统计技术应用规定
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4.3.6 计算平均不合格品率
=
4.3.7 计算上下控制限（UCL和LCL）
UCL =
LCL =
4.3.8 将中位线（ ）和上下控制限（UCL ，LCL ）描于P图上，P图制作完成
4.4 控制图的分析（包括 -R图及R图）
4.4.1 当出现下列情况时，则说明过程出现异常：
a:出现超过控制限的点；
b:出现非随机图形，即不能使2/3的点位于中位线周围1/3的区域内；
Ｘ＝平均值
4.8.5 设备能力指数Ｃmk的评价及处理方法
Ｃmk值
等 级 说 明
处 理 方 法
备注
Ｃmk≥ 1.67
设备能力充分
可以投入正常使用
Ｃmk〈 1.67
设备能力不足
加紧设备检修，必要时进行停产大修
4.8.6 设备能力指数Ｃm与工序能力指数Ｃp的关系
当Ｃp〉1.33时，设备能力可以认为是充分的；
控制图
特性要因图
排列图
4.2.5 将25个 值及25个R值分别描于 图及R图上，并连成折线，可见图形及趋势。
4.2.6 计算平均极差 和过程均值
=（R +R +……+R ）/25
=（ + +……+ ）/25
4.2.7 计算上下控制限（UCL及LCL）
图：UCL = +A R LCL = -A R
R图：UCL =D LCL =D
当1≤Ｃp〈1.33或Ｃp〈1时，设备能力指数可能≥1.67，也可能小于1。在这两种状态下， 都要先对工序进行设备能力分析即对某一种因素进行能力分析，针对不同情况加以处置。
4.8.7 相关数据的采集，除使用客户特殊要求的表格外，如客户无特殊的表格则采用公司的《过程能力计算表》。
4.8.9 在进行能力评估时，须将相关数据填入《工序能力评定表》或《设备能力评定表》。
2.4 Cpk值：有偏移时（过程均值 与规范中值不一致）的过程能力指数。
2.5 Pp值：无偏移时（过程均值 与规范中值一致）的过程能力指数。
（初始过程能力指数）
2.6 Ppk值：有偏移时（过程均值 与规范中值不一致）的过程能力指数。
（初始过程能力指数）
2.7 Cm值：无偏移时（过程均值 与规范中值一致）的设备能力指数。
4.3.2 根据采样频率采集数据，每个样本的200个数据要连续获得。
4.3.3 计算每个样本内的不合格品率。
P=Np/n式中 P：不合格品率
Np：样本内不合格品数，共得25个P值
N：样本容量
4.3.4 根据P值确定控制图的刻度（控制图应提前制好）。
4.3.5 将25个P值确定描于控制图上，并连成折线，可见图形及趋势。
P = Ppk=min(P = ,P = )
式中： =
=
C = 式中： =
4.6.2 计量型质量特性过程能力指数越大说明过程能力越强。
4.6.3 计算过程能力指数必须在过程受控的情况下进行。
4.7 计数型质量特性过程能力指数计算
4.7.1 利用P图所采集的数据计算。
4.7.2 用P直接表示过程能力。
4.6计量型质量特性过程能力指数计算
4.6.1利用 -R控制图所采集的125个数据进行计算
符号说明 USL：公差上限LSL：公差下限
：固有标准差 ：总校准差
：（过程均值） 与规范中值之差
T：公差带K：规范中值
X ：连续取样（25～50个）n:样本总数
C = C =min( )
式中： = （d =2.33）
4.7.3 计数型质量特性过程能力指数越小说明过程能力指数越强。
4.8设备能力指数Ｃm、Ｃmk计算及评价
设备能力指数是指工序在稳定状态下，某一种影响工序质量因素所具有的保证产品质量的能力，也就是在影响工序能力的其它因素均保持在相对固定的良好状态下，该设备所拥有的能力。
4.8.1 设备能力指数Ｃm、Ｃmk计算方法
当n=5时，A =0.58 D =2.11 D =0
4.2.8 将中位线（ 及 ）和上下控制限（UCL ，LCL ，UCL ，LCL ）分别描于 图及R图上， 图及R图制作完成。
4.3 P图的制作
4.3.1确定样本容量（每个样本200个数据，即n=200），确定样本数量（25个，即k=25），根据该工序的生产节拍确定采样频率（即隔多长时间取一个样本或多少产量取一个样本）。
4.8.2 Ｃa＝（Ｘ-u）/（Ｔ/2）×100％
4.8.3 当质量标准为双向公差时
Ｃm＝Ｔ/６Ｓ
当质量标准为单向公差时
Ｃm＝（Ｔu－Ｘ）/３Ｓ＝（Ｘ－ＴL）/３Ｓ
4.8.4 Ｃmk＝（１－│Ｃa │）×Ｃm
当Ｃa＝０时，Ｃmk＝Ｃm
注：u＝公差中心值
Ｔ＝公差＝Ｔu-ＴL＝公差上限－公差下限
Ｓ＝标准偏差
4.9控制图及各种分析资料的汇总及归档按质量记录管理过程规定进行控制。
5、附件：
一、文件更改记录
附件一、本文件更改记录
序号
更改日期
更改条款
更改内容
更改标记
更改申请表号
更改人
4.2.2 根据采样频率采集数据，每个样本的5个数据要连续获得，共获得125个数据，并将数据记录于控制图中的数据表中。
4.2.3 计算每个样本中5个数据的均值 和极差R
=（X +X +X +X +X ）/5 R=X -X
共得到25个 值和25个R值。
4.2.4 根据 值和R值确定控制图的刻度（控制图应提前做好）。
2.8 Cmk值：有偏移时（过程均值 与规范中值不一致）的设备能力指数。
3、职责
典型职责为：控制图的制作，打点，分析，指导，制定纠正措施，以及过程能力指数的计算。
4、内容
工作内容
记录表单
4.1 在运用控制图监视及计算过程能力指数的过程中要作好如下准备：
4.1.1 确定测量系统（测什么，何处测，如何测，工具，准确性）
c:出现链，即连续7点位于线的一侧或连续7点上升或下降。
4.4.2出现上述异常时，应进行分析并采取措施。
4.5控制图用于长期监控
4.5.1当过程不稳定因素已清除后，应剔除失控点数据，重新计算过程均值（ ，P）和控制限。
4.5.2 将重新计算的过程均值和控制限描于控制图上并用于长期监控。
4.5.3 剔除失控点后，若样本数量小于20时，原有控制图即行作废，需重新采集数据并制图。
统计技术应用规定
1、目的
本规定应用于关键工序及涉及产品特殊特性工序的工序能力调查及工序能力指数的计算，以及控制图的制作监视及分析。
2、术语
2.1计量型控制图：指用于监视计量型数据控制图，本作业指导书介绍 -R控制图。
2.2计数型控制图：指用于监视计数型数据控制图，本作业指导书仅用Leabharlann BaiduP图。
2.3 Cp值：无偏移时（过程均值 与规范中值一致）的过程能力指数。
4.1.2 减少不必要的变差（避免刀具更换，材料更换，操作者更换，检验员更换，设备故障，工装更换）
4.1.3 如出现上述更换，则应在控制图上作好记录。
4.2 -R图的制作
4.2.1 确定样本容量（每个样本5个数据）即n=5，确定样本数量（25个），根据该工序生产节拍确定采样频率（即隔多长时间取一个样本或多少产量取一个样本）。
=
4.3.7 计算上下控制限（UCL和LCL）
UCL =
LCL =
4.3.8 将中位线（ ）和上下控制限（UCL ，LCL ）描于P图上，P图制作完成
4.4 控制图的分析（包括 -R图及R图）
4.4.1 当出现下列情况时，则说明过程出现异常：
a:出现超过控制限的点；
b:出现非随机图形，即不能使2/3的点位于中位线周围1/3的区域内；
Ｘ＝平均值
4.8.5 设备能力指数Ｃmk的评价及处理方法
Ｃmk值
等 级 说 明
处 理 方 法
备注
Ｃmk≥ 1.67
设备能力充分
可以投入正常使用
Ｃmk〈 1.67
设备能力不足
加紧设备检修，必要时进行停产大修
4.8.6 设备能力指数Ｃm与工序能力指数Ｃp的关系
当Ｃp〉1.33时，设备能力可以认为是充分的；
控制图
特性要因图
排列图
4.2.5 将25个 值及25个R值分别描于 图及R图上，并连成折线，可见图形及趋势。
4.2.6 计算平均极差 和过程均值
=（R +R +……+R ）/25
=（ + +……+ ）/25
4.2.7 计算上下控制限（UCL及LCL）
图：UCL = +A R LCL = -A R
R图：UCL =D LCL =D
当1≤Ｃp〈1.33或Ｃp〈1时，设备能力指数可能≥1.67，也可能小于1。在这两种状态下， 都要先对工序进行设备能力分析即对某一种因素进行能力分析，针对不同情况加以处置。
4.8.7 相关数据的采集，除使用客户特殊要求的表格外，如客户无特殊的表格则采用公司的《过程能力计算表》。
4.8.9 在进行能力评估时，须将相关数据填入《工序能力评定表》或《设备能力评定表》。
2.4 Cpk值：有偏移时（过程均值 与规范中值不一致）的过程能力指数。
2.5 Pp值：无偏移时（过程均值 与规范中值一致）的过程能力指数。
（初始过程能力指数）
2.6 Ppk值：有偏移时（过程均值 与规范中值不一致）的过程能力指数。
（初始过程能力指数）
2.7 Cm值：无偏移时（过程均值 与规范中值一致）的设备能力指数。
4.3.2 根据采样频率采集数据，每个样本的200个数据要连续获得。
4.3.3 计算每个样本内的不合格品率。
P=Np/n式中 P：不合格品率
Np：样本内不合格品数，共得25个P值
N：样本容量
4.3.4 根据P值确定控制图的刻度（控制图应提前制好）。
4.3.5 将25个P值确定描于控制图上，并连成折线，可见图形及趋势。
P = Ppk=min(P = ,P = )
式中： =
=
C = 式中： =
4.6.2 计量型质量特性过程能力指数越大说明过程能力越强。
4.6.3 计算过程能力指数必须在过程受控的情况下进行。
4.7 计数型质量特性过程能力指数计算
4.7.1 利用P图所采集的数据计算。
4.7.2 用P直接表示过程能力。
4.6计量型质量特性过程能力指数计算
4.6.1利用 -R控制图所采集的125个数据进行计算
符号说明 USL：公差上限LSL：公差下限
：固有标准差 ：总校准差
：（过程均值） 与规范中值之差
T：公差带K：规范中值
X ：连续取样（25～50个）n:样本总数
C = C =min( )
式中： = （d =2.33）
4.7.3 计数型质量特性过程能力指数越小说明过程能力指数越强。
4.8设备能力指数Ｃm、Ｃmk计算及评价
设备能力指数是指工序在稳定状态下，某一种影响工序质量因素所具有的保证产品质量的能力，也就是在影响工序能力的其它因素均保持在相对固定的良好状态下，该设备所拥有的能力。
4.8.1 设备能力指数Ｃm、Ｃmk计算方法
当n=5时，A =0.58 D =2.11 D =0
4.2.8 将中位线（ 及 ）和上下控制限（UCL ，LCL ，UCL ，LCL ）分别描于 图及R图上， 图及R图制作完成。
4.3 P图的制作
4.3.1确定样本容量（每个样本200个数据，即n=200），确定样本数量（25个，即k=25），根据该工序的生产节拍确定采样频率（即隔多长时间取一个样本或多少产量取一个样本）。
4.8.2 Ｃa＝（Ｘ-u）/（Ｔ/2）×100％
4.8.3 当质量标准为双向公差时
Ｃm＝Ｔ/６Ｓ
当质量标准为单向公差时
Ｃm＝（Ｔu－Ｘ）/３Ｓ＝（Ｘ－ＴL）/３Ｓ
4.8.4 Ｃmk＝（１－│Ｃa │）×Ｃm
当Ｃa＝０时，Ｃmk＝Ｃm
注：u＝公差中心值
Ｔ＝公差＝Ｔu-ＴL＝公差上限－公差下限
Ｓ＝标准偏差
4.9控制图及各种分析资料的汇总及归档按质量记录管理过程规定进行控制。
5、附件：
一、文件更改记录
附件一、本文件更改记录
序号
更改日期
更改条款
更改内容
更改标记
更改申请表号
更改人
4.2.2 根据采样频率采集数据，每个样本的5个数据要连续获得，共获得125个数据，并将数据记录于控制图中的数据表中。
4.2.3 计算每个样本中5个数据的均值 和极差R
=（X +X +X +X +X ）/5 R=X -X
共得到25个 值和25个R值。
4.2.4 根据 值和R值确定控制图的刻度（控制图应提前做好）。
2.8 Cmk值：有偏移时（过程均值 与规范中值不一致）的设备能力指数。
3、职责
典型职责为：控制图的制作，打点，分析，指导，制定纠正措施，以及过程能力指数的计算。
4、内容
工作内容
记录表单
4.1 在运用控制图监视及计算过程能力指数的过程中要作好如下准备：
4.1.1 确定测量系统（测什么，何处测，如何测，工具，准确性）
c:出现链，即连续7点位于线的一侧或连续7点上升或下降。
4.4.2出现上述异常时，应进行分析并采取措施。
4.5控制图用于长期监控
4.5.1当过程不稳定因素已清除后，应剔除失控点数据，重新计算过程均值（ ，P）和控制限。
4.5.2 将重新计算的过程均值和控制限描于控制图上并用于长期监控。
4.5.3 剔除失控点后，若样本数量小于20时，原有控制图即行作废，需重新采集数据并制图。
统计技术应用规定
1、目的
本规定应用于关键工序及涉及产品特殊特性工序的工序能力调查及工序能力指数的计算，以及控制图的制作监视及分析。
2、术语
2.1计量型控制图：指用于监视计量型数据控制图，本作业指导书介绍 -R控制图。
2.2计数型控制图：指用于监视计数型数据控制图，本作业指导书仅用Leabharlann BaiduP图。
2.3 Cp值：无偏移时（过程均值 与规范中值一致）的过程能力指数。
4.1.2 减少不必要的变差（避免刀具更换，材料更换，操作者更换，检验员更换，设备故障，工装更换）
4.1.3 如出现上述更换，则应在控制图上作好记录。
4.2 -R图的制作
4.2.1 确定样本容量（每个样本5个数据）即n=5，确定样本数量（25个），根据该工序生产节拍确定采样频率（即隔多长时间取一个样本或多少产量取一个样本）。