3.3薄膜光学参数测试详解
合集下载
相关主题
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
极小值,反之,如果nf > ns,则反射率R极大值。
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
我们知道 ,极值反射率为:
上式中n0是空气的折射率。 从上式中解出nf就得到: 从样品光谱透射曲线上求出对应于λ/4的奇数 倍波长处的极值透射率T,然后用1-T=R换算至极 值反射率R。考虑基板背表面反射的影响,代入上 式,就可以来自百度文库得薄膜的折射率。
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
1、透明薄膜的光学常数测试
“理想”透明薄膜的假设: 1)薄膜具有均匀的折射率;
2)不考虑薄膜的色散影响;
3)薄膜在各波长处的消光系数为零。
R+T=1
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
对于“理想”光学薄膜
在光学厚度为λ/2的整数倍处,透射率T和反射率R 等于光洁基板的值; 在光学厚度为λ/4的奇数倍处,反射率R正好是极值, 如果薄膜折射率nf小于基板折射率ns,反射率R将是
此外,还可以利用下列公式从单面透射率极值Tm(即薄 膜透射率Tf对应于λ/4 奇数倍的极值)中直接求解折射率:
考虑薄膜材料的色散对反射率和透射率曲线的影响:
当薄膜有色散时,在光学厚度为λ/4 奇数倍的波长处
不再是极值;但是,光学厚度为λ/2 倍数的波长处仍然是 极值,而与没有色散时关系一样。 一般薄膜材料的折射率均有些色散,及存在色散关系。
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
薄膜光学参数的测量
从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数
其它的薄膜光学常数测试方法 薄膜波导法 光学薄膜厚度的测试
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
如果薄膜的厚度较厚 ,可以从两个相邻的极值波长中
进一步求得薄膜的几何厚度:
考虑到在较短的波段中有几个干涉极大、极小值。目前,国际上
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
常用薄膜材料的“色散关系”
1)Cauchy方程
折射率和消光系数可以展开为波长的无穷级数,适
用于透明材料如:SiO2,Al2O3,Si3N4,BK7,玻璃等,折射率 的实部与消光系数可表示为:
其中:多项式的系数是6个拟合的参量。
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
2)Sellmeier方程
适用于透明材料和红外半导体材料,是Cauchy方程 的综合,原始的Sellmeier方程仅仅用于完全透明的材料 (k=0),但是有时也能用于吸收区域:
同理,多项式的系数是6个拟合的参量。
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
3)Lorentz经典共振模型
其中:λ0是共振的中心波长,A是振荡强度,g是阻尼因子。第一个方程 组中,等式右边代表无限能量(零波长)的介电函数,大多数情况下用 拟合参数ε∞ 来代替更加符合实际情况,代表远小于测量波长的介电函
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
厚度: 几个毫米(mm) 处理思路:非相干表面——前后表面之间的光强是以 强度相加而不是矢量相加 具体方法: 空白基板(双面)透射率T0 有膜样品(双面)透射率T
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
数。
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
4)Forouhi-Bloomer色散关系
一般只用于模拟材料的间带光谱区域的色散,也能被用于次能带隙区域 以及常规的透明区域,且能处理一些带有弱吸收的薄膜的折射率色散。
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
一、从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 透明薄膜的光学常数测试
弱吸收薄膜光学常数的确定
单层、多层光学薄膜的基本测试
趋向于选择5至7个λ/4 膜厚作为用光度法测量光学常数时的薄膜样品
标准厚度。
Schl. of Optoelectronic Inform. State Key Lab. of ETFID
“光电探测与传感集成技术”教育部国防重点实验室 “电子薄膜与集成器件”国家重点实验室.
考虑玻璃基板背表面的影响: