(完整版)第六章透射电镜

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子显微分析仪器日益向多功能、综合性发展,
可以进行形貌、物相、晶体结构和化学组成等
的综合分析。
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电镜的发展历史
1924年,德布罗意计算出电子波的波长 1926年,布施发现轴对称非均匀磁场能使电
子波聚焦 1932~1933年间,德国的劳尔和鲁斯卡等研
制成功世界上第一台电子显微镜 1939年,德国的西门子公司生产出分辨本领
❖明场BF成像:透射束强度强弱成像 ❖暗场DF成像:衍射束强度强弱成像
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5.复型技术(质厚衬度原理)
(2)质厚衬度原理 1)成象原理 ➢ 概念 ❖ 入射电子进入试样后,与试样原子的原子核和核外电子发
生相互作用,使入射电子发生散射: 弹性散射——入射电子与原子核的作用主要发生弹性
散射,只发生方向变化而能量不变。 非弹性散射——入射电子与核外电子的作用主要发生
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1.透射电镜的结构原理
➢ 放大倍数 透射电子显微镜中,物镜、中间镜,总的放大倍数就是 各个透镜倍率的乘积。 M = M0×Mi×Mp 式中:M0--物镜放大倍率,数值在50-100范围;Mi---中间镜放大倍率,数值在0-20范围;Mp---投影镜 放大倍率,数值在100-150范围,总的放大倍率M在 1000-200,000倍内连续变化。
❖振幅衬度:是由于离开试样下表面的电子,部分 被物镜光阑挡掉不能参与成象造成的,是揭示试样 20 Å细节的主要机制。
①散射衬度(质量厚度衬度) ②衍射衬度
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5.复型技术(质厚衬度原理)
❖相位衬度:是试样内各点对入射电子作用不 同,导致它们在试样出口表面上相位不一,经 成象放大系统让它们重新组合,使相位差转换 成强度差而形成的,是揭示 10 Å物体细节的 主要机制(如结构象、原子象等)。
1.透射电镜的结构原理 (1)电子光学系统 1)照明部分 ①阴极:又称灯丝,一般是由0.03~0.1毫
米的钨丝作成V或Y形状。 ②阳极:加速从阴极发射出的电子。为了安
全,一般都是阳极接地,阴极带有负高压。
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1.透射电镜的结构原理
③控制极:会聚电子束;控制电子束电流大小,调 节象的亮度。
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1.透射电镜的结构原理
仪器结构
➢透射电子 显微镜由三 大部分组成:
(1)电子光 学系统;
(2)真空系 统;
(3)供电控 制系统。
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1.透射电镜的结构原理
光源 聚光镜
试样 物镜
电子镜 聚光镜
试样 物镜
中间象
目镜
中间象 投影镜
毛玻璃
照相底板
观察屏 照相底板
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的分布;不能观察图象 。
X射线衍射
优点:精度高;分析样品的最小区域mm数量级; 局限性:平均效应;无法把形貌观察与晶体结构分析结合起来。
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电子显微分析特点:
1、是一种微区分析方法,了解成分-结构的微
区变化。
2、灵敏度高,
成像分辨率高,为0.2~0.3nm,能进行nm尺
度的晶体结构及化学组成分析。 3、各种电
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3.透射电子显微镜样品制备
➢ 复型膜必须满足以下特点: 1)本身是“非晶体”的,在高倍(如十万倍)成像时,也不
显示其本身的任何结构细节。 2)对电子束足够透明(物质原子序数低); 3)具有足够的强度和刚度,在复制过程中不致破裂或畸变; 4)具有良好的导电性,耐电子束轰击; 5)是分子尺寸较小的物质---分辨率较高。 ➢ 常用的复型材料是塑料和真空蒸发沉积碳膜,碳复型比塑
(3)加速电压 ➢ 电镜的加速电压是指电子枪的阳极相对于阴极
的电压,它决定了电子枪发射的电子的波长和 能量。 ➢ 加速电压高,电子束对样品的穿透能力强,可 以观察较厚的试样,同时有利于电镜的分辨率 和减小电子束对试样的辐射损伤。 ➢ 目前普通透射电镜的最高加速电压一般为 100kV和200kV,通常所说的加速电压是指 可达到的最高加速电压。
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1.透射电镜的结构原理
③中间镜和投影镜:中间镜和投影镜和物镜相似, 但焦距较长。 ➢近代电镜一般都有两个中间镜、两个投影镜。30 万倍以上成象时,物镜、两个中间镜和两个投影镜 同时起放大作用。低倍时,关掉物镜,第一个中间 镜对试样进行第一次成象,这样因为物距加长,加 之改变投影镜的电流,总的放大倍数可在一千倍以 下。
用于透射电镜观察式样的要求是: 它的上下底面应该大致平行,厚度应在50-500nm,
表面清洁。
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3.透射电子显微镜样品制备
➢ 样品减薄技术可以克服上述缺点,它的特点: 1)可以最有效地发挥电镜的高分辨率本领; 2)能够观察金属及其合金的内部结构和晶体缺陷,
并能对同一微区进行衍衬成像及电子衍射研究, 把形貌信息与结构信息联系起来; 3)能够进行动态观察,研究在变温情况下相变的生 核长大过程,以及位错等晶体缺陷在引力下的运 动与交互作用。
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3.透射电子显微镜样品制备
对样品的一般要求 1)样品必须很薄,使电子束能够穿透,一般厚度为 100~200nm左右; 2)样品需置于直径为2~3mm的铜制载网上,网上 附有支持膜; 3)样品应是固体,不能含有水分及挥发物; 4)样品应有足够的强度和稳定性,在电子线照射下 不至于损坏或发生变化; 5)样品及其周围应非常清洁,以免污染。
方法: 1、透射电镜(TEM)
2、扫描电镜(SEM)
3、电子探针(EMPA)
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光学显微镜
优点: 简单,直观。 局限性:分辨本领低(0.2微米);只能观察表面形
貌;不能做微区成分分析。
化学分析
优点: 简单, 方便。 局限性:只能给出试样的平均成分,不能给出所含元素随位置
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1.透射电镜的结构原理 (3) 供电系统
透射电镜需要两部分电源:一是供给 电子枪的高压部分,二是供给电磁透镜的低 压稳流部分。
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2.透射电镜的主要性能
分辨率 放大倍数 加速电压
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2.透射电镜的主要性能
技术参数 : (1)晶格分辨率:0.20nm (2)加速电压40kV~120kV (3)电子枪:冷束电子枪 (4)灯丝:钨灯丝或LaB6灯丝 (5)放大倍数:50~1,200,000 (6)样品台:标配五轴马达驱动
➢ 阴极、阳极和控制极决定着电子发射的数目及其 动能,因此,人们习惯上把它们通称为“电子 枪”。
④聚光镜:由于电子之间的斥力和阳极小孔的发散 作用,电子束穿过阳极小孔后,又逐渐变粗,射 到试样上仍然过大。聚光镜就是为克服这种缺陷 加入的,它有增强电子束密度和再一次将发散的 电子会聚起来的作用。
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1.透射电镜的结构原理
阴极(接负高压) 控制极(比阴极 负100~1000伏)
阳极 电子束 聚光镜
试样 图 照明部分示意图
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1.透射电镜的结构原理
2)成象放大部分 这部分有试样室、物镜、中间镜、投影镜等组成。 ①试样室:位于照明部分和物镜之间,它的主要 作用是通过试样台承载试样,移动试样。 ②物镜:电镜的最关键的部分,在分析电镜中, 使用的皆为双物镜加辅助透镜,试样置于上下物 镜之间,上物镜起强聚光作用,下物镜起成象放 大作用,辅助透镜是为了进一步改善场对称性而 加入的。
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3.透射电子显微镜样品制备
➢目前,样品可以通过两种方法获得,一是表面复型 技术,二是样品减薄技术。
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3.透射电子显微镜样品制备 (1)表面复型技术 ----所谓复型技术就是把样品表面的显微组织
浮雕复制到一种很薄的膜上,然后把复制 膜(叫做“复型”)放到透射电镜中去观 察分析。
优于10nm的商品电子显微镜
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相继问世了扫描透射电子显微镜(STEM)、扫 描电子显微镜(SEM)以及上述产品与X射线分 析系统(EDS、WDS)的结合,即各种不同类 型分析型电子显微镜。
1986年,宾尼格和罗雷尔先后研制成功扫描 隧道电子显微镜(STM)和原于力电子显微镜 (AFM),使人类的视野得到进一步的扩展。
★表面起伏状态所反映的微观结构问题; ★观测颗粒的形状、大小及粒度分布; ★观测样品各个部分电子射散能力的差异; ★晶体结构的鉴定及分析。
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5.复型技术(质厚衬度原理)
(1)概述 ➢衬度:是指试样不同部位由于对入射电子作用不同, 经成象放大系统后,在显示装置上(图象)显示的强 度差异。 ➢透射电镜图象衬度包括:
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3.透射电子显微镜样品制备
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3.透射电子显微镜样品制备 陶瓷材料制备方法 颗粒试样制备法
20nm聚乙烯醇缩甲醛膜(PVF)
薄膜试样制备法
1)取试样,磨平面,粘玻璃 2)磨60um以下,卸玻璃 3)切圆片,粘铜圈,离子减薄。
离子减薄技术
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4.透射电子显微镜的观测内容
样品台 (7)样品移动范围:
X/Y,2mm;Z,1mm;最大倾斜 角,±70度
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2.透射电镜的主要性能
(1)分辨率 分辨率是透射电镜的最主要性能指标,它表征电 镜显示亚显微组织、结构细节的能力。两种指标: ➢ 点分辨率—表示电镜所能分辨的两点之间的最 小距离; ➢ 线分辨率—表示电镜所能分辨的两条线之间的 最小距离,通常通过拍摄已知晶体的晶格象来 测定,又称晶格分辨率。
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第七章 透射电镜(TEM)
透射电镜的结构原理 透射电子显微镜的观测内容 射透电镜的主要性能 复型技术(质厚衬度原理) 透射电子显微镜样品制备
120kV高衬度透射电子显微镜
300kV场发射透射电子显微镜
(High contrast TEM)
(FE Transmission Electron Microscope)
3)显象部分 这部分由观察屏和照相机组成。
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1.透射电镜的结构原理
(2)真空系统 为了保证电子在整个通道中只与样品发生相
互作用,而不与空气分子碰撞,因此,整个电子 通道从电子枪至照相底板盒都必须置于真空系统 之内。 ➢如果真空度不够,就会出现下列问题:
1)高压加不上去 2)成象衬度变差 3)极间放电 4)使钨丝迅速氧化,缩短寿命 ➢电镜真空系统一般是由机械泵、油扩散泵、离 子泵、阀门、真空测量仪和管道等部分组成。
第二篇 电子显微分析
研究对象
(Electron Micro-Analysis)
微结构与显微成分
微结构与性能的关系
微结构形成的条件与过程机理
材料的性能由微结构所决定,人们可通过控制材料的微结 构,使其形成预定的结构, 从而具有所希望的性能。
电子显微分析是利用聚焦电子束与式样物质相互作用产生 各种物理信号,分析式样物质的微区形貌、晶体结构和化 学组成。
图 碳膜一级复型 2020/6/16
3.透射电子显微镜样品制备
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3.透射电子显微镜样品制备
➢二级复型
----在塑料一级复wenku.baidu.com上再 制作碳复型,就是一种二 级复型。
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3.透射电子显微镜样品制备
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3.透射电子显微镜样品制备
(2)样品减薄技术 复型技术只能对样品表面性貌进行复制,不能揭示 晶体内部组织结构信息。
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2.透射电镜的主要性能
➢点分辨率和线分辨率的测量照片
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2.透射电镜的主要性能 (2)放大倍数
➢ 透射电镜的放大倍数是指电子图象对于所 观察试样区的线性放大率。目前高性能透 射电镜的放大倍数变化范围为100倍到 100万倍。
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2.透射电镜的主要性能
料复型要好。
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3.透射电子显微镜样品制备 ➢ 一级复型 ----一级复型是指在试样表面的一次直接复型。 ❖ 塑料(火棉胶)一级复型,相对于试样表面
来讲,是一种负复型,即复型与试样表面的 浮雕相反; ❖ 碳膜一级复型是一种正复型。
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3.透射电子显微镜样品制备
图 塑料(火棉胶)一级复型
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3.透射电子显微镜样品制备
制备薄膜一般有以下步骤: 1)切取厚度小于0.5mm的薄块。 2)用金相砂纸研磨,把薄块减薄到0.1mm-
0.05mm左右的薄片。为避免严重发热或形成 应力,可采用化学抛光法。 3)用电解抛光,或离子轰击法进行最终减薄,在 孔洞边缘获得厚度小于500nm的薄膜。
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