催化剂表征方法

催化剂表征方法
催化剂表征方法

1.2比表面测试

单位重量催化剂所具有的表面积称为比表面,其中具有活性的表面称活性比表面,也称

有效比表面。尽管催化剂的活性、选择性以及稳定性等主要取决于催化剂的化学结构,但其

在很大程度上也受到催化剂的某些物理性质如催化剂的表面积的影响。一般认为,催化剂表

面积越大,其上所含有的活性中心越多,催化剂的活性也越高。因此,测定、表征催化剂的

比表面对考察催化剂的活性等性能具有很大的意义和实际应用价值。

催化剂的表面积针对反应来说可以分为总比表面和活性比表面,总比表面可用物理吸附的方

法测定,而活性比表面则可采用化学吸附的方法测定。催化剂的比表面积的常见表征方法见

表2。

1.2.1 总表面积的测定

催化剂总表面积的测定目前所采用的方法基本上均为低温物理吸附法,而其中的BET法则更是推崇为催化剂表面积测定的标准方法。有关BET法的具体介绍见第二章,在此不展开讨论。

1.2.2 有效表面积的测定

BET法测定的是催化剂的总表面积。但是在实际应用中,催化剂的表面中通常只是其

中的一部分才具有活性,这部分称为活性表面。活性表面的面积测定通常采用“选择化学吸附”进行测定。如附载型金属催化剂,其上暴露的金属表面是催化活性的,以氢、一氧化碳

为吸附质进行选择化学吸附,即可测定活性金属表面积,因为氢、一氧化碳只与催化剂上的

金属发生化学吸附作用,而载体对这类气体的吸附可以忽略不计。同样,用碱性气体的选择

化学吸附可测定催化剂上酸性中心所具有的表面积。表2列出了用于测定催化剂比表面积的

常见方法。

表2 催化剂比表面表征

(1)金属催化剂有效表面积测定[17-19]

金属表面积的测定方法很多,有X-射线谱线加宽法、X-射线小角度法、电子显微镜法、BET真空容量法及化学吸附法等。其中以化学吸附法应用较为普遍,局限性也最小。所谓化学吸附法即某些探针分子气体(CO、H2、O2等)能够选择地、瞬时地、不可逆地化学吸附在金属表面上,而不吸附在载体上。所吸附的气体在整个金属表面上生成一单分子层,并且这些气体在金属表面上的化学吸附有比较确定的计量关系,通过测定这些气体在金属表面上的化学吸附量即可计算出金属表面积。下面对经常采用的某些探针分子气体的化学吸附法作简单的介绍:

(a)H2吸附法

H2吸附法的关键在于使催化剂表面吸附的H原子达到饱和,由于形成H2饱和吸附的条件比较苛刻,H2的程序升温脱附不能在常压反应器中进行,因此限制了该法的应用,而且不同的吸附压力和吸附时间下得到的饱和吸附量不同,从而影响了测量的准确性。

(b)其它吸附法

化学吸附法除了最常用的H2吸附法外,常见的吸附法还有CO吸附法、O2吸附法、N2O吸附法、CO吸附法等,其中N2O吸附法最近又发展了很多更为实用的技术如(a)量热法;(b)脉冲色谱法;(c)前沿反应色谱法;(d)容量法。CO吸附法、O2吸附量热法、N2O吸附法用于表面积测试一般情况下不如H2吸附法,得到的结果也没有H2吸附法令人满意,因为这些气体生成单层和化学吸附的化学计量比都不容易控制。但是,这些方法在某些特殊情况下具有很大的应用价值。如,O2吸附法对于不容易化学吸附氢或一氧化碳的金属则比较有价值,而且氧化学吸附脉冲色谱法不仅不需要高真空装置,而且操作简便、快速、灵敏度高;CO吸附法对于容易生成羰基化合物的金属则不适宜;N2O吸附法是测定负载型铜和银催化剂中金属表面积的优选方法。

(c)吸附-滴定法

只要化学计量比是已知和可以重现的,则吸附物种和气相物种之间的反应可以用来测定表面积。

最常采用的是H2-O2滴定法,该法用于Pt负载催化剂的表面积测试最为有效,其用于非负载型金属粉末也只能严格地看作氢化学吸附法的代用方法,因为金属粉末要得到完全洁净而无烧结的表面存在着严重的困难。滴定方法有价值的第二种场合是双金属催化剂,其中反应籍以进行的条件可能强烈的与化学吸附成分所处的金属组分的本性有关。这可供区别组分之用。

表面氢氧滴定也是一种选择吸附测定活性表面积的方法。先让催化剂吸附氧,然后再吸附氢、吸附的氢与氧反应生成水。由消耗的氢按比例推出吸附的氧的量。从氧的量算出吸附中心数,由此数乘上吸附中心的截面积,即得活性表面积。当然做这种计算的先决条件是先吸附的氧只与活性中心发生吸附作用。

(2)氧化物催化剂有效表面积测定

如果只存在单独一种氧化物组分,显然表面积(总表面积)最好用物理吸附(BET)来测定。然而如果在催化剂中不止存在—种组份就具有在其他氧化物或金属组分存在下,选择性地测定指定氧化物表面积的问题。

1.3孔结构

孔结构的表征主要包括孔径、孔径分布、孔容和孔隙率等几个方面,其表征方法很多(主要表征方法见表1),需根据孔结构的类型具体确定。在众多表征方法中则属N2低温物理吸附法最为常用。

与物理吸附法相比,压汞法具有速度快、测量范围宽和实验数据解释简单的优点。另一方面,汞很难从多孔固体中全部回收,从这个意义来讲,这个方法是有破坏性的,尽管有些情况下,能够用蒸馏方法将汞全部除去[22]。

X-射线小角散射法可以给出均匀一致物质上存在的1-100nm孔的某些有用信息,但是对于化学组成变化的样品或含有与孔同样大小颗粒的样品,X-射线小角散射法不可能或很难测定孔的大小。X-射线小角散射法是一种特殊技术,能满足其应用的场合很有限。

由中子小角散射可获得有关孔大小分布的信息,从某种意义上讲,类似于用X-射线。中子还具有下列优点,即除了少数明显的例外,由元素到元素散射的横截面变化要比X-射线小,特别是由X-射线所发现的,随着原子序数的增加而散射横截面显著增大,在用中子时不存在。因此存在化学不均匀性时,采用中子比用X-射线应能更加顺利地研究孔的结构。

显微镜法(SEM/TEM)是以直接观察和测量孔的大小为依据。但是在大多数情况下,由于孔的形状变化不一,在进行有意义的孔大小测量时经常遇到困难,因而很难获得准确的数据。一般来讲,为了得到有关孔结构的定性评价以及催化剂形貌和纹理等方面特征,显微镜法是非常重要的。

1.4机械强度

催化剂应具备足够的机械强度,以经受搬运时的滚动磨损、装填时冲击和自身重力、还原使用时的相变以及压力、温度或负荷波动时产生的各种应力。固此,催化剂机械强度性能常被列为催化剂质量控制的主要指标之一。

目前,催化剂机械强度测试主要有三类[23]:

(1)单颗粒强度

本方法要求测试大小均匀的足够数量的催化剂颗粒,适用对象为球形、大片柱状和挤条颗粒等形状催化剂。单颗粒强度又可分为单颗粒压碎强度和刀刃切断强度。

a. 单颗粒压碎强度

将代表性的单颗粒催化剂以正向(轴向)或侧向(径向)、或任意方向(球形颗粒)放置在两平台间,均匀对其施加负载直至颗粒破坏,记录颗粒压碎时的外加负载。其中强度测试颗粒数一般选60颗,强度数据采用球形和打片柱状颗粒的正压和侧压直接以外加负载表示。

b. 刀刃切断强度

本方法又称刀口硬度法,测强度时,催化剂颗粒放到刀口下施加负载直至颗粒切断。对于圆柱状颗粒,以颗粒切断时的外加负载与颗粒横截面积的比值来表示刀刃切断强度数据。与单颗粒压碎强度相比,该方法在单颗粒强度实际的测试中较少采用。

(2)整体堆积压碎强度

对于固定床来讲,单颗粒强度并不能直接反映催化剂在床层中整体破碎的情况,因而需要寻求一种接近固定床真实情况的强度测试方法来表征催化剂的整体强度性能,该法即为整体堆积压碎强度。另外,对于许多不规则形状的催化剂强度测试也只能采用这种方法。(3)磨损强度

测试催化剂磨损强度的方法很多,但最为常用的主要有两种:旋转碰撞法和高速空气喷射法。根据催化剂在实际使用过程中磨损情况,固定床催化剂一般采用前一种方法,而流化床催化剂多采用后一种方法。不管哪一种方法,它们都必须保证催化剂在强度测试中是由于磨损失效,而不是破碎失效。两种区别在于:前者得到的是微球粒子,而后者主要得到的是不规则碎片。

a.旋转碰撞法

旋转碰撞法是测试固定床催化剂耐磨性的典型方法。其基本思想是将催化剂装入旋转容器内,催化剂在容器旋转过程中上下滚动而被磨损;经过一段时间,取出样品,筛出细粉,以单位质量催化剂样品所产生的细粉量,即磨损率来表示强度数据。

b.高速空气喷射法

对于硫化床催化剂,一般采用高速空气喷射法测定其磨损强度。高速空气喷射法的基本原理:在高速空气流的喷射作用下使催化剂呈流化态,颗粒间摩擦产生细粉,规定取单位质量催化剂样品在单位时间内所产生的细粉量,即磨损指数作为评价催化剂抗磨损性能的指标。

2 催化剂微观结构与性能的表征

固体催化剂的微观结构和物化性能主要包括催化剂本体及表面的化学组成、物相结构、活性表面、晶粒大小、分散度、价态、酸碱性、氧化还原性、各组分的分布及能量分布等。特别是起活性作用的部位即活性中心的组成、结构、配位环境与能量状态。催化剂微观性质的表征的主要内容和方法如图1所示。

催化剂微观性质的表征笼统地分可以分为两个方面,即表面性质的表征和体相性质的表征。下文中我们将以这两个方面为主线系统介绍各种物理、化学手段在催化剂微观性质表征方面的应用以及各种方法的局限性和优点,力求达到使读者对各种催化研究方法产生整体上的概念以及指导读者如何选择催化剂表征方法的作用。

2.1表面性质表征

催化剂表面性质的表征方法一般可以分为两个方面:

1.分子探针技术,主要表征技术见表4;

2.直接表征技术,主要表征技术见表。

第一类催化剂表面微观性质表征技术是一类可以在接近原位条件下对催化剂进行多种表

征的技术,通过此类技术可以获得催化剂的多种性质并可确定它们之间的相关性。此类技术的另外一个优点还在于仪器、设备简单、费用低,所以此类设备在一般催化研究实验室都可装备,使用非常方便。

第二类表征技术均可在不使用任何探针分子的情况下对催化剂的表面微观性质进行直接观察,其获得的信息大多是来自于催化剂表面几层至十几层的表面原子的信息,所以此类技术所反映的表面性质更具微观性,更能反映催化剂的表面本质。但是此类表征技术所采用的仪器设备大多非常昂贵,一般实验室难以承受,因此使得这类技术的使用受到了一定的限制。另外,此类技术所获取的催化剂表面性质均是在催化剂处于真空或低压条件下获取的,在一定程度上并不能详细、真实地反映催化剂在操作条件下的性质,因为很多研究都表面催化剂在真空或低压条件下的性质往往与操作条件的性质相差很远。但是随着原位技术的发展以及设备的完善,此缺点将逐渐被克服,因此可以相信此类技术在日后催化剂表面微观性质的表征中必将处于重要地位。值得注意的是,目前尽管第二类催化剂表面微观性质表征技术受到某些条件的限制,从而造成其在催化剂表征中的难以实现和较少采用,但是XPS技术由于对催化剂表面原子化学环境具有极其敏感性而受到催化研究者的格外青睐。

在下文中我们将针对各种技术的主要优缺点以及适用范围做概括性的介绍,力求达到使读者对催化剂表面微观性质的表征方法产生总体上的认识,并为催化剂表征手段的选择起指导性作用。

表4 催化剂表面性质探针分子表征技术

技术方法

获取信息

定量分析

体积吸附法

吸附量与压力的关系

高精度

重量吸附法

吸附量与压力的关系

高精度

动态吸附法

不可逆吸附量

定量

量热法

吸附热与表面覆盖度的关系

高精度

红外光谱法

催化剂表面功能性基团

半定量

吸附剂功能性基团

拉曼光谱法

催化剂表面功能性基团

半定量

吸附剂功能性基团

Uv-vis光谱法

表面基团局部环境

半定量

TPD

吸附物种量与温度的关系

定量

TPD-MS

吸附物种组分、量与温度的关系

定量

TPD-IR

吸附物种组分与温度的关系

不可以

TPSR

不同探针分子间的竞争作用——表面反应性能半定量

2.1.1吸附技术

由表1可见,催化剂表面性质的吸附技术经常采用的有体积吸附法、重量吸附法以及动态吸附法等,此类技术的共同最大优点在于可以对催化剂表面性质进行精确定量分析。前两者属于静态吸附技术,而后者则属于动态吸附技术。

吸附技术所采用的仪器设备均十分简单而且价格相当便宜,尽管目前在市场上均有成套的装置出售,但是在一般实验室均根据实验现有条件以及所需要获得的信息自行设计和搭建。

静态技术在催化剂定量分析中比动态技术具有更精确的结果。静态体积吸附技术更适用于气体吸附的研究,而静态重量吸附技术对于蒸汽尤其是有机物蒸气在催化剂表面上的吸附研究更具优势。但是由于探针分子难以到达吸附平衡以及化学吸附和物理吸附难以区分,因此静态吸附技术在实际操作过程中非常缓慢且要求操作极其细致、精密。静态吸附技术结果的准确性和精确性在很大程度上取决于催化剂的测试温度,因此我们建议在进行静态吸附测试之前最好做一下TPD以确定合适的测试温度。

2.1.2吸附量热法

吸附量热法的装置以及测试方法在很大程度上与前面所介绍的体积吸附法相似。不同之处在于,吸附量热法中的样品池位于量热计中,其可以测量探针分子在催化剂表面上的吸附体积以及吸附热。因此吸附量热法可以获取吸附剂——探针分子与吸附质——催化剂之间相互作用的相关信息以及催化剂表面活性位的非均一性。如,通过采用碱性气体作为探针分子可以确定催化剂表面的酸性位以及酸强度的分布。

吸附量热法是当代精确测量吸附热的可靠方法,它能从能量角度来研究气相分子在催化剂表面上的行为,为探索催化剂的反应性能及机理提供依据。另外,该技术可以同时获取催化剂表面活性位能量分布的定量及定性数据。但是吸附量热法实际操作过程缓慢、难以实施。

2.1.3探针分子光谱技术

获取催化剂表面吸附分子的结构以及反应活性相关定性信息的最佳表征、测试手段为探针分子吸附光谱技术。此类技术所采用的装置以及测试方法在很大程度上与前面所介绍的体积吸附法相似。不同之处在于,探针分子吸附光谱技术中的样品池位于分光光度仪中,因此其可以获取催化剂表面上探针分子的光谱信息。此类分子探针技术较为常采用的有红外光谱技术、拉曼光谱技术以及UV-Vis光谱技术。

(1)红外光谱技术

红外光谱已经广泛应用于催化剂表面性质的研究,其中最有效和广泛应用的是研究吸附在催化剂表面的所谓探针分子的红外光谱,如NO、CO、CO2、NH3、C5H5N等,它可以提供在催化剂表面存在的“活性部位”的相关信息。用这种方法可以表征催化剂表面暴露的原子或离子,更深入地揭示表面结构的信息。与其它方法比较,这样的红外研究所获得的信息只限于探针分子(或反应物分子)可以接近或势垒所允许的催化剂工作表面。这对于表征催化剂是十分重要的。

对于分子探针技术来说,探针分子的选择尤为重要,它直接关系到实验所预期的目标,分子探针红外光谱技术中最常采用的探针分子有:CO、NO、NH3、C2H4、CH3OH、H2O以及

吡啶。在中之所以选择上述探针分子其原因有二:

(a)上述探针分子大多数分子结构简单,因此谱带解析相对来说比较简单;

(b)1200-400cm-1范围内的谱带受吸附的影响,而固体催化剂的骨架振动一般不会出现在此范围,因此相互之间不产生干扰或干扰很小。

值得注意的是并不是说只可以采用上述探针分子,理论上说可以采用任何化合物,只不过当采用结构比较复杂的探针分子时图谱解析比较困难。

尽管探针分子红外光谱技术在催化剂表征方面具有举足轻重的作用,但是也存在某些缺点:(a)红外光谱一般很难得到低波数(200cm-1以下)的光谱,而低波数光谱区恰恰可以反映催化剂结构信息,特别如分子筛的不同结构可在低波数光谱区显示出来;

(b)大部分载体(如γ-A12O3、TiO2和SiO2等)在低波数的红外吸收很强,在1000cm-1以下几乎不透过红外光;

(c)IR测试过程中所采用的NaCl、KBr、CaCl2容易被水或其它液体溶解,所以IR不适用于通过水溶液体系制备催化剂过程的研究。

(2)拉曼光谱技术

探针分子拉曼光谱技术在催化研究中应用的研究与红外光谱相比有自己的特点。由于一般载体的红外光谱在1200cm-1以下范围内有很强的吸收,而拉曼光谱受载体的影响很小,因此可以在此范围内得到表面物种的拉曼光谱。而且红外和拉曼光谱可以互补,结合起来可以更好地研究表面物种的结构。但是,吸附分子的拉曼光谱研究远远不如红外光谱开展得那么普遍,这是由于拉曼光谱的原位研究存在一定的困难,其中荧光干扰和灵敏度较低是最大的问题。

(3)UV-Vis光谱技术

UV-Vis探针分子技术很少用于催化剂表面性质的研究,有时甚至会得到错误的信息,因为它所提供的是吸附中心本身的直接信息。但是当旋光物在测试条件下均处于催化剂的表面则可以获取很好的、有价值的信息,因为在此条件下催化剂表面和体相互不影响,UV-Vis 所反映的仅是催化剂表面的特性。因此,UV-Vis探针分子技术非常实用于负载型金属催化剂以及含有过渡金属的分子筛的研究,而且十分有效和直接。

图6 探针分子光谱技术实验装置示意图

2.1.4 程序升温脱附技术

程序升温脱附(TPD)即将已吸附的气体在程序升温下脱附出来的方法,其可以通过采用不同的吸附气体获取催化剂表面各种不同的性质,如以碱性气体作为吸附质可以获取催化剂表面酸性质、O2、H2、CO、H2O、乙烯等气体的TPD可以测定金属、合金、氧化物、硫化物催化剂等表面活性中心的性质。

TPD技术可以根据所需要获得的信息而采用不同的脱附气体检测分析技术,最常用的有:(1)当吸附气体在脱附过程中不会发生任何变化或反应时,可以采用热导检测器;

(2)当吸附气体会与催化剂表面发生反应或采用多种吸附气体时,可以采用红外或质谱检测器,即TPD-IR和TPD-MS技术。

另外,TPD技术还具有以下优点:

(1)设备简单、费用低、组装搭建方便可行;

(2)操作简易;

(3)定量解析简单、可靠。

(4)可以在原位条件下采用混合气体作为探针分子,研究催化反应机理,即程序升温反应技术(TPSR)。

图7 程序升温脱附试验装置图

2.1.5直接表征技术

在此所指的催化剂表面性质直接表征技术只是相对于上述所介绍的探针分子技术而言的,并非是指直接观测技术。此类技术主要包括:XPS、UPS、AES、LEED、SIMS、ISS、HREELS、SEXAFS等等,下面将对各种技术做简要的介绍。

(1)光电子能谱技术

光电子能谱技术是指将光子照射在催化剂样品上,使之发射出结合能小于光子能量的电子(光电子),由此可测定电子的动能,其根据入射光类型可以分为X射线电子能谱(XPS)和紫外电子能谱(UPS)。

XPS已经成为催化研究的重要手段之一,利用XPS技术可以进行催化剂各组分(如活性组分、助催化剂)的剖析,可以研究活性相的组成与性能的关系、毒质及其效应,可以进行对反应机理、催化剂的组成—结构—活性之间的关联等等。其中最基本、常见的应用是组分鉴别、价态分析以及半定量分析。

XPS用于固体材料分析、催化剂研究具有相当的优势,其优点在于:(1)样品用量小;(2)不需要进行样品前处理;(3)分析速度快;(4)分析范围广,可以对原子序数3~92的元素进行定性和定量分析;(5)可以给出元素化学态信息,进而可以分析出化合物组成。

另外,用XPS分析有机物可得到其元素组成和化学态,结合可观测表面分之碎片的静态二次离子质谱技术,可以较好地分析有机物的表面结构。

UPS技术主要用于提供:

1)清洁表面或有化学吸附物的表面的电子结构;

2)参与表面化学键的金属电子和分子轨道的组合等信息;

3)有关电子激发和电荷转移的信息。

由于吸附发生在样品的最表面,因此UPS和AES技术可以有效地对吸附质在催化表面的吸附行为以及吸附态进行研究(采样深度比XPS更浅)。UPS技术对表面吸附中的研究是UPS在催化领域中最重要的应用之一。

(2)俄歇能谱技术(AES)

俄歇能谱技术(AES)是通过检测入射电子束所激发的俄歇电子来给出催化剂表面化学组成及分布的方法。

俄歇电子的能量分布与入射电子能量无关,它只反映被激发原子的特征,因此可以从俄歇电子能量测定催化剂表面的化学组成及分布(包括痕量元素分析)。研究俄歇电子谱随吸附、反应等过程的变化可得到表面吸附与反应过程的动力学;用电子枪溅射将样品一层层剥离,可以分析元素在颗粒中的分布等。做元素分析时,若入射电子能量为1-5keV,则可检测H、He以外的所有元素,探测深度为0.5-1.0nm,可控制为10层,但是该法对定量分析及对提供化学环境的信息方面不如XPS。

(3)低能电子衍射技术(LEED)

低能电子衍射技术(LEED)是目前使用最多的测定固体表面结构的方法之一。根据LEED衍射斑点的图样,可以确定表面原子及其覆盖单层的点阵原胞的大小、方向和对称性;从衍射束斑的形状和强度分布,可以了解对应结构在表面上的有序程度;通过各衍射束强度与电子能量的关系,可以进行表面结构三堆分析,得到原子在原胞中的具体位置、数量及原子间的链长、链角等结构参数。对金属及其吸附单层,已积累了大量LEED实验结果,但由于低能电子在原子间有显著的多此散射效应,使衍射束强度的理论处理繁琐、计算工作量庞大,迄今通过三维LEED结构分析的体系不多,面临着表面扩展X射线吸收精细结构(SEXAFS)和扫描隧道显微镜(STM)等新的表面结构测定方法的竞争。

LEED的主要缺点在于其只能在超高真空条件下用于单晶表面及其有序吸附单层结构的研究,不能用于实际催化剂表面结构的分析。但是原子、分子在各种晶面上的吸附位置、吸附结构,对于了解有关催化剂表面的活性中心结构和催化反应机理都是必要的依据。LEED和其它对表面灵敏的技术如AES、XPS等技术联用,用于研究单晶模型催化剂上的吸附和反应,能在原子尺度上探索多相催化过程,是近10多年来在多相催化领域内开辟的一个重要方面。

(4)二次离子质谱法(SIMS)

二次离子质谱(SIMS)是一种用于分析固体材料表面组分和杂质的分析手段。通过一次离子溅射,SIMS可以对样品进行质谱分析、深度剖析或成二次离子像。SIMS具有很高的元素检测灵敏度以及在表面和纵深两个方向上的高空间分辨本领,所以其应用范围也相当广泛,涉及催化、化学、生物学和物理学等基础研究领域及微电子、新材料、矿物研究等实用领域。主要功能为定性分析包括氢在内的全部元素,能给出同位素信息、化合物组分及分子结构,是表面分析技术中最灵敏的一种。对很多成分具有ppm甚至ppb量级的灵敏度;由于离子易聚热、偏转,其还能进行微区成分成象和深度剖面分析,但由于存在基体效应,一般难以定量分析。

SIMS的主要优点:(1)在超高真空下(<10-7Pa)进行测试,可以确保得到样品表层的真实信息;(2)原则上可以完成周期表中几乎所有元素的低浓度半定量分析。而传统仪器如AES适用于原子序数33以下的轻元素分析;XPS适用于原子序数大的重元素分析。(3)可检测同位素;(4)可分析化合物;(5)具有高的空间分辨率;(6)可逐层剥离实现各成分的纵向剖析,连续研究实现信息纵向大约为一个原子层。而AES、XPS等采用溅射方式将样品逐级剥离,对剥离掉的物质不加分析,只分析新生成的表面;(7)检测灵敏度最高可优于ng/g量级。高性能的SSIMS的检测灵敏度是所有表面分析法中最高的。而SEM、XPS 等由于受检出限的限制,主要用于物质形态(价态)、结构及物理结构分布状态的分析与表征。

当然,SIMS自身也存在一定的局限性,主要在于:(1)质谱包含的信息丰富,在复杂成分低分辨率分析时识谱困难;(2)定量分析困难;(3)一次离子对样品有一定的损伤;(4)分析绝缘样品必须经过特殊处理;(5)样品组成的不均匀性和样品表面的光滑程度对分析结果影响很大。

(5)离子散射谱技术(ISS)

作为一种表面分析手段,ISS不但能对表面规整的模型催化剂,如单晶等进行表征,也能对应用于各种实际工业过程的实用催化剂进行表征。不但可以定性地描述样品表面的化学组成,也可在许多条件下定量地描述样品的化学组成。如果运用得当,它还能给出一些极其有用的表面结构信息,如吸附位置、吸附构型等。特别是由于ISS的单层检测灵敏性,它能给出在很多情况下其他表面分析仪器所无法给出的信息。但是,ISS通常无法给出表面原于的化学状态的信息,在大多数情况下其结果的定量分析比较困难。尽管如此,ISS所要求

的装置简单、解析容易、可以方便地与其他表面分析手段对照,值得进一步推广。

ISS对不同元素的灵敏度的变化范围在3~10倍之间,分析时对表面的损伤很小。但定量分析有一定的困难、谱峰较宽、质量分辨本领不高、检测灵敏度为10-3。

(6)表面扩展X射线吸收精细结构(SEXAFS)

表面扩展X射线吸收精细结构(SEXAFS)是近年来发展起来的研究表面结构的另一手段。当吸附在衬底上的原子吸收X射线后,从基态发射的光电子可受到周围原子的散射,出射电子波与散射电子波之间有干涉作用,形成有起伏的末态。这个有起伏的末态使X射线吸收的几率在吸收边后有振荡现象,振荡的幅度与周期包含了吸附原子的近邻数,及其和周围原子所形成的键长的信息。键长确定的准确度可达±0.03埃;通过SEXAFS可观测金属晶面的氧化、清洁表面的结构、吸附引起表面的重构现象、吸附质在不同晶面上吸附结构差异。

2.2体相性质表征

尽管催化反应均是在催化剂表面(外表面或内表面)进行的,这使得表征催化剂的表面性质尤为重要,但是催化剂体相性质在实际催化过程中也具有举足轻重的作用,催化剂的许多性能除了与催化剂表面性质有关外,还直接与催化剂体相性质相联系。因此,表征催化剂的体相性质也是催化研究中十分重要的方面。

催化剂体相性质的表征大致有以下几类常用表征技术:

1.元素分析技术

2.光谱及衍射技术(XRD、IR、Raman、UV-vis、NMR)

3.热分析技术(TG、DTA、DSC、TPD、TPO、TPR)

在下文中我们将对各种技术进行概括性的介绍。

2.2.1 元素分析技术

元素分析技术主要用于定性和定量催化剂体相各元素的组成或催化剂表面微区元素的组成,这是催化剂分析表征的首先所要解决的问题。

通过催化剂元素组成的定性与定量分析,可得到主要组分(活性组分、助剂、载体等)及杂质(制备和使用过程中由于原料带入的分厂、毒物、污染物及生成的沉积物等)的组成、含量及其在颗粒中的分布。元素组成的定性与定量分析除化学分析如酸碱滴定及络合滴定、电化学分析法外,较常采用的方法还有分光光度法、电感耦合等离子体发射光谱法、原子吸收光谱法、X荧光分析法等。但是各种方法都有它的适用范围和条件,不同的样品、不同的测试目的所采用的方法也不同。下面我们将对上述常用方法的适用范围以及优缺点作一介绍。

(1)分光光度法

分光光度法操作复杂、时间长、试剂用量多。另外,在测试过程中需要引入显色剂配合物,而大多数配合物水溶性差,需要引人适当的表面活性剂增加灵敏度;存在一定程度的干扰因素,需要加人适当的掩蔽剂或与其它分离方法联合使用;目前的方法大多是针对特定的样品,而缺乏普遍性。

(2)原子吸收光谱(Atomic Absorption Spectroscopy,AAS)

原子吸收光谱法(AAS)灵敏度高、灵敏度高达10-12-10-14克,选择性好、抗干扰能力强、测定元素范围广、仪器简单、操作方便,但是对某些元素如Na+灵敏度不好,而且一次只能测定一个元素,难于同时测定许多元素。此外,由于AAS法的光源是单元素空芯阴极灯,

所以测定一种元素就必须选用该元素的空芯阴极灯,从而使其不适于物质组成的定性分析;对于难熔元素的测定不能令人满意;不能对共振线处于真空紫外区的元素进行直接测定。(3)电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)

电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)的应用最为广泛,具有检出限低,基本干扰少,线性范围宽,精密度好,可同时测定多元素的特点。广泛应用于无机元素的定性、定量分析,尤其对沸石分析中常见的元素(例如硅、铝、磷、钛及许多其它元素)具有较高的灵敏度和精度,相对偏差小于1%。值得注意的是,ICP对重金属和磷的敏感度远高于普通得原子吸收光谱,而对于IA族元素(包括Na和K)则不如AAS。另外,ICP法需昂贵的仪器和特定的实验设备,相比之下原子吸收光谱法有着更广泛的应用。

(4)X荧光分析(X-ray Fluorescence,XRF)

X荧光分析法(XRF)可以直接测定含量高的物质,避免对未知试样高倍稀释带来的误差,这一点优于吸收光谱和发射光谱法。该法具有快速、准确、样品用量少的特点,但对轻元素如Na等难于测定。

近年来在X荧光分析技术的基础上发展起来一种全新的技术——全反射X荧光分析技术(TRXF),其是一种新的高灵敏度元素分析技术,主要特征是通过反射技术去掉在通常X 荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度。该法除了灵敏度高之外,还具有分析样品用量少(微克量级)、设备简单等优点。

(5)电子探针分析(Electron Probe Microscopy,EPMA)

电子探针分析可对催化剂表面微区(最小可检测1μm左右)进行扫描分析,其可检测原子序数从12(Mg)至92(U)的元素。由于元素的X射线的相对强度与其含量成正比,因此由谱线强度可检测各元素的百分含量;可将催化剂剖开测得催化剂各组分的空间分布;结合扫描技术,可以进行点分析、线分析和面分析;样品不易被破坏,可以进行重复试验;此法相对灵敏度为百分之几到万分之一。

(6)X射线能谱(EDS)

EDS可以在几分钟内对Z≥11的所有元素进行快速定性分析;检测效率极高,达100%,灵敏度比波谱高一个数量级;能谱仪操作简单;但是其对轻元素分析有一定的困难,只能探测原子序数Z≥11的元素;对于软X射线必须用超薄窗或无窗探测器,以增加对轻元素的探测效率;对于薄样轻元素定量分析的困难还在于修正试样对软X射线的吸收。

值得注意的是,后两种方法主要用于催化剂表面微区域内元素的组成,其常常作为其它仪器或表征手段的辅助部分。

2.2.2 谱学技术

谱学技术在催化剂体相性质的表征中有着广泛的应用,通过谱学技术可以获取催化剂的结构性质(如骨架结构、结晶度、晶粒大小)和局部性质(如氧化态、配位数、对称性等)。但是目前还没有一种技术能够获取催化剂的所有性质,因此必须根据所预期获取的信息来选择合适的表征技术。表列出了最常用的几种技术以及其所能获取的信息。

(1)分子光谱技术

分子光谱技术主要包括红外、拉曼、紫外三大类技术,它们在催化剂体相性质中的表征都具有很大的应用价值。

红外光谱的主要优点是具有广泛的使用性能,几乎适用于所有的分散金属催化剂或氧化物催化剂。从拉曼光谱可以得到与红外光谱同样的结构信息,对于许多催化剂,不同的选律可能使用扩展频率范围(相对于红外光谱可选的频区),不过这种能力在很大程度上由于灵敏度损失可观而被抵消。但是红外光谱在表征固体催化剂结构性质上的应用并不是太多也并有效,因为催化剂所采用的载体除了某些化合物如钼酸盐、钒酸盐、分子筛之外,尤其是氧

化物载体,在红外区域均存在较宽的谱带而无较为特征的特征谱带,使得谱带解析变得十分困难。目前红外光谱用于催化剂体相性质的表征,最常见也是十分有效的应用就是钼酸盐、钒酸盐、分子筛结构的表征,其主要应用还是集中在催化剂表面性质的研究与表征上。

拉曼光谱在催化剂体相性质表征方面也存在一些问题。首先,由于荧光干扰很难获取质量较好的谱图,尤其对于某些氧化物来说此问题表现得更为严重;另外,与红外光谱技术相似,拉曼光谱技术在催化剂体相性质表征方面的应用也仅限于Mo、V、W、Ti化合物以及少量其它物质。但是正是由于大多数载体拉曼散射较弱,从而更有利于拉曼光谱技术在催化剂表面性质上的研究。

紫外-可见光谱(UV-Vis)是分子光谱技术在催化剂体相性质表征中最为常见、最为有效的光谱技术。UV-Vis能够观察到过渡金属的d-d跃迁以及由于电荷转移(电子从配体转移至金属或从金属转移至配体)而引起的其它跃迁(如Ti、Zn、Ce、Zr、Mo、Sn、稀土元素、碱土金属氧化物以及许多其它过渡金属氧化物),所以其可以直接提供电子结构和第一配位层的相关信息,能够用以测定过渡金属的区域对称性、氧化态、配位体类型、配位数等,是一种探测离子所在位置类型的灵敏手段。但是UV-Vis谱图的解析相当困难,特别是在电荷转移跃迁谱带较宽情况下。

(2)X射线谱技术

X射线谱技术可以分为两类:一、X射线衍射技术;二、X射线吸收技术。

绝大多数催化剂如分子筛、氧化物、负载金属、盐等等都是晶体,因此X射线衍射技术成为表征这些固体催化剂的基本手段,通过XRD的表征可以获取以下信息:

a.催化剂的物相结构;

b.组分含量;

c.晶粒大小。

物相定性分析是XRD技术在催化研究中的主要用途。但是XRD技术必须依赖于晶格的长程有序的衍射技术,其看不到非晶,甚至看不到50?以下的微晶。所以仅通过XRD技术,以及对我们所看到的部分对催化剂整体下结论显然是不全面,而X射线吸收技术(其中主要包括EXAFS和XANES)则可以在一定程度上突破上述局限。EXAFS主要包含着详细的局域原子结构信息,其能够给出吸收原子近邻配位原子的种类、距离、配位数和无序度因子等结构信息,它通常通过拟合的方法分析获得;而XANES中则包含着吸收原子的价态、态密度以及定性的结构信息,它主要是通过模拟的方法来解释。

EXAFS技术用于催化领域的研究主要有以下特点和优点:

(1)EXAFS现象来源于吸收原子周围最邻近的几个配位壳层作用,决定于短程有序作用,不依赖于晶体结构,可用于非晶态物质的研究,处理EXAFS数据能得到吸收原子邻近配位原子的种类,距离、配位数及无序度因子;

(2)X射线吸收边具有原子特征,可以调节X射线的能量,对不同元素的原子周围环境分别进行研究;

(3)由吸收边位移和近边结构可确定原子化合价态结构和对称性等;

(4)利用强X射线或荧光探测技术可以测量几个ppm浓度的样品;

(5)EXAFS可用于测定固体、液体、气体样品,一般不需要高真空,不损坏样品。

尽管EXAFS技术用于催化领域的研究具有其它常规技术所无法比拟的优点,但是EXAFS作为一项有广泛用途的结构探测技术也将不可避免地存在一些缺点。其中最大的缺点就是:EXAFS只能提供平均的结构信息。

(3)共振谱技术

固体催化剂体相性质表征中常见的共振谱技术主要包括核磁共振技术(NMR)、电子自旋共振技术(EPR)以及穆斯堡尔谱。

(a)磁共振技术(NMR)

在催化研究中,比较常用的有1H、29Si、27Al、13C、23Na核磁共振技术,其中是29Si、27Al、23Na固体NMR谱的研究在最近尤为活跃和突出,使固体NMR技术成为研究沸石分子筛各个方面的有力工具。不同核的核磁共振在催化研究中具有不同的用途,其中29Si和27Al MAS NMR主要用于研究沸石分子筛的结构,而其它核的MAS NMR研究其它种类的催化剂的结构,而且更多地是用来表征催化剂的表面性质,如13C CP MAS NMR可以用于研究催化剂表面结炭;1H MAS NMR可以用于研究催化剂表面酸性;Xe 探针可以用于研究催化剂的孔结构等等。

(b)穆斯堡尔谱

效应是原子核对γ射线的无反冲共振吸收现象,目前已广泛地应用于物理学、化学、材料科学、物理冶金学、生物学和医学、地质学、矿物和考古等许多领域,已发展成为一门独立的波谱学——穆斯堡尔谱学。通过穆斯堡尔谱学的研究主要可以获得以下相关信息:a. 穆斯堡尔谱能极为灵敏地反映共振原子核周围化学环境的变化;并可以获得共振原子核周围化学环境的变化,由它可以获得共振原子的氧化态、自旋态、化学键的性质等有关固体微观结构的信息;

b. 穆斯堡尔谱能方便地确定某种固体(含穆斯堡尔核)是否为非晶态;

c. 在微晶研究方面,穆斯堡尔谱可以提供磁性微晶的弛豫过程、磁各向异性能常数、微晶的大小及其分布等方面的信息,而研究固体结构常用的X射线衍射技术在此条件下已不敏感;

d. 穆斯堡尔谱可用于固体的相变研究,确定相变温度;对复杂物相可以进行定性或定量的相分析;对未知物相,可作为“指纹”技术进行鉴别。

穆斯堡尔谱的优点有:(1)设备和测量简单;(2)可同时提供多种物理和化学信息;(3)分辨率高,灵敏度高,抗扰能力强,对试样无破坏;(4)所研究的对象可以是导体、半导体或绝缘体,试样可以是晶态或非晶态的材料,薄膜或固体的表层,也可以是粉末、超细小颗粒,甚至是冷冻的溶液。

该方法局限性:只有有限数量的核有穆斯堡尔效应,且许多还必须在低温下进行,这使它在应用上受到限制,事实上,目前只有53Fe和119Sn等少数的穆斯堡尔核得到了充分应用,随着实验科学的发展可以预料,它将不断地克服其局限性,在催化研究领域发挥更大的作用。(c)电子自旋共振(ESR)

电子自旋共振(ESR),亦称电子顺磁共振(EPR)是基于离基态几个波数范围内的一组能级中,未成对电子在磁场作用下发生能级间的跃迁;它观测的对象仅限于具有未成对电子的物质(即顺磁性物质),是目前直接检测和研究含有未成对电子的顺磁性物质的专用分析方法。

ESR研究的对象是具有不成对电子的原子、分子或固体,例如自由基、三重态分子、过渡金属离子、稀土离子以及固体中某些局部晶格缺陷(F心、V心)等。从ESR波谱仪测出的参数和记录的线型,可以精确地分析这些不成对电子所处的位置及其能态等信息。因此ESR 技术是探索物质微观结构和运动状态的重要手段。ESR在催化剂体相性质中研究的突出应用在于表征催化剂活性位的结构以及考察表面与体相之间的离子扩散。

ESR可以从侧面叙述有关表面酸性、价态、活性位结构以及反应问题,虽然这些性质都可以采用其它的测试方法获取,但是ESR有其自身优点:(1)研究的能级跃迁变化仅为红外或紫外光谱所涉及的千分之一,因此对于微小的环境效应常常易于在ESR法中观测到;(2)ESR的环境效应理论虽然复杂但是仍较光谱学中的相应理论易于应用;(3)对于非顺磁性物质的研究,只需加入百万分之一的不影响样品本质的顺磁物种作为探针,就能灵敏地鉴别出这些探针周围的环境,而获取其内部运动情况。

ESR的主要缺点是:(1)ESR谱线受环境的影响较大,“对图识谱”结果不可靠;(2)影响谱线的因素较多;(3)单独使用获取催化剂的性质有限,常需与其它测试方法联用。

(4)其它谱学技术

催化剂表征可采用的其它谱学技术还很多,由于它们的使用较少或在本文中其它地方已经有所介绍,限于篇幅问题,在此不再给于详细讨论与分析。

2.2.3 热分析技术

热分析是研究物质在受热或冷却过程中其性质和状态的变化,并将此变化作为温度或时间的函数来研究其规律的一种技术。它是在过程控制温度下,测量物质的物理性质与温度关系的一类技术。由于它是一种以动态测量为主的方法,所以和静态法相比具有快速、简便和连续等优点,是研究物质性质和状态变化的有力工具。在本部分所指的热分析技术主要包括(并非传统意义上的热分析,只包括前三种技术):

1.热重分析(TG)

2.差热分析(DTA)

3.差示扫描量热法(DSC)

4.程序升温还原(TPR)

5.程序升温氧化(TPO)

热分析用于催化剂体相性质的表征可以获取诸如载体或催化剂易挥发组分的分解、氧化、还原、固-固、固-气以及液-气的转变、活性物种等信息,还可以用于确定催化剂组成、确定金属活性组分价态、金属活性组分于载体间的相互作用、活性组分分散阈值及金属分散度测定、活性金属离子的配位状态及分布。

此类技术的显著特点是:(1)动态、原位测试,更能反映催化剂的实际性质;(2)设备简单、操作方便;(3)易与其它技术联用,获取信息多样化;(4)可根据需要自行设计、能很好满足各种具体测试的不同要求。

催化剂性能的评价、测试和表征

催化剂性能的评价、测试和表征概述主要内容 ?活性评价和动力学研究 ?催化剂的宏观物理性质测定 ?催化剂微观性质的测定和表征 工业催化剂性能评价的目的 ①为应用提供依据 ②为开发制备提供判别的标准 ③基础研究的需要 评价内容 ①使用性能 活性,选择性,寿命 ②.宏观性能:比表面积,孔结构,形状与尺寸 ③.微观性能:晶相组成,表面酸碱性 ?工业催化剂的性能要求及其物理化学性质 4

催化剂测试

? 催化剂的物理性质的测定 ,包括宏观物理性质(孔容、孔径分布、比表面等)及微观物理 性质(催化剂的晶相、晶格缺陷、微观粒径尺寸等) 几个基本概念 评价(evaluation ),对催化剂的化学性质考察和定量描述; 测试(test ),对工业催化剂物理性质(宏观和微观)的测定; 表征(Characterization ),综合考察催化剂的物理、化学的性质和内在联系,特别是研究活 性、选择性、稳定性的本质原因。 第一节.活性评价和动力学研究 活性测定方法:流动法和静态法,流动法用得最多(一般流动法、流动循环法、催化色谱法) 本质上是对工业催化过程的模拟 流动循环法、催化色谱法多用于反应动力学和反应机理 活性测试的目的 a )由催化剂制造商或用户进行的常规质量控制检验 b )快速筛选大量催化剂,以便为特定的反应确定一个催化剂评价的优劣。 c )更详尽的比较几种催化剂 d )测定在特定催化剂上反应的详尽动力学,包括失活或再生动力学。 e )模拟工业反应条件下催化剂的连续长期运转 活性的表示方法 ? 转化率(X A ) 活性的表示方法 ? 选择性(S) 收率(Y) Y=X A ×S ? ? ? 时空得率(STY ):每小时、每升催化剂所得产物的量 % 100?= 的起始摩尔数 反应物已转化的摩尔数 反应物A A X A % 100?=摩尔数 已转化的某一反应物的所得目的产物的摩尔数 S % 100?= 起始反应物的摩尔数 生成目的产物的摩尔数 Y

催化剂表征方法

催化剂的表征方法之核磁共振法催化剂的表征就是应用近代物理方法和实验技术,对催化剂的表面及体相结构进行研究,并将它们与催化剂的性质、性能进行关联,探讨催化材料的宏观性质与微观结构之间的关系,加深对催化材料的本质的了解。近代物理方法主要包括:X射线衍射技术、色谱技术、热分析析技术、电子显微技术、光谱技术、低电子能谱、穆斯堡尔谱等…… 1 近代物理方法简介 1.1对催化剂的组成分析(体相) 化学分析(CA Chemical Analysis )用于Pt, Pd, Rh等贵金属分析。原子吸收光谱(AAS。X射线荧光光谱(XRF。电感耦合等离子体光谱(ICP). 1.2组成分析(表面) 射线光电子能谱(XPSX)。俄歇电子能谱(AES .分析深度:AES < XPS (表面10个原子层,<3 nm)。灵敏度:AES > XPS (分析取样量在微克级。释谱: XPS?谱和数据分析容易,应用更广。 1.3物相性质(结构) 多晶X射线衍射(XRD)――最普遍、最经典的物相性质鉴定手段。反映长程有序度,但对于高分散物相不适用 . 傅里叶变换红外光谱(FT-IR)――许多无机物固体在中红外区(400- 4000cm- 1)有振动吸收,反映短程有序度 . 拉曼光谱(RAM拉曼散射效应)一一拉曼光谱与红外光谱都能得到分子振动和转动光谱,但分子的极化率改变时才会产生拉曼活性,而红外光谱是偶极矩变化时有红外活性,因此两者有一定程度的互补性。 紫外可见光谱(UV-vis)――电子光谱 , 是由分子外层电子或价电子吸收一定能量的光跃迁所产生的 , 给出样品结构的信息 . 核磁共振技术(NMR)适用于含有核磁距的组元,如1H、13C 31P、 27Al 、 29Si. 1.4形貌 扫描电子显微镜(SEM :分辨率为6-10nm,放大倍数为2万倍. 透射电子显微镜(TEM :分辨率为0.1?0.2nm,放大倍数为几万?百万倍. 原子力显微镜( AFM): 可达到原子级分辨率 . 1.5 负载相(金属)的分散度

催化剂表征

催化剂: 在化学反应里能改变反应物化学反应速率而不改变化学平衡,且本身的质量和化学性质在化学反应前后都没有发生改变的物质叫催化剂。据统计,约有90%以上的工业过程中使用催化剂,如化工、石化、生化、环保等。催化剂种类繁多,按状态可分为液体催化剂和固体催化剂;按反应体系的相态分为均相催化剂和多相催化剂,均相催化剂有酸、碱、可溶性过渡金属化合物和过氧化物催化剂。 催化剂表征: 《催化剂表征》是2008年华东理工大学出版社出版的图书,作者是王幸宜。本书介绍了催化剂表征中所采用的各种传统的、经典的以及近代的技术和方法。 内容简介: 《催化剂表征》以大量的应用实例为根基详细介绍催化剂常用的表征技术。其中对于催化剂微观性质与性能的表征又分为表面性质和体相性质两方面。在此章中,对各种表征技术和方法的适用范围、优点以及缺点作了详细的总结与归纳,同时也对同类表征技术作了详细的比较。第2章至第11章对各种具体的表征技术在催化研究中的应用作了详细介绍,此部分主要以基础理论为辅、以实例为主向读者传达各种表征方法可以用来获取催化剂的何种性质。第12章介绍了目前催化剂表征技术中被认为最有发展前途的原位技术。 《催化剂表征》可供从事催化研究的工作者和高等院校催化专业的教师阅读、参考。《催化剂表征》尤其适合催化专业的研究生、本

科生将其作为教材及参考书来使用。 目录: 第l章催化剂表征 第2章低温物理吸附技术 第3章电镜技术 第4章热分析技术 第5章程序升温分析技术 第6章多晶x射线衍射技术 第7章电子能谱法 第8章分子光谱技术 第9章紫外漫反射光谱技术 第10章核磁共振技术 第11章电子顺磁共振技术 第12章原位技术 参考文献

催化剂表征方法

1.2比表面测试 单位重量催化剂所具有的表面积称为比表面,其中具有活性的表面称活性比表面,也称 有效比表面。尽管催化剂的活性、选择性以及稳定性等主要取决于催化剂的化学结构,但其 在很大程度上也受到催化剂的某些物理性质如催化剂的表面积的影响。一般认为,催化剂表 面积越大,其上所含有的活性中心越多,催化剂的活性也越高。因此,测定、表征催化剂的 比表面对考察催化剂的活性等性能具有很大的意义和实际应用价值。 催化剂的表面积针对反应来说可以分为总比表面和活性比表面,总比表面可用物理吸附的方 法测定,而活性比表面则可采用化学吸附的方法测定。催化剂的比表面积的常见表征方法见 表2。 1.2.1 总表面积的测定 催化剂总表面积的测定目前所采用的方法基本上均为低温物理吸附法,而其中的BET法则更是推崇为催化剂表面积测定的标准方法。有关BET法的具体介绍见第二章,在此不展开讨论。 1.2.2 有效表面积的测定 BET法测定的是催化剂的总表面积。但是在实际应用中,催化剂的表面中通常只是其 中的一部分才具有活性,这部分称为活性表面。活性表面的面积测定通常采用“选择化学吸附”进行测定。如附载型金属催化剂,其上暴露的金属表面是催化活性的,以氢、一氧化碳 为吸附质进行选择化学吸附,即可测定活性金属表面积,因为氢、一氧化碳只与催化剂上的 金属发生化学吸附作用,而载体对这类气体的吸附可以忽略不计。同样,用碱性气体的选择 化学吸附可测定催化剂上酸性中心所具有的表面积。表2列出了用于测定催化剂比表面积的 常见方法。 表2 催化剂比表面表征

(1)金属催化剂有效表面积测定[17-19] 金属表面积的测定方法很多,有X-射线谱线加宽法、X-射线小角度法、电子显微镜法、BET真空容量法及化学吸附法等。其中以化学吸附法应用较为普遍,局限性也最小。所谓化学吸附法即某些探针分子气体(CO、H2、O2等)能够选择地、瞬时地、不可逆地化学吸附在金属表面上,而不吸附在载体上。所吸附的气体在整个金属表面上生成一单分子层,并且这些气体在金属表面上的化学吸附有比较确定的计量关系,通过测定这些气体在金属表面上的化学吸附量即可计算出金属表面积。下面对经常采用的某些探针分子气体的化学吸附法作简单的介绍: (a)H2吸附法 H2吸附法的关键在于使催化剂表面吸附的H原子达到饱和,由于形成H2饱和吸附的条件比较苛刻,H2的程序升温脱附不能在常压反应器中进行,因此限制了该法的应用,而且不同的吸附压力和吸附时间下得到的饱和吸附量不同,从而影响了测量的准确性。 (b)其它吸附法 化学吸附法除了最常用的H2吸附法外,常见的吸附法还有CO吸附法、O2吸附法、N2O吸附法、CO吸附法等,其中N2O吸附法最近又发展了很多更为实用的技术如(a)量热法;(b)脉冲色谱法;(c)前沿反应色谱法;(d)容量法。CO吸附法、O2吸附量热法、N2O吸附法用于表面积测试一般情况下不如H2吸附法,得到的结果也没有H2吸附法令人满意,因为这些气体生成单层和化学吸附的化学计量比都不容易控制。但是,这些方法在某些特殊情况下具有很大的应用价值。如,O2吸附法对于不容易化学吸附氢或一氧化碳的金属则比较有价值,而且氧化学吸附脉冲色谱法不仅不需要高真空装置,而且操作简便、快速、灵敏度高;CO吸附法对于容易生成羰基化合物的金属则不适宜;N2O吸附法是测定负载型铜和银催化剂中金属表面积的优选方法。 (c)吸附-滴定法 只要化学计量比是已知和可以重现的,则吸附物种和气相物种之间的反应可以用来测定表面积。 最常采用的是H2-O2滴定法,该法用于Pt负载催化剂的表面积测试最为有效,其用于非负载型金属粉末也只能严格地看作氢化学吸附法的代用方法,因为金属粉末要得到完全洁净而无烧结的表面存在着严重的困难。滴定方法有价值的第二种场合是双金属催化剂,其中反应籍以进行的条件可能强烈的与化学吸附成分所处的金属组分的本性有关。这可供区别组分之用。 表面氢氧滴定也是一种选择吸附测定活性表面积的方法。先让催化剂吸附氧,然后再吸附氢、吸附的氢与氧反应生成水。由消耗的氢按比例推出吸附的氧的量。从氧的量算出吸附中心数,由此数乘上吸附中心的截面积,即得活性表面积。当然做这种计算的先决条件是先吸附的氧只与活性中心发生吸附作用。 (2)氧化物催化剂有效表面积测定 如果只存在单独一种氧化物组分,显然表面积(总表面积)最好用物理吸附(BET)来测定。然而如果在催化剂中不止存在—种组份就具有在其他氧化物或金属组分存在下,选择性地测定指定氧化物表面积的问题。 1.3孔结构 孔结构的表征主要包括孔径、孔径分布、孔容和孔隙率等几个方面,其表征方法很多(主要表征方法见表1),需根据孔结构的类型具体确定。在众多表征方法中则属N2低温物理吸附法最为常用。

催化剂表征与测试

A 、体相组成与结构 体相组成:XRF 、AAS 物相分析: XRD :晶体结构 DTA :记录样品与参比物温差随温度变 化曲线,吸热为负峰,放热为正峰 TG :样品质量随温度变化曲线 B 、比表面与孔结构 BET(压汞法) C 、活性表面、分散度(XR D 、Chemisorption 、TEM) D 、表面组成与表面结构 H2-O2滴定:H2吸附饱和后用O2滴定或O2吸附饱和后用H2滴定 XPS :表面组成 LEED :表面结构排列 E 、酸碱性 TPD;IR F 、氧化还原性 TPR TPO TPSR :表面吸附物种与载气中反应物发生反应并脱附 比表面积 转化率比活性= 3、X-射线衍射(XRD ) 作用 a 、物相的鉴定、物相分析及晶胞参数的确定 b 、确定晶粒大小,研究分散度 c 、研究处理条件对催化剂微观结构的影响 原理:2dsin θ = n λ 例:XRD 物相分析 每种晶体都有它自己的晶面间距d ,而且其中原子按照一定的方式排布着。这反映在衍射图上各种晶体的谱线有它自己特定的位置、数目和强度I 。因此,只须将未知样品衍射图中各谱线测定的角度θ及强度I 去和已知样品所得的谱线进行比较就可以达到物相分析的目的。 XRD 测定平均晶粒度的测定 hkl hkl k D θβλcos = 4、透射电镜(TEM ) 作用 ? 1、催化剂物性的检测 ? a 、物相鉴别 ? b 、粒子(或晶粒)大小及其分布的测定 ? c 、孔结构的观察

? 2、研究负载型催化剂——金属分散度 ? 3、催化剂制备过程研究 ? 4、催化剂失活、再生研究 基本原理 ? 以波长极短的电子束代替可见光,照射厚度在50nm 的超薄切片上,透过样品的电 子束通过多级电磁透镜聚集,放大成TEM 图像 使用电镜的电子衍射功能可以判断样品的结晶状态 5、扫描电镜(SEM ) 特点: 1、能够以较高的分辨率和很大的景深清晰地显示粗糙样品的表面形貌,是进行试样表面形貌分析的有效工具; 2、与能谱(EDS ,WDS)组合,又可以以多种方式给出试样表面微区成份等信息。 原理 电子探针的入射电子与样品作用时,由于样品表面特征(形貌结构、原子序数、晶体结构等)不同,各处被激发的二次电子数不同,从而形成明暗不同的反差。 6、热分析(TA ) ? 定义 ? 热分析是通过测定物质加热或冷却过程中物理性质(目前主要是重量和能量)的变 化来研究物质性质及其变化,或者对物质进行分析鉴别的一种技术。应用最广泛的方法是热重(TG )和差 ? 热分析(DTA ) 7、光电子能谱(XPS ) 最常用的表面能谱之一。因最初以化学领域应用为主要目标,故又称为化学分析用电子能谱法(ESCA)。XPS 采用软X-射线(E<5Kev)照射被测样品,使被测样品中的金属原子核外电子(通常是内层电子)受激发射,研究受激发射电子的结合能的一种表征手段。具有较好的分辨率和较高的灵敏度。 基本原理 k b E hv E -= 入射X 光子能量已知,这样,如果测出电子的动能Ek ,便可得到固体样品电子的结合能。各种原子,分子的轨道电子结合能是一定的。因此,通过测定样品产生的光 子的能量,就可以了解样品中元素的组成。 由于XPS 是一种表面分析技术,不可能接受到催化剂小孔内的活性组分的信息,因此,它所测得的活性组分的峰强不仅与活性组分的分散度有关,而且还与活性组分在载体表面上的分布有关。只有当活性组分在载体的孔内外分布都是均匀的时候,测出的结果才比较可靠。 8、红外(IR ) ? 作用

催化剂表征方法

负载型金属催化剂Au/CeO的结构表征2摘要:本文主要利用一些常用的方法制备Au/CeO催化剂,并且 2通过X-射线衍射法(XRD),程序升温还原(H2-TPR),CO-红外吸收光谱(C0-FTIP),透射电子显微镜(TEM)等表征方法对该催化剂进行表征。为更好地认识和使用负载型催化剂Au/CeO提供了可靠的依据。2关 键词:负载型催化剂,Au/CeO,结构表征。2 负载型金属簇催化剂以载体作为一个支撑平台,将具有催化活性

的金属尽可能均匀地分散于载体表面。这种催化剂有很多优点,金属多半能以微小晶体的形式,高度分散在载体的整个表面,从而产生较大的活性表面。分散于载体中的金属粒子愈小,暴露于表面的金属原子所占的比例愈大,愈有利于金属粒子与反应物的接触,从而提高了催化剂中金属活性组分的利用率。另外,载体还能改善反应热的散发,阻止金属微晶的烧结与由此产生的活性表面的降低等等。因此,负载型金属簇催化剂已广泛应用于石油炼制,汽车尾气转化,一氧化碳加氢,脂肪化合物加氢等催化反应过程中。大量的研究结果表明,负载金属催化剂表面金属粒子的结构与催化性能之间存在着密切的关系,所以运用各种物化表征方式准确地测定催化剂的表面结构是非常重 要的。本文对负载型金属簇催化剂的结构表征方法进行了综述,主要的结构表征方法包括X-射线衍射(XRD),扩展X-射线精细结构吸收谱(EXAFS),CO作探针的红外吸附光谱(C0-FTIR),X-射线光电子能 谱!(XPS)以及透射电子显微镜(TEM)等。 1.X-射线衍射法(XRD) X-射线衍射线宽分析(LBA)方法已被广泛用来表征负载型催化剂中金属晶粒的分散程度。利用LBA不仅可以根据Scherrer公式估计金属粒子的平均粒径,而且还可根据完全的线型分析确定晶粒的粒径分布和晶格变型情况。该方法适用于2-100nm之间晶粒的分析。X-射线粉末衍射(XRD)分析的样品在Rigaku 300 X -射线衍射仪上进行旋转阳极的发电机和一个单色探测器。使用铜Kα辐射。CeO的晶体尺2.寸和金计算的高峰期,扩大使用Scherrer公式。

催化剂特性表征方法

X射线CT成像、μ-XRF、μ-XRD和XANES技术在催化剂分析中的应用 催化剂在工业上的应用使得经济生产总值提升了35%,90%的化学反应中需要采用催化剂,2010年催化剂的产值高达到295亿美元。在能源和环境方面应用的催化剂价值以每年 6.6%速率在增长。巨大的应用价值吸引了众多科学家参与催化剂的研制。采用适当的分析技术对催化剂进行表征,使得催化剂在不同尺度的理化性质“可视化”。CT、XRF-CT、XRD-CT、XRD、μ-XRF、XANES 等先进的微观电子技术可以在更高的空间分辨率下研究结构催化剂的理化性质。 以生产合成气的主要工艺,甲烷蒸汽重整反应为例。催化剂必须同时满足三个条件(1)CH4的转化率高,制备合成气的选择性好;(2)在煅烧条件下稳定性好、抗氧化和防止碳沉积;(3)启动反应迅速。这些性能与催化剂载体和镀层的特性息息相关。尤其是剧烈的反应条件下载体3D结构的稳定性,涂层的均一性和附着强度,金属的形态等。所以成功的偏氧化结构型催化剂是涂层的化学性质、载体的形状和形貌,制备过程以及催化剂载体3D结构的综合作用的结果。 Francesco Basile等[1]采用X-CT技术对结构型催化剂进行分析,表明Fe/Cr/Al/Y金属泡沫基体是中空结构,如图1所示,孔隙直通表面,减少了反应过程中流体对载体产生的压力,增大比表面积。通过μ-XRF和μ-XRD技术相结合,同时获得元素含量和形态微区分布图,如图2、3所示。揭示催化层是由均匀分布的NiAlO2和非匀分布的NiO组成,催化层是沉积在金属基体上氧化出的Al2O3层上,而不是直接与金属基体相结合,增强了催化剂与基体的结合强度。NiAl2O4还原后得到的单质Ni 的晶粒尺寸不到10 nm, 分散性好、活性高, H2选择性好,有助于抑制副反应(CO2+H2=CO+H2O)的进行。NiAl2O4尖晶石相的形成有效地抑制了Ni 颗粒在反应条件下的烧结和长大,是改善催化剂性能的重要原因[2]。同时发现在催化层中夹杂了ZnO和CuO,可增加催化剂活性的。Patricia Benito等[3]人,采用μ-XRF/XANES相结合技术对电镀法制备的泡沫型铁铬合金载体结构型催化剂进行研究。μ-XRF分析结果表明电合成反应在载体内外表面同时发生,增加有效催化面积,并确定所有元素(Rh、Mg和Al)相间分布,浓度分布存在差异,这与SEM-EDS分析结果一致。通过XANES光谱分析拟合发现Rh在尖晶石结构中以Mg (RhxAl1?x)2O4形态存在,而不是Rh2O3形态存在。

催化剂的制备和表征方法

简论催化剂的制备和表征方法 关键词:催化剂制备表征 催化剂是一种能够改变化学反应的速率,控制反应方向和产物结构,而又本身又不参与最终产物构成的物质。催化科学的发展可以追溯到公元前,中国很早就利用发酵方法酿酒和制醋,这是生物催化剂在古代的应用,那时的应用可以说只是根据经验对催化剂的简单应用。而如今,人们已经研究出催化剂的作用原理,催化剂也已经广泛应用到生活、工业等各个领域,成为我们现在乃至未来不可或缺的物质。催着催化领域的发展,催化剂的制备技术也随着各种需要而不断产生,到现在已经有很多完善的催化剂制备方法,同时也还是有一大批科研工作者致力于催化剂制备的新方法的研究。本文主要介绍几种常用的催化剂制备和表征方法,并对比较新颖的制备方法进行了简单的介绍。 催化剂一般有三种组分,即活性组分、载体和助催化剂。活性组分是起催化作用的根本性物质,载体是活性组分的分散剂、粘合剂,而助催化剂本身并没有活性,且量比较少但是却可以改变活性组分的活化性能。催化剂的制备是一系列单元操作组成的,一般用最核心的单元操作来命名方法,常用的有沉淀法、吸附法、离子交换法和浸渍法。 沉淀法主要用于制备分散度要求高并含有一种或多种金属氧化物的催化剂。一般是在金属盐溶液中加入适当的沉淀剂使金属盐溶液沉淀分布在载体上,然后经过滤、洗涤、干燥、活化得到催化剂。沉淀法制备催化剂最主要的是要控制沉淀过程均匀,一种有效的方法是用尿素代替碱,将尿素加入金属盐-载体浆状液中,在搅拌下加热,尿素在90摄氏度下分解生成的OH基团均匀地分布在容器和载体的孔中,可以做到均匀的发生沉淀过程。 对于负载量高于10%-20%(质量分数)的催化剂,沉淀法是较好的制备方法。而吸附法则在较小的沉积量时比较优异。吸附法的过程是载体物料在金属盐溶液中吸附平衡梁的盐离子,载体从溶液中可能吸附阳离子也可能吸附阴离子,这取决与表面的性质。一般,沸石是强的阳离子交换剂,二氧化硅是弱的阳离子吸附剂,氧化铝对阳离子和阴离子的吸附都弱,氧化镁是强的阴离子吸附剂,炭与电子施主优先形成电荷专业络合物,但也吸附阳离子。吸附法的饱和量一般较小,虽然可以通过多次吸附增加,但比较麻烦,因此一般只适合低负载量的催化剂制备。

常用催化剂表征方法及缩写

DTA 差热分析(Differential Thermal Analysis,DTA) 差热分析法是以某种在一定实验温度下不发生任何化学反应和物理变化的稳定物质(参 比物)与等量的未知物在相同环境中等速变温的情况下相比较,未知物的任何化学和物 理上的变化,与和它处于同一环境中的标准物的温度相比较,都要出现暂时的增高或降 低。降低表现为吸热反应,增高表现为放热反应。当给予被测物和参比物同等热量时,因二者对热的性质不同,其升温情况必然不同,通过测定二者的温度差达到分析目的。以参比物与样品间温度差为纵坐标,以温度为横座标所得的曲线,称为DTA曲线。 在差热分析中,为反映这种微小的温差变化,用的是温差热电偶。它是由两种不同的金属丝制成。通常用镍铬合金或铂铑合金的适当一段,其两端各自与等粗的两段铂丝用电弧分别焊上,即成为温差热电偶。在作差热鉴定时,是将与参比物等量、等粒级的粉末状样品,分放在两个坩埚内,坩埚的底部各与温差热电偶的两个焊接点接触,与两坩埚的等距离等高处,装有测量加热炉温度的测温热电偶,它们的各自两端都分别接人记录仪的回路中在等速升温过程中,温度和时间是线性关系,即升温的速度变化比较稳定,便于准确地确定样品反应变化时的温度。样品在某一升温区没有任何变化,即也不吸热、也不放热,在温差热电偶的两个焊接点上不产生温差,在差热记录图谱上是一条直线,已叫基线。如果在某一温度区间样品产生热效应,在温差热电偶的两个焊接点上就产生了温差,从而在温差热电偶两端就产生热电势差,经过信号放大进入记录仪中推动记录装置偏离基线而移动,反应完了又回到基线。吸热和放热效应所产生的热电势的方向是相反的,所以反映在差热曲线图谱上分别在基线的两侧,这个热电势的大小,除了正比于样品的数量外,还与物质本身的性质有关。 许多物质在加热或冷却过程中会发生熔化、凝固、晶型转变、分解、化合、吸附、脱附等物理化学变化。这些变化必将伴随体系焓的改变,因而产生热效应。其表现为该物质与外界环境之间有温度差。选择一种对热稳定的物质作为参比物,将其与样品一起置于可按设定速率升温的电炉中。分别记录参比物的温度以及样品与参比物间的温度差。以温差对温度作图就可以得到一条差热分析曲线,或称差热谱图。 如果参比物和被测物质的热容大致相同,而被测物质又无热效应,两者的温度基本相同,此时测到的是一条平滑的直线,该直线称为基线。一旦被测物质发生变化,因而产生了热效应,在差热分析曲线上就会有峰出现。热效应越大,峰的面积也就越大。在差热分析中通常还规定,峰顶向上的峰为放热峰,它表示被测物质的焓变小于零,其温度将高于参比物。相反,峰顶向下的峰为吸收峰,则表示试样的温度低于参比物。一般来说,物质的脱水、脱气、蒸发、升华、分解、还原、相的转变等等表现为吸热,而物质的氧化、聚合、结晶、和化学吸附等表现为放热。

相关文档
最新文档