基于单片机的简易CMOS集成电路芯片测试仪的设计
一种面向TTL集成电路的小型检测仪设计
一种面向TTL集成电路的小型检测仪设计孙韩;朱军【摘要】The design is based on MCS51 MCU,construct the digital ICs trouble testing system design for the TTL. This system can test logic function of TTL series digital logic chip fast and accurate,judge the quality and model of the chip. The use of the detector can reduce the test time,improve the detection efficiency,reduce the labor intensity. The detector has good transplantation and expansibility.%本文基于MCS51单片机,构建了一种面向TTL集成短路芯片的小型检测仪。
该检测仪能快速、准确地对TTL系列数字逻辑芯片的逻辑功能进行检测,从而判断芯片的好坏和型号。
该检测仪的使用,能减少了测试时间,提高了检测效率,降低了劳动强度。
该检测仪具有良好的移植和扩展性。
【期刊名称】《办公自动化(综合版)》【年(卷),期】2015(000)008【总页数】2页(P35-36)【关键词】集成电路;故障检测;MCS51单片机【作者】孙韩;朱军【作者单位】安徽大学电子信息工程学院合肥 230601;安徽大学电子信息工程学院合肥 230601【正文语种】中文【中图分类】TN431.2;TH89集成电路(IC)是二十世纪发展起来的高技术产业。
自1958年德州仪器公司制造出第一块集成电路以来,集成电路产业就以惊人的速度发展。
到目前为止,集成电路仍然基本遵循摩尔定律,集成度几乎每18个月增长一倍。
基于PIC单片机的便携式测试记录仪设计
基于PIC单片机的便携式测试记录仪设计以追求高可靠、低功耗、小体积设计思想的本记录仪具有如下功能:对现场物理量进行实时采集、保存、处理与显示;自动识别现场安装的传感器数量、传感器号和量程;自动和手动两种采集方式,自动采集适用于长期无人值班的固定场合,手动采集便于对分布在不同区域的物理量进行测试;与PC机通讯,可根据需要将采集数据下载至PC数据库;实时打印;自检功能,避免了过程中可能遇到本身无法容错处理的异常事件而导致的死机现象。
XX 1硬件设计1.1总体设计原则根据高可靠、低功耗、小体积的设计思想及应用对象几乎对采集速度无要求(此处指系统本身的采集速度已远远超过实际应用要求)的特性,总体设计原则是: 元器件采用低功耗、宽范围工作电源的CS集成电路;总线采用口线少的串行总线;允许情况下,尽量用软件实现硬件功能,用中断代替工作方式;一旦系统空闲则立即使其进入低功耗休眠状态,当需要时再用外部中断予以唤醒。
XX 1.2硬件组成根据总体设计原则,硬件组成1所示。
其中:单片机为MicroChip的中档产品PIC16C74,5V供电、4M主频时功耗低于2mA;E2PROM存储阵列由超低工作电压(2.5V~5.5V)、具有可编程选择多种特性的8K B智能化电可擦除存贮器24LC65芯片组成。
其中,0#为传感器识别片(以下简称识别片),保存现场实际安装的传感器数量、传感器号及量程.该芯片被设计在放大器板上,永久安装于现场.传感器号由4位数字组成,前2位表示组号,后2位表示传感器组内号。
1# 为字典片,分为三个存储区:第一存储区被设置成高寿命写入区,保存表头参数,如疵点单元计数器、记录计数器、记录指针、自动采集时间等;第二存贮区为字典区,保存传感器修正系数、实时打印所涉及的汉字国标码等,查找时以传感器号为进行指针定位;第三存储区被定义为疵点单元地址队列,保存在写过程中遇到的疵点单元地址。
2#~7# 为数据片,保存实时采集的数据。
集成电路芯片测试仪(A题)——【全国大学生电子设计大赛】
集成电路芯片测试仪(A题)一、任务设计制作一个集成电路芯片测试仪,能对常用的74系列逻辑芯片进行逻辑功能测试,以确定芯片的好坏和型号。
二、要求1.基本要求(1)通过键盘输入型号,可以对74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十种组合逻辑芯片进行逻辑功能测试,确定其功能正确性;(2)通过键盘输入管腿特性,可以确定上述74系列的组合逻辑芯片的型号;(3)显示上述芯片的逻辑符号和逻辑表达式。
2.发挥部分将上述三项基本要求扩展到74系列时序电路:74/109/160/245等。
(1)通过键盘输入型号,可以对74系列的74/109/160/245等芯片进行逻辑功能测试,确定其功能正确性;(2)通过键盘输入管腿特性,可以确定上述74系列时序逻辑芯片的型号;(3)显示上述芯片的逻辑符号和状态转换图;(4)其它特色与创新。
1三、评分标准四、说明要求用单片机或DSP模块做成一个相对独立的整体,不能用PC机实现。
2LED显示棒(B题)一、任务设计制作一个依靠摇动能显示字符、图形的LED显示棒。
二、要求1.基本要求(1)设计一个基于LED的显示棒,LED灯必须线状排列,至少使用16只。
(2)摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“A”字符。
(3)摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“电”字。
(4)摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出国际奥委会五环图形。
(5)用按键实现显示切换,用电池供电。
2.发挥部分(1)摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出英文单词“Welcome”。
(2)摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出汉字词组“美亚”。
(3)摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出北京奥运会会徽图形。
(4)其它特色与创新。
三、评分标准3四、说明不得用LED棒专用芯片实现。
4具有实时语音播报的超声波测距测速仪(C题)一、任务设计并制作一台具有实时语音播报的超声波测距测速仪,被测物为一块面积不大于30cmX20cm的实物(可以和小车装在一起)。
【大学论文】基于51单片机电子器件测试仪的设计(答辩PPT)
答辩人:***
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课题研究的背景
❖ 伴随着电子行业的迅猛发展,人们对电 子元器件的质量要求越来越高,为了确保电 子系统的正常工作,在应用中我们通常要测 定电子元器件的一系列参数。因此,设计精 确、安全,便捷的电子器件测试仪具有巨大 的现实意义。
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设计总体框图
LCD1602显示模块
二、三极管测试模块
主控制器 AT89C51单片机
运放741模块 555测试模块
键盘控制模块
电容测试模块
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ห้องสมุดไป่ตู้
主程序流程图
开始
上电延时
1602初始化
N
按键按下?
Y 开始检测器件
数据处理 LCD1602显示
结束
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请老师提问!
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cmos模拟集成电路设计-实验报告
cmos模拟集成电路设计-实验报告————————————————————————————————作者:————————————————————————————————日期:北京邮电大学实验报告实验题目:cmos模拟集成电路实验姓名:何明枢班级:2013211207班内序号:19学号:2013211007指导老师:韩可日期:2016 年 1 月16 日星期六目录实验一:共源级放大器性能分析 (1)一、实验目的 (1)二、实验内容 (1)三、实验结果 (1)四、实验结果分析 (3)实验二:差分放大器设计 (4)一、实验目的 (4)二、实验要求 (4)三、实验原理 (4)四、实验结果 (5)五、思考题 (6)实验三:电流源负载差分放大器设计 (7)一、实验目的 (7)二、实验内容 (7)三、差分放大器的设计方法 (7)四、实验原理 (7)五、实验结果 (9)六、实验分析 (10)实验五:共源共栅电流镜设计 (11)一、实验目的 (11)二、实验题目及要求 (11)三、实验内容 (11)四、实验原理 (11)五、实验结果 (15)六、电路工作状态分析 (15)实验六:两级运算放大器设计 (17)一、实验目的 (17)二、实验要求 (17)三、实验内容 (17)四、实验原理 (22)五、实验结果 (23)六、思考题 (24)七、实验结果分析 (25)实验总结与体会 (26)一、实验中遇到的的问题 (26)二、实验体会 (26)三、对课程的一些建议 (27)实验一:共源级放大器性能分析一、实验目的1、掌握synopsys软件启动和电路原理图(schematic)设计输入方法;2、掌握使用synopsys电路仿真软件custom designer对原理图进行电路特性仿真;3、输入共源级放大器电路并对其进行DC、AC分析,绘制曲线;4、深入理解共源级放大器的工作原理以及mos管参数的改变对放大器性能的影响二、实验内容1、启动synopsys,建立库及Cellview文件。
实验二CMOS模拟集成电路设计与仿真
实验二CMOS模拟集成电路设计与仿真实验二 CMOS 模拟集成电路设计与仿真CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)模拟集成电路(Analog Integrated Circuits)是一种基于金属-氧化物-半导体结构的集成电路技术。
在本实验中,我们将学习并实践CMOS模拟集成电路的设计和仿真,以加深对其原理和应用的理解。
通过此实验,我们将能够熟练掌握CMOS模拟集成电路设计与仿真的基本流程与方法。
一、实验目的本实验旨在通过设计和仿真CMOS模拟集成电路,加深对其工作原理的理解,掌握电路设计与仿真的基本方法。
二、实验原理CMOS模拟集成电路是一种基于n型和p型MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)的电路。
通过调节不同MOS管的工作状态,可以实现不同的电路功能。
其中,n型MOS管的主要特点是电导率高,适用于放大增益较大的部分;p型MOS管的主要特点是电导率低,适用于控制电流流动的部分。
三、实验步骤1. 电路设计:根据实际需求,确定设计所需的CMOS模拟集成电路。
在设计前,应先详细了解电路的功能、性能及工作原理,确定所需的器件数目和性能参数。
2. 电路布局:根据设计要求,将设计的各个电路模块在模拟集成电路上进行布局,合理安排电路的位置和空间,以保证电路的稳定性和性能。
3. 电路连接:按照布局图,将所需的电路模块进行连接,确保各个模块之间信号的正确传输和电路功能的正常实现。
4. 电路仿真:使用专业的仿真软件,将设计好的CMOS模拟集成电路进行仿真,验证其电路性能和功能。
在仿真过程中,应注意选择合适的仿真参数和验证方法,以保证仿真结果的准确性和可靠性。
5. 仿真分析:根据仿真结果,对电路的性能和功能进行分析和评估。
如果发现问题或改进的空间,可以根据分析结果进行相应的调整和优化。
6. 总结与展望:根据实验结果和分析,总结实验过程中的经验和教训,提出可能的改进和未来的研究方向。
完成稿-基于单片机的多功能测试仪设计
基于单片机的多功能测试仪设计摘要早期的指南针采用了磁化指针和方位盘的组合方式,整个指南针从便携性、指示灵敏度上都有一定不足,极易受到外界因素的干扰。
本设计采用霍尼韦尔公司的HMC5883作为指南针传感器,可以精确得到数字化的指南针数据,并可以在LCD1602上显示。
同时测试仪还包含水平测量仪的功能,水平测量仪基于陀螺仪的工作原理,通过在LCD1602上显示X,Y坐标轴的偏移量,可以十分方便的作为水平测量仪在工程实践当中使用。
实际制作的硬件达到了预期的效果,具有好的人机接口界面,并且数据输出清晰,具有较好的使用价值。
关键词:指南针;水平测量仪;LCD1602;键盘输入AbstractThe earlier compass is based on magnetization and display is not very stable, also it is easily affected by the outside environment. This design use the HMC5583 produced by Honeywell as the sensor, it can display the precise data as compass and system can display the data on LCD1602.Meanwhile, the system contain the horizontal measurement function, the horizontal measurement system is based on the gyroscope theory, it can display the X, Y axis data on the LCD1602, so user can easily use it in the real industrial area. The practical design meets the expectation, and it has very good user interface and also good and precise data output displayed on LCD1602. It has good practical value.Key words:compass; horizontal measurement instrument; LCD1602Keyboard input.目录基于单片机的多功能测试仪设计 (I)摘要 .................................................................................................................................................. I I Abstract ............................................................................................................................................ I II 1引言 .. (1)1.1 课题背景 (1)1.2 国内外发展现状 (1)2 系统的总体方案选择和设计 (3)2.1 水平测量仪的选择 (3)3 实际硬件系统的设计 (4)3.1 系统整体硬件电路图 (4)3.2 单片机最小系统设计 (5)3.3晶振电路 (8)3.4 电子指南针设计 (9)3.4.1 HMC5883指南针芯片介绍 (9)3.4.2 电子指南针原理介绍 (10)3.5 水平测试仪电路设计 (12)3.5.1 MPU陀螺仪芯片介绍 (13)3.6 LCD1602显示模块 (15)4 软件部分程序的编写 (18)4.1 软件控制部分流程图 (18)5总结与体会 (19)参考文献 (20)附录1 系统整体原理图 (21)附录2 系统软件程序 (21)1引言1.1 课题背景(1)指南针的发明是我国劳动人民,在长期的实践中对物体磁性认识的结果。
一种实用的集成芯片测试仪的设计
一种实用的集成芯片测试仪的设计
在高校的教学实验环节中,需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。
目前,市场上存在一种可以对TTL、CMOS 数字芯片进行检测的工程应用型测试仪,但是考虑到其价格较贵,较难满足学生人手一台;另外,该测试仪器是面向工程单位的,不能测试实验室中很多数字芯片。
因此,从节约经费、提高利用率的角度出发,我们采用AT89C52 单片机设计了集成芯片测试系统。
该测试系统能够实现对高校实验室中常用的TTL、CMOS 系列芯片及一些常用按键开关的功能检测,同时通过RS232 串行口与PC 机相连,可以在PC 机上直接对测试系统进行操作。
1 系统组成框图由图1 可知,该测试仪的硬件电路由AT89C52 单片机,并行扩展接口8155,显示驱动,键盘输入,看门狗和复位电路以及串行接口电路组成。
按照芯片测试插座旁边的指向,插入待测的数字芯片或按键;通过键盘输入指令或数字,单片机经过键盘扫描从8155 读回键值,根据键值执行相应的子程序。
假设输入测试命令键,单片机将调用测试子程序,并将测试结果送到显示器上显示(“good”or“bad”);假设输入数字键,单片机会自动将输入的数字
显示到显示器上;假设输入其它命令键,单片机将调用相应的功能子程序,执行相应的命令。
2 系统硬件设计
2.1 单片机
单片机采用美国ATMEL 公司生产的AT89C52 单片机。
该芯片不仅具有MCS-51 系列单片机的所有特性,而且片内集有8K 字节的电擦除闪速存储器(Flash ROM),价格低。
由于使用片内程序存储器,所以,EA/VP 接高电平;AT89C52 的最大工作频率为24MHz,系统利用单片机的内部振荡器加石英晶。
基于单片机数字逻辑门电路芯片检测装置的设计
基于单片机数字逻辑门电路芯片检测装置的设计设计思路:1. 确定需要检测的数字逻辑门类型,可以是与门、或门、非门、与非门、或非门等。
2. 根据所选的数字逻辑门类型,确定需要使用的数字逻辑门电路芯片的型号和规格。
3. 搭建电路原型,包括输入电路、数字逻辑门电路芯片、输出电路等部分。
4. 编写单片机的软件程序,通过读取输入电路的信号状态,并通过数字逻辑门电路芯片进行逻辑运算,然后将结果显示在输出电路上。
5. 对设计的电路进行测试和优化,确保其能够正确检测所选的数字逻辑门类型,并能够稳定运行。
6. 最终完成设计的电路,并进行封装和调试,确保其可以实际应用。
设计功能:通过该装置可以实现对数字逻辑门电路的检测和验证,可以快速判断数字逻辑门电路是否正常工作,并可以根据需要对其进行调试和优化。
设计要求:1. 设计的电路要可靠、稳定,能够准确检测数字逻辑门电路的状态。
2. 设计的电路要具有较高的灵活性和扩展性,可以适应不同类型和规模的数字逻辑门电路的测试。
3. 设计的电路要具有较高的实用性和可操作性,方便用户进行使用和维护。
4. 设计的电路要满足相关的安全和环保要求,确保使用过程中不会对人和环境造成危害。
设计中需要注意的问题:1. 要充分了解所选的数字逻辑门电路芯片的工作原理和规格,确保设计的电路能够与之兼容。
2. 在选择电路元件和材料时,要注意其质量和可靠性,并考虑其成本和供应的可行性。
3. 在设计电路布局时,要合理安排元件的位置和连接方式,以确保电路的稳定性和可靠性。
4. 在编写单片机的软件程序时,要注意其代码的逻辑性和可读性,确保其功能的正确实现。
5. 在测试和调试电路时,要注意安全和防护措施,并遵守相关的操作规范和要求。
基于单片机的数字逻辑门电路芯片检测装置的设计需要以下步骤:1. 确定所需的数字逻辑门电路芯片的类型和规格,如常见的AND门、OR门、NOT门等。
2. 根据所选芯片的规格,确定相关参数,如输入端口数量、输出端口数量、工作电压等。
基于单片机的数字集成芯片检测仪
关键 词 : S T C 8 9 C 5 2 R C; 数字集成芯片; 单片机 ; 检测仪
1概 述
随着半导体行业和测试行业的快速发展 ,各种新工艺和新设计的 集成电路不断出现 , 在大量新型数字集成芯片投放市场的同时 , 对其功 能和性能的完整性要求也在不断提高。为了迎合对数字芯片进行检测 的需求 , 数字集成电路测试仪应运而生。它在验证测试 、 生产测试 、 验收 测试和使用测试 中都拥有无可替代的地位。然而国内大部分测试市场 被国外的测试企业 占据 , 购买 国外的测试设备一般价格都 比较昂贵, 随 着数字集成芯片的使用 日益频繁 ,急需—种能够应用在中小规模数字 集成电路的测试设备来保障其功能和性能。 2基于单片机的数字集成芯片检测仪系统设计 数字集成芯片测试仪是对数字集成芯片是否损坏进行检测的仪 器。 通过将被测芯片的输出逻辑电平与芯片真值表的结果进行比对, 来 确定和判断集成芯片是否损坏的过程 ,在测试时,测试仪器将预定义 的测试逻辑电平加到被测数字集成芯片的输入引脚 ,然后检测被测芯 片输 出引脚电平的状态 , 最后经过数据分析处理得到测试结论。 数字集 威芯片测试- f 义 的原理『 框图如图 1所示 。 3基于单片机的数字集成芯片检测仪硬件设计 本节针对数字集成芯片测试仪的功能和要求 ,本章设计 了数字集 成芯片测试仪的硬件电路 , 主要包括单片机最小 系统 电源电路、 复位电 路、 时钟 电路 、 矩阵键盘电路 、 液晶屏电路。 单片机最小系统电路原理图如图 2 所示。该最小系统包括系统电 图 3 数字集成芯片测试仪主程序框图 源、 单片机复位电路、 晶振电路。 为了使数字集成芯片测试仪安全无故障的运行 ,在保证硬件稳定 其中系统电源电源由外界电源提供直流 5 V,可 以是 电脑 U S B口 必须确保软件执彳 亍 正确。为了防止干扰引起的软件死循 或者是 5 V开关电源提供。因为该测试仪器没有涉及到模拟量 , 电路中 运行的条件下 , 环和软件跑飞,必须设置看 门狗 电路 ,在软件无法正常运行时,复位 全是数字量 , 所以对电源眭能的要求不是很高。 C P U, 使测量程序重新运行 , 保证数字集成芯片测试仪正常运行。 单片 芯 片 真f 鞴 八 擞 勋 l 被 测 芯 片 机最小系统晶振 Y1 根据测试仪的实际的数据处理需求可选用适当的 l 唐表库 卜 . 控 r— ] 输 出响应 l 频率, 在正常工作的情况下可以采用更高频率的晶振 , 其最高频率可达 1 制 系 叫证} 一 1 验I 、 3 5 MH z , 单片机最小系统晶振的振荡频率直接影响单片机的处理速度 , 频率越大处理速度越 陕。在该电路中设计选用 1 2 M Hz 的晶振 。 T C 8 9 C 5 2 统 l I ・ I L C D 1 2 8 6 4 显 示 4基于单片机的数字集成芯片检测仪软件设计 I矩阵按 键键盘 针对数字集成芯片测试仪的运行特点,其程序必须满足其测试仪 功能要求 , 即要能够对多种数字集成芯片进行 陕速检测。 程序设计过程 图 1数 字 集成 芯 片 测 试 仪 的原 理 框 图 中, 应发挥主芯片 S T C 8 9 C 5 2 R C的特点, 充分利用硬件电路的功能。此 外, 设 汁出的程序应灵活可靠 , 具有通用性和可读 I 生。基于以上设计思 想, 本字集成芯片测试仪的程序设计采取以下措施。 程序设计 中, 为提高 系统的实时 陛, 单片机循环执行矩阵键盘检测 程序 。 本文中数字集成芯片测试仪程序快速检测是否有按键按下 , 如果 有按键被按键 , 根据按键的键值, 对应相应的芯片型号, 然后单片机根 据该芯片的真值表去执行相应的检测程序, 单片机执行完检测程序后 , 单片机将相应的检测结果用液晶屏显示出来 。其数字集成芯片测试仪 主程 序框 图如 图 3 所示。 参考文 献 【 l J 刘征宇_ 电子电路设计与制作[ M I . 福 州: 福建科学技术 出版社' 2 0 0 3 : 5 o I
基于单片机的相位测量仪设计制作 毕业设计
基于单片机的相位测量仪设计制作摘要本次设计提出了一种基于8051 单片机开发的相位差测量仪的设计,系统以单片机8051 及计数器为核心, 构成完备的测量系统。
系统可以对20Hz~ 20kHz 频率范围的信号进行频率、相位等参数的精确测量, 测相绝对误差不大于1°。
系统采用液晶1602显示被测信号的频率、相位差。
硬件结构简单, 程序简单可读写性强,软件采用C语言实现。
与传统的电路系统相比, 其有处理速度快、稳定性高、性价比高的优点。
关键字:单片机相位差测量 1602The design and implementation of intelligent chargerABSTRACTIn our daily life, mobile phone has become more and more important. We often need to use a mobile phone, phone calls, text messaging, surfing the Internet, watching movies, listening to music, play games, and so on. With large screen and high frequency mobile phone, lithium ion battery becomes more important, the lithium ion battery charger also brought to the attention of the consumers.This product adopts the li-ion battery charger IC MAX1898, through STC89C52RC control can realize prefi lled, fast charging, and constant voltage charge. By setting the other can easily change the charging time, etc., you can also monitor the charging process of each state, as well as the use of 1602 convenient displays information about the charging current. This design implements the circuit is simple, low cost, and charge effect is very good, including the high security, short time-consuming, small damage to the battery, and meet the requirements of general users.Key words: single chip MAX1898 1602目录摘要............................................................................. ABSTRACT ........................................................................... 目录.............................................................................1 绪论 (1)2 设计原理与方案论证 (1)2.1设计要求 (1)2.2方案论证 (2)2.2.1控制部分的方案选择和论证 (2)2.2.2显示模块的选择方案和论证 (2)2.2.3相位测量方案选择和论证 (3)2.3相位差测量原理论证 (3)3 系统硬件电路设计 (3)3.1各单元模块功能分析及模块电路设计 (5)3.1.1 单片机控制模块 (5)3.1.2稳压电路设计 (1)3.1.3相位差测量模块 (2)3.1.4显示模块 (4)4 软件部分设计 (7)4.1C语言的简介 (7)4.2系统软件设计思想 (7)5 仿真调试及结果 (9)5.1硬件的调试 (10)5.2软件调试 (11)5.3P ROTEUS中仿真图的绘制与调试 (11)5.3.1仿真图的绘制 (11)5.3.2仿真结果 (15)5.4设计结果及总结 (15)5.4.1设计结果 (15)5.4.2设计总结 (15)参考文献 (17)致谢 (19)附录 (20)1 绪论在电子测量技术中,相位测量时最基本的测量手段之一,相位测量仪式电子领域的常用仪器。
集成电路芯片测试仪设计
集成电路芯片测试仪设计刘远鹏;胡惟文【摘要】设计制作了一个集成电路芯片测试仪,以STC90C516RD+单片机为核心,12864液晶显示器作为显示模块,采用了无线模块与电脑通信.该芯片测试仪能对常用的74系列芯片、CD系列芯片,以及LM系列和UA741组合逻辑芯片进行功能测试;能通过12864显示芯片的逻辑符号、逻辑表达式、芯片的功能以及状态转换图;能够将测得的型号通过无线串口发送到PC上位机.通过测试说明本设计制作的集成电路芯片测试仪在芯片检测,电路维修等方面具有重要意义.【期刊名称】《传感器世界》【年(卷),期】2016(022)010【总页数】4页(P14-17)【关键词】集成电路芯片;单片机;自动识别型号【作者】刘远鹏;胡惟文【作者单位】湖南文理学院物理与电子科学学院,湖南常德415000;湖南文理学院物理与电子科学学院,湖南常德415000【正文语种】中文【中图分类】TN402一、引言在产品研发和学生实验过程中,常常需要检测逻辑芯片的功能以及芯片是否正常[1-2]。
传统依靠人工检测的方式直接影响芯片的有效回收利用,进而影响实验电路的功能能否正确,因此设计一个集成电路芯片测试仪来显示其型号具有非常重要的实际意义。
集成电路芯片较多,难以进行统一处理和检测[3],所以给芯片测试仪的实现造成了很大的阻扰,本文采用编码检测方式来解决这一问题。
本文设计了一种集成电路芯片测试仪,采用编码检测,即每个芯片都有不同的编码,因此只要能检测到这些编码就可以识别芯片;该测试仪一共可以测试41种不同的集成电路芯片。
系统主要包括两部分功能:第一能够自动地对指定的74LS系列10种组合逻辑芯片进行功能测试,确定其功能正确性,测试速度为10k测试向量/ s,确定上述74系列的组合逻辑芯片的型号,显示上述芯片的逻辑符号和逻辑表达式;第二能够自动识别指定74LS74、74LS109、74LS160、74LS245、CD 系列、LM系列、NE 系列等芯片进行逻辑功能测试,确定其功能正确性,进一步提高测试速度,可以确定上述74系列时序逻辑芯片的型号,增加了通过SI4463无线串口模块将识别的芯片型号发送到上位机串口助手显示。
基于单片机的TTL集成电路芯片测试仪的设计
摘要集成电路(IC)测试是伴随着电子技术的发展而来的,数字集成芯片在使用过程中容易被损坏,用肉眼不易观察。
早期的人工测试方法对一些集成度高,逻辑复杂的数字集成电路显得难于入手,因而逐渐被自动测试所取代,因此很需要设计一种能够方便测试常用芯片好坏的仪器。
本系统以单片机AT89C52为核心,由芯片测试插座、独立按键、74HC573驱动8位数码管显示、5V直流电源控制模块等组成。
根据数字集成芯片的引脚特性以及集成芯片的真值表编写测试程序。
该系统能完成14脚以内常用TTL74、54系列数字集成芯片的功能测试。
关键字:测试仪;数字集成电路;单片机ABSTRACTIntegrated circuit (IC) test is accompanied with the development of electronic technology, Digital integrated chip is easily damaged during use, and difficult to observe with the naked eye. Early manual test methods for some high integration, the logic of complex digital integrated circuits become difficult,thus gradually replaced by automated testing, so it is necessary to design a testing instrument to distinguish the Common chips is good or bad conveniently.The system is with AT89C52 microcontroller at the core, including the chip test socket,the independent button,74HC573drives an 8-bit digital display, 5V DC power supply control module and other components,etc. According to the characteristics of digital IC pins and the truth table write integrated chip test program. The system can be completed within 14feet common TTL74, 54 series digital integrated chip functional test.1 23目录系统总体方案 (1)系统硬件电路设计 (2)2.1 硬件系统电路原理框图 (2)2.2 硬件系统电路各模块设计 (2)2.2.1 MCS-52单片机最小系统 (2)2.2.2 独立按键模块 (3)2.2.3 芯片测试模块 (4)2.2.4 显示模块 (5)2.2.5 电源供电模块 (7)系统软件设计 (8)3.1 测试对象TTL74 系列芯片简介 (8)3.2 测试原理 (8)3.3 程序流程图 (9)3.4 模块程序关键代码 (11)3.4.1 主程序 (11)3.4.2 独立按键扫描程序 (11)3.4.3 74HC573控制数码管显示程序 (15)3.4.4 信号检测程序 (17)4系统仿真测试 (19)总结 (21)致谢 (22)参考文献 (23)附录 (24)附录A 源程序 (24)附录B 元件清单 (35)附录C 整体电路图 (36)1 系统总体方案在数字集成电路的设计、制造和应用阶段,不可避免地会出现故障,为了保证数字集成电路工作的可靠性,需要对其进行必要的测试。
单片机简易测谎仪设计(工作原理+电路图)-论文
单片机简易测谎仪设计(工作原理+电路图)-论文单片机简易测谎仪设计(工作原理+电路图)目录摘要 2第一章设计方案概述 41.1 设计宗旨 41.2 设计思路 71.3 设计说明 7第二章设计步骤 82.1 设计电路板 82.1.1 制作印刷电路板前奏 82.1.2 电路图 82.1.3 制板 82.1.4 焊接 92.2 制作一个直流稳压电源 122.2.1 制作直流稳压电源前奏 122.2.2 变压器 122.2.3 电源的整流和滤波 152.2.4 稳压 202.2.5 完成测慌仪的电源设计 22第三章元器件清单 23第四章参考文献 24第五章致谢 25摘要该论文的内容是关于简易测谎仪的制作,其中涉及了一些基本的电子技术,包括制作电路板,制作稳压电源等基础的知识点,根据人一担说谎,心腺素分泌增多,从而造成人的皮肤出汗,导致皮肤上的电阻降低的原理做成.虽不像高级的测谎仪能同时检测人的瞳孔放大,心跳率等数据,但能实现基本的测谎功能,对大多数人都能有效的检测其言辞的真假性,是一个便于携带,使用方便快捷,安全系数高的小电子产品.关键词: 稳压电源,测谎仪,肾上腺素,瞳孔放大,心跳率AbstractThe thesis is simple polygraph on the production, which involves some basic electronic technology, including the production of circuit boards, power supply, and so on the basis of the production of knowledge, according to a person lying Tam, psychologically skin of the principle cause. Although unlike the polygraph senior people can simultaneously detect the dilated pupils, heart rate and other data, but to achieve basic The lie detector functions, the majority of people can effectively detect the true nature of their rhetoric, is a portable, easy to use fast, high safety factor of small electronic products.Key words: power supply, the polygraph, epinephrine, dilated pupils, heart rate 第一章设计方案概述1.1 设计宗旨第一个尝试利用科学仪器“测谎”的人,叫西萨重•隆布索(Ceu are Lombroso)。
基于单片机的简易逻辑分析仪设计
基于单片机的简易逻辑分析仪设计前言信息时代是数字化的时代,数字技术的高速发展,出现了以高性能计算机为核心的数字通信、数字测量的数字系统。
在研究这些数字系统产品的应用性能的同时也必须研究在设计、生产和维修他们的过程中,如何验证数字电路设计的合理性、如何协调硬件及其驱动应用软件的工作、如何测量其技术指标以及如何评价其性能。
逻辑分析仪的出现,为解决这些问题提供了可能。
随着数字系统复杂程序的增加,尤其是微处理器的高速发展,用示波器测试己显得有些无能为力。
1973年在美国应运而生的逻辑分析仪(Logic Analyzer),能满足数字域测试的各种要求。
它属于总线分析仪一类的数据域测试仪器主要用于查找总线(或多线)相关故障.同时对于数据有很强的选择能力和跟踪能力,因此,逻辑分析汉在数字系统的测试中获得了广泛的应用。
逻辑分析仪(Logic Analyzer)是以逻辑信号为分析对象的测量仪器。
是一种数据域仪器,其作用相当于时域测量中的示波器。
正如在模拟电路错误分析中需要示波器一样,在数字电路故障分析中也需要一种仪器,它适应了数字化技术的要求,是数字、逻辑电路、仪器、设备的设计、分析及故障诊断工作中不可按少的工具。
在测试数字电路、研制和维修电子计算机、微处理器以及各种集成化数字仪表和装置中具有广泛的用途;还是数字系统设计、侦错、软件开发和仿真的必备仪器;作为硬件设计中必不可少的检测工具,还可将其引入实验教学中,建立直观感性的印象,提升学生的硬件设计能力,可以全面提高教学质量;随着科技的发展,LA在多通道、大存储量、高采样速率、多触发功能方面得到更快的发展,在航天、军事、通信等数字系统领域得到越来越广泛的应用。
我们从上面可以看出逻辑分析仪在各个领域的广泛应用。
那么我们在学习、应用的同时设计并制作一个简易的逻辑分析仪就显的意义重大了,这样这个过程既可以让我们更加深入理解其原理,又可以提高动手设计并制作整个系统电路的能力,还可以将其作为简易仪器应用于以后的实验中。
基于单片机的芯片检测仪的设计
基于单片机的芯片检测仪的设计
郭雷岗;韩超;李昭静
【期刊名称】《福建电脑》
【年(卷),期】2011(027)006
【摘要】在高校的教学实验环节中,TTL系列和CMOS系列数字集成芯片损毁率很高,本文采用AT89C51单片机设计了集成芯片测试系统,成本低,易操作,可对芯片进行检测,看能否继续使用,对实验教学效果有很大的帮助.
【总页数】1页(P166)
【作者】郭雷岗;韩超;李昭静
【作者单位】郑州电力高等专科学校,河南,郑州,450004;郑州电力高等专科学校,河南,郑州,450004;郑州电力高等专科学校,河南,郑州,450004
【正文语种】中文
【相关文献】
1.基于CPLD的新型数字集成芯片检测仪设计 [J], 唐颖;黄河
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毕业设计开题报告
院系:电气与信息工程学院2016年 3 月21 日课题名称基于单片机的简易CMOS集成电路芯片测试仪的设计
姓名学号专业班级指导老师职称
自动化教授
1. 设计(或研究)的依据与意义
集成电路芯片的出现与发展,给人类进入信息时代提供了源动力。
在日新月
异的信息时代,集成电路芯片正被广泛应用到工作、生活和生产中,在通信、航
天航空、信息技术等领域都有广泛的应用,并且运用越来越广泛,而74系列作
为两大主流集成芯片之一,地位和作用更加重要。
目前,在高校的教学实验环节中,需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。
在市场上存在几种可以对TTL、CMOS数字芯片进行检测的工程应用型测试仪,但是考虑到其价格较贵,较难满足学生人手一台;另外,有些测试仪器是面向工
程单位的,不能测试实验室中很多数字芯片,还有些测试仪是嵌入到其他的大型
的仪器里面的携带很不方便。
基于此,设计的小型CMOS芯片测试仪(针对常用部分芯片),可用于检测和
区分部分CMOS数字芯片,能够检测芯片的好坏和判断型号,为科研和工作创造
了良好条件,而且现在市场上的测试仪都是用DSP芯片或者单片机实现控制、测
试功能,虽然实现效果与本设计基本一致,但价格昂贵。
本设计在成本上更有优势,有较大的市场潜力和发展前景。
由此可见该课题的设计对我们来说是有一定
的意义的。
2. 国内外同类设计的概况综述
基于单片机系统的74系列芯片检测仪设计
该系统以Winbond公司的W78E05884DL单片机为控制核心,通过74系列芯片的引脚特性,来判断芯片好坏和检测芯片型号。
系统由单片机、8155扩展芯片、2x 8键盘、12864液晶显示屏和5V 自制直流电源五部分组成。
利用74系列芯片的引脚特性,来判断芯片的好坏。
采用这种方式有如下优处:
①模块化编程,各个模块都可以独立实现功能,便于检测和修改。
②布局明朗,界面友好,液晶屏显示美观,形象。
③对于少量的74系列芯片来说能够比较充分的利用单片机的资源,使资源的利用率能够的到最大化的利用。
缺点:
①对于单片机来说能满足与要测试的芯片的种类相对来说比较少时是比较合适的。
但是当芯片的种类比较多时资源相对来说就比较紧缺。
单片机的ROM 的容量比较小,其次是端口少。
这样在进行扩充时就比较麻烦。
②单片机控制的LCD显示单一。
3. 课题设计的基本内容
一.系统硬件电路的设计技术
(1)单片机的选用 (2)通信接口技术
(3)测试芯片接口技术 (4) 键盘显示电路的设计技术
二.系统软件的设计技术
三.抗干扰措施的设计
利用单片机作为系统的底层开发技术,C51作为系统开发平台。
通过对常用数字芯片结构特点的分析和总结,对系统进行实验调试。
最后完成系统的设计开发。
4. 设计方法
测试系统基本原理框图
该测试仪的硬件电路由AT89C52单片机,并行扩展接口8155,显示驱动,键盘输入,看门狗和复位电路以及串行接口电路组成。
按照芯片测试插座旁边的指向,插入待测的数字芯片或按键;通过键盘输入指令或数字,单片机经过键盘扫描从8155读回键值,根据键值执行相应的子程序。
5. 实施计划
第3-4周:查阅资料,准备开题报告;
第5-6周:掌握基本原理,进行结构分析;
第7-10周:编写程序,完成总体设计;
第11-13周:软件编码、单元测试、集成测试进度计划;
第14-16周:撰写论文,准备答辩。
6. 参考文献
[1] 曹巧媛.单片机原理及应用[M],北京:电子工业出版社,1997.7.
[2]李广第.单片机基础[M],北京航空航天大学出版社,2006.7.
[3] 康华光.电子技术基础.模拟部分(第五版),高等教育出版社,2006.1.
[4] 阎石.数字电子技术基础(第五版),高等教育出版社,2006.5.。