美国SINTON少子寿命测试仪

美国SINTON少子寿命测试仪

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准稳态光导寿命测试仪

系统构成分为二大功能部分：一为准稳态光电导少子寿命测试部分；二为Suns-Voc功能测试部分；。。对三部分各自的技术指标及构成要求如下：

1.准稳态光电导少子寿命测试部分：

1）测量原理QSSPC（准稳态光电导）

2）少子寿命测量范围100 ns-10 ms

3）测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析

4）电阻率测量范围0.2–600 (undoped) Ohms/sq.

5）注入范围：1013-1016cm-3

6）感测器范围直径40-mm

7）测量样品规格标准直径: 40–210 mm （或更小尺寸）

8）测试样片厚度范围10–2000μm

9）外界环境温度20°C–25°C

10）通用电源电压100–240 VAC，60 Hz

11）该部分系统构成：1．少子寿命测试主机，信号接线盒及信号线；2．含带通滤光片的程控闪光灯；3．安装配置有如下软件的计算机系统:Windows OS；MS office；4数据采集及分析软件包；5．数据采集卡，双通道，共模抑制；以及其它完成该测试功能所必须的构成硬件及软件。

2.Suns-Voc功能部分

1）该部分应可进行如下参数的测试分析：太阳电池片开路状态下的隐IV曲线，通过该测试可得到材料所能获得的最高效率（implied IV curve at open circuit:materials limit to effeciency）；伪效率（pseudo-efficiency）；伪填充因子（pseudo fill factor）；二极管分析（two-diode analysis）；分流值（shunt value）。

2）标准照明的范围：0.01-6suns （AM1.5）。

3）Suns-Voc系统特征为：电压探针高精确度；兼容磁性探针；配备全套浓度补正滤色片的疝气灯；可准确调制亮度；使用标准的IV曲线图及Suns-Voc曲线图；不受串联电阻的影响，测定晶片特征。