HS620综合性能校验测试方法

超声波探伤系统工作性能测试操作

一、直探头性能测试

1、灵敏度余量测试方法：

1）开机后按键，再按选择一个“直探头”通道。

2）按增益键，再按键将增益提高，只到屏幕上的电噪声信号平均波幅到10%FSH为止，并记录下当前衰减器的增益读数S0，

3）按范围对应的键，再按键，将满屏范围调至大于225mm

4）将探头放在灵敏度试块上（Φ2×200㎜），移动探头找出Φ2孔的最高回波，按增益键调整波形到50%FSH并记录下当前衰减器增益读数S

。

1

5）灵敏度余量ΔS = S0 - S

1

将计算出的数值填写在记录纸上。

2、直探头水平线性测试方法

1）开机后按键，再按选择一个“直探头”通道。

2）将探头置于CSK-IA试块上厚度25mm的平面上，找出第一次回波（B1）。

3）按范围对应键两次切换到平移状态，再按键，将B1调至0刻度，然后按平移对应键切换到范围状态，再按键使B6对齐水平满刻度，分别观察B2、B3、B4、B5是否对齐第2、4、6、8格，如果对不齐，则按调校键，再按零偏对应键，然后按方向键使之对齐，并记录下零偏调节的数值，（例如：B2没对齐第2格，调节零偏0.6uS以后对齐则偏差值为0.6）取最大偏差值Amax，代入下式计算：

ΔL=｜Amax|%

3、垂直线性测试方法：

1）开机后按键，再按选择一个“直探头”通道。

2）按范围对应的键，再按键，将满屏范围调至大于225mm

3）将直探头与仪器连接，并将探头放在灵敏度试块上（Φ2×200㎜），移动探头找出Φ2孔的最高回波，按增益键调整波形到刚到100%FSH。

4）按增益键，将增益步进调整为2dB

5）按键，进行2dB一次的衰减，并将每次的波幅读数记录下来，与理论值对比。如下表：

6）用理论值减去实测值，得出偏差，将正向最大偏差值d(+)与负向最大偏差值d(-)代入下式计算

Δd = |d(+)| + |d(-)|

1）开机后按键，再按选择一个“直探头”通道。

2）按范围对应的键，再按键，将满屏范围调至大约125mm

3）将探头放在CSK-IA试块上如下图所示，找出86㎜和91㎜两处平底的反射回波并找出相同高度时，

4）按增益键，将波幅调整到20%～30&FSH，并记录下当前衰减器读数记作S

1

5）按增益键，再接方向键反增益提高使两波形成的波谷达到20%～30%FSH，并记录下当前

衰减器读数记作S

2

6）分辨力ΔS = S

2 - S

1

5、探头盲区的测试

1）开机后按键，再按选择一个“直探头”通道。

2）按范围对应的键，再按键，将满屏范围调至大于25mm

3）将探头放在盲区试块上，找出不同深度的人工缺陷回波，

4）按增益键，将缺陷回波调整到50%，

5）若缺陷回波的前沿与始波后沿相交形成的波谷高度小于10%，此最小孔深为盲区高度。6）波谷高度的测量，是把范围拉宽，看整个脉冲峰值点中最低的一个如下图：

找出缺陷孔回波调到50% 展开后的效果

1）将探头放在相应的试块上，找出任意一个反射面的回波，反射面距离探测面的距离应该在探头近场区长度的1～1.5倍之间。

2）按参数键，将检波方式调整为射频波，再按参数键返回探伤界面。 3）按范围对应的键，再用方向键将波形展宽，如下图

4）分别用时间闸门读取该回波射频序列中的最高的正相波峰m 前的一个峰值f 和最高正相波峰后的第二个正相波峰b 的传播时间T 1和T 2并代入下式计算： 组合频率 F = 3/（T 2 - T 1）

二、斜探头工作性能测试

1.斜探头入射点测试

1）准备工作：按

键，再按

键，选择任意斜探头通道。将探头与仪器连接好。

2）将斜探头放在CSK-IA 试块上，对准R100弧面如下图所示：

④ 移动探头找出R100的最高回波，此时手应稳住探头不动，用钢尺测量探头前端到

IA CSK 试块R100端边的距离X ，代入下式计算探头前沿L ０

L ０＝X -100

2、斜探头K 值测试

1） 准备工作：按

键，再按

键，选择任意斜探头通道。将探头与仪器连接好。

2）将斜探头放在CSK-IA试块上，如下图所示：

3）找到最高回波后，观察探头入射点对应的试块上的K值刻度，读出探头K值班。

4）如试块上无刻度，则用钢尺量出探头到缺陷孔中心的水平距离L

1

，代入下式计算K值

K＝（L

0＋L

1

）／H

H－被测缺陷孔中心距离探测面的垂直深度。

3、斜探头分辨力测试方法

1）开机后按键，再按选择一个“斜探头”通道。

2）按范围对应的键，再按键，将满屏范围调至大于125mm

3）将探头放在CSK-IA试块上如下图所示，找出50㎜和44㎜两处横孔的反射回波并找出相同高度时，

4）按增益键，将波幅调整到20%FSH，并记录下当前衰减器读数记作S

1

5）按增益键，再接方向键反增益提高使两波形成的波谷达到20%FSH，并记录下当前衰减器

读数记作S

2

6）分辨力ΔS = S

2 - S

1

4、斜探头灵敏度余量测试方法

1）开机后按键，再按选择一个“斜探头”通道。将探头放在CSK-IA试块上，如下图所示：

2）按增益键，再按键将增益提高，只到屏幕上的电噪声信号平均波幅到10%FSH为止，并记录下当前衰减器的增益读数S0，

3）按范围对应的键，再按键，将满屏范围调至大于100mm

4）将探头与仪器连接，并将探头放在CSK-IA试块上，移动探头找出R100的最高回波，

。

按增益键调整波形到50%FSH并记录下当前衰减器增益读数S

1

5）灵敏度余量ΔS = S0 - S

1

TOFD 探头声场测试工艺试验

一、准备器材

1. TOFD 仪器

2. 试块：扩散角测量试块

3.探头：根据检测工艺选取探头和锲块

二、步骤

1）开机后按1号键进入TOFD软件，再按通道键选择Pe校准模式

2）将需要测量的探头装上楔块,将入射点对准试块上的圆心处1位置，如下图，探头入射点为12mm

3）将另一接收探头（不装楔块）放在弧面位置移动，找到最大波幅，将最大波幅调至仪器满屏的80%，此时探头2 位置对应的角度刻度值α0 即为测试探头的发射中心角；

c）保持位置1 的测试探头不动，向下移动2 位置探头，当反射波幅降低至20%满屏高度时，记下探头2 的位置角度值α1，此角为下扩散角；

d）保持位置1 的测试探头不动，向上移动2 位置探头，反射波幅会逐渐升高至80%，继续向上移动，波幅会降低，当反射波幅降低至20%满屏高度时，记下探头2 的位置角度值α2，此角为上扩散角。