射线2级资料

（1）质子数=核电荷数=核外电子数=原子序数

（2）原子量=质子数+中子数

（3）中子数=原子量—质子数=原子量—原子序数

（4）电磁波的波长λ和频率v以及波速c（光速）的关系式为：λ=c/v

（5）连续谱存在一个最短波长λmin 其数值只依赖于外加电压V而与靶材料无关E=eV=hv=hc/λmin 式中：h—普朗克常数，h=6.626*10-34j.s

λmin=hc/eV=12.4/V(KV) c—光速，c=3.0*108m/s

e—电子电量，e=1.6*10-19C(库仑)

V（KV）—管电压单位（千伏）

连续谱中最大强度对应的波长λIM=1.5λmin

（6）X射线的产生效率ŋ等于连续射线的总强度I T与管电压V和管电流i的乘积之比，即：

ŋ =I T /Vi=K i ZV 式中：K i—比例常数

V —管电压

Z—原子序数

可见，X射线的产生效率与管电压和靶材料原子序数成正比。在其他条件相同的情况下，管电压越高，X射线产生效率越高;管电压的高压波形越接近恒压，X射线产生效率也越高。

（7）γ射线衰变规律：N=N o e-λT式中： N—衰变后强度

N o—初始强度

λ—比例系数（衰变常数）

T—时间

半衰期：放射性同位素衰变掉原有核数一半所需时间。用T1/2表示，单位（年）

T1/2=0.693/λ

（8）窄束，单色射线的强度衰减规律：I= I o e-uT式中：I—透射射线强度

I o—初始射线强度

u—材料的线衰减系数（cm-1）

T—透射厚度(cm)

半价层：是指使入射射线强度减少一半的吸收物质厚度。用T1/2表示，单位（年）

T1/2= 0.693/ u

（9）宽束，多色射线的强度衰减规律：I=I P+I S=I P(1+I S/I P)=I P(1+n) 考虑总的强度衰减结果，可以归纳以下关系式：I= I o e-uT

（10）宽束多色射线强度衰减规律：I= I o e-uT（1+n）式中： I—透射射线强度 I o—初始射线强度

Ln(I/I o)=-uT u—平均衰减系数（cm-1）

T—透射厚度(cm)

n —散射比

I S/I P

(11)对斜靶定向X射线管，其有效焦点面积S O=Ssinα

式中：靶与垂直管轴线平面的夹角，一般α=200所以近似关系式：S O=S/3 （12）黑度D定义为照射光强L O与透射光强L之比的常用对数值，即：

D=lg(L O/L)

L= L O/10D

(13)射线胶片的感光特性主要有：感光度（S），灰雾度（D O），梯度（G），宽容度（L），最大密度（D max）,这些特性可以在胶片特性曲线上定量表示。

感光度（S）：S=1/K S式中：K S为曝光量

梯度（G）：可用胶片特性曲线上某一点切线的斜率表示，此斜率称为胶片梯度G或称为胶片反差系数γ

平均梯度G=(D2-D1)/(lgE2-lgE1) 式中：E1—产生D1所需曝光量

E2—产生D2所需曝光量

宽容度（L）：指胶片有效黑度范围相对应的曝光范围。

L=10 lgE2-lgE1=E2/E1

（14）像质计是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。

以丝型像质计表示的射线照相的相对灵敏度K计算：

K=d/T*100% 式中：K丝型像质计的射线照相的相对灵敏度

T被检工件的穿透厚度，mm

D射线照相底片上可以辨认到的最细线的直径，mm

(15)射线照相对比度公式：△D=0.434Gu△T/(1+n)

（16）目前描述U,U g和U i比较广泛采用的关系式为：U=(U g2+U i2)1/2

(17)几何不清晰度U g U g=d f*b/(F-b) 式中：d f—焦点尺寸

F—焦点至胶片距离 b—缺陷至胶片距离

最大几何不清晰度：Ug max=d f*L2/(F-L2)=d f*L2/L1式中：F—焦点至胶片距离

L1—焦点至工件表面距离

L2—工件表面至胶片距离

固有不清晰度：U i=0.0013(Kv)0.79

（18）选择焦距的一般规则：焦距对射线照相灵敏度的影像主要表现在几何不清晰度上。

据 Ug=d f*L2/(F-L2)可知，焦距越大，Ug值越小，底片上的影像越清晰。在减小Ug值这点上，选择较小的射线源尺寸d f，可得到与增大焦距F相同的效果，因此在实际透照中选择焦距时，焦点尺寸是同时考虑的相关因素。

射线检测技术等级透照距离f(L1) U g值 A级f≥7.5d f b2/3 U g≤(2/15)b1/3

AB级f≥10d f b2/3 U g≤(1/10)b1/3 B级f≥15d f b2/3 U g≤(1/15)b1/3

最小焦距值F min=f+b(L1+L2)

（19）利用曝光因子的曝光量修正计算：

X射线：i1t1/F12=i2t2/F22

γ射线:A1t1/ F12= A2t2/F22

(20)透照方式的选择和一次透照长度的计算：

1，直缝透照：直缝即平板对接焊缝或筒体纵缝，即有：

K=T’/T=1/cosθ即θ=cos-1（1/K）

L3=2L1tanθ

对A级，AB级：K≤1.03，则θ≤13.86O，L3≤0.5 L1

对B级：K≤1.01，则θ≤8.07O, L3≤0.3 L1

搭接长度△L计算式：△L= L2L3/ L1

当L3=0.5L1时，△L=0.5L2；当L3=0.3L1时，△L=0.3L2

底片有效评定长度L eff= L3+△L

2，环缝一次透照长度及有关参数计算：

由透照次数N可求得一次透照长度：L3=∏ D/N

其中：外等分长度L3=∏ D O/N ; 内等分长度L3，=∏ D i/N

有效评定长度L eff= L3+△L（源在内）或L eff= L3，+△L（源在外）

源在内透照F≥R时，不需考虑搭接长度；源在内透照F≤R时，也可近似取源在外透照的数值。

源在外透照时，搭接长度△L的计算：△L=2Ttanθ, θ=cos-1（1/K）

K=1.06 θ=19.37o△L=0.7T

K=1.1 θ=24.62o△L=1T

K=1.2 θ=33.56o△L=1.4T

3,环缝单壁外透法的一次透照长度及有关参数：

采用外透法100%透照环缝时，N=180/α

α=θ-ŋ

θ=θ=cos-1