通用电子元件进料检验规范
电子料进料通用检验规范
将物料引脚浸入松香內 1 秒后,立即浸入温度为 250℃±5℃ 的锡炉內 3～5 秒，上锡面积应不小于浸锡面积；
V
每批只取其中1-2片作检验
材料名称:电阻器
检验
检验仪器
检 验 方 法 及 规 格 要 求
判定缺点类别
备注
项目
设备工具
CRI
MAJ
MIN
1.包装
目视
每一包装箱外及内盒上是否有相应之品名、规格、料号、供货商、出厂日期,物料标示单上月份标签颜色是否正确；
V
METER
5.DF值
LCRMETER
测试其DF值是否与规格承认书相符(记录数据5PCS)；
V
6.防爆
直流电源
施加反向电压使其爆裂,检查是否从防爆孔处爆裂.(5Φ以上电解电容)；
V
7.E.S.R
LCR
针对特殊要求之低内阻电解电容,测试其内阻必须小于，等于其标准值；
V
8.绝缘阻抗(适用时)
高压机
不得低于标准值(参照承认书)；
V
2.外观
目视
目视检查外观是否不洁、变形、氧化.引脚是否有压伤或压痕；
V
目视检查外观是否破损、字体、正负极标示是否正确清楚,OEM兴安规报备物料须检查来料供货商是否为LIST中指之供货商,与样品是否相符；
V
3.尺寸
卡尺
本体长，宽、厚，孔径、脚径、脚距、编带宽、封装形式是否与承认相符；
V
4.电功能测试
1.包装
目视
每一包装箱外及内盒上是否有相应之品名、规格、料号、供货商、出厂日期,物料标示单上月份标签颜色是否正确；
V
有无混料(包括系列、规格、尺寸、颜色、日期)印字须清晰、包装箱变形、破损等情形；
电子元器件来料检验标准指导书(新版)
电子元器件来料检验标准指导书目的：对IQC品检人员的作业方法及流程进行规范,提高IQC检验作业水平，控制来料不良，提高品质。
1、实用范围：来料进料检验2、质检步骤（1）来料暂收（2）来料检查（3）物料入库3、质检要点及规范（1）来料暂收：仓管收到供应商的送货单后根据送货单核对来料：数量，种类及标签内容等无误后送交IQC 检验，予以暂收，并签回货单给来料厂商。
（2）来料检查：IQC品检人员收到进料验收单后，依验收单和采购单核对来料与标签内容是否相符，来料规格，种类；是否相符，如不符拒检验，并通知仓管、采购及生管，如符合，则进行下一步检验。
一般先抽查来料的一定比例（以仓库来料质检标准），查看品质情况，再决定入库全检，还是退料。
（3）检查内容：（1）外观：自然光或日光灯下，距离样品30CM目视；（2）尺寸规格：用卡尺/钢尺测量，厚度用卡尺/外径千分尺测量；（3）粘性分别按：GB/T4852-2002、GB/T4851-1998、GB/T2792-1998中方法执行，结果记录于《可靠度测试报告》中；（4）包装完好、标识正确、完整、清晰，环保材料查看是否贴有相应的环保标签，第一批进料时要附SGS报告及物质安全表及客户要求的其它有害物质检测报告；（5）检验合格后贴上合格标签，填写《物料检验表》并通知仓库入库，仓库要按材料类型（环保与实用型）及种类分开放置标示清楚，成品料由IQC人员包装放于待出货区。
以仓库物料质检标准。
（6）物料入库：检查完毕，要提交《原材料进库验货》交上级处理，并对合格暂收物料进行入库登记。
异常物料特《原材料进库验货》批示后，按批示处理。
4、注意事项（1）要保持物料的整洁。
（2）贵重物品及特殊要求物料要逐一检查。
（3）新的物料需给技术开发部确认。
5、异常处理办法物料在检验过程中发现异常，即时向采购及品管主管反映，录求解决方法，尽快处理。
6、不合格品的处理：（1）IQC判定为不合格时，在产品包装外贴上退货/拒收标签，把产品转移到不合格/退货区域，并报品质主管确认签字后，送采购/生管签名后发到供应商，供应商未在2个工作日内回复的报仓库直接作退货处理；如为急料，经品质主管与采购，生管，业务协商后，呈经理审批，按评审意见办理；（2）跟据供应商提供的改善方案，IQC品管员对下批来料改善效果进行确认，并记录结果。
电子器件进料检验规范模板
一、目的:针对本公司外购之原材料入库验收所订定的检验规范, 为了物料检验提供一个标准依据, 确保产品品质。
二、范围:适用本公司所有外购之原材料之检验.三、定义:严重缺陷:不良缺点直接影响产品品质, 为本公司所不能接受者.重要缺陷:不良缺点直接影响生产作业和产品外观, 为本公司所能接受者.次要缺陷:不良缺点不直接影响生产作业和产品品质,与本公司样品稍有差异,为本公司所不能接受者.四、抽样计划:外观检验、印刷检验抽样数按MIL-STD-105E( Ⅱ) 单次正常;尺寸抽样数每批5PCS;功能抽样数每批1~5PCS;包装检验抽样数一次/LOTAQL值: CRI=0.25MAJ=0.65MIN=1五、检验流程: 参考进料检验流程图( QP-020)5.1抽样标准: 所有检验按抽样计划进行抽样5.2记录填写:5.2.1IQC根据规定的抽样计划、检验方式、检验程序、检验标准和样本数填入进料检验报告的相关栏位内。
5.2.2各检验之项目,依据实际检验结果将其缺点,特性逐项及总缺点数填入相关栏位作出品质判定结果。
5.2.3依据总缺点数对各项目填入判定结果。
5.2.4IQC判定此批物料是否允收, 并签名, 部门主管确认。
5.3品质判定:任何一批被检原材料未能达到抽样计划的允收标准时, 则判批拒收。
六、异常处理:6.1凡交货批IQC判拒收时, 则按《进料检验管理程序》和《不合格品管理程序》进行作业。
6.2凡交货批IQC判合格入库后, 发至生产线上发现异常时, 由生产单位或制程品管填写《异常处理报告》经IQC重验判退时, 由采购通知厂商前来处理,否则由制造部安排厂内代为处理,处理所花工时并以《内部联络单》方式通知采购课知会供应商执行处理。
6.3凡交货批于IQC判不合格时,视急料需求,依《进料检验管理程序》办理, 特采或挑选。
七、检验条件:7.1 .外观: <1>待验物品一般置于40W日光灯下,受检物品距离光源600mm,受检面与检验者成45度角或正面距离300mm受检.外观不良可视为影响产品品质.7.2.尺寸:<1>100mm以上能够用卷尺,直尺测量.<2>100mm以下能够用游标卡尺测量八．各原材料检验标准:8.1. PCB板进料检验标准8.2. 电解电容进料检验标准8.3发光二极管进料检验标准8.4 IC/电晶体进料检验标准8.5电阻进料检验标准8.6陶瓷电容进料检验标准8.7铁箱进料检验标准8.8底壳/面罩进料检验标准8.9螺丝进料检验标准8.10.线材进料检验标准8.11.排线夹头进料检验标准8.12.电源插座进料检验标准8.13.电源插头进料检验标准8.14.围墙插座进料检验标准8.15.排针的进料检验标准8.16.排母进料检验标准8.17直式电缆插头/插座进料检验标准8.18开关电源进料检验标准8.19风扇进料检验标准包装数量包装方式2．整批包装须一致, 且无破损脏污3．料号正确, 数量正确4．外箱有厂商标志8.20锡丝、锡条的检验标准检验项目检验内容标准检验工具判定等级备注CRI MAJ MIN功能检验可用性试验1．锡丝: 将恒温烙铁的温度调节到指定的温度( 含铅锡丝: 245±10℃, 无铅锡丝: 270±10℃) ,待恒温烙铁达到指定温度时,锡丝应能熔化, 锡丝熔融时无大量烟雾产生。
常用电子元件进料检测指导书
电阻1. 目的为了确保供货商交货质量符合公司设计质量规格要求,并降低制程产品质量不良率;则制定此检验标准作为进料检验质量判定基准,以确保出货质量满足客户需求。
2. 使用范围本进货检验质量判定基准适用于公司所有外购生产用的碳膜电阻(CF),金属膜电阻(MF),金属氧化膜电阻(MOF),金属玻璃釉电阻,网络电阻,可变电阻又名电位器,光敏电阻,压敏电阻,热敏电阻(PTC/NTC),功率电阻(RW)等之检验。
3. 抽样方案3.1 进货抽验标准依据:一般依GB/T2828 II 正常一次抽样计划.3.2 抽样方法:一般采用随机抽样.3.3 接收品质水准 AQL 值:CRI=0 MAJ=0.4 MIN=0.653.4 抽验结果判定类别:允收<Acc> 拒收<Rej> 特采<Waive> 挑选<Sort> 退货<RTV>4. 缺点定义4.1 严重缺点(CRITICAL DEFECT,简写 CRI):不良缺陷,使产品在生产､运输或使用过程中可能出现危与人身财产安全之缺点,称为严重缺点.4.2 主要缺点(MAJOR DEFECT,简写 MAJ):不良缺陷,使产品失去全部或部分主要功能,或者相对严重影响的结构装配的不良,从而显著降低产品使用性的缺点,称为主要缺点.4.3 次要缺点(MINOR DEFECT,简写 MIN):不良缺陷,可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点,虽不影响产品性能,但会使产品价值降低的缺点,称为次要缺点.5. 检验依据5.1 承认书检验项目5.2 样品对照5.3 客户重点质量要求5.4 质量标准要求有质量体系认证证书；供货方出厂检验报告、合格证6. 检验条件6.1 在正常室内白色冷光瑩光灯管的照明条件(灯光强度为 100-300流明).6.2 将待测电源板置于执行检测者面前,目距约 18-24 英吋(约手臂长).6.3 应以兩种角度观察:正常方式,视线与待检件呈 45 度角以利光反射;垂直方式,视线与待检件垂直.6.4 检验员应配带静电手套作业.7.测试工量具与仪表TH2811D LCR数字电桥，游标卡尺，锡炉,测力计，浓度不低于95%的酒精8. 检验内容检验判定标准.电容1. 目的为了确保供货商交货质量符合公司设计质量规格要求,并降低制程产品质量不良率;则制定此检验标准作为进料检验质量判定基准,以确保出货质量满足客户需求。
最新电子元器件来料检验规范
IQC 来料检验指导书检验说明：一、目的：对本公司的进货原材料按规定进行核对总和试验，确保产品的最终品质。
二、范围:1、适用于IQC 对通用产品的来料检验。
2、适用对元件检验方法和范围的指导。
3、适用于IPQC、QA 对产品在制程和终检时，对元件进行覆核查证。
三、责任:1、IQC 在检验过程中按照检验指导书所示检验专案，参照供应商器件确认书对来料进行检验。
2、检验标准参照我司制定的IQC《进料检验规范》执行。
3、本检验指导书由品管部QE 负责编制和维护，品管部主管负责审核批准执行。
四、检验4.1 检验方式：抽样检验4.2 抽样方案：元器件类：按照GB 2828-87 正常检查一次抽样方案，一般检查水准Ⅱ进行。
非元器件类：按照GN 2828-87 正常检查一次抽样方案，特殊检查水准Ⅲ进行。
盘带包装物料按每盘取3 只进行测试替代法检验的物料其替代数量根据本公司产品用量的2～3 倍进行替代测试4.3 合格品质水准：AQL 为acceptable quality level 验收合格标准的缩写。
A 类不合格AQL=0.4 B 类不合格AQL=1.5 替代法测试的物料必须全部满足指标要求4.4 定义：A 类不合格：指对本公司产品性能、安全、利益有严重影响不合格项目B 类不合格：指对本公司产品性能影响轻微可限度接受的不合格项目4.5 检验仪器、仪表、量具的要求所有的检验仪器、仪表、量具必须在校正计量器内4.6 检验结果记录在“IQC来料检验报告”中目录检验指导书机型适用于通用产品工序时间无工序名称晶振检验工序编号无测试工具/仪器：频率计、万用表检验员IQC 图示：频率计频率计PPM 值的计算：如27MHZ晶振，+/-30PPM 检验步骤及内容转化为百分比为百万分之：1、对单、抽样：30 =30/10 X（27X10 ）. 根据货仓开出的IQC 品检报告单或上料单，核对上料供方是否为合格供方,再查找相应订单和产品=0.00081MHZ=810MHZ 制造标准书，核实相应机型和数量。
电子元件进料检验规1
电子元件进料检验规范
1 目的
对电子元件进行进料检验，确保其质量符合工艺要求和客户要求。
2 范围
用于电讯机箱产品各类电子元件。
3 检验规则
3.1 外观检查
3.1.1 电子元件表面光滑、色泽均匀，不得有裂纹、气泡、凹缩现象。
3.1.2 形状一致，不得有缺损、变形现象。
3.1.3 元件脚无松动、氧化现象。
3.1.4 极性标识清晰、一致。
3.2 尺寸检查
对有尺寸要求的电子元件用游标卡尺进行尺寸测量，应符合图纸的要求。
3.3 性能检查
将万用表调至相关档位，测试电子元件。
应无以下缺陷：极性反、击穿、沑漏电、参数超差、短路、开路。
4 因工程变更而需做相应要求的改变时，以最新工程图纸、样品为准。
5 相关记录
《IQC 检验报告》。
电子元器件来料检验规范精选全文
可编辑修改精选全文完整版电子元器件来料检验规范IQC来料检验指导书客户：产品名称：版本：制定日期：生效日期：制作人：审核人：批准人：受控印章：检验说明：一、目的：对本公司的进货原材料按规定进行检验和试验，确保产品的最终质量。
二、范围:1、适用于IQC对通用产品的来料检验。
2、适用对元件检验方法和范围的指导。
3、适用于IPQC、QA对产品在制程和终检时，对元件进行复核查证。
三、责任:1、IQC在检验过程中按照检验指导书所示检验项目，参照供应商器件确认书对来料进行检验。
2、检验标准参照我司制定的IQC《进料检验规范》执行。
3、本检验指导书由品管部QE负责编制和维护，品管部主管负责审核批准执行。
四、检验4.1检验方式：抽样检验4.2抽样方案：元器件类：按照GB 2828-87正常检查一次抽样方案，一般检查水平Ⅱ进行。
非元器件类：按照GN 2828-87 正常检查一次抽样方案，特殊检查水平Ⅲ进行。
盘带包装物料按每盘取3只进行测试替代法检验的物料其替代数量根据本公司产品用量的2～3倍进行替代测试4.3合格质量水平：AQL为acceptable quality level验收合格标准的缩写。
A类不合格AQL=0.4 B类不合格AQL=1.5 替代法测试的物料必须全部满足指标要求4.4定义：A类不合格：指对本公司产品性能、安全、利益有严重影响不合格项目B类不合格：指对本公司产品性能影响轻微可限度接受的不合格项目4.5检验仪器、仪表、量具的要求所有的检验仪器、仪表、量具必须在校正计量器内4.6检验结果记录在“IQC来料检验报告”中序号1 2 4 5 6 7 8 11 12 13 14 15 18 19 20 21 22 24 25 26 27 28 29 31 32 33 34 35 38 39 40 41 42 材料名称晶振三极管贴片三极管铝电解电容高压陶瓷电容片状电容（SMD）电阻（插件与贴片）贴片电感色环电感贴片二极管稳压二极管整流二极管三端稳压器开关二极管瞬态抑制二极管压敏电阻TVS管滤波器扼流圈三端稳压器整流桥堆保险管继电器变压器可控硅光电耦合器发光数码管LED灯红外发射管红外接收头蜂鸣器电源适配器IC芯片CMOS摄像头CCD摄像头RF433发射模块RF433接收模块WIFI模块电源模块触摸屏液晶屏MX27核心板窗帘马达材料类型备注页数1 元器件类部品2 元器件类部品元器件类部品3、4 元器件类安全部品5、67 元器件类部品8 元器件类部品、EMC部品9 元器件类部品10 元器件类部品、EMC部品元器件类部品、EMC部品元器件类部品13 元器件类安全部品14 元器件类安全部品15 元器件类安全部品14 元器件类安全部品16 元器件类安全部品元器件类部品元器件类部品元器件类部品、2021 元器件类部品22 元器件类安全部品23 元器件类安全部品24 元器件类安全部品元器件类关键部品26 元器件类关键部品27/28 元器件类关键部品29 元器件类关键部品30 元器件类常用部品31 元器件类常用部品32 元器件类常用部品元器件类常用部品34 元器件类常用部品35/36/37/38 模块类常用部品39 元器件类常用部品40 模块类关键部品41 模块类关键部品模块类关键部品模块类关键部品44 模块类关键部品45 模块类关键部品46 模块类关键部品47 模块类关键部品48 模块类关键部品模块类关键部品4446 47 48 49 50 53 54 55玻璃按键、拨码开关装饰条线座、插件、插座天线塑胶机壳常规物料包材类电子料类辅料类说明书通用检查项目非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类关键部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品50 52 53 54 55 56 59 60 61-67来料检验报告.doc来料检验报告单.doc。
电子元器件进货检验及存储规范—范文
电子元器件进货检验及存储规范—范文一、目的：本文件规定了公司进货电子元器件入库前检验的依据及存储过程规范。
二、适用范围：适用于本公司电子元器件入库前产品的检验和存储过程。
三、检验规范：1. 电阻类：1.1外观包装：a 按送检的卷、袋、根的按比例随机抽取检查，不足一卷、袋、根的按一卷、袋、根进行检查，若发现抽样检查数中的不合格，则判该批不合格。
表面字迹清晰，产品的名称、型号、规格、数量及生产厂家等标注明确并与要求相符，无破损，无划痕；每一批都应有清楚的质量标识。
b 色环电阻的色环颜色应清晰易于辨认，色环颜色与标称阻值相符，引脚无氧化、发黑。
c 贴片电阻的数字标注应正确，与标称阻值相符，引脚无氧化、发黑。
注：色环电阻识别方法见附表1.2功率值：功率值应与包装标称值及ERP 要求相符。
1.3电阻值：按5件/批抽取，用万用表所测得的电阻值及公差应与包装标称值及采购要求相符。
1.4封装尺寸：按5件/批抽取，所测得的单体封装尺寸应与样品或采购要求相符，如0603封装、0805封装、脚间距、长度、高度等。
(具体封装尺寸见附表)2. 电容类：1.1外观包装：a 按送检的卷、袋、根的按比例随机抽取检查，不足一卷、袋、根的按一卷、袋、根进行检查，若发现抽样检查数中的不合格，则判该批不合格。
表面字迹清晰，产品的名称、型号、规格、数量及生产厂家等标注明确并与要求相符，无破损，无划痕；每一批都应有清楚的质量标识。
b 电容表面印字清晰，容量标识与标称值，引脚无氧化、发黑，电解电容短引脚端的PVC 封膜上应有"-" 标记，为电容负极，长引脚为正极。
1.2 材质：材质标识明确，并与ERP 要求相符。
1.3 电容值：按5件/批抽取，用LCR 所测得的电容值及公差应与包装标称值及采购要求相符。
1.4 耐电压值:按5件/批抽取，用可调电源所测得的耐电压值应与包装标称值及采购要求相符。
1.5 封装尺寸：按5件/批抽取，所测得的单体封装尺寸应与样品或采购要求相符，如0603封装、0805封装、脚间距、外径、高度等。
电子元件IQC来料检验标准
a.三端引脚间距必须均匀，允许公差不超过0.2mm a.印刷型号不允许有错误且丝印需清晰易识别
2、外观
b.管体焊接端无氧化、生锈、断裂；贴装件无翘脚、弯脚 c.本体无残缺、破裂、变形现象 a.贴装件必须用盘装（不允许有中断、少数）
3、包装 5 三极管
b.盘装方向必须一致正确 c.外包装需贴有明显物品标示且应与实物相符 V V V V V
a.外包装需贴有明显物品标示且应与实物相符 b.必须用塑料管装且方向放置一致 a.与对应之产品焊接进行电脑测试，整体功能OK（参照测试标准） a.引脚可焊性面积不少于75% a.经超声波清洗后丝印不得有严重模糊不清或无法辨识 b.经超声波清洗后丝印有轻微模糊但仍能辨别其规格 1、尺寸 a.长/宽/脚距/孔径尺寸不允许超出图面公差范围 a.本体应无残缺、划伤、变形 2、外观 c.插座表体划伤不超过1cm，非正面仅允许不超过2条 d.引脚轻微氧化不影响焊接 3、包装 4、电气 5、浸锡 6、清洗 7、试装 a.外包装需贴有明显物品标示且应与实物相符 a.量测其各脚通，断接点导电性能必须良好 a.焊端/引脚可焊锡度不低于90% a.本体经清洗后不得有蚀痕及腐化现象 a.与对应配件接插无不匹配之情形 b.引脚无断裂、生锈、松动
a.量测其引脚极性及各及间无开路、短路
V V V V
V V V \ V V
编制：
审批：
批准：
文件编号
工作文件 生效日期
来料检验标准
版次 页次
检验方法：在距40W荧光灯1m-1.2m光线内,眼睛距物20-30cm，视物约３-5秒 No. 物料名称 检验项目 检验依据：MIL-STD-105E-II MA:0.65 品 1、尺寸 质 MI:1.5 要 求 MA V V 缺陷判定
(完整word版)电子元器件材料检验规范标准书(word文档良心出品)
(一) PCB检验规范
8. 板弯、板翘与板扭之测量方法
8.1.板弯：将PCB 凸面朝上，放置于平板玻璃上，用塞规测量其凸起的高度。
(如图一)
8.2.板翘与板扭：将PCB 翘曲面朝上，放置于平板玻璃上，用塞规测量其翘起的高度.(如图二)
BGA PAD
MA a. BGA PAD 不得脱落、缺口、露铜、沾附防焊油墨及异物。
目检 外 观
内层黑（棕）
化
MA a.内层采用黑化处理, 黑化不足或黑化不均, 不可超过 单面总面积0.5%（棕化亦同）。
目检 空泡&分层
MA
a.空泡和分层完全不允许。
目检
(二)IC类检验规范
1.目的
作为IQC人员检验IC类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所有IC（包括BGA）之检验。
3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.
5.
5.参考文件
无
检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注
（三）贴片元件检验规范(电容,电阻,电感…)
（四）插件用电解电容.
（五）晶体类检验规范
（六）三极管检验规范
(七)排针&插槽(座)类检验规范
八CABLE类检验规范。
IQC-电子料检验规范
ˇ
c. 不能有脱皮现象，即脱皮面积露出里面之金属部分超过 1mm2
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
为不符合标准。
外 观 B.饼仔电容(温度补偿电容) 特性：无极性
结构尺寸 a.印字清晰，不能模糊、漏印。
ˇ
（电容） b.PIN 及其它表面不能破损，露出里面之金属部分。
C.可调电容： 即容量可以调动，从最低值至最高值范围内可以任意改变
目视
目视 目视
名称 抽样计划
AQL 检验项目
介质电容 识别法
钽质电容 识别法
电子组件识别方法
电阻/电容/二极管/三极管/电线
GB2828-2003 II 单次抽样
MAJ：0.65
MIN：1.5
检验标准
介质电容： A.特征：同饼仔电容辨别值类似。只是多一位数 J，K 表示偏差。
范围：J 表示±5% K 表示±10% B.如：“103J”表示容量为：
目视
2 OF 2
附页一
2/8
名称
电阻/电容/二极管/三极管/电感/连接器/跳线/电线/LENS
抽样计划
GB2828-2003 II 单次抽样
AQL
MAJ：0.65
检验项目
检验标准
外观 (连接器)
A.特性：无极性 B.连接器表面应光滑无杂物，不能有破损、凹痕、裂纹。 C.PIN 脚平整无氧化而有光泽。 D.连接器两 PIN 脚不能短路。
乘数 10-2 10-1 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109
/
允许偏差(%) ±10 ±5 / ±1 ±2 / / ±0.5 ±0.25 ±0.1 / ±5 ﹣20
1 OF 2
附页三 检验工具
电子元器件来料检验标准
电子元器件来料检验标准一、引言。
电子元器件是现代电子产品中不可或缺的重要组成部分，其质量直接影响到整个产品的性能和可靠性。
因此，对电子元器件的来料检验非常重要，只有通过严格的检验标准，才能确保元器件的质量和稳定性，从而保证产品的质量和可靠性。
本文将围绕电子元器件来料检验标准展开讨论。
二、外观检验。
1. 外观检验是电子元器件来料检验的第一步，主要包括外观缺陷、尺寸偏差、标识是否清晰等方面。
在外观检验中，应该注意检查元器件的外壳是否有裂纹、变形、氧化等情况，尺寸是否符合要求，标识是否清晰可辨。
2. 对于不同类型的元器件，外观检验的重点也会有所不同。
例如，对于电阻器和电容器，应注意检查外壳的颜色、字迹是否清晰；对于集成电路和二极管等器件，则需要检查引脚的弯曲、氧化情况等。
三、功能性能检验。
1. 功能性能检验是电子元器件来料检验的核心环节，主要包括静态参数测试和动态参数测试两部分。
在静态参数测试中，需要测量元器件的电阻、电容、电压等基本参数；在动态参数测试中，需要测试元器件在不同工作条件下的响应速度、功耗、温度特性等。
2. 对于不同类型的元器件，功能性能检验的方法也会有所不同。
例如，对于集成电路，需要通过模拟信号输入和数字信号输入测试其逻辑功能和时序特性；对于晶体管，需要测试其放大倍数、频率响应等参数。
四、可靠性检验。
1. 可靠性检验是电子元器件来料检验的重要环节，主要包括环境适应性测试、老化测试、振动测试等。
在环境适应性测试中，需要测试元器件在不同温度、湿度、气压等环境条件下的性能表现；在老化测试中，需要模拟元器件长期使用后的性能变化；在振动测试中，需要测试元器件在振动环境下的可靠性。
2. 可靠性检验是电子元器件来料检验中最为复杂和耗时的环节，但也是最为重要的环节。
只有通过严格的可靠性检验，才能确保元器件在实际使用中不会出现失效和故障。
五、总结。
电子元器件来料检验是确保产品质量和可靠性的重要环节，只有通过严格的外观检验、功能性能检验和可靠性检验，才能确保元器件的质量和稳定性。
电子元器件来料检验规范
电子元器件来料检验规范随着电子元器件的广泛应用，电子元器件来料检验也愈发重要。
电子元器件来料检验规范是企业质量管理中不可或缺的一环，其主要作用是通过对来料的检验，保障产品的质量，确保生产的顺利进行。
首先，电子元器件来料检验规范必须符合国家标准和法规，包括GB/T,ISO等相关标准，同时结合企业自身业务操作和实际情况，制定一套合适的规范标准。
这样可以确保检验程序的科学性、规范性、合理性和可操作性，有效控制来料质量。
其次，电子元器件来料检验规范要考虑到来料的特性和规格，包括元器件外观、尺寸、性能参数、材质、工艺等多个方面。
对于不同类型的电子元器件要制定不同的检验标准，如对于IC芯片和电容等元器件要严格检验其焊点是否完整，是否有锡球、棕点等存在。
除此之外，必须建立一套完整的来料检验流程。
具体来说，分为以下几个步骤：1.来料登记：记录来料的基本信息和数量，到货时间等数据。
2.外观检验：检查外包装是否完整，是否有潮湿、翘曲、变形或其他损伤，以及标识是否清晰、正确。
3.器件参数检验：使用专业设备进行器件参数测试，确保器件符合要求。
4.抽样检验：对于来料数量较大的情况，采用抽样方式进行检验，确保来料的质量。
5.数据记录：将检验结果记录在相关检验表格或系统上，便于后续对来料的管理和控制。
同时，在电子元器件来料检验中，应注意以下几点：1.严格执行检验标准和流程，不得私自更改检验结果。
2.进行来料检验的专业技术人员必须接受相关培训，确保检验的有效性和准确性。
3.对于检验不合格的元器件，必须及时通知供应方采取必要措施，避免不良品进入生产环节。
4.定期对来料检验流程进行评估和改进，以保证检验的有效性和及时性。
最后，电子元器件来料检验规范不仅有助于保障产品的质量和安全，更是企业提高市场竞争力和声誉的重要保障。
同时，通过建立良好的来料检验制度，可以帮助企业建立完整的供应链系统和质量管理体系，为持续稳定发展奠定坚实的基础。
电子料进料检验规范
1．目的及适用范围
本检验规范的目的是保证本公司所购电子类物料的质量符合要求。
本检验规范适用于滨濠电子有限公司的电子类物料检验及相关活动。
如果客人有特殊要求，以客人要求为准。
2．参照文件、依据：
2.1 《检验控制程序》
2.2 《数值抽样计划使用规范》
2.3 可靠性试验和相关技术、工程设计参数资料及相关的工程文件。
3．规范内容：
3．1检验方式及工具仪器：采用目视或万用表，游标卡尺,电桥,耐压测试仪等测量工具.
3．2缺陷分类及定义
致命缺陷(CR)：有安全之隐患会对制造者，使用者造成人身伤害或不符合安规要求之缺陷。
严重缺陷(MA)：无法满足制造期望，功能丧失或部分功能丧失，严重影响外观之缺陷。
轻微缺陷(MI)：不影响产品正常使用之功能之缺陷。
3．3判定依据：抽样检验依《MIL-STD-105E（II-A）》正常检验单次抽样计划标准 IQC来料抽样检验所采用之AQL值：CR=0 MA=0.25 MI=1.5
3．4 所有物料需符合RHOS的相关要求
3. 5检验项目、标准、缺陷分类:附一览表
4．相关记录与表格
4.1 《进货检验报告》
4.2 《生产品质异常单》
4.3 《纠正预防措施单》
4.4 《送检单》
4.5 《采购订单合同》。
通用电子元件进料检验规范
方式测试。更换三次后仍不符合，则拒收退货。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；
b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质,可接受；否则不可接受；
g.针脚端部成蘑菇状影响安装.
目检
焊锡性检验
MA
a.PIN上锡不良，或完全不上锡,均不可接受；(将零件脚插入
现使用之合格松香水内，全部浸润，再插入小锡炉5秒钟
左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收)
实际操作
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
安装检验
MA
a.针脚不能与标准PCB顺利安装;
b.有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；
c.元件变形，或受损露出本体等不可接受；
d.Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受。
目检
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
电性检验
MA
a.晶体不能起振不可接受；
b.测量值超出晶体的频率范围则不可接受。
测试工位
和数字频率计
电性检测方法
晶体
检测方法
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
电子元件、原材料进厂检验
1、范围本标准规定了公司智能控制器的外协、外购件进厂的检验实施细则.本细则适用于非本公司生产的所有元器件、零部件，其中包括如电子元器件类、线路板类、金属件类、塑料件类、弹簧类。
2、进厂通用检验程序2。
1原材料进厂后按公司《统计抽样规定》抽取样本,检验样本,并保存检验记录，检验记录至少保存2个日历年。
2。
2经检验或试验确认采购产品不能满足规定要求时，应判定为不合格品.2.3所有数据的检测环境温度均应在23±3℃为最佳。
一般为17～28℃，相对湿度：45~70％RH2.4所有来料规格型号标识应与物料和订单相对应。
3外购物品检验标准3。
1电阻器类（报检)3。
1。
1外观和工艺要求：外观完好，标识清晰;色环印刷应清晰，绝缘层或Ni/Cr薄膜无脱落;引脚光亮，无锈迹、可焊性好;包装完好，应有合格证明.3.1.2电器性能要求：阻值、功率、精度等参数与标识相符；实际测量值应在允许偏差范围内±1%;引脚排列顺序、尺寸符合要求。
3。
1。
3检验方法首先按标识读出电阻的标称值,然后选择数字万用表或数字电桥电阻档的合适量程，对电阻进行检验。
色环电阻标识四色环金色代表允许偏差±5％，银色代表允许偏差±10%；五色环棕色代表允许偏差±1％。
电位器：旋柄转动应平滑、灵活；首先按数字标识读出电位器的标称值，然后选择数字万用表电阻档的合适的量程,测量电位器的1、3脚对电位器进行阻值检验。
用钟表专用小一字螺丝刀转动电位器的旋柄,检验旋柄转动是否平滑、灵活。
压敏电阻：绝缘电阻应为无穷大.将指针万用表的量程开关拨至R×10KΩ或R×100KΩ测出压敏电阻的阻值，然后交换表笔再测量一次，若两次测得的阻值均为无穷大,则该压敏电阻合格，否则说明其漏电严重不可使用.多脚排阻:首先按印刷标识读出电阻的标称值，然后选择数字万用表电阻档的合适的量程，对多脚阻排进行检验，阻排的第一脚与其他任意脚之间的阻值应与标称值相近误差范围在允许范围内。
电子类器件来料检验规范准则
来料检验规范准则一、物料分类a．关键物资(A类):构成最终产品的关键部分，严重影响最终产品使用或安全性能,必然导致顾客严重投诉的物资；b.重要物资(B类）：构成最终产品的重要部位的批量物资，会影响最终产品使用或安全性能，可能导致顾客严重投诉的物资；c.一般物资（C类）：构成最终产品非关键部位或重要部位的批量物资,它一般不影响最终产品的质量或即使略有影响，但可采取措施予以纠正的物资。
贴片电阻检验规范贴片电容检验规范贴片电感检验规范贴片高频电感检验规范物料类别:B类共3８页第4页贴片二极管、三极管、MＯS管检验规范集成电路（IC）检验规范晶振检验规范电感检验规范继电器检验规范铝电解电容器检验规范电池座检验规范物料类别:B类共38页第14页印制板检验规范物料类别：B类共３８页第15页天线(高频、低频）检验规范喇叭、蜂鸣器检验规范光耦检验规范粘胶检验规范开关、按纽检验规范线(２４芯、5芯等线束）检验规范线材（排线、灯线、按键等线材)检验规范关键件IC检验规范连接器、端口检验规范排针、排座检验规范ＬED、发光二极管检验规范电池、电源检验规范海棉、泡沫、塑料包装件检验规范包装纸箱、纸盒、保修卡、说明书等检验规范产品外壳（塑料壳）检验规范物料类别：A类共38页第31页产品外壳（铁壳)检验规范五金件(螺丝、螺母等)检验规范铭牌、标签检验规范钥匙胚检验规范物料类别：C类共3８页第35页识别器外壳检验规范PCBA检验规范可焊性检验规范共38页第38页。
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3.测拉力时，必需沿水平方向拔出，如果拉拔力均不符合要求，须重测三次；如有一次符合，则此CABLE拉拔
力合格；如三次均不符合要求，需转换另一BOX HEADER (可连续转换三次新的BOX HEADER)，以同样的
方式测试。更换三次后仍不符合，则拒收退货。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；
b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受；
b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
a.极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受；
b.电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受；
c.本体变形，破损等不可接受；
d.Pin生锈氧化，均不可接受。
目检
可焊性检验
MA
a.Pin上锡不良，或完全不上锡不可接受。(将PIN沾上现使 用之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收)
试:用标准Box Header与排线对插好，用拉力计测出其
CABLE完全被拉出后的最大拔出力。)
实际操作
备注
1.要求如下(低于20PIN 的不作要求)：
80PIN:4.0~7.0Kgf;40PIN:3.5~6.0kgf:34PIN:3.0~5.0kgf;26PIN:2.0~4.0kgf;20PIN:1.4~3.4kg
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点(CR): 0;
主要缺点(MA): 0.4;
次要缺点(MI): 1.5;
5. 参考文件
无
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不能辩认；
b.塑料与针脚不能紧固连接；
c.塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；
d.过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮;
b.有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；
c.元件变形，或受损露出本体等不可接受；
d.Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受。
目检
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
电性检验
MA
a.晶体不能起振不可接受；
b.测量值超出晶体的频率范围则不可接受。
测试工位
和数字频率计
电性检测方法
晶体
检 测 方 法
严重缺点(CR):0;
主要缺点(MA): 0.4;
次要缺点(MI):1.5;
5. 参考文件
《LCR数字电桥操作指引》
《数字万用表操作指引》
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是 否都正确,任何有误,均不可接受。
b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
过0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受；
e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。
目检
10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
(五)排针&插槽(座)类检验规范
1. 目的
作为IQC人员检验排针&插槽(座)类物料之依据。
2. 适用范围
适用于本公司所有排针&插槽(座)之检验。
3. 抽样计划
4.允收水准（AQL）
严重缺点(CR):0;
主要缺点(MA): 0.4;
次要缺点(MI):1.5;
5. 参考文件
无
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否
都正确,任何有误,均不可接受。
b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验
次要缺点(MI):1.5;
5. 参考文件
《LCR数字电桥操作指引》、
《数字电容表操作指引》。
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否
都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；
b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都
正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
a.字体模糊不清，难以辨认不可接受；
卷尺
尺寸参考Mechanical Drawing of Cable
电性测试检验
MA
a.排线的接线方式错不可接受;
b.排线接触不良或不能运行不可接受;
c.IDE排线的传输速率不符合要求不可接受.
每批取10pcs送QA,请QA的同事帮助测试
拉力测试检验
MA
a.与公端对插,插拔力不符合规格要求的不可接受.( 拉力测
可接受；
d.排线与支架等组装不牢，易松脱；
e.标识CABLE接插方向的颜色不能明确分辩；
f.排线接头的颜色不符合规格要求;
g.排线表面的丝印错.
1.目检
2.按前后左右上下各轻摇3次排线接头处，看有无松脱现象
参考Mechanical Drawing of Cable
尺寸检验
MA
a.长度不符合规格要求不可接受.
管不合格。
注：有标记的一端为负极。
其它二极管
选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。
注：有颜色标记的一端为负极。
备注
抽样计划说明：对于CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每
盘中取3~5pcs元件进行检测；AQL不变。检验方法见＂LCR数字电桥测试仪操作指引＂和＂数字万用表操作指
引＂。
（二） 插件用电解电容.
1. 目的
作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。
2. 适用范围
适用于本公司所有插件用电解电容之检验。
3. 抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点(CR):0;
主要缺点(MA): 0.4;
实际操作
每LOT取5~10PCS在 小锡炉上验 证上锡性
尺寸规格检验
MA
a.外形尺寸不符合规格要求不可接受。
卡尺
若用于新的Model，需在PCB上对应的位置进行试插
电性检验
MA
a.电容值超出规格要求则不可接受。
用数字电容表或LCR数字电桥测试仪量测
（三） 晶体类检验规范
1. 目的
作为IQC人员检验晶体类物料之依据。
3. 抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点(CR): 0;
主要缺点(MA): 0.4;
次要缺点(MI): 1.5;
5参考文件
无
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否
通用电子元件进料检验规范
（一） 贴片元件检验规范(电容,电阻,电感)
1. 目的
便于IQC人员检验贴片元件类物料。
2. 适用范围
适用于本公司所有贴片元件（电容,电阻,电感…）之检验。
3. 抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；
目检
10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
电性检验
MA
元件实际测量值超出偏差范围内.