HALT试验技术综述
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型和应力 量级的选择提供依据 。 ２ ２工作原理 ．
际以及结 构强度 极 限的试验方 法。它将 原需 花费几个 月甚 至 １ 年 以上 的新产 品可靠 性试 验缩短 至一 周左右 。Ｈ Ｌ Ａ Ｔ中找 到的
产 品薄弱环节 如果没有 改善 ，会 毫无例外地 在产 品使 用环境下 出现。在产 品设计初 期进行 Ｈ Ｌ 试 验可大 大减少产 品的设计 ＡＴ 成 本 ，缩 短 产 品 的设计 周 期 ，提 高 企业 的生 产、设 计 效率 。 Ｈ Ｌ Ａ Ｔ试 验尤其适 用于那些 在 内部 使用 Ｐ Ｂ板 控制 的设 备 的设 Ｃ 计研发 。
Ｃ ｍ ａ ｄ ｗｉ ｈ ｒ ｈ ａ ｔ ｓ ａ ｄ ｏ ｔ ｍ ｒ ｕ ｅ ｅ ｔ ｎ ｇ ｎ ｒ ｅ ｖｉ ｏｎ ｎ ， ｔ ｒ ｔ ｏ ｅ ｐ ｒ ｔ ｒ ｃ ａ ｇ ｏ ｐ ｒｅ ｔ ｄ ｙ ｅ ｔ ｅ ｔ ｎ ｌ ｗ ｅ ｐｅ ａｔ ｒ ｔ ｓ ｉ ｅ ｅ ａｌ ｎ ｒ ｍｅ ｔ ｈｅ ａ ｅ ｆ ｔ ｍ ｅ ａ ｕ ｅ ｈ ｎ ｅ
ｄ ｒｉ ｇ Ｈ Ｌ ｔ ｓ ｉ ｕｃ ｆ ｓ ｅ ． Ｉ ｖ ｅ ｏ ｔ ｅｓ ａ ｖ ｎ ａ ｅ ， Ｈ Ｌ ｈ ｓ ｅ ｎ ｗｉ ｅ ｙ ｓ ｄ ｎ ｈｅ ｅ ｉ ｎ Ｒ ＆ ｕ ｎ Ａ Ｔ ｅｔ ｓｍ ｈ ａｔｒ ｎ ｉ ｗ ｆ ｈ ｅ ｄ ａ ｔ ｇ ｓ Ａ Ｔ ａ ｂ ｅ ｄ ｌ ｕ ｅ ｉ ｔ ｄ ｓ ｇ ，
摘要 ：Ｈ Ｌ Ａ Ｔ试验是产 品设计研 发初期发现新产 品应 力缺陷的有 限而快速 的试验方法 。相对 于一般振动试验 ，其可达 到的频
率范 围较高 ，且 可实现六 自由度 振动和快速温变 的综合 。相对 于一般环境试验 中的高低温试验 ，其温 变性，Ｈ Ｌ Ａ Ｔ试验在 电子产 品设计 、研发 阶段中 已被广泛使用 。
Ｄ ｐ ｒｉ ｄ ｏ ｅ ｒ ｎｉ ｏ ｕ ｔ ． ｅ ｏ ｆ ｅｌ ｃｔ ｏ ｃ ｐｒ ｄ ｃ ｓ
关键词 ：高加速寿命 试验 ：六 自由度振动；快速温变 ；操作极 限；功能试 验
Ｋｅｙ ｗｏｒ ｄｓ： ｈｉ ｈｌ ａｃ ｅ ｅ ａ ｄ ｇ ｙ ｃ ｌ ｒ ｔｅ ｌｉ ｅ ｅ ； Ｓ ｘ ｄ ｇ ｅ —ｏ — ｒ ｅ ｏ ｖｉ ｒａ ｉ ｎ： ｒａ ｉ ｔ ｍｐ ｒ ｔ ｒｅ ｈ ｇ ｎ ｆ ｔ ｓｔ ｉ ｅ ｒ ｅ ｆ ｆ ｅ ｄ ｍ ｂ ｔｏ ｐ ｄ ｅ ｅ ａ ｕ ｃ ａｎ ｉ ｇ；
Ａｂ ｔａ ｔ Ａ Ｌ ｉ ａ ｉ ｔ ｄ ｎ ｑ ｉ ｋ ｅ ｔ ｎ ｍ ｔ ｏ ｔ ｆｉ ｄ ｔ ｅｓ ｄ ｆｅ ｔ ｕ ｎｇ ｈｅ ａ ｙ ｔ ｇ ｏ ｎ ｗ ｓｒ ｃ ：Ｈ Ｔ ｓ １ ｍｉ ｅ ａ ｄ ｕ ｃ ｔ ｓ ｉ ｇ ｅ ｈ ｄ ｏ ｎ ｓ ｒ ｓ ｅ ｃ ｄ ｒｉ ｔ ｅ ｒｌ ｓ ａ ｅ ｆ ｅ
ｔ ｅ ｏ ｐ ｅ ｔ ｓ ｗｈ ｃ ｃ ｍｂ ｎｅ ｓ ｘ ｅ ｒ ｅ ｏ — ｒｅ ｄｏ ｖｉ ｒ ｉ ｎ ｅ ａ ｄ ａ ｉ ｔ ｍ ｒ ｔ ｒ ｃｈ ｎｇ ｎｇ ｅｓ ． ｈ ｃ ｍ ｌ ｘ ｅ ｔ ｉ ｈ ｏ ｉ ｓ ｉ ｄ ｇ ｅ — ｆ ｆ ｅ ｍ ｂ ａｔ ｏ ｔ ｓｔ ｎ ｒ ｐ ｄ ｅ ｐｅ ａ ｕ ｅ ａ ｉ ｔ ｔ
２ＨＬ Ａ Ｔ试验 的目的及工作原 理
２ １ 目 的 ．
器件 和无缺 陷元 器件在相 同的强化 应力作用下 的疲劳 寿命 区别
明显化 ， 有缺陷元器件迅速暴露 ， 使 同时无缺陷元件损伤甚小 。 Ｈ Ｌ Ａ Ｔ试验 技术 的工作 原理就 是通过增 大应力 的方式 来暴 露样
ｐ ｏｄ ｃｔ ｄ ｖ ｌ ｐ ｎ ． Ｃ ｍ ａ ｅ ｔ ｒ ｎ ｒｙ ｉ ｒ ｔ ｏ ｔ ｓ ， ｉ ｃ ｎ ａｃ ｉ ｖ ａ ｉ ｈ ｒ ｒ ｑ ｅ ｃ ｎ ａ ａ ｅ ｒ ｕ ｓ ｅ ｅ ｏ ｍｅ ｔ ｏ ｐ ｒ ｄ ｗｉ ｈ ｏ ｄｉ ａ ｖ ｂ ａ ｉ ｎ ｅ ｔ ｔ ａ ｈ ｅ ｅ ｈ ｇ ｅ ｆ ｅ ｕ ｎ ｙ ａ ｄ ｃ ｎ ｍ ｋ
ｏ ｅ ａ ｏ ｉ ｔ： ｆ ｎ ｉ ｎ ｔｅ ｔ ｐ ｒ ｔｉ ｎ ｌ ｍｉ ｕ ｃｔ ｏ ｓ
１前 言
Ｈ Ｌ Ｈｇｌ Ａ ｃｌａ ｄＬｆＴｓ） 高加 速寿命 试 验 ， Ａ Ｔ（ ｉ ｙ ｃｅ ｒｔ ｉ ｅｔ 即 ｈ ｅ ｅ ｅ
是一种通过 逐级增加 环境应 力 ，来加速 暴露试验样 品的缺 陷和 薄弱点 ，进 而在产 品研发 的早 期发现其 设计缺 限 ，操作设 计边
力来激发故障 ，可以达 到 ：
２１ ． １迅速找 出产 品的设计及 制造缺陷 、改善设计 缺陷 ，为 ．
开发人员改进产 品设计方案提供依据 ；
２ ． 对 产品设计缺陷进行及 时的修正 ，提高产 品在使 用过 ．２ １ 程 中的可靠性 ； ２ ３估 计产品 的操作 极限和破坏极 限 ，为 Ｈ Ｓ 的应力类 ． １ ＡＳ
美 国 Ｇ ｅｇＫ・ ｏ ｂ 博 士 通过 有关 强 化应 力 对疲 劳 寿命 ｒｇ Ｈ ｂ ｓ 影 响的研究 发现 ，当应 力增加 １ 时 ，疲劳 寿命降低 为原来 的 倍
１ ００ ／ ０ 。对 于有缺 陷 的产 品 ，缺 陷处应 力集 中系 数高 达 ２～３ １ 倍 ，疲 劳寿命就 相应降低 了好几个 数量级 ，这样使得有 缺陷元
ｎｖ ｒ ｎ ｅ ｉｏ ｍ ｎ
，
ｔ ｉＩ 境 ，。 Ｃ 卜 ／ ａ ａ 一一一 性 ｌ ｂ 环 ￣ Ｉ ．｝ Ａ ｄ １ ＇ －
Ｃｏ ｒ ｈ ｎ ｉ ｅＲｅ ｉｗ ｆ ｍｐ ｅ ｅ ｓｖ ｖ ｅ ｏ ＨＡＬ ｅ ｈ ｏ ｏ ｙ Ｔ Ｔ ｃ ｎ ｌｇ
文 Ｉ 上海工业 自 动化仪表研 究院 史晓雯 徐剑 峰 徐 丹
际以及结 构强度 极 限的试验方 法。它将 原需 花费几个 月甚 至 １ 年 以上 的新产 品可靠 性试 验缩短 至一 周左右 。Ｈ Ｌ Ａ Ｔ中找 到的
产 品薄弱环节 如果没有 改善 ，会 毫无例外地 在产 品使 用环境下 出现。在产 品设计初 期进行 Ｈ Ｌ 试 验可大 大减少产 品的设计 ＡＴ 成 本 ，缩 短 产 品 的设计 周 期 ，提 高 企业 的生 产、设 计 效率 。 Ｈ Ｌ Ａ Ｔ试 验尤其适 用于那些 在 内部 使用 Ｐ Ｂ板 控制 的设 备 的设 Ｃ 计研发 。
Ｃ ｍ ａ ｄ ｗｉ ｈ ｒ ｈ ａ ｔ ｓ ａ ｄ ｏ ｔ ｍ ｒ ｕ ｅ ｅ ｔ ｎ ｇ ｎ ｒ ｅ ｖｉ ｏｎ ｎ ， ｔ ｒ ｔ ｏ ｅ ｐ ｒ ｔ ｒ ｃ ａ ｇ ｏ ｐ ｒｅ ｔ ｄ ｙ ｅ ｔ ｅ ｔ ｎ ｌ ｗ ｅ ｐｅ ａｔ ｒ ｔ ｓ ｉ ｅ ｅ ａｌ ｎ ｒ ｍｅ ｔ ｈｅ ａ ｅ ｆ ｔ ｍ ｅ ａ ｕ ｅ ｈ ｎ ｅ
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摘要 ：Ｈ Ｌ Ａ Ｔ试验是产 品设计研 发初期发现新产 品应 力缺陷的有 限而快速 的试验方法 。相对 于一般振动试验 ，其可达 到的频
率范 围较高 ，且 可实现六 自由度 振动和快速温变 的综合 。相对 于一般环境试验 中的高低温试验 ，其温 变性，Ｈ Ｌ Ａ Ｔ试验在 电子产 品设计 、研发 阶段中 已被广泛使用 。
Ｄ ｐ ｒｉ ｄ ｏ ｅ ｒ ｎｉ ｏ ｕ ｔ ． ｅ ｏ ｆ ｅｌ ｃｔ ｏ ｃ ｐｒ ｄ ｃ ｓ
关键词 ：高加速寿命 试验 ：六 自由度振动；快速温变 ；操作极 限；功能试 验
Ｋｅｙ ｗｏｒ ｄｓ： ｈｉ ｈｌ ａｃ ｅ ｅ ａ ｄ ｇ ｙ ｃ ｌ ｒ ｔｅ ｌｉ ｅ ｅ ； Ｓ ｘ ｄ ｇ ｅ —ｏ — ｒ ｅ ｏ ｖｉ ｒａ ｉ ｎ： ｒａ ｉ ｔ ｍｐ ｒ ｔ ｒｅ ｈ ｇ ｎ ｆ ｔ ｓｔ ｉ ｅ ｒ ｅ ｆ ｆ ｅ ｄ ｍ ｂ ｔｏ ｐ ｄ ｅ ｅ ａ ｕ ｃ ａｎ ｉ ｇ；
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２１ ． １迅速找 出产 品的设计及 制造缺陷 、改善设计 缺陷 ，为 ．
开发人员改进产 品设计方案提供依据 ；
２ ． 对 产品设计缺陷进行及 时的修正 ，提高产 品在使 用过 ．２ １ 程 中的可靠性 ； ２ ３估 计产品 的操作 极限和破坏极 限 ，为 Ｈ Ｓ 的应力类 ． １ ＡＳ
美 国 Ｇ ｅｇＫ・ ｏ ｂ 博 士 通过 有关 强 化应 力 对疲 劳 寿命 ｒｇ Ｈ ｂ ｓ 影 响的研究 发现 ，当应 力增加 １ 时 ，疲劳 寿命降低 为原来 的 倍
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文 Ｉ 上海工业 自 动化仪表研 究院 史晓雯 徐剑 峰 徐 丹