第三章 晶体缺陷

合集下载
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

§3.1.3 缺陷化学反应表示法
⑴ 写缺陷反应方程式应遵循的原则 与一般的化学反应相类似,书写缺陷反应 方程式时,应该遵循下列基本原则: a. 位置关系 b. 质量平衡 c. 电中性
a.位置关系: 在化合物MaXb中,无论是否存在缺陷, 其正负离子位置数(即格点数)的之比始 终是一个常数a/b,即:M的格点数/X的格 点数a/b。如NaCl结构中,正负离子格点 数之比为1/1,Al2O3中则为2/3。
• 固溶体强度与硬度高于各组元,而塑性则较低。
• 5. 固溶体的研究方法
㈠ 理论密度的计算
• ㈡ 固溶体化学式的写法
• 例题:在ZrO2中加入CaO,生成固溶体,在1600℃, 该固溶体具有萤石结构,经XRD分析,当溶入0.15分 子CaO时,晶胞参数a=0.513nm,测得密度 D=5.447g/cm3,求计算密度,并判断固溶体的种类。
'' Ca
b. 弗仑克尔缺陷浓度的计算
AgBr晶体形成弗仑克尔缺陷的反应方程式为: AgAg Ag. 平衡常数K为:
' V i Ag
K
式中 [AgAg]1。
[ Ag ][V ] [ Ag Ag ]
. i ' Ag
. i
' Ag
G 又G=-RTlnK ,则 [ Ag ] [V ] exp( ) 2 RT
CaF2晶体形成肖特基缺陷反应方程式为:
O V 2V
'' Ca
. F
动态平衡
'' . 2 [VCa ][VF ] 4[VCa'' ]3 K [O] [O]
G=-RTlnK
. '' [ V ] 2 [ V 又[O]=1, F Ca ]
1 G 则 [V ] exp( ) 3 3RT 4
2 Ca O (S) ZrO Ca V Zr O OO
§3.1.4 热缺陷
• ⑴定义:晶体温度高于0K时,由于晶格内原 子振动,使一部分能量较高的原子离开平衡位 置造成的缺陷,称为热缺陷(或本征缺陷)。
• ⑵分类: • a. 弗仑克尔缺陷:当晶格振动时,一些能量足 够大的原子离开平衡位置,而挤到晶格点阵的 间隙位置中,形成间隙原子,而原位置形成空 位。 • b. 肖特基缺陷:正常格点原子跃迁到晶体表面 ,在原正常格点上留下空位。
分别用e,和h · 来表示。其中右上标中的
一撇“,”代表一个单位负电荷,一个圆点 “ ·”代表一个单位正电荷。 在某种光、电、热的作用下,可以在晶体 中运动,它们不属于某一特定原子
⑤ 带电缺陷
在NaCl晶体中,取出一个Na+离子,会
在原来的位置上留下一个电子e,,写成
VNa’ ,即代表Na+离子空位,带一个单位
注意: ① 位置关系强调形成缺陷时,基质晶体中正负 离子格点数之比保持不变,并非原子个数比 保持不变。 ② 在上述各种缺陷符号中,VM、VX、MM、XX 、MX、XM等位于正常格点上,对格点数的多 少有影响,而Mi、Xi、e,、h· 等不在正常格点 上,对格点数的多少无影响。 ③ 形成缺陷时,基质晶体中的原子数会发生变 化,外加杂质进入基质晶体时,系统原子数 增加,晶体尺寸增大;基质中原子逃逸到周 围介质中时,晶体尺寸减小。
3. 高温结构材料Al2O3可以用ZrO2来实现增韧,促进烧结, 若加入0.2分子的ZrO2。试写出缺陷反应式和固溶分子式。
§3.1.5 固溶体
1.定义:凡在固态条件下,一种组分(溶剂)内溶解了其它
组分(溶质)而形成单一、均匀的晶态固体。 2. 固溶体、化合物和混合物的比较
固溶体 形成方式 反应式 掺杂、溶解 化合物 化学反应 AO+B2O3=AB2O4 机械混合物 机械混合 AO+B2O3均匀混合
b. CaZr 表示Ca2+离子占据Zr4+离子位置,此缺陷带
有二个单位负电荷。
其余的缺陷VM、VX、Mi、Xi等都可以加上对应
于原阵点位置的有效电荷来表示相应的带电缺
陷。
⑥ 缔合中心
电性相反的缺陷距离接近到一定程 度时,在库仑力作用下会缔合成一组 或一群,产生一个缔合中心, VM”和 VX..发生缔合,记为(VM”VX..)。
b. 质量平衡:与化学反应方程式相同,缺 陷反应方程式两边的质量应该相等。需要 注意的是缺陷符号的右下标表示缺陷所在 的位置,对质量平衡无影响。
c.电中性:电中性要求缺陷反应方程式两 边的有效电荷数必须相等。
2. 缺陷反应实例
(1)杂质(组成)缺陷反应方程式 ──杂质在基质 中的溶解过程 杂质进入基质晶体时,一般遵循杂质的正负 离子分别进入基质的正负离子位置的原则,这样 基质晶体的晶格畸变小,缺陷容易形成。在不等 价替换时,会产生间隙质点或空位。
式中 G为形成1摩尔弗仑克尔缺陷的自由焓变化。
注意:在计算热缺陷浓度时,由形成缺陷而引发的
周围原子振动状态的改变所产生的振动熵变,在多
数情况下可以忽略不计。且形成缺陷时晶体的体积 变化也可忽略,故热焓变化可近似地用内能来代替 。所以,实际计算热缺陷浓度时,一般都用缺陷形 成能代替计算公式中的自由焓变化。 因此热缺陷的计算公式可以简写为: n/N=exp(-△Gf/2KT),其中△Gf为缺陷形成能; k=1.38×10-23(玻尔兹曼常数);T-开氏温度
KCl . K
• 以负离子为基准,则缺陷反应方程式为:
基本规律: 1. 低价正离子占据高价正离子位置时, 该位置带有负电荷,为了保持电中性, 会产生负离子空位或间隙正离子。
2. 高价正离子占据低价正离子位置时, 该位置带有正电荷,为了保持电中性, 会产生正离子空位或间隙负离子。
课堂练习
LiCl . MgCl ( S ) Mg 2 Li VLi 2Cl Cl 空位 1.MgCl2固溶在LiCl晶体中
2.Al2O3固溶在MgO晶体中 3.TiO2固溶在MgO晶体中 间隙 4. CaO固溶在ZrO2晶体中 5.YF3固溶在CaF2晶体中
. 3OO Al 2 O3 ( S ) MgO 2 Al Mg VMg
. Ti O2 (S ) MgO 2Ti Mg VMg 2OO
负电荷。同理,Cl-离子空位记为VCl ·,
带一个单位正电荷。
即:VNa’=VNa+e,,VCl ·=VCl+h· 。
其它带电缺陷:
a. CaCl2加入NaCl晶体时,若Ca2+离子位于Na+离
子位置上,其缺陷符号为CaNa ·,此符号含义为Ca2+
离子占据Na+离子位置,带有一个单位正电荷。
,,
白宝石
Al2O3
红宝石
掺Cr
蓝宝石
掺Co
晶体结构缺陷的类型
缺陷分类
几何形态
线缺陷Βιβλιοθήκη 点缺陷面缺陷形成原因
体缺陷
热缺陷
杂质缺陷
非化学计 量缺陷
§3.1点缺陷(零维缺陷)
缺陷尺寸处于原子大小的数量级上,即三维方向上缺陷的尺 寸都很小。 §3.1.1类型 ① 根据点缺陷对理想晶格偏离的几何位置分类 a. 空位(vacancy)
MgMg +OO MgS+OS+ VMg”+VO..
以零O(naught)代表无缺陷状态,则: OVMg”+VO..
例4· AgBr形成弗仑克尔缺陷 其中半径小的 Ag+ 离子进入晶格间隙 ,在其格点上留下空位,方程式为: AgAg Agi.+VAg’
一般规律: 当晶体中剩余空隙比较小,如 NaCl型结构,容易形成肖特基缺陷; 当晶体中剩余空隙比较大时,如萤石
作业:
• 1. (1)在CaF2晶体中,弗仑克尔缺陷形成能是2.8ev ,肖特基缺陷形成能是5.5ev,计算在25℃和1600℃时 热缺陷的浓度。 • (2)如果CaF2中,含有10-6的YF3杂质,则在1600℃ 时,晶体中是热缺陷占优势还是杂质缺陷占优势?说 明原因。 • 2. 写出下列缺陷方程(分别写出两个合理的方程)
没有被占据的正常结点的位置
b. 间隙质点(interstitial particle) 进入晶格间隙的质点 c.杂质质点(foreign particle) 占据正常结点位置或间隙位置的外来质点
空位
杂质质点
间隙质点
晶体中的点缺陷
§3.1.2 点缺陷的符号表征:Kroger-Vink符号
以MX型化合物为例: ① 空位(vacancy)用V来表示,符号中的右下标表示
(a)单质中弗仑克尔缺陷的形 成(空位与间隙质点成对出现)
(b)单质中的肖特基缺陷的 形成
热缺陷产生示意图
① 间隙位置 (结构空隙大)
M X:
② 表面位置 (间隙小/结构紧凑)
Frenkel 缺陷
Schottky 缺陷
⑶ 热缺陷反应方程式
例3· MgO形成肖特基缺陷 MgO形成肖特基缺陷时,表面的Mg2+和O2离子迁移到表面新位置上,在晶体内部留 下空位:
§3.1.6 非化学计量化合物
• 1.定义: • 组成上偏离了化学计量的化合物称非化学计量化合 物。 • 2.类型 • ⑴负离子缺位型 • Ti02、ZrO2会产生这种缺陷,分子式可写为TiO2-x , ZrO2-x。 • 产生原因:环境中缺氧,晶格中的氧逸出到大气中 ,使晶体中出现了氧空位。
化学组成
混合尺度
B2-xAxO3-x/2
原子(离子)尺度
AB2O4
原子(离子)尺度
AO+B2O3
晶体颗粒态
结构
相组成
与B2O3相同
均匀单相
AB2O4型
均匀单相
AO结构+B2O3结构
两相有界面
3.固溶体类型
• ⑴ 根据外来组元在主晶相中所处位置 • • 置换型固溶体 间隙型固溶体
• ⑵ 根据外来组元在主晶相中的固溶度 • 连续型(无限型、完全互溶型)固溶体、有限型 (部分互溶型)固溶体。
第三章 晶体缺陷
一、点缺陷
热缺陷
固溶体
非化学计量化合物
二、线缺陷 三、面缺陷
概述
晶体
质点的排列严格按照 相应的空间点阵排列
质点的排列总是或多或少的 与理想点阵结构有所偏离
理想晶体
绝对零度下 才可能出现
实际晶体
不存在
晶体结构缺陷
缺陷的含义:通常把晶体点阵结构中周期 性势场的畸变称为晶体的结构缺陷。 理想晶体:质点严格按照空间点阵排列。 实际晶体:存在着各种各样的结构的不完 整性。
缺陷所在位置,VM含义即M原子位置是空的。
② 间隙原子(interstitial)亦称为填隙原子,用Mi、Xi
来表示,其含义为M、X原子位于晶格间隙位置。
③杂质质点 (foreign particle )杂质质点用NM表示,
NM的含义是N质点占据M质点的位置。因此该缺陷又
称为错放质点。
④ 自由电子(electron)与电子空穴 (hole)
CaF2型结构等,容易产生弗仑克尔缺
陷。
⑷ 热缺陷浓度的计算
在一定温度下,热缺陷是处在不断地产 生和消失的过程中,当单位时间产生和复合 而消失的数目相等时,系统达到平衡,热缺 陷的数目保持不变。
根据质量作用定律,可以利用化学平衡 方法计算热缺陷的浓度。
化学平衡方法计算热缺陷浓度
a. MX2型晶体肖特基缺陷浓度的计算
例1· 写出NaF加入YF3中的缺陷反应方程式 • 以正离子为基准,反应方程式为:
NaF NaY ''FF 2V
YF3
. F
• 以负离子为基准,反应方程式为:
例2· 写出CaCl2加入KCl中的缺陷反应方程式
• 以正离子为基准,缺陷反应方程式为:
CaCl2 Ca ClCl Cli '
⑶置换(取代)型固溶体与填隙型固溶体
• ① 等价取代

② 不等价取代 高价置换低价:形成阳离子空位和阴离子填隙

低价置换高价:形成阴离子空位和阳离子填隙
⑷连续固溶体与不连续(有限)固溶体
• 影响因素 • a. 离子大小
• b. 晶体结构类型
• c. 离子的类型和键性
• 化学键性质相近,即取代前后离子间键性 相近,容易形成固溶体。 • d. 离子电价
• 等价取代可能形成连续固溶体
• 不等价取代只可能形成有限固溶体
4.形成固溶体的作用
• ⑴ 稳定晶型,阻止晶型转变 • ZrO2是高温耐火材料,熔点2680℃,但发生相变时伴随7 ~9%体积收缩,导致开裂。若加入CaO,则和ZrO2形成固 溶体,无晶型转变,体积效应减少,使ZrO2成为一种很好 的高温结构材料。 • ⑵活化晶格 • Al2O3熔点高(2050℃),不利于烧结,若加入TiO2,可使 烧结温度下降到1600℃。这主要因为:Al2O3 与TiO2形成 固溶体,Ti4+置换Al3+,同时产生正离子空位,加快扩散 ,有利于烧结进行。 • ⑶固溶强化
相关文档
最新文档