二集成逻辑门电路的参数测试

实验二集成逻辑门电路的参数测试

一、实验目的

1．掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。

2．进一步熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。

二、实验器材

1．数字逻辑实验箱DSB-3 1台

2．万用表2只

3．元器件：74LS20（T063）CC4012 各一块

2CK11 4只

电阻及导线若干

三、实验说明

1．注意正确使用万用表，必须先调好档位再测量，否则易损坏万用表。

2．注意正确识别二极管极性。

四、实验内容及步骤

1．TTL与非门74LS20静态参数测试

（1）导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH 。测试电路如图2-1。注意：74LS20为双四输入与非门，两个门的输入端应作相同处理。

（2）低电平输入电流I iL 和高电平输入电流Ii H。每一门和每一输入端都应测试一次。测试电路如图2-2。

（3）电压传输特性。调节电位器RW，使V i从0V向5V变化，逐点测试V i和V O值，将结果记录入表2-1中。根据实测数据作电压传输特性曲线，从曲

线上得出V OH、V OL、V ON、V OFF、V TH等值，并计算V NL、V NH（提示：在VO 变化较快的区域应多测几点，有利于绘制特性曲线）。测试电路如图2-3。

2、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试

将CC4012正确插入面包板，测电压传输特性。测试电路如图2-4，方法同上。将结果记录入表2-2中。根据实测数据作电压传输特性曲线，从曲线上得出V OH、V OL、V ON、V OFF、V TH等值，并计算V NL、V NH。若将三个多余输入端悬空测试一次，结果正确吗？

五、实验报告要求

1．列表整理出各参数的测试值，并与规范值相比较，判断所测电路性能的好坏。

2．画出两条电压传输特性曲线，从曲线中读出各有关参数值。比较TTL与CMOS门电路电压传输特性曲线的异同。

3．回答思考题

1）测量TTL与非门输出低电平时为何要加负载？图2-3中R选用360Ω是什么道理？若R很小会产生什么现象？

2）TTL与非门输入端悬空为什么可以当作输入为“1”？CMOS与非门多余输入端可以悬空吗？

3）讨论TTL或非门闲置输入端的处置方法。

4）实验中所得I CCL和I CCH为整个器件值，试计算单个门电路的I CCL和I CCH。

5）CC4012的电源范围为3-18V，若V DD=15V，则其V OH、V OL、V TH应为

多少？