用显微镜测量半封闭玻璃物体的厚度
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因为对 于近 轴光线 , 角度小 , tn =s 0 有 a0 i . n
收 稿 日期 :0 00 —9 2 1—31 基 金 项 目 : 西 省 教 育科 学 研 究 “ 一 五 ” 划 课 题 : 学 教 育教 师 培 养 的 数 字 化 课 程 实 践平 台构 建 研 究 [ 山 十 规 科 GH一9 6 ] 0 0 0 作 者 简 介 : 学 民 ( 93) 男 , 肃 临 洮 人 , 安 1 6一 , 甘 太原 师范 学 院物 理 系 副 教 授 .
量方式 中 , 的是 接触测 量 , 的是 在线 测量 ; 的适用 面广 , 的专用性 强. 有 有 有 有
1 半透 明物 体 厚 度 测 量 的原 理
根据 显微镜 成像 及调 焦原 理 , 导 出测量 透 明材 料厚 度 的公式 : 推
d一 7 2・△L () 1
式 中 d为 测量点 的厚 度 , 为透 明物体 的折 射率 , L( 为看 清测 点 内外表 面时 镜 简位 置 的变化 值 , △ L 一L ) L
用 价 值 .
[ 键 词 ] 显 微 镜 ; 封 闭玻 璃 ; 度 测 量 关 半 厚 ( 章 编 号 ] 1 7 - 0 7 2 1 ) 4 0 8 - 5 ( 图 分 类 号 ] 04 5 1 ( 献 标 识 码 ] A 文 6 2 2 2 ( 0 0 0 — 0 10 中 3 . 文
验 来 验 证 此 测 厚 公 式 的 实 用 性 . 章 介 绍 了 用 显微 镜 和 一 个 简 单 容 器 , 过 几 次 测 量 求 得 半 封 闭 玻 文 通
璃 物 体 的 厚 度 . 法 简 便 、 易 , 非 接 触 测 量 , 用 于 在 线 检 测 , 生 产 和 实 践 工 作 中 有 一 定 的 应 方 容 是 可 在
0 — 0 1 3
所 以( ) 可变 为 : 2式
L1 一S ・厂tn 3 ( - _ tn l S ・ iO/ S一 )sn 1 S ・- ( a O/ S- 厂 a O — ) f sn 3 ( i0 一 厂 S一 ) / 即 L 一S ・_ ( - -) 厂 S- 厂 / () 3
和 L 分 别 为看清 测点 内外镜 头 的高度 值. 1 测量 公式推 导 图之一 . 中 A 为显 微 镜调 焦 于容 器底 部 内 图 是 图 表 面的一 个测量 参考 点 ( 即物点 )7 _ ]
.
L为显 微镜 物镜 , 。 A 的像 点. 为 玻 片 到镜 头 的 距 离 , s为 L s为像 点 到 镜 头 的距 离. 气 折 射 率 为 。 空
O 引 言
由透 光度 较好 的玻璃 做成 的物体 , 当它 的形状不 是 全封 闭 , 而有 或 大或 小 的部 分 尚未 闭和 时 , 这种 物 体
叫半封 闭玻璃 物体 , 如各 种瓶 罐 、 杯 、 量瓶 、 烧 称 显像 管玻 璃壳 等. 生产过 程或 某些 工作 中 , 在 常常需要 控制 和
测量 某些 部位 的厚度 参数 , 常规 的机械量 具 , 用 如螺旋 测微 计 , 型数 显 电子卡 尺往 往不能 解决 此类 问题 , 管 显
像 管玻璃 壳测量 就是 其 中 的一 例. 过 研 究 , 们 用 较 简 单 的 光 学方 法 , 现对 半 封 闭玻 璃 物 体 的厚 度测 经 我 实
第 9 卷
第 4期
太 原 师 范 学 院 学 报 ( 自然 科 学 版 )
J OURNAL OF TAI YUAN NORMAL UNI VERS TY ( t rlS in eEdt n I Nau a ce c ii ) o
Vo. No 4 19 .
De. 2 1 c 00
量 .
物体 或材料 的厚 度测量 在某 些产 品 的生产过 程 中经 常碰到 , 它对保 证 产 品质 量 , 节省原 材料 和能 源保证 有关 工作 的顺利 进行 , 都具 有重要 意 义. 随着 生 产 的发 展 , 要 进 行 厚度 测 量 的东 西 越来 越 多 , 需 内容 也越 来 多. 就待测 厚度 的材料 来说 , 有透 明和 不透 明的 ; 有铁性 材料 、 铁性材 料 和绝缘 材料 . 非 就待 测厚度 来看 , 有厘
( 1 . 讨 论 方 便 , 们 考 察 一 条 成 像 光 线 AP, 射 角 为 0 物 镜 焦 距 为 厂, 0 两 点 间 距 为 h, 他 符 号 见 ≈ )为 我 入 P, 其
图 1中所示 位置 . 由图 1 得 可
h — L1 a 0 = t n 4一 S[ a 0 / S一 厂)] t n 1= =S a 0 厂tn 3 (
米量级 的 、 毫米量 级 的和微 米量级 的 ; 的是 测基 底厚 度 ; 的是 测镀 层厚 度 的 ; 的物 体 形状 规 则 , 的物 有 有 有 有
体形状 不规 则. 对各 种各 样 的需 要 , 针 人们 已研 究 和开 发 出 的许 多厚 度 测 量 技术 和 仪 器 : 电磁 法 、 有 光学 法 等[ ; 电磁法 中 , 电磁 感应 法 、 2 在 有 电涡流 法 ; 光学 中 有干 涉 法 , 在 衍射 法 , 光 扫描 法 , 像法 等 . 多 的测 激 成 众
21 0 0年 1 2月
用 显微 镜 测 量 半 封 闭玻 璃 物 体 的厚 度
安 学 民 高 静
( 原师范学院 物理系, 太 山西 太 原 0 0 3 ) 3 0 1
[ 要 ] 根 据 光 学 的 基 本 原 理 , 辑 推 导 出 测 量 半 封 闭 玻 璃 物 体 的 厚 度 公 式 . 计 一 个 简 单 实 摘 逻 设
8 2
太 原 师 范 学 院 学 报( 自然 科 学 版 )
第 9 卷
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图 1
透镜 成像 原 理
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因为对 于近 轴光线 , 角度小 , tn =s 0 有 a0 i . n
收 稿 日期 :0 00 —9 2 1—31 基 金 项 目 : 西 省 教 育科 学 研 究 “ 一 五 ” 划 课 题 : 学 教 育教 师 培 养 的 数 字 化 课 程 实 践平 台构 建 研 究 [ 山 十 规 科 GH一9 6 ] 0 0 0 作 者 简 介 : 学 民 ( 93) 男 , 肃 临 洮 人 , 安 1 6一 , 甘 太原 师范 学 院物 理 系 副 教 授 .
量方式 中 , 的是 接触测 量 , 的是 在线 测量 ; 的适用 面广 , 的专用性 强. 有 有 有 有
1 半透 明物 体 厚 度 测 量 的原 理
根据 显微镜 成像 及调 焦原 理 , 导 出测量 透 明材 料厚 度 的公式 : 推
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式 中 d为 测量点 的厚 度 , 为透 明物体 的折 射率 , L( 为看 清测 点 内外表 面时 镜 简位 置 的变化 值 , △ L 一L ) L
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[ 键 词 ] 显 微 镜 ; 封 闭玻 璃 ; 度 测 量 关 半 厚 ( 章 编 号 ] 1 7 - 0 7 2 1 ) 4 0 8 - 5 ( 图 分 类 号 ] 04 5 1 ( 献 标 识 码 ] A 文 6 2 2 2 ( 0 0 0 — 0 10 中 3 . 文
验 来 验 证 此 测 厚 公 式 的 实 用 性 . 章 介 绍 了 用 显微 镜 和 一 个 简 单 容 器 , 过 几 次 测 量 求 得 半 封 闭 玻 文 通
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所 以( ) 可变 为 : 2式
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由透 光度 较好 的玻璃 做成 的物体 , 当它 的形状不 是 全封 闭 , 而有 或 大或 小 的部 分 尚未 闭和 时 , 这种 物 体
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像 管玻璃 壳测量 就是 其 中 的一 例. 过 研 究 , 们 用 较 简 单 的 光 学方 法 , 现对 半 封 闭玻 璃 物 体 的厚 度测 经 我 实
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第 4期
太 原 师 范 学 院 学 报 ( 自然 科 学 版 )
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物体 或材料 的厚 度测量 在某 些产 品 的生产过 程 中经 常碰到 , 它对保 证 产 品质 量 , 节省原 材料 和能 源保证 有关 工作 的顺利 进行 , 都具 有重要 意 义. 随着 生 产 的发 展 , 要 进 行 厚度 测 量 的东 西 越来 越 多 , 需 内容 也越 来 多. 就待测 厚度 的材料 来说 , 有透 明和 不透 明的 ; 有铁性 材料 、 铁性材 料 和绝缘 材料 . 非 就待 测厚度 来看 , 有厘
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21 0 0年 1 2月
用 显微 镜 测 量 半 封 闭玻 璃 物 体 的厚 度
安 学 民 高 静
( 原师范学院 物理系, 太 山西 太 原 0 0 3 ) 3 0 1
[ 要 ] 根 据 光 学 的 基 本 原 理 , 辑 推 导 出 测 量 半 封 闭 玻 璃 物 体 的 厚 度 公 式 . 计 一 个 简 单 实 摘 逻 设
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