用霍尔效应测量磁场
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用霍尔效应测量磁场
【目的要求】
1. 了解霍尔效应的基本原理
2. 学习用霍尔效应测量磁场 【实验原理】
如图1所示为一n 型半导体材料制成的霍尔原件示意图。
B f qvB = (1)
H
E U f q
a
=..........(2) E B f f = (3)
由(1)(2)(3)式可得:H U vBa =,
而
又
有
s I nqvs =,故可得:1
H s U I Ba nqs
=
,又s ab = 得:1
H s U I B nqb
=
H s K I B =(K H 与半导体类型,载流子浓度,半导体厚度有关) 根据上式,如果知道霍尔片的灵敏度K H ,只要测出U H 和I S 就可求出磁场。 【实验器材】
HT —S 型螺线管磁场测试仪, 【实验步骤】
1. 测量霍尔电流H I 与霍尔电压H U 的关系,
连接电路,让励磁电流0.5M I A =,调节S I 从0mA ~变化(每隔1mA 记录一次数据),记录H U 与H I ,并作出H U —H I 的图像。
2. 测量励磁电流与磁感应强度的关系
连接电路,将霍尔原件放在螺线管的中间位置,让霍尔电流10.0m S I A =,调节励磁电流从0A ~1A 之间变化(每隔记录一次数据),记录H U 与M I ,并作出H U —M I 的图像。 3. 测量通电螺线管磁场沿水平方向的分布
令0.5M I A =,10m S I A =,调节支架旋钮,使霍尔片从螺线管的一端慢慢往另一端移动,直到霍尔片出螺线管,依次测量磁场在水平方向的分布。
【数据处理】(实验数据来自胡毓文)
1. 测量霍尔电流I S 与霍尔电动势U H 的关系。其中I M =0.500A ,
2.71/()H K mV mA kGs =⋅
/S I mA /H U mV ++ /H U mV +- /H U mV -+ /H U mV --
/H U mV
根据上表可画出H H U I -图像,如图2所示。 由图线可知:在磁场一定的情况下,霍尔电压与霍尔电流成
正比。
可算出:斜率0.162H K B ⋅=Ω 把 2.71/()H K mV mA kGs =⋅代入上式
可得:此时的磁感应强度3
5.9910B T -=⨯
2. 测量励磁电流m I 与磁感应强度B 的关系。
10.00S I mA =, 2.71/()H K mV mA kGs =⋅
/M I A
/H U mV ++ /H U mV +- /H U mV -+ /H U mV --
/H U mV
3/10H H S
U B T K I -=⨯
由图像可知,磁感应强度大小与励磁电流成正比。
3. 测量通电螺线管内部磁场分布。
其中I M =,10.00S I mA = 2.71/()H K mV mA kGs =⋅
/x cm
/H U mV ++ /H U mV +- /H U mV -+ /H U mV --
/H U mV 3/10H H S
U
B T K I -=⨯
/x cm
/H U mV ++
/H U mV +- /H U mV -+ /H U mV --
/H U mV
3/10H H S U B T K I -=⨯
由图可知,通电螺线管内部磁场接近不变,而在进和出螺线管出的磁场变化很快。
【误差分析】
(1)存在热磁效应产生误差。
(2)霍尔片不一定能完全沿螺线管的轴线运动带来一定的误差,
(3)霍尔片不能完全与磁感应强度方向垂直可引起误差。
【说明】
(1)要能用霍尔效应判断霍尔片属于P型半导体材料还是n型半导体材料
(2)励磁电流与霍尔电流不能接反。
(3)在第1个步骤当中,如果给定一个特斯拉计,则可算出霍尔原件的灵敏度。如果再给出霍尔原件的材料(可计算载流子浓度与单个载流子电荷量)还可计算出霍尔片的厚度。
(4)作图时变化较大的区域应多取几个点,变化很小的区域可以少取些。
(5)注意在测量前,应先调零。