03X射线衍射强度解析

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03X射线衍射强度

03X射线衍射强度
多重因子
2019/11/21
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厄尔瓦德图解
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在多晶体衍射中同一晶面族{HKL} 各等同晶面的面间距相等,根据布拉格 方程这些晶面的衍射角2都相同,因此, 等同晶面族的反射强度都重叠在一个衍 射圆环上。把同族晶面{HKL}的等同晶 面数P称为衍射强度的多重因子。各晶系 中的各晶面族的多重因子列于表中。
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(2)实际上,存在位相差,引入原子散射
因子: f A a Ae
即Aa=f Ae 。
其中f与有关、与λ有关。
散射强度: IaAa2f2Ie
(f总是小于Z,如图1-25)
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三、一个单胞对X射线的散射
IP I0m2ec44R2 sin2
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2. 而事实上,射到电子上的X射线是非 偏振的,引入偏振因子,则有:
IeI0m2ec4 4R21c2o22s
(表示强度分布的方向性)
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二、一个原子对X射线的散射
讨论对象及结论: 一个电子对X射线散射后空间某点强
度可用Ie表示,那么一个原子对X射线散 射后该点的强度:
Ia f 2Ie
这里引入了f――原子散射因子 推导过程
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推导过程: 一个原子包含Z个电子,那么可看成
Z个电子散射的叠加。 (1)若不存在电子散射位相差:

第三章 X射线衍射强度

第三章 X射线衍射强度
X射线衍射强度
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目录
添加目录项标题 X射线衍射实验方法 X射线衍射强度的应用
X射线衍射原理 X射线衍射强度影响因素
01
添加章节标题
02
X射线衍射原理
X射线衍射现象
X射线衍射原理:X射线在晶体中发生衍射,形成特定的衍射花样 衍射方向:晶体中原子间距导致X射线衍射方向不同 衍射强度:晶体结构、原子间距和X射线波长等因素影响衍射强度 衍射图谱:通过测量和记录衍射方向和强度,形成X射线衍射图谱
重要性:晶体取向分析对于材料科学研究 和工业应用具有重要意义,有助于优化材 料性能和开发新型材料。
晶粒大小与形状分析
原理:利用X射线衍射强度分析晶 体结构中的晶粒大小和形状
实验方法:通过测量衍射峰的强 度和位置,计算晶粒大小和形状 参数
添加标题
添加标题
添加标题
添加标题
应用范围:材料科学、化学、生 物学等领域
测量系统:用于测量衍射角度和 强度,包括角度编码器和多路信 号处理器
实验步骤
样品准备:选择合适的样品,并进行必要的处理和制备 实验设置:调整实验参数,如X射线源、探测器、扫描范围等 数据采集:进行实验,记录衍射强度数据 结果分析:对采集的数据进行处理和分析,得出结论
实验数据处理
实验数据收集:确保数据准确性和完整性 数据预处理:去除异常值、进行归一化处理等 数据分析:提取特征、进行统计推断等 结果解释:结合理论知识,对实验结果进行解释和讨论
实验结果分析
衍射峰位置:确 定晶体结构和对 称性
衍射峰强度:确 定晶胞大小和原 子位置
衍射峰形状:分 析晶格畸变和晶 粒大小
衍射峰数目:确 定晶体取向和对 称性

材料分析方法第三章 X射线衍射强度

材料分析方法第三章 X射线衍射强度


二 衍射强度的引出
晶体结构的信息的获知是通过两类信息得到的:
衍射方向2θ角、衍射强度I。 衍射方向(2θ) 反映了晶胞的大小及形 状因素——由布拉格方程决定。 衍射线强度I 反映了组成晶体的原子种类、 原子数量、原子在晶胞中的位置
衍射强度:用衍射仪法可反映在衍射峰的高低上 (峰高强度大)、用照相法反映在底片的黑度上 (越黑强度越大)。

曲线表示,
图 原子散射因数曲线
三. 一个晶胞对X-ray的散射
1. 两列λ相同、φ、振幅不同的X射线衍射波 的 合成(波的合成): 有两列波如左图:
E A sin(2t )
1 1 1
E A sin(2t )
2 2 2
其中:E1 E2振幅、位 相角φ均不同;
频率γ(或λ)相同
图 波的向量合成 方法
2. 晶胞对入射X射线的散射 一个晶胞对X-ray的散射是晶胞内各原子散 射波在满足布拉格角的方向上合成的结果。 单胞中原子散射波的合成振幅并不是各原子散射波 振幅简单地叠加,而和
①原子散射波的振幅有关——取决于原子自身的散
射能力(原子散射因子f)(Z不同,则f不同); ②原子散射波在HKL反射方向上相互间的位相差有 关; ③与单胞中原子个数有关。
1 cos 2 2 1 当2θ=90°时 2 2
——Ie为2θ=0时
的一半
偏振光——光强在空间各个方向不相等。 非偏振光——在0~2π的范围光强相等,即强 度在空间各个方向上是相等的。
对公式分析,发现电子对X-ray散射的特点:
⑴. 散射线强度很弱,约为入射强度的几十分之一;
⑵. 散射线强度与观察点距离的平方成反比; ⑶. 一束非偏振的X-ray经电子散射后其散射强度 偏振化了(衍射线的强度在不同的方位大小不 同)。

C03 X射线衍射强度

C03 X射线衍射强度

§3.1 多晶体衍射的积分强度公式§3.2 结构因数和衍射消光规律§3.3 影响衍射强度的其他因数导 言研究X射线衍射可归结为两方面的问题:„„衍射方向 核心是布拉格方程 ——X射线衍射几何理论 衍射强度 核心是多晶体衍射线条的积分强度 ——X射线衍射强度理论导 言„X射线衍射强度理论 包括 运动学理论:只考虑入射X射线的一次散射 和 动力学理论:考虑入射X射线的多次散射导 言X射线衍射强度问题的处理过程§3.1 多晶体衍射的积分强度公式1. X射线的衍射强度(简单)表达式I=C0·Pl·L·PHKL·A(θ)·|FHKL|2·e-2MPl L PHKL A(θ) e-2M C0 —— 偏振因子(因数) —— 洛仑兹因子(因数) —— 多重性因子(因数) —— 吸收因子(因数) —— 温度因子(因数) —— 常数(3-1)︱FHKL ︱2 —— 结构因子(因数)§3.1 多晶体衍射的积分强度公式2. X射线的衍射强度(详细)表达式2 λ ⎛ e ⎞ V 1 cos 2θ + 2 −2 M I = I0 P F A θ e ( ) ⎜ 2⎟ 2 HKL 2 32π R ⎝ mc ⎠ V0 sin θ cos θ 3 2 2(3-2)多晶体衍射的积分强度公式 公式为以波长 λ 、强度 I0 的 X 射线,照射到单 位晶胞体积 V0 的多晶试样上,被照射晶体的体 积为 V ,在与入射线夹角为 2θ 的方向上产生了 指数为 (HKL) 晶面的衍射,在距试样为R处记录 到衍射线单位长度上的积分强度m,e为电子质量和电荷,c为光速§3.1 多晶体衍射的积分强度公式对应关系Pl L—— 偏振因子(因数) Pl = 1 + cos 2 2θ ——1 洛仑兹(Lorentz)因子(因数) L = sin 2 θ cos θ1 + cos 2 2θ Pl﹒L——角因数= 2 sin θ cos θ 2 3 2 λ ⎛ e ⎞ V C0 —— 常数 C0 = I 0 32π R ⎜ mc 2 ⎟ V 2 ⎝ ⎠ 0材料研究方法 2008年1月8日3时0分7§3.1 多晶体衍射的积分强度公式3. X射线的衍射相对积分强度表达式„德拜法(粉末法照相法)的衍射相对强度 2 ⎛ 1 + cos 2θ ⎞ −2 M I 相 = P FHKL ⎜ 2 ⎟ A (θ ) e ⎝ sin θ cos θ ⎠ 衍射仪法的衍射相对强度I 相 = P FHKL2(3-3)„⎛ 1 + cos 2θ ⎞ 1 −2 M (3-4) e ⎜ 2 ⎟ ⎝ sin θ cos θ ⎠ 2 μ μ 为线吸收系数相对强度是指同一衍射图中各衍射线强度的比值。

第3章X射线衍射强度解析

第3章X射线衍射强度解析

多晶体的衍射强度
• 衍射强度的计算因衍射方法的不同而异。劳厄法的波长是变 化的,所以强度随波长而变。其它方法的波长是单色光,不 存在波长的影响。 • 我们这里只讨论最广泛应用的粉末法的强度问题,在粉末法 中影响衍射强度的因子有如下五项。 • (1) 结构因子 • (2) 角因子(包括极化因子和罗仑兹因子) • (3) 多重性因子 • (4) 吸收因子 • (5) 温度因子
Intensity (counts)
20
40
60
80
0 20 40
60 80 100 120 140
2 degrees
(100) (110)
(200) (111)
(210) (211) (300) (310) (320) (321) (410) (411) (421)
(220) (311) (222) (400) (331) (420)
F fe2 i 0 fe2 i h / 2k / 2 fe2 i k / 2l / 2 fe2 i l / 2h / 2 f 1 ei hk ei k l ei l h


当h, k, l为全奇或全偶(即为同性数),(h + k),(k+l) 和 (h+l) 必为偶数,故F = 4f, F 2 = 16f 2 当h, k, l中有两个奇数或两个偶数(奇偶混杂,即为异性数)时 ,则在(h+k),(k+l) 和(h+l)中必有两项为奇数,一项为偶 数,故F = 0, F2 = 0 所以(111),(200),(220),(311)有反射,而 (100),(110) ,(112),(221)等无反射。
• 这样一个原子散射波应该是原子中各个电子散射波合 成的结果。

哈工大材料成型加工方法第三章 x射线衍射强度

哈工大材料成型加工方法第三章  x射线衍射强度
• 出现超点阵。
晶胞中不是同种原子时--结构振幅的计算
• 代入 FHKL 2 公式,其结果是: • 1)当 H、K、L全奇或全偶时,
FHKL 2 ( f Au 3 fCu )2
• 2)当H、K、L奇偶混杂时,
FHKL 2 ( f Au fCu )2 0
• 有序化使无序固溶体因消光而失去的衍射 线复出现,这些被称为超点阵衍射线。根 据超点阵线条的出现及其强度可判断有序 化的出现与否并测定有序度。
• 由此可计算各种晶胞的结构振幅
结构振幅的计算
1、简单点阵
• 单胞中只有一个原子,基坐标为(0,0,0),原
子散射因数为f,根据式(2-20): FHKL 2 [ f cos2 (0)]2 [ f sin 2 (0)]2 f 2
• 该种点阵其结构因数与HKL无关,即HKL为任意整 数时均能产生衍射,例如(100)、(110)、 (111)、(200)、(210)…。能够出现的衍射
B为背射相, • 目前劳埃法用转晶法:(Rotation Method)
• 单色x-ray(K系)照射转动 的单晶体试样的衍射方法。 (θ变)
• 以样品转动轴为轴的圆环形 底片记录衍射花样。
• 此法用于测定试样的晶胞 常数,根据衍射花样能准 确测定晶体的衍射方向和 强度。
(1) 多重性因子
• 对多晶体试样,因同一{HKL}晶面族的各晶面组面 间距相同,由布拉格方程知它们具有相同的θ,其 衍射线构成同一衍射圆锥的母线。通常将同一晶 面族中等同晶面组数P称为衍射强度的多重性因数。 显然,在其它条件相间的情况下,多重性因数越 大,则参与衍射的晶粒数越多,或者说,每一晶 粒参与衍射的几率越多。
FHKL f j [cos 2 (Hx j Ky j Lz j ) i sin 2 (Hx j Ky j Lz j )] j 1

第三章 X射线衍射强度

第三章  X射线衍射强度

F fe
2 i (0.h 0.k 0.l )
fe )
1 1 2 i ( .h .k 0.l ) 2 2
F f (1 e
h k 2 i ( 0) 2 2
底心斜方晶胞
结构因子分析:
当H+K为偶数时,即H,K全为奇数或全为偶数, (如111,112,113,021等,与l的取值无关)。
结构因子:定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响 规律的参数,即晶体结构对衍射强度的影响因子。
分析各种因素的来源和对X射线衍射 强度的影响。
一个电子对X射线的散射
一个原子对X射线的散射
一个晶胞对X射线的散射
多晶体的衍射强度
3.2.1 一个电子对X射线的散射
电子散射的X射线的强度大小Ie与入射束的强度I0和散射角 度θ有关。一个电子将X射线散射后,强度Ie可以表示为:
原子散射因子曲线
对于不同类型的原子,其原子散射因子 f 是可变的, 它与sinθ和λ有关。随sinθ/λ的值的增大而变小。
3.2.3 一个晶胞对X射线的散射
预备知识:
X射线的波前电场强度随时间的变化可以用周期函数表示:
E1 A1 sin(2 t 1 ) E2 A2 sin(2 t 2 )
晶胞内所有原子对相干散射波的合成波振幅Ab:
Ab Ae ( f1e 1 f 2e
i
i 2
..... f ne n ) Ae f j e
i j 1
n
i j
其中晶胞中所有原子散射波叠加的波即为结构因子,用F表示:
n Ab i j F f je Ae j 1
Ab 一个晶胞内所有原子散射的相干散射波振幅 F Ae 一个电子的散射波振幅

第三章 X射线衍射强度

第三章 X射线衍射强度

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原子中的电子在其周围形成 电子云,当散射角2θ=0时, 电子云,当散射角 时 各电子在这个方向的散射波 之间没有光程差, 之间没有光程差,它们的合 δ = Gn − Om = r ⋅ S − r ⋅ S = r (S − S ) 成振幅为Aa=ZAe; 成振幅为 ; 当散射角2θ≠0时,如图所 当散射角 时 观察原点O和空间一点 示,观察原点 和空间一点 G的电子,它们的相干散射 的电子, 的电子 波在2θ角方向上有光程差 角方向上有光程差。 波在 角方向上有光程差。 δ = Gn − Om = r ⋅ S − r ⋅ S 0 = r (S − S 0 ) 设入射和散射方向的单位矢 量分别是S 量分别是 0和S,位矢 , 则其相位差Φ为 则其相位差 为 : GO = r 2π 2π φ= (Gn − Om) = r (S − S 0 ) λ λ
2π 2π 2π
O与A原子散射波位相差为: 与 原子散射波位相差为 原子散射波位相差为:
= Hx j + Ky j + Lz j
原子的fj作振幅 以A原子的 作振幅,以与 原子的散射波的位相差 原子的 作振幅,以与O原子的散射波的位相差 为Φ位相, 位相, 位相 则晶胞内任意A原子沿 原子沿( 则晶胞内任意 原子沿(HKL)晶面反射方向的散 ) 射波表示为: 射波表示为: iφ 2π i ( Hx j + Ky j + Lz j )
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主要内容
1 2 3 4
一个电子对X射线的散射 一个电子对 射线的散射
一个原子对X射线的散射 一个原子对 射线的散射
单位晶胞对X射线的散射 单位晶胞对 射线的散射
晶体对X射线的散射与衍射积分强度 晶体对 射线的散射与衍射积分强度

3.3 X射线衍射束的强度

3.3 X射线衍射束的强度
s in 2
N1S a 1 S a
s
in 2 sin
1 2
N
2S
2 1 Sb
b
s in 2 sin
1 2
N3S
2 1 Sc
c
2
2
2
衍射理论中的衍射线强度最基本公式
2020/8/26
材料研究方法
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I(S)=
s in 2
1 2
N 1S
a
s in 2
1 2
N2S
b
sin
2
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
1 2
N3S
c
sin2 1 S a sin2 1 S b sin2 1 S c
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材料研究方法
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3.3 X射线衍射束的强度
2. X射线衍射累计强度
当一束单色X射线投射到晶体上时,不仅在准确的
布喇格角 0 上发生反射,而且在此角度附近的某一 角度范围Δ 内也发生反射,因此,在计算某一反射 强度时,应将晶体在 0 附近的全部反射强度累加起
来,与实验所测反射辐射强度一致。
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材料研究方法
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3.3 X射线衍射束的强度
3.3.2 X射线粉末衍射累计强度 在X射线衍射仪测量粉末状晶体试样的实验中试
样被制成平板状,厚度足够时,可得到衍射强度公 式为:
I
I
0
(
e2 mC
2
)
2
3 32R
L Nc2n F (hkl) 2
1 cos2 2 sin2 cos
材料研究方法
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3.3 X射线衍射束的强度
3.3 X射线衍射束的强度

X射线分析第三章—衍射强度(简化)

X射线分析第三章—衍射强度(简化)

立方点阵德拜相的指标化及点阵类型与点阵参数的确定
步骤: 1.从低角到高角,测德拜相各线对间距S1、S2、S3…; 2.由S算出修正后的θ1、θ2、θ3…; 3.由θ及入射线波长算出晶面间距dl、d2、d3……; 4.求得sin2θ1/sin2θ2比例数列,与表各立方点阵比例 数列对比,确定出被测物质为哪种类型的立方点阵。 再查出相应的HKL,标定出每一线对的干涉指数。 5.根据已标定干涉指数HKL的高角衍射线,算出晶体 的点阵参数。
4. 面心点阵 每个晶胞中有4个同类原子
F h kl f [1 e
i ( k h )
e
i ( h l )
e
i ( l k )
]
f [1 co s( h k ) co s( h l ) co s( k l ) ]
H、K、L全奇或全偶, |FHKL|2=16f2; 其它 FHKL=0
j
Kv
j
Lw j
点阵对X射线衍射必要、充分条件: 满足布拉格方程,且FHKL≠0。 由于FHKL=0 而使衍射线消失的现象称系统消光
证明:φ= 2π(hu+ vk+ lw)
• 设:入射波和散射波矢量S0、S,原子A的坐标(u v w),点阵矢量为rj,则经(h k l)晶面反射后与原点 处原子(000)的波程差:
a
L
2
2 sin
• 立方点阵sin2θ(H2+K2+L2,, 整数)比例数列: • 简单立方: 1 2 3 4 5 6 8 9 …14 16 17
• 体心立方: 1 2 3 4 5 6 7 8…→变2 4 6 8 10 …
• 面心立方: 3 4 8 11 12 16
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i j
引入结构参数F,定义F是以一个电子散射波振幅为 单位所表征的晶胞散射波振幅,即 :
FHKL
n Ab i j f j e Ae j 1
可知晶胞中(H K L)晶面的衍射强度
I b FHKL
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2
Ie
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可以证明,hkl晶面上的原子(坐标为uvw)与 原点处原子的经hkl晶面反射后的位相差φ,可 以表示为:
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2
3-2 结构因子
结构因子(structure factor)是定量表征原子排 布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数,即 晶体结构对衍射强度的影响因子。 因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起 的某些方向上衍射线消失的现象,称为系统消光。 根据系统消光结果以及通过测定X射线强度的变 化可以推断出原子在晶体中的位置。 对结构因子本质的理解可以按照下述层次逐步分 析:X射线在一个电子上的散射强度,在一个原 子上的散射强度以及在一个晶胞上的散射强度。
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(2)实际上,存在位相差,引入原子散射因子:
Aa f Ae
原子散射强度:
即Aa=f Ae 。
其中f与有关、与λ有关。
I a Aa f I e
2
2
(f总是≤Z,如图1-25) f是考虑了各个电子散射波的位相差之后原子 中所有电子散射波合成的结果。反映了一个原子将 X射线向某个方向散射时的散射效率。
2 2
2
公式讨论
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5
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公式讨论:
一束X射线经电子散射后,其散射强度在空间各个 方向上是不同的:沿原X射线方向上散射强度(2=0 或2=π时)比垂直原入射方向的强度(2=π/2时)大 一倍。 一束非偏振的X射线在经过电子的散射后其散射强 度在空间的各个方向上变得不相同了,被偏振化了,偏 振化的程度取决于2角。所以
Ia f
2
Ie
这里引入了f――原子散射因子,f≤Z 推导过程
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推导过程: 一个原子包含Z个电子,那么可看成 Z个电子散射的叠加。 (1)若不存在电子散射位相差:
I a Z Ae Z I e
2 2
其中Ae为一个电子散射的振幅。
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1 cos 2 2
2
项为偏振因子,亦称极化因子。
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二、一个原子对X射线的散射
讨论对象及结论: 一个电子对X射线散射后空间某点强度可 用Ie表示,它是X射线散射的自然单位(以后 所有对散射强度的定量分析都是基于这一约 定),那么一个原子对X射线散射后该点的强 度:
f3Ae ...fn Ae ;
那么散射振幅为:f1
Ae 、f2 Ae 、
各原子与O原子之间的散射波光程差为:
Φ1 、Φ2 、Φ3 ... Φn ;
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则该晶胞的散射振幅为这 n种原子叠加: n
Ab Ae f j e
j 1
第三章 X射线衍射强度
1. 引言 2. 结构因子 3. 多晶体的衍射强度
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1
3-1 引言
布拉格方程解决了衍射方向问题,它反映了晶胞 的大小及形状。但晶体种类不仅取决于晶格常数, 更重要的是取决于原子种类及原子在晶胞中的位 置,而原子种类及原子在晶胞中的位置不同反映 到衍射结果上,表现为反射线(衍射线)的有无 或强度大小,即衍射强度。 X射线衍射强度在衍射仪花样上反映的是衍射峰的 高低(或衍射峰所包围的面积);在照相底片上 反映为黑度。一般用相对强度来表示。 影响衍射强度的因素很多,讨论这一问题必须一 步步进行:一个电子 一个原子 一个晶 胞 粉末多晶体。
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一、一个电子对X射线的散射
讨论对象及结论:
一束X射线沿OX方向传播,O点碰到电子发生散射, 那么距 O 点距离 OP=R、OX 与 OP 夹角为 2 的 P 点 的散射强度为:
1 cos 2 e Ie I0 4 m C2 R 2 0
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电子
原子
晶胞
亚晶粒
粉末
1 cos2 2 2
f (≤Z)
FHKL,P
1 sin 2 cos
e-2M A( )
偏振因子 或极化因子
Ie I0 e4 1 cos2 2 m 2C 4 R 4 2
原子散 射因子
结构因子 多重因子
2
罗仑兹因子
温度因子 吸收因子
I FHKL P I e
1 e4 3 1 cos2 2 2 I I 0 2 4 2 VFHKL P 2 32R m c V0 sin cos 2 1 e4 3 1 cos 2 2 M 2 I I 0 2 4 2 VFHKL P 2 e A( ) 32R m c V0 sin cos
关于结构因子

结构因子计算式 结构因子计算例 系统消光 消光规律
产生衍射的充分条件及系统消光

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关于结构因子:
可以证明,晶胞中j原子(坐标为XjYjZj )与原点
处原子的经H K L晶面反射后的位相差
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三、一个单ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ对X射线的散射
1. 讨论对象及主要结论:
I FHKL I e
这里引入了FHKL——结构因子
2
2. 推导过程
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推导过程:
假设该晶胞由n种原子组成,各原子的散射 因子为:f1 、f2 、f3 ...fn;
2 (hu kv lw)
对于hkl的结构因子为:
Fhkl f j e
1
N
2i ( hu j kv j lw j )
F表征了晶胞内原子种类、原子个数、原子位置对 衍射强度的影响。计算时要把晶胞中所有原子考虑 在内进行。 2018/10/5 16 HNU-ZLP
四、结构因子FHKL 的讨论
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