CPK 基本知识

3σ X-LSL Cpl= 3σ
無
制程能力指數﹕ 綜合衡量Ca和Cp; Cpk
Cpk=Cp(1- Ca )
Process Capability Sixpack of C1
Xbar Chart
UCL=1.01813
Capability Histogram
Sample Mean
1.016 1.012 1.008 1 2 3 4 5 6 7 _ X=1.013
Cpk的計算實例1
• 某工序的規格要求為1.016± 0.04,實際測出44個樣本值 如下﹐計算出該工序的Cpk;
序号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 数据
1.012 1.012 1.01 1.013 1.01 1.014 1.018 1.01 1.008 1.012 1.019
序号 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22
n -1
什么是Ca?
• Ca:制程准确度; (Capability of Accuracy)
„Ca 在衡量“實際平均值“與“規格中心值”之 一致性;
• 对于单边规格，不存在规格中心，因此也 就不存在Ca; X C • 对于双边规格，Ca =
T /2
Ca等级评定及处理原则
等級 A B C D Ca值 |Ca|<12.5% 處理原則
• • • • USL (Upper specification limit):即規格上限 LSL (Low specification limit): 即規格下限 C：规格中心 X=(X1+X2+… …+Xn)/n 平均值 (n為樣本數) T=USL-LSL 規格公差 • 2+(X2-X)2+… …+(Xn-X)2 (X1-X) δ=
序号 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44
数据
1.016 1.015 1.017 1.013 1.01 1.007 1.02 1.023 1.02 1.007 1.02
總結
代 號 定義 雙邊規格 計算公式 單邊規格 等 級 A B C D A+ A B C D A+ A B C D 等級標准
Cpk和制程良率換算
Cpk 0.33 0.67 1 1.33 1.67 2
每一百件之不良 Defects per 100 parts 31.7 4.5 0.27 0.0063 0.000057 0.0000002
每一百萬件之不良(Dppm) Defects per million parts 317310 45500 2700 63 0.57 0.002
LC L=1.00787 1.005 1.010 1.015 1.020
R Chart
Sample Range
0.02 UCL=0.02128 _ R=0.01062
Normal Prob Plot
AD: 0.510, P: 0.187
0.01
0.00 1 2 3 4 5 6 7
LC L=0 1.00 1.01 1.02
Specs
3
4
5 Sample
6
7
CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度 上限，一般表达式为： CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下 限，一般表达式为：
CPK 数据分布图形
LSL USL Within Overall
Process Data 0.25000 t * 0.30000 e Mean 0.27062 e?N 185 (Within) 0.00516 (Overall) 0.00514
作業員遵守作業標準操作並達到規格之要求,需繼續保持.
12.5%<|Ca|<25% 有必要盡可能將其改進為A 級 25%<|Ca|<50% 50%<|Ca|
作業員可能看錯規格不按作業標準操作或檢討規格及作業標準. 應采取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因素,必要時得停止生產.
什么是Cp?
„Cp:制程精密度 (Capability of Precision)
Cpk的計算公式
• Cpk=Cpx(1- Ca ); • Cpk≦ Cp; • Cpk是Cp和Ck的綜合表現 ﹔
製程能力靶心圖
. . . . .. ..
Ca好﹐Cp差
... .
Cp好﹐Ca差
. . ... . . . .
Cpk好﹔
Cpk等級評定及處理原則
等級 A+ A B C D Cpk值 ≧1.67 1.33 ≦ Cpk ＜ 1.67 1.00 ≦ Cpk ＜ 1.33 0.67 ≦ Cpk ＜ 1.00 Cpk ＜ 0.67 處理原則 無缺點考慮降低成本 狀態良好維持現狀 改進為 A 級 制程不良較多，必須提升其能力 制程能力太差，應考慮重新整改設計制程
Ca ≦ 12.5%
准確度: 比較制程實績平均值與規 Ca 格中心值一致的程度﹔ 精密度﹕ 比較規格公差寬度和制程 Cp 變異寬度﹔
Ca=
X-C T/2
来自百度文库
無
12.5%< Ca ≦25% 25%< Ca ≦50% 50%< Ca
T Cp= 6σ
Cpu=
USL-X
1.67 ≦ Cp
1.33≦Cp<1.67 1≦Cp<1.33 0.67≦Cp<1 Cp<0.67 1.67≦Cpk 1.33≦Cpk<1.67 1≦Cpk<1.33 0.67≦Cpk<1 Cpk<0.67
CP与CPK比较
现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义
Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。 它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。即： Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为： 或 的最小值。 关于Cpk与Ppk的关系，这里引用QS9000中PPAP手册中的一句话：“当可能得 到历史的数据或有足够的初始数据来绘制控制图时（至少100个个体样本），可 以在过程稳定时计算Cpk。对于输出满足规格要求且呈可预测图形的长期不稳定 过程，应该使用Ppk。” 另外业界也存在这样一种认识： “所谓PPK，是进入大批量生产前，对小批生产的能力评价，一般要求≥1.67； 而CPK，是进入大批量生产后，为保证批量生产下的产品的品质状况不至于下降， 且为保证与小批生产具有同样的控制能力，所进行的生产能力的评价，一般要求 ≥1.33；一般来说，CPK需要借助PPK的控制界限来作控制。… …
„Cp衡量的是“規格公差寬度”與“製程變異寬 度”之比例; USL-X 对于只有规格上限和规格中心的规格：
Cpu=
3s
Cpl=
对于只有规格下限和规格中心的规格：
X LSL
3s
对于双边规格：
USL-LSL Cp= 6s
Cp等级评定及处理原则
等級 A+ A B C D Cp值 ≧1.67 1.33 ≦ Cp ＜ 1.67 1.00 ≦ Cp ＜ 1.33 0.67 ≦ Cp ＜ 1.00 Cp ＜ 0.67 處理原則 無缺點考慮降低成本 狀態良好維持現狀 改進為 A 級 制程不良較多，必須提升其能力 制程能力太差，應考慮重新整改設計制程
Potential (Within) C Cp 1.62 CPL 1.33 CPU 1.90 Cpk 1.33 CCpk 1.62 Pp PPL PPU Ppk Cpm
Overall Capabi
1.62 1.34 1.90 1.34 *
0.256 0.264 0.272 0.280 0.288 0.296
CPK基本知识
工作中我们经常会遇到这样的问题：
1、过程能力好吗？ 2、过程稳定性怎么样？ 3、产品稳定吗？ 4、几个表差的水平？
什么是 Cpk?
„Cpk的定义：制程能力指數；
Process Capability index
• Cpk的意义：制程水准的量化反映; 用一个数值来表达制程的水准;
(1) 只有制程能力强的制程才可能生产出质量好、 可靠性水平高的产品﹔ (2)制程能力指数是一种表示制程水平高低的方便 方法，其实质作用是反映制程合格率的高低。
质量系统推荐
数据
1.013 1.01 1.013 1.015 1.02 1.005 1.014 1.013 1.012 1.013 1.016
序号 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33
数据
1.009 1.018 1.003 1.013 1.015 1.01 1.011 1.009 1.011 1.012 1.012
合格率% 68.3 95.5 99.73 99.9937 99.99995 ≒100
数据分布在正态情况下，换算才有意义！
Cpk的計算
1、数据收集必须是连续性的（按一定时段规 律），讲究顺序。 2、数据收集必须是对应所评价的过程的阶段。 如：设备试用阶段或者正式投产阶段。 3、样本量及分组 • 25个子组或100个单值 • Motorola计算CPK最小数据要求好象是32个 • 这个要看制成稳定性，然后比较一下20组、30组、40组、 50组的差别
和Cpk相关的几个重要概念1
单边规格：只有规格上限和规格中心或只有下限 或规格中心的规格;如考试成绩不得低于80分，或 浮高不得超过0.5mm等；此時數據越接近上限或 下限越好﹔ 双边规格：有上下限與中心值,而上下限與中心值 對稱的规格；此时数据越接近中心值越好；如零 件规格2.8±0.2mm;
和Cpk相关的几个重要概念2
Last 5 Subgroups
1.02
Capability Plot
Within StDev 0.00419 Cp 3.18 Cpk 2.94 CCpk 3.18
Within
1.01 1.00
Overall
Overall StDev 0.00418 Pp 3.19 Ppk 2.95 Cpm *
Values