大口径抛物面镜子孔径拼接测量_杨皓聿
大口径空间巡天望远镜子孔径拼接平场定标法
Abstract: The accurate flat-field calibration of large-diameter space survey telescopes is an important prerequisite for achieving some established scientific goals. At present, it is common practice to provide a uniform flat-field reference through a flat-field screen or a large-diameter integrating sphere, which is used to check the consistency of an image’s plane response. To address issues with the uniformity of flat-field screen illumination and the difficulty of preparing large-size integrating spheres, a flat-field calibration method
收稿日期:2020-01-03;修订日期:2020-02-18 基金项目:国家自然科学基金:(No. 61875190)。
Supported by National Natural Science Foundation of China (No. 61875190).
子孔径拼接检测非球面时调整误差的补偿
渊缘冤
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摇 摇 二次非球面的母镜可以用式渊圆冤表示院
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第 远 卷摇
图 圆摇 调整误差补偿方法的流程图 云蚤早援 圆摇 云造燥憎 糟澡葬则贼 燥枣 贼澡藻 糟燥皂责藻灶泽葬贼蚤燥灶 燥枣 皂蚤泽葬造蚤早灶皂藻灶贼
摇 摇 为实现调整误差补偿袁完成子孔径精确拼接 测量袁本文的模式搜索调整误差补偿方法的流程 如图 圆 所示袁具体步骤如下院
图 员摇 子孔径拼接测量非球面面形的示意图
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利用标准球面波检测非球面会产生非共路误 差渊 即标准参考球面波面与待测子孔径区域非球 面波面的偏差冤遥 对于非球面度比较小的非球面 的拼接袁可以采用理论位置时各子孔径的非球面 方程与参考球面方程的理论偏差或用 在藻皂葬曾 软 件模拟子孔径干涉测量来求解非共路误差遥 从每 个子孔径的干涉相位数据中剔除该误差袁 通过 杂杂陨 算法实现拼接检测咱员源鄄员远暂 遥 但是对于偏离量比 较大的非球面袁尤其是离轴非球面袁也采用这一方 法进行拼接就会产生很大的拼接误差遥
利用环形子孔径拼接法检测非球面反射镜
利用环形子孔径拼接法检测非球面反射镜
李江;杨朋利;李文婷;王芝;安静;冯婕;马爱秋;付晓庆
【期刊名称】《应用光学》
【年(卷),期】2015(036)005
【摘要】为解决高精度检测非球面反射镜的难题,提出利用Zygo干涉仪完成非球面环形子孔径检测.通过移动待测非球面,使得由干涉仪产生的参考球面波,以不同的曲率半径匹配待测非球面的各个环带区域,分别测试每个环带,进而完成对整个非球面的拼接检测.以双曲面反射镜为例进行拼接检测,并搭建辅助光路,利用无像差点法对拼接结果进行验证.验证结果表明:该方法测量误差小于1/20(λ=632.8 nm).【总页数】4页(P791-794)
【作者】李江;杨朋利;李文婷;王芝;安静;冯婕;马爱秋;付晓庆
【作者单位】西安应用光学研究所,陕西西安710065;西安应用光学研究所,陕西西安710065;西安应用光学研究所,陕西西安710065;西安应用光学研究所,陕西西安710065;西安应用光学研究所,陕西西安710065;西安应用光学研究所,陕西西安710065;西安应用光学研究所,陕西西安710065;西安应用光学研究所,陕西西安710065
【正文语种】中文
【中图分类】TN206
【相关文献】
1.基于环形子孔径拼接法检测非球面研究 [J], 舒亮;邢廷文;何国良
2.环形子孔径拼接检测大口径非球面镜的规划模型及分析 [J], 侯溪;伍凡;杨力;吴时彬;陈强
3.环形子孔径拼接干涉检测非球面的数学模型和仿真研究 [J], 王孝坤;张学军;王丽辉;郑立功
4.以环形子孔径法检测大口径非球面主镜的研究进展 [J], 侯溪;伍凡;杨力;吴时彬;陈强
5.利用子孔径拼接法测量大口径凸面反射镜 [J], 王孝坤
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一种针对超大口径凸非球面的面形检测方法
2.中国科学院大学,北京 100049)
摘要:本文提出了一种改良的检测方法用于实现对超大口径凸非球面反射镜进行高精度的面形检测。该方法利用计算 机再现全息和照明透镜混合补偿,实现对超大口径凸非球面的高精度检测。首先,对该方法的基本原理进行了分析和研 究;然后,以一块口径为 800mm的超大口径凸非球面为例,进行了子孔径规划和检测光路中相关光学元件的设计;最后, 以中心子孔径为例,系统分析了该检测装置的敏感度。仿真实验结果表明:计算全息补偿器的设计残差均方根值小于 00013nm,该检测系统的综合检测精度可以优于 6nmRMS。结果表明该检测系统满足超大口径凸非球面反射镜高精 度面形检测的要求。 关 键 词:面形检测;非球面;像差补偿;衍射光学元件 中图分类号:TQ171.6;O435.2 文献标识码:A doi:10.3788/CO.20191205.1147
。需要注意的是,照明透镜的凸面指向 CGH,并 以其凸面作为参考面进行 CGH对准区域的设计。 这样在光路调整时,照明透镜的倾斜,偏心及轴向 失调量都能通过对准区域的干涉条纹体现出,进 而指导光路的调节。此外,由于照明透镜的主要 功能 是 汇 聚 光 束,而 检 测 光 路 中 像 差 补 偿 是 由 CGH完成的,所以针对不同环带的子孔径进行面 形检测时,仅需对 CGH进行单独设计,而照明透 镜是通用的。这不仅降低了检测成本,也极大地 降低了检测时光路调节的难度和时间。光路中的 小孔光栏放置在干涉仪标准镜的焦平面,其作用 是对反射光路中的由 CGH产生的干扰级次进行 隔离,只让目标级次(1,1)级通过小孔。
2 CGH结合照明透镜检测方案
基于子孔径拼接法测量高精度反射镜
基于子孔径拼接法测量高精度反射镜郑立功【摘要】为了解决高精度光学反射镜的子孔径拼接检测问题,基于最小二乘拟合,依据拼接算法建立数学模型,编制了拼接程序,同时对口径为Φ120 mm的平面反射镜进行了拼接检测.检测中,基于标记点确定子孔径间的相对位置,完成子孔径间的对准.分别基于全口径检测结果与自检验子孔径测试结果对拼接结果进行精度分析.实验结果表明:拼接结果无“拼痕”,拼接结果与全口径测试结果、自检验子孔径测试结果一致;拼接结果与全口径面形测试的PV值与RMS值的偏差分别为0.020λ与0.002λ,验证了检测的可靠性和准确性.【期刊名称】《应用光学》【年(卷),期】2014(035)001【总页数】5页(P85-89)【关键词】光学检测;干涉测量;子孔径拼接;最小二乘拟合【作者】郑立功【作者单位】中国科学院长春光学精密机械与物理研究所中国科学院光学系统先进制造技术重点实验室,吉林长春130033【正文语种】中文【中图分类】TN247;O436.1引言大口径光学平面镜的检测,在传统光学检测中,通常需要配备大口径干涉仪或者搭建Ritcheycommon形式的检验光路[1-2],这时往往需要一块与被检元件尺寸相同甚至更大尺寸的参考光学平面或球面,然而制造和检测大口径参考平面镜和球面镜存在很多的困难,并且所需的时间很长,费用也很昂贵。
子孔径拼接技术作为一种有效的大口径光学镜面检测手段,最早于1982年由C.J.Kim提出,该技术用一系列较小的光学平面阵列代替了较大的参考平面,从而实现对大型光学系统的检测。
在国外,QED公司与亚利桑那大学光学中心对该技术进行了比较深入的研究。
2003年,QED公司成功研制了自动拼接干涉仪,同时其基于VON(variable optical null)技术[3],成功实现了对大偏离量凸非球面的子孔径拼接检测。
亚利桑那大学光学中心基于 ML(maximum likelihood)算法,在标准参考镜存在较大面形误差的情况下,对1.6m光学平面镜实现了拼接检测[4]。
一种用于测量凹抛物面反射镜焦距的设备及方法[发明专利]
[19]中华人民共和国国家知识产权局[12]发明专利申请公开说明书[11]公开号CN 1645084A [43]公开日2005年7月27日[21]申请号200510023678.2[22]申请日2005.01.28[21]申请号200510023678.2[71]申请人中国科学院上海技术物理研究所地址200083上海市玉田路500号[72]发明人钮新华 傅雨田 [74]专利代理机构上海智信专利代理有限公司代理人郭英[51]Int.CI 7G01M 11/02G02B 5/08权利要求书 1 页 说明书 3 页 附图 1 页[54]发明名称一种用于测量凹抛物面反射镜焦距的设备及方法[57]摘要本发明公开了一种用于测量凹抛物面反射镜焦距的设备及方法,该设备包括:45°折转镜和标准抛物镜组成的一个牛顿式平行光管、放在标准抛物镜的光轴焦面上的小孔、漫反射光源、千分表、可伸缩量棒和标准量具。
该方法是利用漫反射光源既能够充满小F数被检凹抛物镜的表面,又能够提供一个平端面作为测量基准;千分表的使用可以保证实际测量时可伸缩量棒的两个圆弧端分别与漫反射光源和被检凹抛物镜顶点正好接触。
由于是在千分表监控下进行量棒长度调节,并采用标准量具对量棒长度进行标定,因此本发明提供的凹抛物镜焦距测量方法的精度可以达到0.02~0.05mm,焦距越短,测量精度越高。
200510023678.2权 利 要 求 书第1/1页 1.一种用于测量凹抛物面反射镜焦距的设备,其特点在于包括:45°折转镜(5)和标准抛物镜(6)组成的一个牛顿式平行光管、放在标准抛物镜(6)的光轴焦面上的小孔(7)、漫反射光源(3)、千分表(4)、可伸缩量棒(2)和标准量具。
2.根据权利要求1的所述设备测量凹抛物面反射镜焦距的方法,其特征在于包括下列步骤:A.将漫反射光源(3)放在被检凹抛物镜(1)和折转镜(5)之间,并使它们处于测量设备的光轴上,即标准抛物镜(6)的光轴上;B.通过观测小孔(7)的阴影图,调整漫反射光源(3)的位置,使其位于被检凹抛物镜(1)的焦面上;C.在漫反射光源(3)后端放置千分表(4),用于监控漫反射光源(3)的位置变化;然后将可伸缩量棒(2)放在被检凹抛物镜(1)和漫反射光源(3)之间的光轴上,调节可伸缩量棒(2)的长度,使其两个圆弧端分别与漫反射光源(3)和被检凹抛物镜(1)顶点正好接触;D.最后用标准量具标定完成调节后的可伸缩量棒(2)的长度,其值即为被检凹抛物镜(1)的焦距。
利用子孔径拼接法测量大口径凸面反射镜
利用子孔径拼接法测量大口径凸面反射镜王孝坤【期刊名称】《应用光学》【年(卷),期】2013(034)001【摘要】On the basis of summing up conventional testing methods for convex mirror, a novel method for testing convex surfaces by subaperture stitching interferometry (SSI) was proposed. A sphere mirror is used as the reference surface, the phase distribution of each subaperture can be measured by the digital wavefront interferometer, and the full aperture surface map can be calculated by stitching several subapertures. The basic principle and theory of SSI were researched, and the stitching processing and prototype for testing convex spheres were devised and developed. A convex SiC sphere with the aperture of 300 mm was tested by SSI with 9 subapertures. For the validation, the sphere was also tested by large interferometer and beam expander, and the peak-valley(PV) and root-mean-square(RMS) residual errors between them were 0. 102 A and 0. 009 A, respectively(λ = 632. 8 nm).%在简要分析各种检测大口径凸球面方法优缺点的基础上,提出了利用子孔径测量凸面反射镜的新方法,利用干涉仪标准球面波前依次干涉测定大口径镜面上各个区域的相位分布,通过子孔径拼接算法即可求解得到镜面全口径面形信息.对该方法的基本原理和实现步骤进行了分析和研究,建立了大口径拼接检测算法数学模型,设计并研制了大口径反射镜拼接检验装置.结合实例对加工过程中的口径为300 mm的碳化硅凸面反射镜进行了9个子孔径的拼接干涉测量,并将检测结果与全口径面形测量结果进行对比,两种方法残差的PV值和RMS 值分别为0.102 λ和0.009 λ(λ=632.8 nm).【总页数】6页(P95-100)【作者】王孝坤【作者单位】中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,中国科学院光学系统先进制造技术重点实验室,吉林长春130033【正文语种】中文【中图分类】TN247;O436.1【相关文献】1.以环形子孔径扫描法测量大口径非球面的研究 [J], 侯溪;伍凡;吴时彬;陈强2.子孔径拼接法检验大口径光学镜面精度分析 [J], 张明意;李新南3.利用环形子孔径拼接法检测非球面反射镜 [J], 李江;杨朋利;李文婷;王芝;安静;冯婕;马爱秋;付晓庆4.基于子孔径拼接法测量高精度反射镜 [J], 郑立功5.子孔径拼接法检测大口径光学镜面的精度分析 [J], 杨晓洪;高必烈因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。
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第4期
杨皓聿等:大口径抛物面镜子孔径拼接测量
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0引言
随着科学技术的不断发展, 大口径非球面光学 元件广泛的应用于天文光学、空间光学、惯性约束核 聚变等高技术领域。 制造高精度、大口径的非球面需 要与之相应的高精度检测设备和方法。
子 孔 径 拼 接 干 涉 检 测 方 法 [1]主 要 是 通 过 使 用 标 准的小口径干涉仪对大口径光学元件表面进行多次 局部测量, 最后将局部测量结果拼接成整个表面的 测量结果。 它能以较低的成本实现大口径非球面元 件的检测,并且可以提高测量的空间分辨率。 目前用 于大口径非球面面形检测的拼接方法主要有: 圆形 子 孔 径 拼 接 测 量[2-3]和 环 形 子 孔 径 拼 接 测 量 [4]。 但 是 这两种拼接方法都存在困难和不足。 圆形子孔径拼 接检测装置的调整和校准较为复杂和困难, 增加了 子孔径定位的难度。 而环形子孔径拼接只扩展了干 涉仪的纵向动态范围。 其次两种拼接方法的子孔径 名 义 运 动 路 径 计 算[5]都 比 较 复 杂 。
以抛物面顶点为坐标原点建立物空间全局坐标 系 xyz。 在 焦 平 面 内 以 焦 点 为 坐 标 原 点 ,建 立 坐 标 系 o1x1y1, 让 焦 平 面 坐 标 轴 x1 在 物 空 间 全 局 坐 标 系 的 xoz 平 面 内 ,并 与 物 空 间 全 局 坐 标 系 的 x 轴 平 行 。 在 焦平面内放一平面反射镜, 让其圆心在焦平面坐标 系 的 x1 轴 上 。 为 保 证 光 束 能 照 射 到 抛 物 面 上 , 因 此 平面反射镜不能遮挡住标准镜头的焦点。 所以在测 量 时 , 平 面 反 射 镜 在 焦 平 面 x1 轴 上 的 起 始 点 必 须 与 焦平面坐标系原点相隔微小间距。 平面反射镜在焦 平 面 内 ,沿 x1 轴 方 向 每 移 动 一 次 ,即 可 获 得 抛 物 面 经 线方向上的一个子孔径。 保持平面反射镜不动,使抛 物面绕光轴旋转一定角度, 可得到抛物面纬线方向 上的一个子孔径。 继续旋转相同角度,直到获得抛物 面纬线上的所有子孔径。 重复以上步骤,就可以完成 覆盖抛物面的所有子孔径测量。
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红外与激光工程
第 43 卷
并 推 导 出 抛 物 面 上 任 意 一 点 在 物 空 间 xoy 平 面 上 的
坐标(x,y)与该点在像面坐标系 x′o′y′下坐标(x′,y′)
的 函 数 关 系 。 如 图 1 所 示 ,假 设 抛 物 面 上 A 点 在 xoy
平 面 的 坐 标 为(x,0),其 在 标 准 镜 头 面 上 对 应 点 在 xoy
(X-xo1′)2+Y2=ro1′2
(4)
图 2 子孔径名义运动路径计算示意图 Fig.2 Sub-aperture nominal motion path computation schematic
平面反射镜移动距离 d 之后, 生成的子孔径在
收 稿 日 期 :2013-08-05 ; 修 订 日 期 :2013-09-03 基 金 项 目 : 国 家 自 然 科 学 基 金 (51075322) ; 陕 西 省 教 育 厅 高 精 度 小 平 面 干 涉 仪 研 制 基 金 (12JS048) 作 者 简 介 : 杨 皓 聿 (1988-) , 男 , 硕 士 生 , 主 要 从 事 光 学 检 测 方 面 的 研 究 。 Email:yf466835@ 导 师 简 介 : 田 爱 玲 (1964-) , 女 , 博 士 , 教 授 , 主 要 从 事 现 代 光 学 制 造 与 检 测 方 面 的 研 究 。 Email:tian21964@
平 面 的 坐 标 为 (H2,0)。 被 测 抛 物 面 的 顶 点 曲 率 半 径 为 R, 标准镜头的焦距为 F, 根据光路图可知点 A、
Za、O1 形 成 的 三 角 形 与 点 H2、O2、O1 形 成 的 三 角 形 为 相似三角形。 所以可得:Βιβλιοθήκη F = -H2(1)
R-Za x
Za 点 是 抛 物 面 A 点 对 应 的 z 值 。 由 抛 物 线 公
文中针对大口径抛物面镜, 提出一种结合了无 像差点检测思想的子孔径拼接测量新方法。 该测量 方法降低了子孔径名义运动路径计算和子孔径对准 的难度。 为了验证该测量方案的可行性, 文中采用 Matlab 进 行 了 子 孔 径 拼 接 检 测 模 拟 。 仿 真 结 果 表 明 , 采用文中提出的拼接方法能很好的实现大口径抛物 面镜的子孔径拼接干涉检测。
标 x′的函数关系,表示为:
x=(F×P-P×(F2×k2×x′2)1/2)/(k×x′)
(3)
不失一般性,y 与 y′坐标满足同样的函数关系。
经线和纬线方向的子孔径在像面的重叠面积求
解示意图如图 2 所示。 图中 x′o′y′为像面坐标系,子
孔径 1 是平面反射镜在初始位置处生成的子孔径的
像面区域。 由于平面反射镜的初始位置是已知的,因
为 了 提 高 横 向 分 辨 率 ,设 计 CCD 在 光 路 中 的 位 置,让其对应抛物面全口径的一半。 即让被测抛物面 可 成 像 到 CCD 像 面 的 最 大 区 域 在 xoy 平 面 的 投 影 为:直径是抛物面全口径一半大小的圆。 由此可知, 由平面反射镜一维移动获得的抛物面经线方向的子 孔 径 成 像 在 CCD 不 同 位 置 ,称 之 为 基 准 子 孔 径 。 由 于抛物面的旋转对称性, 纬线方向的各个子孔径与 该环基准子孔径的像面位置一致。 1.2 子孔径名义运动路径计算
Sub-aperture stitching interferometry for large parabolic mirror
Yang Haoyu, Tian Ailing, Liu Bingcai
(Shaanxi Province Thin Film Technology and Optical Inspection Laboratory, Xi′an Technological University, Xi′an 710032, China)
此可得到物方子孔径在全局坐标系 x 轴上的两端点
的坐标,分别记为:(x1,0),(x2,0)。 再根据推导的物像方 坐 标 函 数 关 系 , 计 算 其 在 像 面 上 的 坐 标 分 别 (x1′ ,0), (x2′,0)。 并 根 据 坐 标 值 x1′,x2′得 到 像 面 子 孔 径 1 的 圆 心 坐 标(xo1′,0)及 半 径 ro1′。 因 此 可 得 到 像 面 子 孔 径 1 的方程,表示为:
根据文中分析可知, 子孔径由平面反射镜移动 以及抛物面旋转获得。 所以子孔径名义运动路径计 算, 就是求解平面反射镜每次移动的距离以及抛物 面每次旋转的角度, 它们都与子孔径的重叠面积大 小有直接关系。 据相关参考文献介绍,重叠区域的面 积应该不小于子孔径面积的 1/4,只有这样才能保证 参加计算的采样点个数, 进而保证拼接算法的求解 精度。 由于拼接测量系统中干涉仪不发生移动,因此 各个子孔径的像在同一平面内。 所以可以通过确定 像面子孔径的重叠面积大小来完成子孔径的划分。 为了确定物空间子孔径在像面的大小, 首先在像面 上,以抛物面顶点的像为中心,以像素为单位,建立 像 面 二 维 坐 标 系 x′o′y′并 令 其 为 像 面 全 局 坐 标 系 。
第 43 卷第 4 期 Vol.43 No.4
红外与激光工程 Infrared and Laser Engineering
2014 年 4 月 Apr.2014
大口径抛物面镜子孔径拼接测量
杨皓聿,田爱玲,刘丙才
(西安工业大学 陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室,陕西 西安 710032)
摘 要 : 针对大口径抛物面面形检测,提出一种基于无像差点的子孔径拼接测量新方法。首先,分析 了该拼接方案特殊的子孔径生成方式及子孔径名义运动路径计算的形式;其次,通过建立统一的像面 坐 标 系 和 全 局 坐 标 系 的 函 数 关 系 ,结 合 坐 标 转 换 求 解 出 各 个 子 孔 径 数 据 对 应 的 全 局 坐 标 ;最 后 ,采 用 目标函数法拼接恢复出全口径面形。对一抛物面镜利用该拼接方案进行了计算机仿真实验,拼接得到 RMS 值的偏差为 0.001 4 λ。实验结果表明,该检测方法可以实现大口径抛物面镜的高精度测量。 关键词: 大口径抛物面; 子孔径拼接; 面形检测; 目标函数法 中 图 分 类 号 : O484 文 献 标 志 码 : A 文 章 编 号 : 1007-2276(2014)04-1296-05
1 子孔径拼接方法分析
1.1 测量原理 子孔径拼接测试系统如图 1 所示。 首先选择干
涉仪标准镜头,使其数值孔径略大于被测件的数值
图 1 子孔径拼接测试系统示意图 Fig.1 Sketch of sub-aperture stitching test system
孔径。 然后让标准镜头的焦点与抛物面的焦点重合。 因此从标准镜头出射的测试光波能覆盖被测抛物面 全口径, 并且测试光波照射到被测抛物面上后会平 行于光轴出射。
式:
x2=2×p×z
(2)
可 得 :Za=H12/(2×P)。 根 据 光 路 图 可 知 H2=H3,又 因 为 H3 经 会 聚 透 镜 会 聚 到 CCD 像 面 上 , 这 个 过 程 满 足 成 像 原 理 所 以 H3=-k·x′ , (k 为 CCD 的 放 大 倍 率)。 由 此 可 推 导 出 物 方 xoy 平 面 的 坐 标 x 与 像 面 坐
Abstract: Based on research of surface measurement method for large -diameter parabolic mirror, a new sub-aperture stitching measurement technology based on aberrationless theory was proposed. Firstly, the special method of sub-apertures′ generation and the calculation form for sub-apertures′ nominal motion path of this stitching program were analyzed. Secondly, a unified function between image plane coordinate system and the global coordinate system was established, together with coordinate transformation, the global coordinate of each sub-aperture data was solved. Finally, the full aperture surface was recovered by the objective function method. The simulation experiment was established for parabolic mirror, the stitching deviation of RMS is 0.001 4 λ. The experimental results show that this measurement method can achieve high precision measurement for large -diameter parabolic mirror. Key words: large parabolic mirror; sub-aperture stitching; surface detection; objective function