专利计量视角下的我国纳米技术发展现状及趋势分析

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２０１４＇￣５期
ＳｃｉｅｎｃｅａｎｄＴ。
髭。ｍ。Ｒａｒｃｈ
ｄｏｉ：１０．３９６９／ｊ．ｉｓｓｎ．１０００— ７６９５．２０１４．０５．０２２
专利计量视角下的我国纳米技术发展现状及趋势分析
中图分类号：Ｇ３０６；Ｃ１８
文献标志码：Ａ
文章编号：１０００— ７６９５（２０１４）０５— ０１０５— ０５
Leabharlann Baidu
ＣｈｉｎｅｓｅＮａｎｏｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙＤｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔＳｔａｔｕｓａｎｄＴｒｅｎｄＡｎａｌｙｓｉｓＢａｓｅｄｏｎＰａｔｅｎｔｓＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎＡｎａｌｙｓｉｓ
起足够的重视；多数申请人还不具备较为全面的技术，需加强各具有不同技术和资源优势的申请人之间的合作，
以提高我国纳米技术的整体全面提升。关键词：专利计量；纳米技术；时间分布；技术领域分布；申请人分布；发展态势；发展趋势
费琳
（江苏大学图书馆，江苏镇江２１２０１３）
摘要：为了解我国纳米技术发展现状，采用专利计量方法，对纳米技术专利申请的时间分布、技术领域分布、申请人分布、技术发展态势以及发展趋势进行分析。认为，我国纳米技术围绕着碳的制备等领域在快速发展的同时正在进行新一轮技术的储备；纳米技术目前主要处于科研阶段，高校与企业合作以促进成果转化问题应引
ＦＥＩＬｉｎ
（ＬｉｂｒａｒｙｏｆＪｉａｎｇｓｕＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙ，Ｚｈｅｎｊｉａｎｇ２１２０１３，Ｃｈｉｎａ）
Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｆｏｒｅｘｐｌｏｒｉｎｇｎａｎｏｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙｄｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔｓｔａｔｕｓ，ｔｈｅｐａｐｅｒａｎａｌｙｚｅｓｔｉｍｅ，ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙａｒｅａａｎｄａｐｐｌｉｃａｎｔｓｄｉｓｔｒｉ —
ｂｕｔｉｏｎｓ，ａｎｄｔｅｃｈｎｏｌｏｙｇｄｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔｓｔａｔｕｓａｎｄｄｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔｔｒｅｎｄｂｙａｐｐｌｙｉｎｇｐａｔｅｎｔｍｅｔｒｏｌｏｇｙ．Ｔｈｅｒｅｓｕｌｔｓｓｈｏｗ：（１）Ｔｈｅｐａｔｅｎｔｓａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓｕｍｉｓｉｎｃｒｅａｓｉｎｇａｎｄｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙｉｓｅｘｐｅｉｒｅｎｃｉｎｇｇｅｓｔａｔｉｏｎｐｅｉｒｏｄｏｆａｄｊｕｓｔｍｅｎｔ．（２）Ｃ０１Ｂ３１／０２ａｎｄｓｏｍｅｏｔｈｅｒｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙａｒｅａｓａｒｅｈｏｔａｒｅａｓ．Ｚｈ￣ｉａｎｇｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙａｎｄｓｏｍｅｏｔｈｅｒｕｎｉｖｅｒｓｉｔｉｅｓａｒｅｍａｊｏｒａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｉｎｓｔｉｔｕ — ｔｉｏｎｓ．（３）Ｃ０１Ｂ３１／０２ａｎｄｏｔｈｅｒｔｗｅｌｖｅａｒｅａｓｗｉｌｌｃｏｎｔｉｎｕｅｔｏｉｎｃｒｅａｓｅ．Ａ６１Ｋ３５／７８ａｎｄｏｔｈｅｒｉｆｖｅａｒｅａｓｗｉｌｌｄｅｃｌｉｎｅ．