金属平均晶粒度的测定法

术语定义和测量方法
• 显微晶粒度级别数：
100倍下，645.16mm2 (80mm*80mm) 面积内的晶粒个数。
• 宏观晶粒度级别数：
1 倍下，645.16mm2(80mm*80mm) 面积内的晶粒个数。
• 共有三种 比较法，面积法，截点法
比较法
• 比较法不需要计算任何晶粒，截点，截距。与标准评级图（标准挂 图，目镜插片）进行比较。
比较法Βιβλιοθήκη Baidu
面积法
• 面积法是计算已知面积内的晶粒个数，利用单位面积内晶粒数来确 定晶粒度级别。
• 精确度 +-0.25级 ， R&R +- 0.5 级
截点法
• 截点法是计算已知长度的试验线段（或网格）与晶粒界面相交截部分的 截点数。
• 截点法精确度 +-0.25级， R&R +-0.5 级 • 对于非均匀等轴晶粒的各种组织应使用截点法。 • 截点法分为直线截点法，单圆截点法，和三圆截点法。
• 比较法 偏差 +- 0.5 级，R@R +- 1级。
比较法
• 当晶粒形貌与标准评级图的形貌完全相似时，评级误差最小，因此， 本标准有下列四个系列的评级图
A 系列图片I : 无孪晶晶粒（浅腐蚀）100倍 B 系列图片II : 有孪晶晶粒（浅腐蚀）100倍 C 系列图片III : 有孪晶晶粒（深腐蚀）75倍 D 系列图片IV : 钢中奥氏体晶粒（渗碳法）100倍
GB/T 6394-2002金属平均晶粒度测 定法
适应范围和级别
• 主要适用于金属单相晶粒组织，也适用于晶粒形状和本标准系列评 级图相似的非金属材料。
• 本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量。也就是试样截面显试 出的二维晶粒。
• 依照标准分 I,II,III,IV 个系列，平均晶粒度的平均尺寸分16个级别。