表面污染测量

β探头的响应与γ 剂量率的相关性（2.0m）
β 计数率,cpm
25000
20000
y = 1.2972x + 222.41 R 2 = 0.9993
15000
10000
5000 γ 剂量率,nGy/h 0 0 2000 4000 6000 8000 10000 12000 14000 16000
图表说明： β 计数率与γ剂量率 呈线性正相关。
γ 剂量率 nGy/h 52 178 5147 16081 51 182 4694 15126
170探头 cps 14.0 37.7 858 2362 13.7 38.7 821 2329
2241探头 cpm 109 384 7172 21071 104 402 6672 19733
地表材质 海沙 水泥 铀矿石 尾渣 海沙 水泥 铀矿石 尾渣
定应使用不小于10µGy/h的空气比释动能率照射探测器并记录计数率，以
确认γ辐射对β污染测量仪的影响。然而我们的监测仪器并未配置所谓的 “挡板”，也未提供仪器按标准要求的检定证书，仪器的说明书上找不到 相关的测试指标来说明γ辐射对β测量的影响。
β探头的响应与γ 剂量率的相关性
探头面与待 测面距离
地点 沙滩 操场
⑤
表面污染测量识别β、γ的方法

使用γ剂量率仪； 随距离变化幅度差异； 将有γ射线的源项远离探头； 擦拭法间接测量。
表面污染测量实况分析

以工作中的案例说明：
开放同位素分装场所； 乏燃料运输/废源运输； 中山锐迪辐照中心退役； 顺德中医院数据分析。
目前我们工作中能接触到的开放式同位素应用场所不多，如东莞、深圳的烟雾 报警器使用241Am（ α污染） 。131I的分装（ β污染）
一、γ剂量率的影响

由于β与γ射线的能量范围基本重叠，现有的仪器说明书提示， β表面污染 测量仪器不能区别γ和β辐射。

国家标准GB/T5202-2008 《辐射防护仪器 α、β和α/β（β能量大于60keV）
污染测量仪与监测仪》中第9.6 节中建议β探头有某种形式的挡板，使其 能区别γ和β辐射，挡板以低原子序数（小于22）的材料制成；并明确规
一定面积上的污染物转移至实验室固定的仪器设备进 行测量。需要确定2个因子：搽拭面积、转移（去污） 系数，才能根据固定实验设备测得值计算表面污染值。 （定性是否为表面污染、半定量）
比较

间接法更合适：表面有非放射性液体或固态的沉 淀物或有干扰辐射场存在，影响辐射监测仪工作; 场所相对位置局限,直接测量不易接近测量表面。

3 ND R(*t )
④
探测限计算例
地点 β cpm
β 均值cpm 方法一N1 探测限 Bq/cm2 方法二N2 方法三N3
沙滩
120、110、107、104、101、 105、103、105、113、117
水泥操场
370、421、455、425、392、 448、437、449、414、468

间接法不能测量固定污染，去除因子有较大的不 确定性，只适合于可去除（松散）污染的测量。 两种方法同时使用，可保证测量结果更好的满足

监测目的。
表面污染监测
一、察看现场，应先了解工艺，分析可能存在污染的场地。

控制区：任何需要或可能需要特殊防护措施或安全条件的区域被划为控制 区。在其中连续工作的人员一年内受到照射剂量可能超过年限值的十分之三, 核医学的控制区包括可能用于制备、分装放射性核素和药物的操作室，放射性 药物给药室，放射性核素治疗的床位区等。
109±6 0.45 0.11 0.014
428±32 0.74 0.20 0.077
探测限与标准

在实际工作中要选用合适的仪器与方法：首先判断是 否存在β 污染，再确定是否为表面污染；若采用直接 测量法，测量时间要足够长，保证探测限小于标准规 定的限值，若采用间接测量法，要给出取样过程、测 量仪器和计算过程（参数）。 不同法计算探测限的合理性分析：EXCEL 注意数据有效数字位数一般取2-3位，误差取1-2位。

监督区：未被定为控制区的区域，在其中通常不需要专门的防护手段或安全 措施，但需要经常对这也照射条件进行监督和评价。核医学的监督区包括标记 实验室、显像室、诊断病人的床位区，放射性废物贮存区等。
表面污染监测

非限制区：除了控制区和监督区以外的区外区域，在此区域内不需要专门的防 护手段和措施，也不需要对职业照射条件进行监督和评价，可以自由出入，在 其中连续工作的人员一年内受到照射剂量一般不超过年限值十分之一的区域。 包括办公室、电梯和走廊等。
1.2m
堆浸场 尾渣库 沙滩 操场
2.0m
堆浸场 尾渣库
β探头的响应与γ 剂量率的相关性（1.2m）
25000 20000 15000 10000 5000 γ 剂量率,nGy/h 0 0 5000 10000 15000 20000
β 计数率,cpm
y = 1.3036x + 193.08 R 2 = 0.9996

表面污染控制水平
α 表面类型 β
极毒
控制区 工作台、设备、墙壁、地面 监督区 工作服、手套、工作鞋 控制区、监督区 0.4 0.4 0.04 4
其它
40 4 0.4 0.04 40 4 4 0.4
手、皮肤、内衣、工作袜
墙壁/地面等固定污染、小于0.3MeV的β 污染可放宽5倍，氚/氚化水可放宽10倍；228Ra、227Ac、 210Pb按α 污染水平控制。皮肤、工作服取100cm2，地面取1000cm2。
表面污染监测
表面污染识别
α
污染类型
β
γ
松散污染
表面污染 污染的方式 非表污染 固定污染
表面污染的测量方法

直接法：用仪器在待测物（场所）的表面适当距离
进行测量。通过同样测试条件下的已知源（与被测点 可能污染核素相同或其发射的β 射线能量相近）活度 来确定表面污染测量值。（定量）

间接法：通过搽拭或去污等方式将待测物（场所）
N A Nb N R
①
LD ND (3 4.65 B ) /( R * t ) R *t
LD—探测限，计数 ND—为仪器探测下限, Bq/cm2
LD 3 4.65 B
②
B—实际测量的本底计数，当仪器显示为计数率时，B= Nb*t，t为计数时间 其它符号的意义同前。 用LD替代式①中的NA-Nb，计算出探测限ND，

测量时先选择在非限制区测量，并以某不受影响的监测点作为本底。 重点关注控制区、监督区：核素可能撒漏的地方；另外就是职业（患者）人员 工作或停留的地方；污染物/废物暂存区。
表面污染仪工作原理
β 探测器 α 收集并 放大 电流 计 数 /率 刻度 α污 染 值 收集并 放大 电流 计 数 /率 刻度 β污 染 值
探测限计算方法二


多次测量:
探测限与重复测量的次数相关,重复数次测量结果的精度与总测量时 间一样长的一次长时间测量结果的精度相同 : LD ND ③ t *R* n

式中各符号的意义同前
如果计数足够大, ③与② 的比值接近1.
探测限计算方法三



将探测限定义为本底标准差的3倍来计算 : 先计算本底n次测量的计数（率） X 3σ 替代式①中的NA-Nb :
根据仪器特性和探测限进行测量：
放射测量的仪器计数遵循统计规律，总是围绕真值（实际使用多次测量
的平均值替代真值）在波动。 假设记录仪器计数呈周期性变化，我们记录的计数必须包括一个完整的 周期（正弦函数来示意该记录的数据）;对于没有明显周期的一般记录连续 10个读数。 中心现使用的表面污染测量仪的计数规律 ，BH3206 可以设置任意时 长的测量时间，同样长的时间多次测量计数变化幅度较小；Model2241单 次计数时间短，波动幅度大，周期性明显，与正弦曲线相符，需要记录30 个数据以上；CoMo170单次计数时间短，波动幅度较大，周期性不太明显。
相关标准

GBT 14056.1-2008 表面污染测定 第1部分 （Eβmax0.15MeV）和α发射体
β发射体

GB/T5202-2008 .辐射防护仪器 α、β和α/β（β能量大
于60keV）污染测量仪与监测仪.

JJG478-1996 .α、β和γ表面污染仪检定规程. α、β表面污染测量仪与监测仪的校准. GB/T 89972008
β表面污染测量的探测限及γ剂量率影响

β表面污染监测仪对γ剂量率的响应问题 β表面污染本底测量及探测下限计算
β表面污染直接测量的影响因素
β表面污染直接测量准确性的影响因素很多： 不同型号的仪器对不同能量β粒子的响应是不一样的, 同一型号的仪器响应也有差别； 仪器的响应是随距离的增加而迅速减小, 所以待测面 与探测器窗保护栅网之间的距离 要相对固定； 仪器检定与实际测量的相对条件差异。 待测物（场所）表面的平整程度、污染物分布的均匀 性。 待测物（场所）的γ剂量率水平。
围绕均值波动的数据
0.042 0.037 0.032 测量值 0.027 0.022 0.017 0.012 0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 次数 均值 均值+2 σ 均值-2 σ
பைடு நூலகம்
本底计数率(cpm)
表面污染的计算公式：
N—表面污染值，Bq/cm2
NA—仪器测量示值计数率，cps Nb—仪器本底计数率， cps ② R—表面活度响应，s-1· Bq-1· cm2 如果是单次测量，根据电离辐射环境监测与评价：
二、β 表面污染测量探测限的计算
由于仪器β探头对γ射线响应呈线性正相关，在不同的γ
剂量率环境中，β探头对应测量的本底计数率会有差异，因
此在实际工作中对仪器本底的测量与扣除是一项非常重要的
工作，而仪器的探测限直接与本底计数率相关，在不同的γ 剂量率环境中β本底计数率不同，探测限也随之改变，因此 探测限的计算总是与一定的环境本底相对应。
降低探测限的方法

尽量选择仪器本底计数率低、探测效率高的仪器。 在仪器确定的情况下，可增加仪器单次测量的时间， 或增加重复测量的次数。
间接测量


间接测量计算公式：
N s b N b As F S
As-表面活度,Bq/cm2； Ns+b-样品测量计数率； Nb-本底计数率； η-仪器测量效率； F-擦拭因子或去污系数,%； S-擦拭面积,cm2。