 前言 --------------------------------------------154.2. 实验目的 ----------------------------------------154.3. 实验原理 ----------------------------------------154.4. 实验仪器 ----------------------------------------164.5. 实验步骤 ----------------------------------------164.6. 思虑题 ------------------------------------------175.剪切干预丈量光学系统像差5.1. 前言 --------------------------------------------185.2. 实验目的 ----------------------------------------185.3. 实验原理 ----------------------------------------185.4. 实验仪器 ----------------------------------------215.5. 实验步骤 ----------------------------------------215.6. 思虑题 ------------------------------------------266.参照文件实验 1光学系统像差的计算机模拟前言假如成像系统是理想光学系统,则同一物点发出的所有光芒经过系统此后,应当聚焦在理想像面上的同一点,且高度同理想像高一致。

(word完整版)第六章 像差计算

(word完整版)第六章  像差计算

第六章像差计算6。

1 光学系统的像差这里将提供像差的数值计算。

掌握各种像差的基本概念.特别是初级像差。

以及各种表面和薄透镜的三级像差贡献。

光学计算通常要求6位有效数字的精度,这取决于光学系统的复杂程度、仪器精度和应用的领域。

三角函数应在小数点后面取6位数,这相当于0.2弧秒。

这样的精度基本上满足了绝大多数使用要求。

当然,结构尺寸较大的衍射极限光学系统要求的精度比这还要向些。

光学计算所花费的时间明显地取决于设计者的技巧和所使用的计算设备的先进程度.计算技术发展到今天,就是使用普通的个人计算机,光学计算所需的时间也已经很少了。

但要对一个复杂的系统进行优化设计,特别是全局优化设计时.还是要花费一定的时间的。

关于如何进行光学设计,一直有两种观点。

一种观点主张以像差理论为基础,根据对光学系统的质量要求,用像差表达式,特别是用三级像差表达式来求解光学系统的初始结构,然后计算光线并求出像差,对其结果进行分析。

如果不尽人意,那么就要在像差理论的指导下,利用校正像差的手段(弯曲半径,更换玻璃、改变光焦度分配等),进行像差平衡,直到获得满意的结果。

如果最后得不到满意的结果,那么就要重新利用像差理论求解初始结构,而后再重复上述的过程,直到取得满意的结果。

另一种观点是从现存的光学系统的结构中找寻适合于使用要求的结构,这可从专利或文献中查找,然后计算光线,分析像差,采用弯曲半径,增加或减少透镜个数等校正像差的手段,消除和平衡像差,直到获得满意的结果。

对于常规物镜,如Cooke三片,双高斯、匹兹瓦尔物镜等.常采用这种方法。

这种方法需要计算大量的光线(计算机发展到今天。

这已不成问题),同时需要光学设计者有较丰富的设计经历和经验.以便对设计结果进行评价。

通常我们可以把二者结合起来,以像差理论为指导,进行像差平衡。

特别是计算机发展到今天,光学计算已经不是干扰光学设计者的问题了.对于常规镜头,通常不再需要像以前那样从求解初始结构开始,而是根据技术指标和使用要求、从光学系统数据库或专利目录中找出合适的结构,然后进行计算和分析。

光学像差实验报告模板

光学像差实验报告模板

光学像差实验报告模板实验报告模板如下:实验名称:光学像差实验实验目的:通过光学像差实验研究光在透镜中的折射和成像规律,并通过调整光源和透镜的位置来观察和分析不同像差的产生原因。

实验原理:1. 光的折射定律:光从一种介质射入另一种介质中时,入射角、折射角和两种介质的折射率之间存在关系。

2. 几何光学成像定律:对于薄透镜成像来说,物距、像距和透镜焦距之间存在关系。

实验材料与装置:1. 凸透镜2. 凹透镜3. 光源(如白炽灯或激光器)4. 物体(如图钉或光栅)5. 物体架6. 屏幕7. 尺子或游标卡尺实验步骤:1. 将凸透镜固定在透镜架上,并将物体放在物体架上。

2. 调整物体和屏幕的位置,使得成像清晰。

3. 测量物体到透镜的距离为物距,屏幕到透镜的距离为像距。

4. 移动物体和屏幕的位置,使得物距和像距改变,观察成像的变化。

5. 重复步骤4,但使用凹透镜进行实验。

实验数据记录与处理:1. 在不同位置下,测量物距和像距的数值,并计算折射率。

2. 记录和观察成像的情况,分析不同物距和像距对成像的影响。

3. 比较凸透镜和凹透镜的成像情况,分析透镜类型对成像的影响。

实验结果与分析:1. 根据实验数据和观察结果,绘制物距与像距的图像,分析其变化趋势。

2. 分析不同物距和像距下的成像特点,包括倒立、放大缩小等。

3. 比较凸透镜和凹透镜的成像规律,分析透镜类型对成像的影响。

4. 讨论光学像差产生的原因,并探讨如何减小或消除光学像差。

实验结论:通过光学像差实验,我们得出以下结论:1. 光从一种介质射入另一种介质时会发生折射,折射规律与入射角、折射角和两种介质的折射率有关。

2. 凸透镜和凹透镜的成像规律有所不同,凸透镜会形成实像,凹透镜会形成虚像。

3. 物距和像距的改变会影响成像的特点,包括倒立、放大缩小等。

4. 光学像差是由透镜形状和光源位置等因素引起的,可以通过调整光源和透镜的位置来减小或消除光学像差。

实验改进与展望:1. 本实验主要研究了透镜的基本成像规律,未涉及更复杂的光学像差和光学仪器调节等内容,可以在以后的实验中进一步研究和探索。

光学测量原理及技术.doc

光学测量原理及技术.doc

光学测量原理及技术第一章、对准、调焦对准、调焦的定义、目的;1. 对准又称横向对准,是指一个对准目标与比较标志在垂直瞄准轴方向像的重合或置中。

目的瞄准目标(打靶);精确定位、测量某些物理量(长度、角度度量)。

2、调焦又称纵向对准,是指一个目标像与比较标志在瞄准轴方向的重合。

目的--使目标与基准标志位于垂直于瞄准轴方向的同一个面上,也就是使二者位于同一空间深度;--使物体(目标)成像清晰;--确定物面或其共轭像面的位置定焦。

人眼调焦的方法及其误差构成;清晰度法以目标和标志同样清晰为准则;消视差法眼睛在垂直视轴方向上左右摆动,以看不出目标和标志有相对横移为准则。

可将纵向调焦转变为横向对准。

清晰度法误差源几何焦深、物理焦深;消视差法误差源人眼对准误差;几何焦深人眼观察目标时,目标像不一定能准确落在视网膜上。

但只要目标上一点在视网膜上生成的弥散斑直径小于眼睛的分辨极限,人眼仍会把该弥散斑认为是一个点,即认为成像清晰。

由此所带来的调焦误差,称为几何焦深。

物理焦深光波因眼瞳发生衍射,即使假定为理想成像,视网膜上的像点也不再是一个几何点,而是一个艾里斑。

若物点沿轴向移动Δl后,眼瞳面上产生的波像差小于λ/K 常取K6,此时人眼仍分辨不出视网膜上的衍射图像有什么变化。

(清晰度)人眼调焦扩展不确定度(消视差法)人眼调焦扩展不确定度人眼摆动距离为b,所选对准扩展不确定度为δe,对准误差、调焦误差的表示方法;对准人眼、望远系统用张角表示;显微系统用物方垂轴偏离量表示;调焦人眼、望远系统用视度表示;显微系统用目标与标志轴向间距表示常用的对准方式;光学系统在对准、调焦中的作用;望远系统对准扩展不确定度调焦显微系统对准调焦借助光学系统提高对准和调焦对准度提高对准精度、调焦精度的途径;书上没有补充消视差法特点将纵向调焦转变为横向对准;可通过选择误差小的对准方式来提高调焦精确度;不受焦深影响第二章自准仪基本部件光具座的主要构造;平行光管(准直仪)带回转工作台的自准直望远镜(前置镜)透镜夹持器带目镜测微器的测量显微镜底座什么是平行光管;平行光管又称自准直仪,它的作用是提供无限远的目标或给出一束平行光。

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§5-3象差测量 概述光学系统成象质量的好坏,是最后评定此光学系统优劣的主要标准。

影响象质的因素有:① 设计水平:校正象差的完善程度② 加工水平:加工误差、装配误差、材料误差 ③ 杂光几何象差与光学设计密切联系 误差测量与物光联系密切§5-3-1 二次截面法(哈特曼法)测几何象差1900—1904年由德国哈特曼提出,利用几何光学概念,找出这些光线经光学系统后的空间位置。

一、 原理用区域光阑将不同孔径的光分开 1、 轴向象差 ① 球差区域光阑(哈特曼光阑)小孔直径')4001~1001(f =Φ②位置色差 2、 垂轴象差 ① 象散轴外球差曲线d b b b S sn sn sn sn 211+=d b b b S tn tn tsn tn 211+=② 场曲d b b b S s d s b b n n n n n n n n 21121+=→-=③ 慧差子午慧差 C 1G 1=PA=RG 2=a 1 PB=PA+AB=a 1+ABdS R C PBt=2ds a a AB a d S R C AB a tt =++==+21121AB=-Kt=121a s d a a t -+ 121211)(a S da a AB S a a ABd d a t t-+=+=+ t t S da a a K 211'+-= 弧矢慧差一般不测量(只在大视场时测量)t s K K 31'=哈特曼法无法测畸变,因光轴无法确定,因而也不能测倍率色差。

二、 测量装置及注意事项 1、 装置:阿斯卡 光具座 2、 调整及注意事项① 平行光管小孔校正在物镜焦平面上,转臂在轴向位置② 根据物镜相对孔径选择区域光阑小孔直径,一般Φ=(1/100~1/400)f'小一些好,但太小衍射严重,光斑反而大。

③ 使被测物镜光轴和平行光管光轴重合(光束法线转动物镜法)④ 确定E 1位置,一般'51,'71f S d f n n =-=σ ⑤ 确定曝光时间⑥ 测轴外象差时,使斜光束对称中心线和米字孔光阑中心孔重合,为此要纵向移动物镜,保证每一视场哈特曼光阑中心孔通过的光束通过被测物镜入瞳,同时相应移动E 1和E 2(两者精确相等)。

三、 测量误差分析b bn bn σσσ==21 且d σ在同一视场下对不同的bn1和b n2来说的误差是相同的,故可不考虑,所以nsn 1∝σ表明↓↓sn h ς 边缘精度高,近轴精度低四、 优缺点 优点① 测量原理简单测多种几何象差 ② 精度较高(比如球差可达'00007.0f ±)③ 可直接测象差曲线和设计曲线比较 ④ 测量装置通用性好 缺点① 近轴压不是直接测量 ② 测量工作量大③ 不能测畸变,倍率色差 §5-3-2 阴影法侧几何象差 一、 原理22221122211222211)1()(bn n n bn n n n n d n n n sn b b b b h b d d b b b σσσσ++⎥⎦⎤⎢⎣⎡+++±=nn n h f b b d 2'21=+22122211)()('n n n n n n b sn b b b b b b zhn f +++±=σσ21212211≈+≈+n n n n n n b b b b b b b sn hnf σσ2'71.0±≈① 焦后:阴影与刀口移动方向相反 ② 焦后:阴影移动方向与刀口相同 ③ 焦点:同时变暗二、 刀口仪技术数据 六个小孔:比较小的三个08.0,06.0,03.0=φ,用大孔调整,小孔测量三、 测几何象差 1、 球差2、 位置色差3、 象散最大光锥1/2移动量15mm ,格值0.01。

四、 刀口仪的应用1、 大口径反射镜(凹)表面质量4、 慧差三、优缺点优点:①设备简单,多种检测②适宜和于大口径零件、系统③灵敏度高1/20λ④非接触测量⑤适于工序检验缺点①大多数已能定性,不定量②凸表面无法测量③要有经验§5-3-3 干涉法测波差及几何象差一、概述用波差评介光学系统的成象质量,不但简单明了,而且是转面不变量,与光学系统的焦距,相对孔径,位率等无关,各种光学系统,均可用同一指标评价。

观察仪器要求波象差小于1/4λ,高精度仪器要求波差小入1/10λ。

二、测量装置泰曼干涉仪(棱镜透镜干涉仪)条纹随参考波面(比较波面)不同条纹也不同。

条纹最小时,测量也有困难,因受条件不稳定,受环境影响大。

三、 由离焦干涉, 求波面形状由波差和几何象差的关系v v s n w ∆=∆'sin '2δ )'(sin 212v s n w ∆≈∆δ (v 不大时) ⎰===v v s v s v s w 02222sin 21'sin 21'sin 21δδδRhv ='sin当研究主面处波面时''sin f h v =222'21f h s w δ=∴可见W 2在'sf δ一定后与h 2成正比即22'/21f s w δ= 22kh h = 2'21f s tg kδα==若拍摄时口径D 不等于w λ 直径D 0,则由拍摄的干涉园半径r 求实际高度r D Dh 0=D ——入瞳直径 D 0(d )——照片上干涉场直径 r(h)——照片上干涉图半径四、 由干涉图计算球差的方法)sin '21(sin 2sin 2''222v LA w vw v w LAa L ∆=∆∆∆=∆∆== δ 222'sin f h v ∆=∆2122--=∆i i h h h22'2'f hw LA ∆∆=)1(''212--=i i h h f LA λ's s LA -=)1('212--=i i h h f s λ§4-3 剪切干涉法测波象差一、 概述1、 干涉条件:频率相同、位相差恒定,振动方向相同2、 产生干涉的方法1) 波前分割法l d b c =≠=βββλ,0,光源尺寸受限制,干涉条纹亮度小。

1) 振幅分割法,β可参为零,如平板玻璃干涉,光源可为扩展光源,干涉条纹亮度大。

所以实用的干涉测量装置均采用振幅分割法。

3、 一般干涉装置均需一标准波面,即参考反射镜、被测件尺寸大小,参考反射镜尺寸也大,干涉仪结构庞大。

4、 剪切干涉仪于20世纪40年代提出,用波面错位产生干涉条纹,可不用参考波面,分为二、 横向剪切干涉测量原理1、 横向剪切的产生1) 平面波2) 球面波2、 光源尺寸采用振幅分割法,由于剪切,0≠β,故光源尺寸受限制λλββλs f b sl b l s b d s s s ')(,,=====平面波时球面波 3、 波面形状与干涉条纹原始波面W (x,y )剪切波面W(x-s,y)有初级球差、慧差、象散的波面数字表达示W (x,y)=A(x 2+y 2)2+By(X 2+y 2)+c(x 2+3y 2)1) 球差(初级)W (x,y)=A(x 2+y 2)2 λN s x y x A s xw w y s x =⋅+=⋅∂∂=∆-)(422),( x 的三次曲线 3) 初级慧差W (x,y)=By(x 2+y 2) λx y s x N s Bxy s x w w =⋅=⋅∂∂=∆-2),( 以x,y 轴为渐进线 λy s y x N s y x B s yw w =+=⋅∂∂=∆-)3(22),( 的双曲线3)初级象散 W (x,y)=c(x 2+3y 2) λx y s x N s cx s x w w =⋅=⋅∂∂=∆-2),( λy s y x N s cy s yw w =⋅=⋅∂∂=∆-6),( 4) 平行引起的波差(焦点向x,y 方向离焦)λλy s y x xx x N Ey w N Ex w ==∆==∆-),(,5) 移斜引起的波差λλy y x x N Fy w N Fx w ==∆==∆6) 离焦引起的波差三、 由剪切干涉圆求原始波面1、 一维剪切干圆的图解分析法1) 原理)0()()()()()(,1w w w s x w w w S s s x x x -=∆=-=∆-点 =∆=)2(,22s w s x 点w(2s)-w (s) =∆=)3(,33s w s x点w (3s)-w (2s) 令)()()0(,0s s w w w ∆==则∑=∆=∆+⋅⋅⋅⋅⋅⋅+∆+∆=ki is ks s s ks w w w w w 1)()()2()()(2) 无倾斜波面的干涉条纹0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10w (x) 0 -0.75 -1 -0.5 -0.25 0 -0.25 -0.5 -1 -0.75 0 w (x-s) 0 -0.75 -1 -0.5 -0.25 0 -0.25 -0.5 -1 -0.75 0 Δw (s)=w (x)-w (ix-s)-0.75 -0.25 0.5 0.25 0.25 –0.25 -0.25 -0.5 0.25 0.75W (ks) 0 -0.75 -1 -0.5 -0.25 0 -0.25 -0.5 -1 -0.75 03) 有倾斜波面波差0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10w (x) 0 -0.75 -1 -0.5 -0.25 0 -0.25 -0.5 -1 -0.75 0 w (x-s) 0 -0.75 -1 -0.5 -0.25 0 -0.25 -0.5 -1 -0.75 0 N (x)Δw (is)=w (ix)-w (ix-s)-0.75 -0.25 0.5 0.25 0.25 –0.25 -0.25 -0.5 0.25 0.75 Q (x) –0.5 –0.4 -0.3 -0.2 -0.1 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 M (x)=N (x)+Q (x)-0.5 -1.15 -0.55 0.3 0.15 0.25 -0.15 -0.05 -0.2 0.65 1.25 N (x)=M (x)-Q (x)2、 一维剪切干涉图的数示分析法在1111)()()(----++--=++++-=++-=+=+=+=+γγγγγγγγγγγγγγγδλρεεμλδλερεδλδρεμελλθλθδλθδq Q q Q Q D D q D R R R 令εγλδδγεμλγγγp q Q R -++==--1εδδεγλδδεγλδδγγγ312221211101p p q p q p q p -++=⋅⋅⋅⋅⋅⋅-++=-++=-∑=N 02γγδ最小,N 个方程,N+3个未知数(εγ11,p )∑==N 00γγδ∑==N 00γγγδ∑==+N 00)1(2γγδγγ§3-3 光学系统透射比的测量一、概述光系统的透射比τ:系统本身透射光光通过与入射光通道的比例τ=(注:可编辑下载,若有不当之处,请指正,谢谢!)。

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