统计过程控制程序

统计过程控制程序

1 目的

通过应用统计技术，对公司有关的数据进行收集分析，以证实质量管理体系的适宜性和有效性，确保过程能力及产品质量得到有效控制和改进。

2 范围

本程序适用于公司顾客要求和需做统计过程控制（Cp、Cpk、Pp、Ppk、Cmk、PPM）的所有过程和产品。

3 职责

3.1 品质管理部：数据分析的归口管理部门，负责统计技术应用的指导、检查、分析和管理；并对检验数据进行收集、整理、统计、分析，提出改进要求。

3.2 工程技术：确定过程和产品的技术要求、控制要求，并组织进行改进。

3.3 **事业部：负责收集、统计生产过程的数据，并根据SPC控制图研究结果对过程、产品实施改进。

3.4 其它部门：负责与本部门有关的数据的收集、分析与传递。

4 定义

4.1 统计过程控制(SPC)

利用统计技术把数据转换成过程状态信息，以便确认、纠正和改进过程效能。

4.2 统计过程控制体系

为实施SPC技术管理所需的组织机构、程序、过程和资源。

4.3 工序能力(B)

处于稳定、标准状态下，工序的实际加工能力，表达式B=6σ=6S，其影响因素是人、机、料、法、环、测。

4.4 稳定过程能力(Cp)

衡量工序能力对产品规格要求满足程度的数量值，是规格范围(T)与工序能力(B)的比值，表达式Cp=T/B(T=规格上限Tu－规格下限TL)。

4.5 稳定过程能力指数(Cpk)

是一项有关稳定过程能力的指数，计算时需同时考虑过程数的趋势及该趋势接近于规格界限的程度。

4.6 初期过程能力(Pp)

是一项类似于Cp的指数，但计算时是以新产品的初期过程的性能。

4.7 初期过程能力指数(Ppk)

是一项类似于Cpk的指数，但计算时是以新产品的初期过程性能研究所得的数据为基础。

4.8 质量水准(PPM)

每百万个零件不合格数，指一种根据实际的缺陷材料来反映过程能力的一种方法，PPM数据常用来优先制定纠正措施。

4.9 设备能力指数(Cmk)

反映机械设备在受控条件下，当其人/料/法不变时的生产能力大小。

4.10 节点

过程中产品的形状、配合或功能发生变化的一个确定点。

4.11 规范界限

判断某一具体特性是否合格所规定的要求，即标准中规定的最大允许偏差。

4.12 控制图

对过程质量加以测定、记录从而进行控制的管理的一种用科学方法设计的图。

4.13 帕雷多分析

一种解决问题的方法，其中研究问题时将所有潜在问题的有关方面或波动根源按它们的作用程度而予以轻重排列。

5 程序

6 相关文件

6.1 《文件和资料控制程序》 Q/MR.B-001 6.2 《记录控制程序》 Q/MR.B-002 6.3 《设备控制程序》 Q/MR.B-006 6.4 《采购过程控制程序》 Q/MR.B-008 6.5 《关键过程控制程序》 Q/MR.B-010

6.6 《特殊过程控制程序》 Q/MR.B-011

6.7 《不合格品控制程序》 Q/MR.B-016

6.8 《纠正和预防措施控制程序》 Q/MR.B-024

6.9 《生产过程控制程序》 Q/MR.JBX.B-002 6.10 《失效分析控制程序》 Q/MR.JBX.B-005 6.11 《产品防护控制程序》 Q/MR.JBX.B-007 6.12 《检验、试验控制程序》 Q/MR.JBX.B-008 6.13 《产品交付服务程序》 Q/MR.JBX.B-010

7 记录

7.1 《过程能力数据收集明细表》

7.2 《P控制图》

7.3 《X-R控制图》

7.4 《过程能力评估表》

附件一

PPM、Cp、Cpk、Pp、Ppk过程能力计算及评价方法

1 质量水准PPM的过程能力计算及评值方法

当产品和/或过程特性的数据为计数值时，制造过程能力的计算及等级评价方法如下：（1）计算公式：

不良品数

PPM = × 1000000

检验总数

（2）等级评价及处理方法：

2 稳定过程的能力指数Cp、Cpk计算及评价方法：

（1）计算公式：

A）Ca = （x-U） / （T / 2）×100%

注： U = 规格中心值

T = 公差 = SU - SL = 规格上限值–规格下限值

σ= 产品和/或过程特性之数据分配的群体标准差的估计值

x = 产品和/或过程特性之数据分配的平均值

B）Cp = T / 6σ（当产品和/或过程特性为双边规格时）或

CPU（上稳定过程的能力指数）= （SU-x）/ 3σ（当产品和/或过程特性为单边规格时）CPL（下稳定过程的能力指数）= （x-SL）/ 3σ（当产品和/或过程特性为单边规格时）Z1 = 3Cp（1+Ca）……根据Z1数值查常（正）态分配表得P1%；

Z2 = 3Cp（1-Ca）……根据Z2数值查常（正）态分配表得P2%

不合格率P% = P1% + P2%

注：σ = R / d2（ R 为全距之平均值，d2为系数，与抽样的样本大小n有关，当n = 4时，d2 = 2.059；当n = 5时，d2 = 2.3267）

C）Cpk = （1-∣Ca∣）× Cp

当Ca = 0时，Cpk = Cp。

D）Cpk = Min（CPU，CPL） = Min{（SU -x/ 3σ，（x-SL）/ 3σ}

当产品特性为单边规格时，Cpk值即以CPU值或CPL值计算，但需取绝对值；Cpk 值取CPU值和CPL值中的最小值。