统计过程控制SPC程序
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统计过程控制(SPC)程序
1 目的
为了解和改善过程,通过对过程能力的分析、评估使其有量化资料,为设计、制造过程的改进,选择材料,操作人员及作业方法,提供依据和参考。
2 范围
本程序适用于*****有限公司做统计过程控制(P P K、C P K、CmK 、PPM)的所有产品。
3 术语和定义
SPC:指统计过程控制。
CpK:稳定过程的能力指数。它是一项有关过程的指数,计算时需同时考虑过程数的趋势及该趋势接近于规格界限的程度。
PpK:初期过程的能力指数。它是一项类似于C P K的指数,但计算时是以新产品的初期过程性能研究所得的数据为基础。
C a:过程准确度。指从生产过程中所获得的资料,其实际平均值与规格中心值之间偏差的程度。
C p:过程精密度。指从生产过程中全数抽样或随机抽样(一般样本在50个以上)所计算出来的样本标准差(σ×),以推定实际群体的标准差(σ)用3个标准差(3σ)与规格容许差比较。
PPM:质量水准,即每百万个零件不合格数。指一种根据实际的缺陷材料来反映过程
能力的一种方法。PPM数据常用来优先制定纠正措施。
Cmk:设备能力指数:是反映机械设备在受控条件下,当其人/料/法不变时的生产能力大小。
4 职责
质量部负责统计过程控制的监督、管理工作。
5 PPM、Cp、Cpk、Pp、Ppk过程能力计算及评价方法
1.质量水准PPM的过程能力计算及评值方法:
当产品和/或过程特性的数据为计数值时,制造过程能力的计算及等级评价方法如下:(1)计算公式:
不良品数
PPM = ×1000000
检验总数
(2)等级评价及处理方法:
2.稳定过程的能力指数Cp、Cpk计算及评价方法:
(1)计算公式:
A)Ca = (x-U)/ (T / 2)×100%
注:U = 规格中心值
T = 公差= SU - SL = 规格上限值–规格下限值
σ= 产品和/或过程特性之数据分配的群体标准差的估计值
x = 产品和/或过程特性之数据分配的平均值
B)Cp = T / 6σ(当产品和/或过程特性为双边规格时)或
CPU(上稳定过程的能力指数)= (SU-x)/ 3σ(当产品和/或过程特性为单
边规格时)
CPL(下稳定过程的能力指数)= (x-SL)/ 3σ(当产品和/或过程特性为单边规格时)Z1 = 3Cp(1+Ca)……根据Z1数值查常(正)态分配表得P1%;
Z2 = 3Cp(1-Ca)……根据Z2数值查常(正)态分配表得P2%
不合格率P% = P1% + P2%
注:σ = R / d 2 ( R 为全距之平均值,d 2为系数,与抽样的样本大小n 有关,当n = 4时,
d 2 = 2.059;当n = 5时,d 2 = 2.3267) C )Cpk = (1-∣Ca ∣)× Cp
当Ca = 0时,Cpk = Cp 。
D )Cpk = Min (CPU ,CPL ) = Min{(SU -x )/ 3σ,(x-SL )/ 3σ}
当产品特性为单边规格时,Cpk 值即以CPU 值或CPL 值计算,但需取 绝对值;Cpk 值取CPU 值和CPL 值中的最小值。
(2)等级评价及处理方法:
等级 Ca 值 处 理 方 法 等 级 说 明 A ∣Ca ∣ ≦ 12.5% 作业员遵守作业规范的规定并达到Ca 值当U 与的差越小
时,Ca 值也越小,也就是产品质量越接近规格(公
B 12.5% < ∣Ca ∣ ≦ 有必要尽可能将其改进为A 级。
C 25% < ∣Ca ∣ ≦ 作业员可能看错规格(公差)不按D
∣Ca ∣ > 50%
应采取紧急措施,全面检查所有可能影响的因素,必要时须停止生产。
等级 Cp 值 处 理 方 法
等 级 说 明 A Cp ≧ 1.33 制造过程能力较为稳定,可将规格容
Cp 值当T 与
3σ的比越大,Cp 值也越
B 1.00 ≦ Cp < 1.33 有发生不合格品的危险,须多加注意并设法维持不要使其变坏及迅速追
C
0.83 ≦ Cp < 1.00
检查规格(公差)及操作规定,可能
A)P%当我们需要了过程的实际能力是否良好时,是不可单以Ca或Cp来判定,以不良率进行过程总评即可针对Ca及Cp进行综合评价。
B)Cpk为Ca和Cp的总合指数:
C)改进对策的方法:
a)Ca其对策方法以生产单位为主,设计、工艺部门为辅,检验部门为辅。
b)Cp其对策方法以技术单位为主,生产部门为辅,检验部门为辅。
3.性能指数(即初期过程的能力指数)Pp、Ppk计算及评价方法:
(1)计算公式:
A)Pp = T / 6σS(当产品和/或过程特性为双边规格时)
PPU(上初期过程的能力指数)= (SU-x)/ 3σS(当产品和/或过程特性为单边规格时)PPL(下初期过程的能力指数)= (x-SL)/ 3σS(当产品和/或过程特性为单边规格时)n
注:σS∑(xi -x)2 / n - 1
i=1
T = 公差= SU - SL = 规格上限值–规格下限值
x= 产品和/或过程特性之数据分配的平均值
n = 抽样样本的大小
xi = 每个样本的实际测量数值
σS = 样本标准差的估计值
B)Ppk = Min(PPU,PPL)= Min{(SU -x)/ 3σS,(x-SL)/ 3σS}
Ppk值为PPU和PPL中数值最小者。当产品特性为单边规格时,Ppk值即以PPU值或PPL值计算,但需取绝对值。
(2)等级评价及处理方法: