X线头影测量学

Tweed分析法
Tweed三角：
由眼耳平面（FH）、 下颌平面（MP）、
下中切牙长轴所组 成的代表面部形态 结构的颌面三角形
Tweed认为：
FMA主要由遗传决定，
正畸治疗主要依靠 改变下中切牙的位 置和倾斜度来达到
FMIA目标 FMIA为65°是美国
白人儿童建立良好 面形的重要条件
不同人群的FMIA目标有差异
上下颌骨对颅部的相互
B
位置关系
面角（NP-FH）：面平
面与眼耳平面之后下 交角
Y轴角：Y轴与眼耳平
面之前下交角
下颌平面角（MP-FH）:
下颌平面与眼耳平面 （或SN平面）的交角
上颌长（ANS-Ptm）：
上颌长度
上颌位置（S- Ptm）：
上颌骨后缘相对于颅
底的前后向关系
FH
下颌位置（S-Co）：
侧面软组织鼻尖点 和颏前点连线
东方人上下唇位于 E线前后2mm所表现 的侧面较好
Prn
Prn
UL LL
Pos Pos
Merrifield： Z角
软组织颏前点与较前 的唇突点连线与FH平 面构成的内下交角
评价唇前突的程度: 正常均值为80°左右
UL LL
Pos
常用X线头影测量分析法
经典头影测量分析方法
三种确定方法
A. 通过颏下点（Me）与下颌角下 缘相切的线
B. 下颌下缘最低部的切线 C. 下颌角点（Go）与颏顶点（Gn）
的连线。
测量平面
平面（OP. occlusal plane)：
• a:解剖平面——上下6的咬合中点与上下1切缘中 点的连线
• b:功能平面——均分后牙接触点获得 • c:上颌平面——用得较少
N Ns
Prn
Sn UL LL Po Me Pos
Mes
注意
正中矢状面上的参考点（如S点）较矢 状面两侧的参考点（如Co点）准确
双侧影像未完全重叠时取其中点（如 Go点）
较难准确定位的点：O点、A点、ANS点、 PNS点
• 在颅面生长过程中，参考点的稳定性是 有变化的，所谓“固定的标志点”是不 存在的
下颌标志点
• 下齿槽缘点(Id) : 下齿槽突之最前上 点
• 下齿槽座点(B): Id与Po间之骨部最 凹点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点！
下颌标志点
• 下切牙点（Li）: 下中切牙切缘之 最前点
• 下磨牙点（L6）: 下颌第一磨牙的 近中颊尖点
下颌标志点（7个）
• 髁顶点（Co）
测量平面
面平面（N-P）:由鼻根 点与颏前点连线组成
Y轴(Y axis):S与Gn的 连线，代表面部生长发 育方向
S
N
Po Gn
常用硬组织测量项目
1.上下颌骨的常用测量项目
SNA 角：反映上颌相对
N
于颅部的前后位置关系
S
SNB 角：反映下颌相对
于颅部的前后位置关系
A
ANB 角=SNA-SNB，反映
被摄者要求：
1. 立位，两足自然平行分开，平视前方 2. 最大牙尖交错位（ICP）或根据需要 3. 面肌自然放松
良好X线头影片
软、硬组织清晰 头位正常 左右重叠度好
不好的X线头影片
A
B
C
D
X线头影测量片的描图
传统胶片手绘描图
在X线观片灯或专用描图桌上进行 工具：透明硫酸纸、刻度尺、三角板、圆
Ptm PNS
O
ANS A
UI
下颌标志点
• 髁顶点(Co):髁 突的最上点
• 关节点(Ar):颅 底下缘与下颌髁 突颈后缘之交点
• 下颌角点(Go): 下颌角的后下点
下颌标志点
• 颏前点(Po):颏部 之最突点
• 颏下点(Me):颏部 之最下点
• 颏顶点(Gn): Po 与Me之中点
• D点:下颌体骨性 联合部之中心点
Downs分析法—角度为主的分析（如MP-FH) Wylie分析法—线距为主的分析(如前面高高）） Steiner分析法—臂章图分析，确定治疗目
标 Tweed分析法—Tweed三角,下前牙倾斜度决
定侧貌 Ricketts分析法—直观治疗目标（VTO)描图
图预测 功能分析法—辅助鉴别功能性错
NG
Sn Po
Pos
鼻唇角（NLA)
鼻小柱-鼻下点上唇突点 所成 的角
代表上唇与鼻底 位置关系：正常 均值为100°左 右
Ns
Sn UL
LL Pos Mes
Holdaway线 （H线）
H线：软组织颏前 点与上唇突点连线
H角：H线与NB线的 交角
N Ns
UL B
Pos
Ricketts： 审美平面（E线）
* 1916年 正畸学家Van Loon第一个将人类学 方法应用到正畸学中
* 1923年 Meconer将X射线引入正畸学中
* 1931年 Brondbent(美)及Hofrath(德)首次 使用头颅定位器及摄片技术
X线头影测量的主要应用
１.研究颅面生长发育
X线头影测量的主要应用
２.牙颌、颅面畸形的诊断分析
规、3H铅笔等 描图顺序 软组织描记,可用强光局部观察
X线头影测量片的描图
使用头影测量 软件（如 WinCeph）定点 测量
使用绘图软件 （如百度文库oreldraw) 描图
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下1、上下6 软组织侧貌
常用X线头影测量 的标志点
• 下颌角点（Go）
• 颏前点（Po）
Co
• 颏下点（Me）
• 颏顶点（Gn）
• 下齿槽座点（B）
• 下切牙点（Li）
Go
Li
B Po Gn Me
软组织侧面标志点（9个）
• 软组织鼻根点(Ns) • 鼻顶点(Prn)：鼻部最突点 • 鼻下点(Sn） • 上唇突点(UL) • 下唇突点(LL) • 软组织颏前点(Pos) • 软组织颏下点(Mes)
X线头影测量, 主要是测量X线头颅定位照像 所得的影像, 对牙颌, 颅面各标志点描绘出 一定的线角进行测量分析, 从而了解牙颌、 颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检 查、诊断, 由表面形态深入到内部的骨骼结 构中去。
发展历史
* 1780年 解剖学家Camper
* 1884年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举行—眼耳平面（FH）的诞生
X线头影测量的主要应用
3.确定错畸形的矫治设计
X线头影测量的主要应用
4.研究矫治过程中及矫治后 的牙颌、颅面形态结构变化
X线头影测量的主要应用
4.研究矫治过程中及矫治后 的牙颌、颅面形态结构变化
X线头影测量的主要应用
5.外科正畸的诊断和矫治设计
X线头影测量的主要应用
6.下颌功能分析
用于判断面部生长型
＞65% 水平生长型 62-65% 平均生长型 ＜62% 垂直生长型
下颌平面角 ＜ 25° 低角 MP-FH 25-35°均角 ＞ 35° 高角
用于判断高低角
常用软组织测量内容
面型角（FCA)
FCA：额点-鼻下 点-软组织颏前 点 所成的角
代表软组织面型 突度
区别硬组织面角 （NP-FH)
部的结合处
颅部标志点
• 耳点(P): 外耳道的最上
点(解剖耳点) 常以定位仪耳
塞影像之最上 点代表（机械 耳点）
颅部标志点
• 颅底点 (Ba):
枕骨大孔 前缘之中 点
后颅底的 标志
颅部标志点
• Bolton 点:枕骨 髁突后 切迹的 最凹点
颅部标志点（5个）
蝶鞍点（S）
S
N
鼻根点(N）
耳点（P） 颅底点（Ba）
下颌髁突的前后位置
下颌长（Co-Po）：
下颌骨的综合长度
MP
2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角 (2)L1-MP角 (3)U1-NA角 (4)U1-NA距 (5)L1-NB角 (6)L1-NB距 (7)U1-L1角
2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角 (2)L1-MP角 (3)U1-NA角 (4)U1-NA距 (5)L1-NB角 (6)L1-NB距 (7)U1-L1角
标志点
• 定义:
用来构成一些平面及测量内容的点
• 特点：
– 影片上易于定位 – 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位:
–颅部 –上颌 –下颌 –软组织侧
面
颅部标志点
• 蝶鞍点(S): 蝶鞍影像的中心 常用作描图重叠
的参考点
颅部标志点
• 鼻根点(N): 鼻额缝之最
前点 前颅部的标
志点 代表颅、面
头颅定位X线片的种类
按拍摄时不同头位分为 头颅侧位片 正位片 颏顶位片
X线头颅侧位片的获得
仪器：X线 头颅定位仪
X线头颅侧位片的获得
X线照相要求：
左右耳塞与眶针三者构成一 与地平面平行的恒定平面
X线的中心点通过外耳道
X线球管至头部矢状面的距 离不小于150cm
尽量减少头至胶片或感光板 的距离
上齿槽突之最 前下点
常在上中切牙 釉牙骨质界处
上颌标志点
• 上齿槽座点(A): ANS与SPr间骨
部的最凹点 用于评价上颌
基骨前后位置
的重要标志点！
上颌标志点
• 上中切牙点 （UI）：上中切 牙切缘之最前下 点
• 上磨牙点（U6）: 上颌第一磨牙的 近中颊尖点或颊 沟点
上颌标志点（6个）
• 眶点（O） • 翼上颌裂点（Ptm） • 前鼻棘（ ANS） • 后鼻棘（PNS） • 上齿槽座点（A） • 上中切牙点（UI）
线距的比例较其绝对 长度更有意义
N
N’
O ANS ANS’
Me’ Me
全面高:N’-Me’ 上面高:N’-ANS’ 下面高:ANS’-Me’
前面高：N’-Me’ 后面高：S’-Go’
后前面高比： S’-Go’/N’-Me’
S P
Go
N
N’
S’
O ANS ANS’ Go’
ME
Me’
后前面高比 S’-Go’/N’-Me’×100%
• 但靠近颅底的一些点（如S点，N点，Ba 点）在出生后随生长变化很小，故由它 们构成的平面被用作头影测量的“基准 平面”
常用X线头影测量 的平面
基准平面 ——头影测量中相对稳定的平面
前颅底平面（SN）： 代表前颅底前后范围
S
N
常作为面部结构对颅底
P
O
关系的定位平面
Bo
眼耳平面（FH）：
P点和O点连线组成 , 与地面平行
2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角 (2)L1-MP角 (3)U1-NA角 (4)U1-NA距 (5)L1-NB角 (6)L1-NB距 (7)U1-L1角
3.面部高度的常用测量项目
全面高:N’-Me’ 上面高:N’-ANS’ 下面高:ANS’-Me’
P
为各点在FH平面垂线 上投影之距离（与教 材不同）
Bo P Ba
Bolton点（Bo）
上颌标志点
• 眶点(O):眶下 缘之最低点
上颌标志点
• 翼上颌裂点(Ptm): 翼上颌裂轮廓(倒
泪滴状）之最下点 常作上颌后界的参
考点
上颌标志点
• 前鼻棘(ANS): 前鼻棘之尖
• 后鼻棘(PNS): 硬腭后部骨棘 之尖
上颌标志点
• 上齿槽缘点 (SPr):
经典头影测量分析方法
Wits分析法—排除N点变异，基于功能OP进行 矢状向不调分析
Kim分析法—MEAW技术诊断体系，评价垂直向、 矢状向骨性不调趋势
McNamara分析法—以鼻根点垂线为主要基准 平面，线距为主的分析
四边形分析法—适用于正颌外科病例的个体 估计
…… 华西分析法—博采众长
X线头影测量分析
Cephalometrics
四川大学华西口腔医学院 正畸学系 李宇
Beauty is only skin deep ?
X线头影测量分析
1 概念、应用、拍摄及描图 2 常用头影测量标志点及平面 3 常用硬组织、软组织测量项目 4 常用X线头影测量分析法
临床实例
什么是X线头影测量？
Tweed 三角
下中切牙－FH平面（FMIA）
正常值 白人 北京 成都 65° 56° 54°
FH平面－MP平面角（FMA） 25° 31° 28°
下中切牙－MP平面（IMPA） 90° 94° 98°
下前牙再定位—计算法
绘出Tweed三角 测量FMIA=55 ° 标准值(65°)-测量值
(55 °)=10°即为下中 切牙需要舌倾的度数 10×0.8=8(mm）即为 下中切牙舌倾所需的间 隙量
Bolton平面:
由Bo点与N点连线组成
测量平面
腭 平 面 (PP.palatal
plane）:ANS与PNS的连
N
线,用于评价上颌骨的
长度、位置及生长方向
Ba
PNS
ANS
全 颅 底 平 面 (Ba-N): 可
视为颅部与颌面部的分
界线
测量平面
下颌平面(MP. mandibular plane）:评价下颌骨的长度、 位置及生长方向
Tweed三角的意义
着重分析下前牙的位置和倾斜度（FMIA) 以建立良好侧貌为目标进行下前牙再定位 根据FMA角的大小判断矫治预后：
FMA : 16°~28°预后良好 FMA : 28°~35°预后一般 FMA : ＞35° 预后不佳