模电实验放大电路的频率响应
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实验四
实验目的;
实际放大电路采用阻容耦合方式时，研究电路的频率特性，了解 实际电路频率特性的测试方法和改善频率特性的方法。
实验仪器：
（1） 利用 Multisim 测定如下图所示电路（p256，图 p5.7b）, 晶体管采用高频小信号晶体管，如 ZTX321。 （2） 若函数发生器作信号源，在输入端接入 1K 电阻，等效为 信号源内阻；并用波特图测量幅频特Hale Waihona Puke Baidu。
大管的的集电极静态电流增大从而使电路的 上限频率增大。
实验内容：
（1） 设 C1=C2=10������������,分别测试他们所确定的下限频率； ①当 C1=10������������，C2=500������������时，所示电路图如下：
②波特图
③当 C1=500������������，C2=10������������时，电路图如下所示
④波特图
⑤当 C1=10μ F，C2=10μ F 时，电路图如下所示
波特图
（2） C1=C2=10������������时电路的频率响应及 C1， C2 取值时对低频特。 性的影响 ①电路图
②频率响应图
（3）放大管的集电极静态电流对上限频率的影响 ①电路图
②波特图
实验分析： A.当 C1=10μ F，C2=500μ F 时，所确定的下限频 率为 10Hz；当 C1=500μ F，C2=10μ F 时，所确定的下 限频率为 4.037Hz，当 C1=10μ F，C2=10μ F 时下限频 率为 10.024Hz。 B. 当 C1=10 μ F ， C2=10 μ F 时 ， 上 限 频 率 为 53.066MHz。 C．将输入电路的电阻 Rc=5K������改为 Rc=1KΩ 时上 限频率为 224.57MHz。 实验结论： 1. 实验表明，当耦合电容 C1=10μF，C2 从 10μ F 变到 500μ F 时，下限频率基本不变。 2. 将输入电路的电阻 Rc=5KΩ 改为 Rc=1KΩ 时上 限频率由 53.066MHz 变为 224.57MHz，即：放
实验目的;
实际放大电路采用阻容耦合方式时，研究电路的频率特性，了解 实际电路频率特性的测试方法和改善频率特性的方法。
实验仪器：
（1） 利用 Multisim 测定如下图所示电路（p256，图 p5.7b）, 晶体管采用高频小信号晶体管，如 ZTX321。 （2） 若函数发生器作信号源，在输入端接入 1K 电阻，等效为 信号源内阻；并用波特图测量幅频特Hale Waihona Puke Baidu。
大管的的集电极静态电流增大从而使电路的 上限频率增大。
实验内容：
（1） 设 C1=C2=10������������,分别测试他们所确定的下限频率； ①当 C1=10������������，C2=500������������时，所示电路图如下：
②波特图
③当 C1=500������������，C2=10������������时，电路图如下所示
④波特图
⑤当 C1=10μ F，C2=10μ F 时，电路图如下所示
波特图
（2） C1=C2=10������������时电路的频率响应及 C1， C2 取值时对低频特。 性的影响 ①电路图
②频率响应图
（3）放大管的集电极静态电流对上限频率的影响 ①电路图
②波特图
实验分析： A.当 C1=10μ F，C2=500μ F 时，所确定的下限频 率为 10Hz；当 C1=500μ F，C2=10μ F 时，所确定的下 限频率为 4.037Hz，当 C1=10μ F，C2=10μ F 时下限频 率为 10.024Hz。 B. 当 C1=10 μ F ， C2=10 μ F 时 ， 上 限 频 率 为 53.066MHz。 C．将输入电路的电阻 Rc=5K������改为 Rc=1KΩ 时上 限频率为 224.57MHz。 实验结论： 1. 实验表明，当耦合电容 C1=10μF，C2 从 10μ F 变到 500μ F 时，下限频率基本不变。 2. 将输入电路的电阻 Rc=5KΩ 改为 Rc=1KΩ 时上 限频率由 53.066MHz 变为 224.57MHz，即：放