ITO真空溅射镀膜汇总

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4)脉冲溅射
4.5反应溅射镀膜
Reaction Sputtering Coating
1)定义:
溅射镀膜时,有目的地充入反应性气体,从而在基体 上得不同于靶材的薄膜成分
2)原理机制
由于反应性气体的分压较低,所以气相反应很少,固 相反应为多数
qB B
回转周期 T 2m 2
qB B
无平行电场时的节距:
h
Tv //
2v// B
②有平行电场时的节距: B//E,且B、E均匀 B、E反向 电子被加速 电子回旋的螺距增大
B、E同向 电子被减速 电子回旋的螺距减小
③有正交电场时的运动 B⊥E 且B、E均匀 摆线轨
迹(直线运动与圆周运动的合成)
被轰击物体处于负电位,故称为“阴极溅射”。 溅射 镀膜中,被轰击物体称为“靶”。
2) 理论
蒸发论——动能论,温度论; 溅射论——动量论; 混合论。
3)参数 溅射率 η = 溅射出的靶材原子数 / 入射正离 子数
影响因素:
①靶材成分——原子序数大,η大; ②入射正离子种类——惰性气体η大,常用氩气Ar; ④正离子入射角度——70~80°时有最大值;P92 Fig
③缺点: 参数不能单独控制, 靶材必须为良导体,且
易于发射电子 沉积速率低 基片温升高(电子轰击)
2)三极(四极)溅射 结构 Nhomakorabea阴极、阳极间形成放电,产生等离子体, 其中的正离子轰击低电位的靶(第三极), 将其溅射沉积在对面的基片上(无电位)。 加稳定性电极(第四极) 改进:放电不依赖阴极的二次电子发射, 正离子、溅射速率由热阴极的发射电流来控制 可控性和重复性好
电子在第三轴方向行走,在E方向仅有限高度 摆线轨迹(旋轮线半径)
mE
re eB 2
m
式中e ——电子电荷量C;m——电子质量kg;
B——磁感应强度T;E——电场强度V/m。
应用实例:平面电极——均匀正交电磁场 磁控靶
平面
同轴圆柱电极——径向电场轴向磁场 同轴圆柱靶
磁控的目的:
利用磁场的束缚效应,使电子轨迹加长,使放电可以 在较低的电压和气压条件下维持。
4.3 (直流)磁控溅射镀膜
Magnetron Sputtering Technique 利用磁场控制电子的运动
1)磁控原理:电子在静止电磁场中的运动
①电子速度:V// —平行于B的速度分量,产生漂移运 动;
V⊥—垂直于B的速度分量,产生回旋运动;合成螺旋 运动
回转半径 R m v v
4-4 ⑤靶材温度——低温时η不变,高温时剧增;P92 Fig
4-5
4)特点:
①可控性好,重复性好;
②膜的附着强度高:溅射粒子能量高几~十几eV,对 比 蒸发粒子0.几eV;
可形成伪扩散层;
等离子体的清洗和激活基体表面作用;
附着不牢的粒子被清除掉。
③膜材成分广泛:靶材种类——块体、颗粒、粉体; 单质、化合物、混合物;
第四章 真空溅射镀膜 Vacuum Sputtering Coating
教学重点:溅射镀膜原理;磁控溅射靶; 靶的磁场分布计算;典型镀膜机
4.1 溅射技术 Sputtering Technique
1)定义: 溅射——用荷能粒子(气体正离子)轰击物体,从而
引起物体表面原子从母体中逸出的现象及过程。
③功率效率=沉积速率(nm / min )/靶功率密度 (W/cm2)
最大功率密度 功率过大会引起靶开裂、升华、熔化。
是限制沉积速率的重要因素;水冷系统的主要设计依 据
4.4 射频溅射镀膜
R.F.(Radio Frequency) Sputtering Coating
1)原理: 解决绝缘材料的溅射 A+入射轰击,维持10-7s电位抵消,反转电极 e入射中和,维持10-9s,电荷中和 射频电源:频率13.56MHz 正负半周各在10-7s左右
磁控溅射的特点:
① 电子利用率高,低气压、低电压下能产生较多正离 子——溅射速率高;
② 电子到达基片时是低能状态,升温作用小——基片 温度低;
③ 放电集中于靶面;
④ 沉积速率大。
1)磁控靶
设计要点:①产生均匀正 交电磁场,电场⊥,磁场 ∥。关心水平磁场的强度 和分布。
②磁场形成封闭回路,电 子在其中循环飞行。
来源 气体
要求 处于溅射能量阈 要求)
低压气体环境(输运过程的
4.2 直流溅射镀膜
D.C. Sputtering Technique
1)二极溅射
①原理:异常辉光放电产生正离子 ②结构: 镀膜室 基片架及基片 溅射靶 加热装置(促进发射电子) 充气系统——工作气体Ar气,反应气体 抽气系统——本底真空 10-3Pa, 工作真空 1~10Pa 电气系统——放电电源
特点:气体极易被击穿,所以击穿(破裂)电压和放电
电压仅为直流溅射 1
10
2)装置 射频二极溅射——
射频磁控溅射——二者区别:溅射靶有无磁场
P119,Fig4-32
3)电源 射频源13.56MHz 电阻电容耦合
关键解决屏蔽问题:电源问题 同轴传输导线;
靶;

室体——用导体 观察窗——金属网或旋转挡
③防止非靶材成分的溅射, 加屏蔽罩。屏蔽间隙δ< 2re
结构形式:107 Fig4-15
①圆平面靶
②矩形平面靶
③同轴圆柱靶
④S枪(圆锥靶)
⑤旋转圆柱靶(柱形平面靶)
⑥特殊结构靶
3)工作特性及参数
①电流电压特性: 低压等离子体放电
j K( p)U n
电压↑,电流↑; 气压p↑,放电电压U↓,电流I↑; 与靶的结构有关。 ②沉积速率:单位时间成膜厚度 q r nm / min 相对沉积速率与气压的关系 P110 Fig4-19 沉积速率与靶电流的关系 P110 Fig4-21 沉积速率与靶基距的关系 P110 Fig4-20
膜材成分——单质膜、化合物膜、混合物膜、
多层膜、反应膜;
④组分基本不变,偏析小,不受熔点限制;
⑤成膜速率比蒸发镀膜低,基片温升高,受杂质气体 影响严重。
5)方式: (普通)直流溅射——二级溅射、 三级或四级溅射 (直流)磁控溅射—— 高频溅射——射频溅射 反应溅射——
要点:弹粒子入射——成分 惰性气体Ar+ 放电
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