TS16949统计技术应用控制程序
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统计技术应用控制程序
1 目的
确保统计技术能被正确、有效地应用、为质量控制和持续改进提供帮助。
2 适用围
本程序适用于公司统计技术应用控制。
3 基本职责
3.1品质部门负责对作业人员统计技术的培训和指导监察统计技术的实施。
3.2相关部门负责统计技术的应用实施。
4 工作程序
4.1 统计技术的确定
品质部门负责组织相关部门人员(事业制造部门、生产技术部门)根据制品的特性来确定统计技术的使用围,一般考虑:
4.1.1影响制品的主要质量问题;
4.1.2《控制计划》(FM-2-0203-01)等列出的产品关键特性;
4.1.3顾客的要求,包括后续顾客和最终顾客;
4.1.4必须便于操作者在现场使用;
4.1.5统计技术确定后规定在《控制计划》上。
统计技术确定流程:
是
是
4.2 统计技术的种类 4.2.1
计量型
4.2.1.1 定义:在概率统计理论中也称连续型随机変量,它是可以在数轴上连续取値的数据。 4.2.1.2 种类:
a) Х-MR 管理图
c) (X-bar)-R 管理图 d) 检查表 e) 折线图 4.2.2计数型
4.2.2.1
定义:在概率统计理论中也称离散型随机变量,它一般只在有限个数値上取値,
在质量控制中最常用的计数型数据是只取两个数値中的一个,如0、1、合格、不合格、通过、不通过等。
4.2.2.2 种类
a)不合格品率P图
b)np图及u图、cu图(该3种图本公司暂不使用)
4.2.2.3 适用围
用来测量在一批检验项目中不合格品项目的百分数。
4.2.3统计技术确定后,品质部门必须负责対现场操作人员进行培训,保证其完全掌握
使用方法并正确实施。
4.2.4其它本工场使用的统计技术参照《统计技术表》(附录一)。
4.3统计技术的应用
4.3.1统计技术确认后,由作业员收集数据并记录在《作业指导书》(XI-0902-01-XXX)
中规定的统计记录用的记录表格上。
4.3.2作业员计算各相关的数据。
4.3.3统计点出现异常时,作业员须将异常情况报告制造组的工长进行现场分析,分析
结果记录在相应的统计技术表上。
4.3.4当制造部门无法单独解决异常时,制造组的组长将情况连络品质技术部门,由品
质技术部门组织各部门协同处理。
4.4计量型统计技术的应用指南
4.4.1数据的收集
4.1.1.1选择子组容量、频率、子组数。
a)合理的子组的确定将决定控制图的效果,在控制图中,子组的容量是恒定的,在过
程研究初期,n取4~5,通常取2~5件连续生产的制品;
b)每隔一定的周期(如15min或每班两次)抽取子组初期研究中,通常是连续进行分
组或在很短时间间隔抽取子组,対处于稳定状态的过程,抽取子组的周期可以延
长,对正常生产进行监控的子组频次可以是每班两次,每小时1次等;
c)足量的子组数可以确保发现变差的主要原因,一般情况下,一次过程研究的子组数
等于一月的日期数,或包含的单値数大或等于1OO。
4.4.1.2建立控制图并记录原始数据。
4.4.1.3计算毎个子组的均値(X-bar)和极差(R)
X1+X2
‘ n
R = X(max)-X(min)
式中n为子组容量。
4.4.1.4 选择控制图的刻度。
X图刻度围≧子组均値最大値与最小値差的2倍。
R图刻度,从0到最大値之间围≧初始阶段最大极差的2倍。
4.4.1.5 将均値X和极差R分别用标点的形式画在控制图上。如果是初始研究,需在控制
图上标明。采集完一个研究过程的数据后(一月期),计算控制线,并対超过控制
线和不规则标点的原因进行分析改进。除去不规则点的子组数据后,重新计算控
制线,作为下月的控制线,下月有不规则的点,需马上标记,并分析改进。再重
新计算控制线,作为下月控制线,依此类推。原则上初始研究只有一次,但在设
备更换,设计改变,或工程改变的情况下,可重新进行初始研究。除初始研究外,
控制图应先标有控制线。(具体使用方法,参照控制图)。
4.4.2过程控制解释
4.4.2.1分析极差图
首先分析极差图,将数据点与控制限相比确定超出控制限的点或非随机分布的图
形或趋势。
a)超出控制限的点
出现一个或多个超出控制限的点,表明过程在该点处于失控状态,当只存在
普通原因时,很少可能有超过控制界限点,多半存在特殊原因。
b)链的出现
说明出现了非随机的趋势,存在特殊原因。
c)其它明显的非随机图形。
一般情况,大约2/3的点应落在离中心线周围1/3的区域.明显多于这个数或少
于这个数是属于不正常的。
4.4.2.2 识别并标注特殊原因(极差图)
从控制图中识别出特殊原因造成的数据点或数据点区段,并加以标注,找出原因
立即采取措施予以消除(有益的加以保持)。
4.4.2.3 分析均値图
分析均値图的方法基本同极差图一样,找出超出控制限的数据和非随机的图形与
趋势。
4.4.2.4 识别和标注特殊原因(均値图)
出现特殊原因,可以从以下几个方面分析:
a)计算或描点错误;
b)过程发生了变化等(过程均値变化);
c)测量系统变化(漂移、偏差、灵敏度);
d)数据被编辑;
e)不同过程混淆;
f)过度调整。
4.5统计技朮的培训
应対相关人员进行统计技朮培训,其容应包括但不限于基本概念,如:变差、
过度调整。
5品质记录
《控制计划》(FM-2-0203-01)
《X-MR管理图》(FM-2-2001-01)
《P控制图》 (FM-2-2001-02)
《(X-bar)-R管理图》(FM-2-2001-03)
6支持性文件
《作业指导书》
附录一