数字电路实验要求与规范

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数字电路实验

数字电路实验

实验一基本门电路(验证型)一、实验目的(1)熟悉常用门电路的逻辑功能;(2)学会利用门电路构成简单的逻辑电路。

二、实验器材数字电路实验箱 1台;74LS00、74LS02、74LS86各一块三、实验内容及步骤1、TTL与非门逻辑功能测试(1)将四2输入与非门74LS00插入数字电路实验箱面板的IC插座上,任选其中一与非门。

输入端分别输入不同的逻辑电平(由逻辑开关控制),输出端接至LED“电平显示”输入端。

观察LED亮灭,并记录对应的逻辑状态。

按图1-1接线,检查无误方可通电。

图1-1表1-1 74LS00逻辑功能表2、TTL或非门、异或门逻辑功能测试分别选取四2输入或非门74LS02、四2输入异或门74LS86中的任一门电路,测试其逻辑功能,功能表自拟。

3、若要实现Y=A′, 74LS00、74LS02、74LS86将如何连接,分别画出其实验连线图,并验证其逻辑功能。

4、用四2输入与非门74LS00实现与或门Y=AB+CD的功能。

画出实验连线图,并验证其逻辑功能。

四、思考题1.TTL与非门输入端悬空相当于输入什么电平?2.如何处理各种门电路的多余输入端?附:集成电路引出端功能图实验二组合逻辑电路(设计型)一、实验目的熟悉简单组合电路的设计和分析过程。

二、实验器材数字电路实验箱 1台,74LS00 三块,74LS02、74LS04、74LS08各一块三、实验内容及步骤1、设计一个能比较一位二进制A与 B大小的比较电路,用X1、X2、X3分别表示三种状态:A>B时,X1=1;A<B时X2=1;A=B时X3=1。

(用74LS04、74LS08和74LS02实现)要求:(1)列出真值表;(2)写出函数逻辑表达式;(3) 画出逻辑电路图,并画出实验连线图;(4)验证电路设计的正确性。

2、测量组合电路的逻辑关系:(1)图3-2电路用3块74LS00组成。

按逻辑图接好实验电路,输入端A、B、C 分别接“逻辑电平”,输出端D、J接LED“电平显示”;图3-2 表3-2(2)按表3-2要求,将测得的输出状态和LED显示分别填入表内;(3)根据测得的逻辑电路真值表,写出电路的逻辑函数式,判断该电路的功能。

数字电路实训报告

数字电路实训报告

一、设计目的及要求:(一)实验目的:1. 通过实验培养学生的市场素质,工艺素质,自主学习的能力,分析问题解决问题的能力以及团队精神。

2. 通过本实验要求学生熟悉各种常用中规模集成电路组合逻辑电路的功能与使用方法,学会组装和调试各种中规模集成电路组合逻辑电路,掌握多片中小规模集成电路组合逻辑电路的级联、功能扩展及综合设计技术,使学生具有数字系统外围电路、接口电路方面的综合设计能力。

(二)实验要求1. 数字显示电路操作面板:左侧有16个按键,编号为0到15数字,面板右侧有2个共阳7段显示器。

2. 设计要求:当按下小于10的按键后,右侧低位7段显示器显示数字,左侧7段显示器显示0;当按下大于9的按键后,右侧低位7段显示器显示个位数字,左侧7段显示器显示1。

若同时按下几个按键,优先级别的顺序是15到0。

二、电路框图及原理图原理图概要:数字显示电路由键盘、编码、码制转换、译码显示组成。

各部分作用:1. 键盘:用于0~15数字的输入。

可以由16个自锁定式的按键来排列成4×4键盘。

2.编码:采用两片74ls148级联来完成对0~15的编码,并且是具有优先级的编码。

3.码制转换:本电路采用了2个74ls00、1个74ls04、1个74ls283来完成对0~15出事编码的码制转换,转换成个位与十位的8421bcd码,为下一步的解码做准备。

4.译码显示:本电路采用了两个74ls47分别对码制转换后的bcd码进行译码,并且由这两个芯片分别驱动两片七段共阳极数码管。

原理图:三、设计思想及基本原理分析:篇二:数电实验实验报告数字电路实验报告院系:电气工程学院专业:电气工程极其自动化班级:09级7班姓名:王哲伟学号:2009302540221 实验一组合逻辑电路分析一.试验用集成电路引脚图74ls00集成电路 74ls20集成电路四2输入与非门双4输入与非门二.实验内容 1.实验一x1abdabcd按逻辑开关,“1”表示高电平,“0”表示低电平2.5 vc示灯:灯亮表示“1”,灯灭表示“0”自拟表格并记录: 2.实验二密码锁的开锁条件是:拨对密码,钥匙插入锁眼将电源接通,当两个条件同时满足时,开锁信号为“1”,将锁打开。

《数字电路》实验报告

《数字电路》实验报告

《数字电路》实验报告项目一逻辑状态测试笔的制作一、项目描述本项目制作的逻辑状态测试笔,由集成门电路芯片74HC00、发光二极管、电阻等元器件组成,项目相关知识点有:基本逻辑运算、基本门电路、集成逻辑门电路等;技能训练有:集成逻辑二、项目要求用集成门电路74HC00制作简易逻辑状态测试笔。

要求测试逻辑高电平时,红色发光二极管亮,测试逻辑低电平时绿色发光二极管亮。

三、原理框图四、主要部分的实现方案当测试探针A测得高电平时,VD1导通,三级管V发射级输出高电平,经G1反相后,输出低电平,发光二级管LED1导通发红光。

又因VD2截止,相当于G1输入端开路,呈高电平,输出低电平,G3输出高电平,绿色发光二级管LED2截止而不发光。

五、实验过程中遇到的问题及解决方法(1)LED灯不能亮:检查硬件电路有无接错;LED有无接反;LED有无烧坏。

(2)不能产生中断或中断效果:检查硬件电路有无接错;程序中有无中断入口或中断子程序。

(3)输入电压没有反应:数据原理图有没有连接正确,检查显示部分电路有无接错;4011逻辑门的输入端有无浮空。

六、心得体会第一次做的数字逻辑试验是逻辑状态测试笔,那时什么都还不太了解,听老师讲解完了之后也还不知道从何下手,看到前面的人都起先着手做了,心里很焦急可就是毫无头绪。

老师说要复制一些文件协助我们做试验(例如:试验报告模板、试验操作步骤、引脚等与试验有关的文件),还让我们先画原理图。

这时,关于试验要做什么心里才有了一个模糊的框架。

看到别人在拷贝文件自己又没有U盘只好等着借别人的用,当然在等的时候我也画完了逻辑测试笔的实操图。

后面几次都没有过,但最后真的发觉试验的次数多了,娴熟了,知道自己要做的是什么,明确了目标,了解了方向,其实也没有想象中那么困难。

七、元器件一逻辑状态测试笔电路八、附实物图项目二多数表决器电路设计与制作一、项目描述本项目是以组合逻辑电路的设计方法,用基本门电路的组合来完成具有多数表决功能的电路。

数字电路实验报告-实验一[总结]

数字电路实验报告-实验一[总结]

实验一数字电路实验基础一、实验目的⑴掌握实验设备的使用和操作⑵掌握数字电路实验的一般程序⑶了解数字集成电路的基本知识二、预习要求复习数字集成电路相关知识及与非门、或非门相关知识三、实验器材⑴直流稳压电源、数字逻辑电路实验箱、万用表⑵74LS00、74LS02、74LS48四、实验内容和步骤1、实验数字集成电路的分类及特点目前,常用的中、小规模数字集成电路主要有两类。

一类是双极型的,另一类是单极型的。

各类当中又有许多不同的产品系列。

⑴双极型双极型数字集成电路以TTL电路为主,品种丰富,一般以74(民用)和54(军用)为前缀,是数字集成电路的参考标准。

其中包含的系列主要有:▪标准系列——主要产品,速度和功耗处于中等水平▪LS系列——主要产品,功耗比标准系列低▪S系列——高速型TTL、功耗大、品种少▪ALS系列——快速、低功耗、品种少▪AS系列——S系列的改进型⑵单极型单极型数字集成电路以CMOS电路为主,主要有4000/4500系列、40H系列、HC系列和HCT系列。

其显著的特点之一是静态功耗非常低,其它方面的表现也相当突出,但速度不如TTL集成电路快。

TTL产品和CMOS产品的应用都很广泛,具体产品的性能指标可以查阅TTL、CMOS集成电路各自的产品数据手册。

在本实验课程中,我们主要选用TTL数字集成电路来进行实验。

2、TTL集成电路使用注意事项⑴外形及引脚TTL集成电路的外形封装与引脚分配多种多样,如附录中所示的芯片封装形式为双列直插式(DIP)。

芯片外形封装上有一处豁口标志,在辨认引脚分配时,芯片正面(有芯片型号的一面)面对自己,将此豁口标志朝向左手侧,则芯片下方左起的第一个引脚为芯片的1号引脚,其余引脚按序号沿芯片逆时针分布。

⑵电源每片集成电路芯片均需要供电方能正常使用其逻辑功能,供电电源为+5V单电源。

电源正端(+5V)接芯片的VCC引脚,电源负端(0V)接芯片的GND引脚,两者不允许接反,否则会损坏集成电路芯片。

数字电路实验报告

数字电路实验报告

数字电路实验报告实验目的本实验的目的是通过对数字电路的实际操作,加深对数字电路原理和实验操作的理解。

通过实验,理论联系实际,加深学生对数字电路设计和实现的认识和理解。

实验内容本次实验的实验内容主要包括以下几个方面:1.数码管显示电路实验2.时序电路实验3.组合电路实验实验仪器和器材本次实验所使用的仪器和器材包括:•真空发光数字数码管•通用数字逻辑芯片•实验箱•数字电路设计软件•示波器数码管显示电路实验在数码管显示电路实验中,我们将使用真空发光数字数码管和逻辑芯片来实现数字数码管的显示功能。

具体的实验步骤如下:1.按照实验箱上的电路图,将逻辑芯片及其它所需器件正确连接。

2.通过数字电路设计软件,编写和下载逻辑芯片的程序。

3.观察数码管的显示效果,检查是否符合预期要求。

时序电路实验时序电路是数字电路中非常重要的一部分,通过时序电路可以实现各种各样的功能。

在时序电路实验中,我们将通过设计一个简单的计时器电路来学习时序电路的设计和实现。

具体的实验步骤如下:1.在实验箱上按照电路图连接逻辑芯片及其它所需器件。

2.通过数字电路设计软件,编写和下载逻辑芯片的程序。

3.通过示波器观察时序电路的波形,检查是否符合设计要求。

组合电路实验组合电路是由多个逻辑门组合而成的电路,可以实现各种逻辑功能。

在组合电路实验中,我们将使用逻辑芯片和其他器件,设计并实现一个简单的闹钟电路。

具体的实验步骤如下:1.在实验箱上按照电路图连接逻辑芯片及其它所需器件。

2.通过数字电路设计软件,编写和下载逻辑芯片的程序。

3.测试闹钟电路的功能和稳定性,检查是否符合设计要求。

实验结果与分析通过以上的实验,我们成功地实现了数码管显示、时序电路和组合电路的设计和实现。

实验结果表明,在正确连接逻辑芯片和其他器件,并编写正确的程序的情况下,我们可以实现各种各样的数字电路功能。

通过实验过程中的观察和测试,我们也发现了一些问题和改进的空间。

例如,在时序电路实验中,我们发现时序电路的波形不够稳定,可能需要进一步优化。

数字电路实验注意事项及基本要求

数字电路实验注意事项及基本要求

数字电路实验注意事项及基本要求1.1数字集成电路的分类、特点及注意问题当今,数字电子电路几乎已完全集成化了。

因此,充分掌握和正确使用数字集成电路,用以构成数字逻辑系统,就成为数字电子技术的核心内容之一。

集成电路按集成度可分为小规模、中规模、大规模和超大规模等。

小规模集成电路(SSI)是在一块硅片上制成约1~10个门,通常为逻辑单元电路,如逻辑门、触发器等。

中规模集成电路(MSI)的集成度约为10~100门/片,通常是逻辑功能电路,如译码器、数据选择器、计数器、寄存器等。

大规模集成电路(LSI)的集成度约为100门/片以上,超大规模(VLSI)约为1000门/片以上,通常是一个小的数字逻辑系统。

现已制成规模更大的极大规模集成电路。

数字集成电路还可分为双极型电路和单极型电路两种。

双极型电路中有代表性的是TTL电路;单极型电路中有代表性的是CMOS电路。

国产TTL集成电路的标准系列为CT54/74系列或CT0000系列,其功能和外引线排列与国际54/74系列相同。

国产CMOS集成电路主要为CC(CH)4000系列,其功能和外引线排列与国际CD4000系列相对应。

高速CMOS系列中,74HC和74HCT系列与TTL74系列相对应,74HC4000系列与CC4000系列相对应。

必须正确了解集成电路参数的意义和数值,并按规定使用。

特别是必须严格遵守极限参数的限定,因为即使瞬间超出,也会使器件遭受损坏。

TTL器件的特点:1.输入端一般有钳位二极管,减少了反射干扰的影响。

2.输出电阻低,增强了带容性负载的能力。

3.有较大的噪声容限。

4.采用+5V的电源供电。

为了正常发挥器件的功能,应使器件在推荐的条件下工作,对CT0000系列(74LS系列)器件,主要有:(1)电源电压应4.75~5.25V的范围内。

(2)环境温度在00C~700C之间。

(3)高电平输入电压VIH>2V,低电平输入电压VSL<0.8V。

数字电路实验报告

数字电路实验报告

数字电路实验报告实验一组合逻辑电路分析一.实验目的1.熟悉基本逻辑电路的特点。

2.熟悉各类门的实物元件以及元件的使用和线路连接。

3.学会分析电路功能。

二.实验原理1.利用单刀双掷开关的双接点,分别连接高电平和低电平,开关的掷点不同,门电路输入的电平也不同。

2.门电路的输出端连接逻辑指示灯,灯亮则输出为高电平,灯灭则输出低电平。

3.依次通过门电路的输入电平与输出电平,分析门电路的逻辑关系和实现的逻辑功能。

三.实验元件1.74LS00D2.74LS20D四、实验内容⑴组合逻辑电路分析XLC1组合逻辑电路分析真值表由实验逻辑电路图可知:输出CD AB CD AB X +=∙=1 ,同样,由真值表也能推出此方程,说明此逻辑电路具有与或功能。

⑵密码锁问题密码锁的开锁条件是:拨对密码,钥匙插入锁眼将电源接通,当两个条件同时满足时,开锁信号为“1”,将锁打开。

否则,报警信号为“1”,则接通警铃。

试分析密码锁的密码ABCD 是什么?VCC实验结果分析:由真值表可知:当ABCD 为1001时,灯X1亮,灯X2灭;其他情况下,灯X1灭,灯X2亮。

由此可见,该密码锁的密码ABCD 为1001。

因而,可以得到:D C B A X =1,12X X =。

实验二 组合逻辑实验(一)半加器和全加器一、实验目的1.熟悉用门电路设计组合电路的原理和方法步骤。

二、预习内容1.复习用门电路设计组合逻辑电路的原理和方法步骤。

2.复习二进制数的运算。

(1)用“与非”门设计半加器的逻辑图。

(2)完成用“异或”门、“与或非”门、“与非”门设计全加器的逻辑图。

(3)完成用“异或”门设计的3变量判奇电路的原理图。

三、参考元件1.74LS283(集成超前4位进位加法器)2.74LS00 (四2输入与非门)3.74LS51 (双与或非门)4.74LS136(四2输入异或门)四、实验内容⑴用与非门组成半加器 由理论课知识可知:i i i i i i i i i i i i i B B A A B A B A B A B A S ∙∙∙=+=⊕= i i i i i B A B A C ==根据上式,设计如下电路图:得到实验数据表格所得如下:⑵用异或门、与或非门、与非门组成全加器 由理论课知识可知:i S =1i i i A B C -⊕⊕i C =1()i i i i i A B A B C -+⊕ 根据上式,设计如下电路:XLC1实验数据表格所得如下:0 1 0 1 0 1 00 1 1 0 0 1- 0 0 0 0 1 1 0 1 1 0 1 0 011⑶用异或门设计3变量判奇电路,要求变量中1的个数为奇数时,输出为1,否则为0。

北邮数字电路实验-投骰子游戏

北邮数字电路实验-投骰子游戏

数电综合实验报告掷骰子游戏电路的设计与实现姓名:xxx班级:xxx学号:xxx目录数电综合实验报告掷骰子游戏电路的设计与实现 (1)一、实验要求: (3)基本要求: (3)提高要求: (3)二、系统设计 (3)设计思路 (3)总体框图 (3)三、仿真波形及波形分析 (7)四、源程序 (7)五、功能说明及资源利用情况 (19)功能说明 (19)资源利用情况 (20)六、故障及问题分析 (20)七、实验结果显示 (21)八、总结和结论 (22)一、实验要求:基本要求:1、电路可供甲乙二人游戏,游戏者甲使用的按键是BTN0,游戏者乙使用的按键为BTN1。

2、每按一次按键,代表掷一次骰子,可随机得到1~6范围内的两个数字。

3、甲乙按键产生的随机数字分别用数码管DISP0~DISP1、DISP2~DISP3显示,并用DISP7显示比赛局数,比赛结束用8×8点阵显示获胜方,并伴有声音效果。

4、具体游戏规则如下:(1)第一局比赛,甲乙依次各按一次按键,按键所得两数之和为7或11者胜;若无人取胜,则进行第二局比赛;(2)第二局比赛,甲乙每人各按一次按键,按键所得二数之和与第一局比赛相同者获胜,若无人获胜,则进行第三局比赛,重复进行步骤(2),直到出现胜者为止。

(3)游戏局数最多进行六局。

在第六局比赛时,若重复进行步骤(2)仍未出现胜者,以按键所得两数之和最大者为获胜方。

提高要求:1、增加多人游戏的功能,数码管可分时记录显示每个游戏者的骰子点数。

2、点阵显示增加游戏开机动画、结束动画,并伴有乐曲播放。

3、自拟其它功能。

二、系统设计设计思路在设计该游戏时,我采用了自顶向下的设计方法,首先分析了这个掷骰子游戏的基本功能就是按照上述的游戏要求设计,然后看这个系统结构该怎么分解,会产生哪些系统模型和子模块,根据上述要求最终我决定将该系统分解成以下五个模块:随机数产生模块、按键赋值模块、数码管显示模块、状态判断模块、结果输出(点阵和蜂鸣器)模块,最后具体到各个模块该怎么实现,及代码的编写。

数字电子技术(数电) 门电路逻辑功能测试实验要求指导书

数字电子技术(数电)  门电路逻辑功能测试实验要求指导书

实验一 门电路逻辑功能测试一、实验目的1.掌握CMOS 、TTL 集成与非门的逻辑功能测试方法。

2.掌握CMOS 、TTL 器件的使用规则。

3.熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法 二、实验内容1.验证CMOS (TTL )集成与非门74HC00(74LS00)的逻辑功能。

2.74HC00(74LS00)电压传输特性测试。

三、实验设备及器件数字电路实验台、74HC00(74LS00)、万用表 四、实验原理1.芯片介绍本实验采用二输入四与非门74HC00(74LS00),在一块集成块内含有四个相互独立的与非门,每个与非门有两个输入端,其引脚排列如图1所示。

图1 74LS00(74HC00)引脚图 与非门的逻辑功能实:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有0得1,全1得0)。

2.74HC00(74LS00)电压传输特性门的输出电压V O 随输入电压V I 而变化的曲线,称为门的电压传输特性,通过它可以读得门电路的一些重要参数,如输出高电平V OH 、输出低电平V OL 、阈值电压V TH 、及抗干扰容限等值。

测试电路如图2所示。

采用逐点测试法,及调节滑动变阻器,逐点测得V I和V O,然后绘制曲线。

图2 74HC00(74LS00)电压传输特性测试电路五、实验步骤1. 测试74HC00(74LS00)的逻辑功能门的输入端接逻辑电平开关输出插口,以提供0与1电平信号,开关向上,输出为逻辑1,向下为逻辑0。

门的输出端接由LED发光二极管组成的逻辑电平显示器(又称0-1指示器)的显示插口,LED亮为逻辑1,不亮为逻辑0。

按表1逐个测试集成块中与非门的逻辑功能,判断芯片逻辑功能是否正常。

表1 74HC00(74LS00)逻辑功能2. 测试相关数据,并绘制电压传输特性曲线图。

按图2接线,调节电位器RW,使VI 从0V向高电平变化,逐点测得VI和VO的对应值,记入表2中(芯片采用TTL门电路74LS00时,记入表3中)。

《数字电路EDA设计》实验大纲

《数字电路EDA设计》实验大纲

实践(实训)内容实训一:Quartus II开发软件安装与使用1、实验内容1)Quartus II开发软件安装2)Quartus II开发软件功能认识3)Quartus II开发软件基本设计流程2、基本要求1)掌握Quartus II开发软件的安装方法2)了解Quartus II开发软件的基本功能界面包括:原理图、符号、文字、波形、引脚平面编辑器、信息窗口、体系显示、编译、烧写、时间分析窗口。

3)初步学会使用Quartus II开发软件创建、保存文件、编译、综合和仿真等4)认识元件库的可编程器件实训二: VHDL程序设计(1)1、实验内容VHDL功能语句的认识,包括类属参数说明语句、端口、BLOCK语句、进程、子程序。

2、基本要求练习语句输入、掌握其在程序当中的功能特点实训三:VHDL程序设计(2)1、实验内容1)程序包、库、配置语句2)并行语句、顺序语句3)VHDL语言的运算操作符,包括逻辑运算符、算术运算符、关系运算符1、基本要求理解上述语句和运算符的用途实训四:组合逻辑电路设计(1)1实验内容1)基本门电路2)半加器、全加器2、基本要求1)了解电路逻辑原理2)用原理图输入法进行设计3)用文本输入法(VHDL程序)进行设计4)仿真结果实训五:组合逻辑电路设计(2)1、实验内容1)6位加法器2)4位加减法器3)3位乘法器2、基本要求1)了解电路逻辑原理2)用原理图输入法进行设计3)用文本输入法(VHDL程序)进行设计4)仿真结果实训六:时序逻辑电路设计(1)1、实验内容1)JK触发器2)同步清零的计数器3)串入/串出移位寄存器2、基本要求1)了解电路逻辑原理2)用原理图输入法进行设计3)用文本输入法(VHDL程序)进行设计4)仿真结果实训七:时序逻辑电路设计(2)1、实验内容1)循环移位寄存器2)6位双向移位寄存器3)有限状态机设计(莫尔型、米里型)2、基本要求1)采用VHDL设计2)仿真结果实训八:分频器设计1、实验内容设计一个半整数分频器2、基本要求1)学会分频器设计的方法2)用VHDL语言设计程序3)仿真结果4)下载到实验箱进行验证实训九:音乐发生器设计1、实验内容设计一个音乐发生器2、基本要求1)了解音乐发生器的电路组成及工作原理2)用VHDL语言设计程序3)仿真结果4)下载到实验箱进行验证实训十: 2FSK/2PSK 信号产生器设计1、实验内容设计2FSK/2PSK 信号产生器2、基本要求1)用VHDL语言设计程序2)仿真结果3)下载到实验箱进行验证实训十一:多功能电子表设计1、实验内容设计一个具有多功能电子表,其功能包括:数字钟、数字跑表、调时、闹钟设置、日期设置2、基本要求1)用VHDL语言设计程序2)仿真结果3)下载到实验箱进行验证实训十二: A/D 变换控制器的设计1、实验内容设计设计一个控制器控制ADC0809,使其正常工作。

数电实验——精选推荐

数电实验——精选推荐

实验一门电路一、实验目的1. 熟练掌握用示波器观察波形和测量时间参数的方法。

2. 熟练掌握数字电子技术学习机的使用方法。

3.正确理解TTL与非门(74系列)的逻辑功能、外部特性及主要的技术指标,掌握验证与非门逻辑功能及测量外部特性的方法。

二、实验设备示波器,信号发生器,万用表,学习机。

三、设计要求74LS10与非门电压要求,管脚排列参见附录电源电压Vcc:5V±0.5V高电平输入电压:VIH>2V低电平输入电压:VIL<0.8V1. 测试与非门的逻辑功能2. 与非门外特性的测试(1)电压传输特性的测试电压传输特性是指输出电压Vo随输入电压Vi变化的规律。

Vo=f(Vi)设计测试电路图,自制数据表格。

改变Rw的值,测量Vo与Vi,填入自制表中。

画出特性曲线,并找出输出的高低电平(VOH 和VOL)。

(2)输入特性的测试Ii=f(Vi)设计测试电路图,自制数据表格。

改变Rw,测Ii和Vi。

画出特性曲线,并找出输入短路电流ILS 和输入高电平电流IIH。

(3)输入负载特性的测试Vi=f(Rw)方法同上。

(4)高电平输出特性的测试V OH =f(Io)|Vi=低电平方法同上。

当IOH =400uA时,测出VOH的值。

高电平输出特性测试到此点为止。

(5)低电平输出特性的测试V OL =f(Io) |Vi=高电平方法同上。

当VOL =0.2V时,测Io的值,记为IOL,IOL就是允许灌入与非门的最大电流。

3. 与非门动态参数平均传输延迟时间tpd与非门可以作为非门使用。

由于输入与输出之间存在传输延迟,所以将3个门(或奇数门)首尾相接就构成一个环形振荡器。

如图1-1所示。

由分析可知,这个电路的振荡周期和非门的平均延迟时间的关系为tpd≈T/6。

用示波器测出其振荡频率,(若比频率太高,可适当增加非门的个数,可以降低频率),即可求得门电路的tpd值。

图1-1环形振荡器四、设计和实验方法1. 用示波器测量平均传输延迟时间tpd时,结合示波器时间量程扩大5倍的旋钮进行测量周期。

数字电路实验指导书

数字电路实验指导书

数字逻辑电路实验指导书南京师范大学计算机系2017.10数字逻辑电路实验Digital Logic Circuits Experiments一、实验目的要求:数字逻辑电路实验是计算机科学与技术专业的基础实验,与数字逻辑电路理论课程同步开设(不单独设课),是理论教学的深化和补充,同时又具有较强的实践性,其目的是通过若干实验项目的学习,使学生掌握数字电子技术实验的基本方法和实验技能,培养独立分析问题和解决问题的能力。

二、实验主要内容:教学内容分为基础型、综合型,设计型和研究型,教学计划分为多个层次,学生根据其专业特点和自己的能力选择实验,1~2人一组。

但每个学生必须选做基础型实验,综合型实验,基础型实验的目的主要是培养学生正确使用常用电子仪器,掌握数字电路的基本测试方法。

按实验课题要求,掌握设计和装接电路,科学地设计实验方法,合理地安排实验步骤的能力。

掌握运用理论知识及实践经验排除故障的能力。

综合型实验的目的就是培养学生初步掌握利用EDA 软件的能力,并以可编程器件应用为目的,培养学生对新技术的应用能力。

初步具有撰写规范技术文件能力。

设计型实验的目的就是培养学生综合运用已经学过的电子技术基础课程和EDA软件进行电路仿真实验的能力,并设计出一些简单的综合型系统,同时在条件许可的情况下,可开设部分研究型实验,其目的是利用先进的EDA软件进行电路仿真,结合具体的题目,采用软、硬件结合的方式,进行复杂的数字电子系统设计。

数字逻辑电路实验实验1 门电路逻辑功能测试实验预习1 仔细阅读实验指导书,了解实验内容和步骤。

2 复习门电路的工作原理及相应逻辑表达式。

3 熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。

4 熟悉TTL门电路逻辑功能的测试。

5 了解数字逻辑综合实验装置的有关功能和使用方法。

实验目的1 熟悉数字逻辑实验装置的有关功能和使用方法。

2 熟悉双踪示波器的有关功能和使用方法。

3 掌握门电路的逻辑功能,熟悉其外形和外引线排列。

数字电路实验

数字电路实验

数字电路实验实验⼀:数字实验箱的基本操作⼀、实验⽬的1、熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能和使⽤⽅法。

2、理解数字电路及数字信号的特点。

3、掌握数字电路的基本搭建⽅法4、熟悉数字电路实验的操作要求和规范。

⼆、实验设备与仪器数字电路实验箱、数字式万⽤表。

三、实验原理1、七段显⽰译码器——CC4511引脚图如图1-1⽰。

V DD f g a b c d e图1-1 七段显⽰译码器——CC4511第8脚为负极,16脚为电源正极,A、B、C、D为BCD码输⼊端,a、b、c、d、e、f、g、h 为译码输出端,输出1有效,⽤于驱动共阴极LED数码管2、七段数码显⽰器(共阴极)结构图如下图所⽰。

四、实验内容及⽅法1、熟悉数字实验箱的组成和各部分的基本作⽤。

2、将实验箱中的四组拨码开关的输出A i、B i、C i、D i分别接⾄CC4511的对应输⼊⼝,接上+5V电源,然后按功能表的要求揿动四个数码的增减键和操作三个开关,观测盘上的四位数与LED数码管显⽰的对应数字是否⼀致,以及译码显⽰是否正常,记⼊表4.10。

五、实验思考题1.拨码开关的输出A i、B i、C i、D i的优先级别是怎么排列的,⽽CC4511的对应输⼊⼝A、B、C、D的优先级别⼜是怎么样的。

六、总结实验⼆、组合逻辑电路的设计与测试(1)(利⽤⼩规模集成芯⽚)⼀、实验⽬的1、掌握组合逻辑电路的分析和设计⽅法。

2、学习并掌握⼩规模芯⽚(SSI)的基本测试⽅法及实现各种组合逻辑电路的⽅法。

3、学习⽤仪器检测故障,排除故障。

⼆、实验设备与仪器数字电路实验箱、数字式万⽤表、74LS00⼀⽚(四2输⼊与⾮门)、74LS20(⼆4输⼊与⾮门)两⽚。

三、实验原理1.分析逻辑电路的⽅法:根据逻辑电路图---写出逻辑表达式---化简逻辑表达式(公式法、卡诺图法)---画出逻辑真值表---分析得出逻辑电路解决的实际问题(逻辑功能)。

2.设计组合电路的⼀般步骤如图2-1所⽰。

数电项目实验报告(3篇)

数电项目实验报告(3篇)

第1篇一、实验目的1. 理解数字电路的基本概念和组成原理。

2. 掌握常用数字电路的分析方法。

3. 培养动手能力和实验技能。

4. 提高对数字电路应用的认识。

二、实验器材1. 数字电路实验箱2. 数字信号发生器3. 示波器4. 短路线5. 电阻、电容等元器件6. 连接线三、实验原理数字电路是利用数字信号进行信息处理的电路,主要包括逻辑门、触发器、计数器、寄存器等基本单元。

本实验通过搭建简单的数字电路,验证其功能,并学习数字电路的分析方法。

四、实验内容及步骤1. 逻辑门实验(1)搭建与门、或门、非门等基本逻辑门电路。

(2)使用数字信号发生器产生不同逻辑电平的信号,通过示波器观察输出波形。

(3)分析输出波形,验证逻辑门电路的正确性。

2. 触发器实验(1)搭建D触发器、JK触发器、T触发器等基本触发器电路。

(2)使用数字信号发生器产生时钟信号,通过示波器观察触发器的输出波形。

(3)分析输出波形,验证触发器电路的正确性。

3. 计数器实验(1)搭建异步计数器、同步计数器等基本计数器电路。

(2)使用数字信号发生器产生时钟信号,通过示波器观察计数器的输出波形。

(3)分析输出波形,验证计数器电路的正确性。

4. 寄存器实验(1)搭建移位寄存器、同步寄存器等基本寄存器电路。

(2)使用数字信号发生器产生时钟信号和输入信号,通过示波器观察寄存器的输出波形。

(3)分析输出波形,验证寄存器电路的正确性。

五、实验结果与分析1. 逻辑门实验通过实验,验证了与门、或门、非门等基本逻辑门电路的正确性。

实验结果表明,当输入信号满足逻辑关系时,输出信号符合预期。

2. 触发器实验通过实验,验证了D触发器、JK触发器、T触发器等基本触发器电路的正确性。

实验结果表明,触发器电路能够根据输入信号和时钟信号产生稳定的输出波形。

3. 计数器实验通过实验,验证了异步计数器、同步计数器等基本计数器电路的正确性。

实验结果表明,计数器电路能够根据输入时钟信号进行计数,并输出相应的输出波形。

数字电路实验指导书(14级数计软工)

数字电路实验指导书(14级数计软工)

计算机硬件基础实验指导书(2014级数计软工)每组2人;每个实验完成后,必须于下个实验前提交实验报告(纸质版)。

附录一数字电路实验箱的使用说明附录二数字电路实验器件引脚排列图实验仪器及实验器件需求每台实验箱需配备:1个示波器,1个面包板,1个万用表,1个电位器(可能实验箱上本身就有),若干导线。

所需芯片如下:(每台)74LS00 与非门1片74LS86 异或门1片74LS125 三态门1片74LS08 与门1片74LS04 非门1片74LS20 与非门3片74LS283 全加器1片74LS138 译码器1片74LS151 数据选择器1片74LS74 D触发器1片74LS112 JK触发器1片74LS161 计数器2片1、电子技术测量仪器的使用及门电路逻辑功能测试熟悉示波器和数字电路实验箱的使用方法,掌握脉冲信号参数的测试方法。

了解集成电路的外引线排列及其使用方法,测试各种逻辑门电路的逻辑功能。

一、实验目的了解数字实验箱的原理,掌握其使用方法了解TTL器件和CMOS器件的使用特点掌握基本门电路逻辑功能的测试方法二、实验仪器及实验器件器件:YB3262实验箱,YB4325示波器,1片74LS00与非门,1个万用表,1片74LS86异或门,1片74LS125三态缓冲器,1片74LS08与门,导线若干。

三、实验内容(1)数字实验箱的使用(参考附录一)用万用表测出固定直流稳压源的出去电压值。

用万用表分别测出十六路高低电平信号源和单次脉冲信号源的高低电平值,并观察单次脉冲前后沿(即输出波形的上升和下降时间)的变化。

分别用十六路高低电平信号源和单次脉冲信号源检查十二路高低电平指示灯的好坏。

用十六路高低电平信号源测试七段数码管的工作情况,观察是否正确显示0-9十个数码。

(2)分别写出74LS00,74LS86,74LS08,74LS125的逻辑表达式,列出其真值表,并分别对其逻辑功能进行静态测试。

74LS125三态缓冲器的逻辑功能为:E’为使能端,低电平有效。

数电的小实验报告(3篇)

数电的小实验报告(3篇)

第1篇一、实验目的1. 熟悉数字电路实验的基本操作流程;2. 掌握基本数字电路的组成和原理;3. 培养动手能力和问题解决能力。

二、实验设备1. 数字电路实验箱;2. 万用表;3. 导线;4. 面包板;5. 计算器。

三、实验内容1. 基本逻辑门电路实验2. 组合逻辑电路实验3. 时序逻辑电路实验四、实验原理1. 基本逻辑门电路:逻辑门电路是数字电路的基础,包括与门、或门、非门、异或门等。

通过这些逻辑门电路的组合,可以实现复杂的逻辑功能。

2. 组合逻辑电路:组合逻辑电路由基本逻辑门电路组成,其输出仅取决于当前输入信号。

常见的组合逻辑电路有编码器、译码器、多路选择器等。

3. 时序逻辑电路:时序逻辑电路由触发器组成,其输出不仅取决于当前输入信号,还与电路的历史状态有关。

常见的时序逻辑电路有计数器、寄存器、触发器等。

五、实验步骤1. 基本逻辑门电路实验(1)按照实验指导书的要求,搭建与门、或门、非门、异或门等逻辑门电路;(2)使用万用表测量各逻辑门的输入、输出电压;(3)根据实验数据,验证各逻辑门的功能。

2. 组合逻辑电路实验(1)按照实验指导书的要求,搭建编码器、译码器、多路选择器等组合逻辑电路;(2)使用万用表测量各组合逻辑电路的输入、输出电压;(3)根据实验数据,验证各组合逻辑电路的功能。

3. 时序逻辑电路实验(1)按照实验指导书的要求,搭建计数器、寄存器、触发器等时序逻辑电路;(2)使用万用表测量各时序逻辑电路的输入、输出电压;(3)根据实验数据,验证各时序逻辑电路的功能。

六、实验结果与分析1. 基本逻辑门电路实验实验结果显示,与门、或门、非门、异或门等逻辑门电路的功能与理论分析一致。

2. 组合逻辑电路实验实验结果显示,编码器、译码器、多路选择器等组合逻辑电路的功能与理论分析一致。

3. 时序逻辑电路实验实验结果显示,计数器、寄存器、触发器等时序逻辑电路的功能与理论分析一致。

七、实验总结通过本次实验,我熟悉了数字电路实验的基本操作流程,掌握了基本数字电路的组成和原理,提高了动手能力和问题解决能力。

数电综合实验报告(3篇)

数电综合实验报告(3篇)

第1篇一、实验目的1. 巩固和加深对数字电路基本原理和电路分析方法的理解。

2. 掌握数字电路仿真工具的使用,提高设计能力和问题解决能力。

3. 通过综合实验,培养团队合作精神和实践操作能力。

二、实验内容本次实验主要分为以下几个部分:1. 组合逻辑电路设计:设计一个4位二进制加法器,并使用仿真软件进行验证。

2. 时序逻辑电路设计:设计一个4位计数器,并使用仿真软件进行验证。

3. 数字电路综合应用:设计一个数字时钟,包括秒、分、时显示,并使用仿真软件进行验证。

三、实验步骤1. 组合逻辑电路设计:(1)根据题目要求,设计一个4位二进制加法器。

(2)使用Verilog HDL语言编写代码,实现4位二进制加法器。

(3)使用ModelSim软件对加法器进行仿真,验证其功能。

2. 时序逻辑电路设计:(1)根据题目要求,设计一个4位计数器。

(2)使用Verilog HDL语言编写代码,实现4位计数器。

(3)使用ModelSim软件对计数器进行仿真,验证其功能。

3. 数字电路综合应用:(1)根据题目要求,设计一个数字时钟,包括秒、分、时显示。

(2)使用Verilog HDL语言编写代码,实现数字时钟功能。

(3)使用ModelSim软件对数字时钟进行仿真,验证其功能。

四、实验结果与分析1. 组合逻辑电路设计:通过仿真验证,所设计的4位二进制加法器能够正确实现4位二进制加法运算。

2. 时序逻辑电路设计:通过仿真验证,所设计的4位计数器能够正确实现4位计数功能。

3. 数字电路综合应用:通过仿真验证,所设计的数字时钟能够正确实现秒、分、时显示功能。

五、实验心得1. 通过本次实验,加深了对数字电路基本原理和电路分析方法的理解。

2. 掌握了数字电路仿真工具的使用,提高了设计能力和问题解决能力。

3. 培养了团队合作精神和实践操作能力。

六、实验改进建议1. 在设计组合逻辑电路时,可以考虑使用更优的电路结构,以降低功耗。

2. 在设计时序逻辑电路时,可以尝试使用不同的时序电路结构,以实现更复杂的逻辑功能。

数字系统电路实验报告(3篇)

数字系统电路实验报告(3篇)

第1篇一、实验目的1. 理解数字系统电路的基本原理和组成。

2. 掌握数字电路的基本实验方法和步骤。

3. 通过实验加深对数字电路知识的理解和应用。

4. 培养学生的动手能力和团队合作精神。

二、实验原理数字系统电路是由数字逻辑电路构成的,它按照一定的逻辑关系对输入信号进行处理,产生相应的输出信号。

数字系统电路主要包括逻辑门电路、触发器、计数器、寄存器等基本单元电路。

三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 数字万用表3. 示波器4. 逻辑分析仪5. 编程器四、实验内容1. 逻辑门电路实验(1)实验目的:熟悉TTL、CMOS逻辑门电路的逻辑功能和测试方法。

(2)实验步骤:1)搭建TTL与非门电路,测试其逻辑功能;2)搭建CMOS与非门电路,测试其逻辑功能;3)测试TTL与门、或门、非门等基本逻辑门电路的逻辑功能。

2. 触发器实验(1)实验目的:掌握触发器的逻辑功能、工作原理和应用。

(2)实验步骤:1)搭建D触发器电路,测试其逻辑功能;2)搭建JK触发器电路,测试其逻辑功能;3)搭建计数器电路,实现计数功能。

3. 计数器实验(1)实验目的:掌握计数器的逻辑功能、工作原理和应用。

(2)实验步骤:1)搭建同步计数器电路,实现加法计数功能;2)搭建异步计数器电路,实现加法计数功能;3)搭建计数器电路,实现定时功能。

4. 寄存器实验(1)实验目的:掌握寄存器的逻辑功能、工作原理和应用。

(2)实验步骤:1)搭建4位并行加法器电路,实现加法运算功能;2)搭建4位并行乘法器电路,实现乘法运算功能;3)搭建移位寄存器电路,实现数据移位功能。

五、实验结果与分析1. 逻辑门电路实验通过搭建TTL与非门电路和CMOS与非门电路,测试了它们的逻辑功能,验证了实验原理的正确性。

2. 触发器实验通过搭建D触发器和JK触发器电路,测试了它们的逻辑功能,实现了计数器电路,验证了实验原理的正确性。

3. 计数器实验通过搭建同步计数器和异步计数器电路,实现了加法计数和定时功能,验证了实验原理的正确性。

数字电路实验的实验报告(3篇)

数字电路实验的实验报告(3篇)

第1篇一、实验目的1. 理解和掌握数字电路的基本原理和组成。

2. 熟悉数字电路实验设备和仪器的基本操作。

3. 培养实际动手能力和解决问题的能力。

4. 提高对数字电路设计和调试的实践能力。

二、实验器材1. 数字电路实验箱一台2. 74LS00若干3. 74LS74若干4. 74LS138若干5. 74LS20若干6. 74LS32若干7. 电阻、电容、二极管等元器件若干8. 万用表、示波器等实验仪器三、实验内容1. 基本门电路实验(1)验证与非门、或非门、异或门等基本逻辑门的功能。

(2)设计简单的组合逻辑电路,如全加器、译码器等。

2. 触发器实验(1)验证D触发器、JK触发器、T触发器等基本触发器的功能。

(2)设计简单的时序逻辑电路,如计数器、分频器等。

3. 组合逻辑电路实验(1)设计一个简单的组合逻辑电路,如4位二进制加法器。

(2)分析电路的输入输出关系,验证电路的正确性。

4. 时序逻辑电路实验(1)设计一个简单的时序逻辑电路,如3位二进制计数器。

(2)分析电路的输入输出关系,验证电路的正确性。

5. 数字电路仿真实验(1)利用Multisim等仿真软件,设计并仿真上述实验电路。

(2)对比实际实验结果和仿真结果,分析误差原因。

四、实验步骤1. 实验前准备(1)熟悉实验内容和要求。

(2)了解实验器材的性能和操作方法。

(3)准备好实验报告所需的表格和图纸。

2. 基本门电路实验(1)搭建与非门、或非门、异或门等基本逻辑电路。

(2)使用万用表测试电路的输入输出关系,验证电路的功能。

(3)记录实验数据,分析实验结果。

3. 触发器实验(1)搭建D触发器、JK触发器、T触发器等基本触发电路。

(2)使用示波器观察触发器的输出波形,验证电路的功能。

(3)记录实验数据,分析实验结果。

4. 组合逻辑电路实验(1)设计4位二进制加法器电路。

(2)搭建电路,使用万用表测试电路的输入输出关系,验证电路的正确性。

(3)记录实验数据,分析实验结果。

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数字逻辑与数字系统实验要求
1.实验前的要求
(1) 认真阅读实验指导书(老师给的实验资料),明确实验目的要求,理解实验原理,熟悉实验电路
及集成芯片,拟出实验方法和步骤,设计实验表格。

(2) 完成实验指导书中有关预习的相关内容。

(3) 初步估算(或分析)实验结果(包括各项参数和波形),可以自行写出预习报告。

(4) 对实验内容应提前设计并使用Multisim软件仿真验证,将有关数据写入预习报告中,设计电路
在实验前一天上传到服务器中。

3.实验中的要求
(1) 参加实验者要自觉遵守实验室规则。

(2) 实验前应检查实验仪器编号与座位号是否相同,仪器设备不准随意搬动调换。

非本次实验所用
的仪器设备,未经老师允许不得动用。

若损坏仪器设备,必须立即报告老师,作书面检查,责任事故要酌情赔偿。

每次实验所需仪器和器件,在实验前要求检查并登记签字,如检查发现有损坏的器件情况,立即报告老师并做好登记,然后申请新的器件。

(3) 严禁带电接线、拆线或改接线路。

(4) 根据实验内容,准备好实验所需的仪器设备和装置并安放适当。

按实验方案,选择合适的集成
芯片,连接实验电路和测试电路。

(5) 要认真记录实验条件和所得各项数据,波形。

发生小故障时,应独立思考,耐心排除,并记下
排除故障过程和方法。

实验过程中不顺利,并不是坏事,常常可以从分析故障中增强独立工作的能力。

相反,实验“一帆风顺”不一定收获大,能独立解决实验中所遇到的问题,把实验做成功,收获才是最大的。

(6) 发生焦味、冒烟故障,应立即切断电源,保护现场,并报告指导老师和实验室工作人员,等待
处理。

(7) 实验完成后,或者实验课结束前5分钟(未能完成的也必须切断电源,做好整理工作),要求整
理好所有设备、器件与导线,分类放置好,保持整洁干净。

(8) 实验要严肃认真,要保持安静,整洁的实验环境。

3.实验后的要求
实验后要求学生认真写好实验报告。

实验报告的内容包括:
实验目的。

列出实验的环境条件,使用的主要仪器设备的名称编号,集成芯片的型号、规格、功能。

扼要记录实验操作步骤,认真整理和处理测试的数据,绘制实验电路图和测试的波形,并列出表格或用坐标纸画出曲线。

对测试结果进行分析,做出简明扼要的结论。

找出产生误差的原因,提出减少实验误差的措施。

记录产生故障情况,说明排除故障的过程和方法。

写出本次实验的心得体会,以及改进实验的建议。

实验报告的要求:
文理通顺、书写简洁、符号标准、图表规范、讨论深入、结论简明。

数字实验中操作规范
实验中操作的正确与否对实验结果影响甚大。

因此,需要注意按以下规程进行:
1.搭接实验电路前,应对仪器设备进行必要的检查校准,对导线是否导通,用万用表进行测量,对所用集成电路是否好坏,搭接简单电路进行功能测试。

2.搭接电路时,应遵循正确的布线原则和操作步骤(即要按照先接线后通电,做完后,先断电再拆线的步骤)。

3.掌握科学的调试方法,有效地分析并检查故障,以确保电路工作稳定可靠。

4.仔细观察实验现象,完整准确地记录实验数据并与理论值进行比较分析。

5.实验完毕,经指导教师同意后,可关断电源拆除连线,整理好放在实验箱内,并将实验台清理干净、摆放整洁。

实验操作的布线原则和故障检查。

布线原则:应便于检查、排除故障和更换器件。

在数字电路实验中,有错误布线引起的故障,常占很大比例。

布线错误不仅会引起电路故障,严重时甚至会损坏器件,因此,注意布线的合理性和科学性是十分必要的,正确的布线原则大致有以下几点:
1.接插集成电路芯片时,先校准两排引脚,使之与实验底板上的插孔对应,轻轻用力将芯片插上,然后在确定引脚与插孔完全吻合后,再稍用力将其插紧,以免集成电路的引脚弯曲,折断或者接触不良。

2.不允许将集成电路芯片方向插反,一般IC的方向是缺口(或标记)朝左,引脚序号从左下方的第一个引脚开始,按逆时钟方向依次递增至左上方的第一个引脚。

3.布线时,最好采用各种色线以区别不同用途,如电源线(VCC或VDD)用红色,地线用黑色。

4.布线应有秩序地进行,随意乱接容易造成漏接错接,较好的方法是首先接好固定电平点,如电源线、地线、门电路闲置输入端、触发器异步置位复位端等,其次,在按信号源的顺序从输入到输出依次布线。

5.连线应避免过长,避免从集成器件上方跨接,避免过多的重叠交错,以利于布线、更换元器件以及故障检查和排除。

6.当实验电路的规模较大时,应注意集成元器件的合理布局,以便得到最佳布线,布线时,顺便对单个集成器件进行功能测试。

这是一种良好的习惯,实际上这样做不会增加布线工作量。

7.应当指出,布线和调试工作是不能截然分开的,往往需要交替进行,对大型实验元器件很多的,可将总电路按其功能划分为若干相对独立的部分,逐个布线、调试(分调),然后将各部分连接起来(联调)。

数字实验中常见故障检查方法
故障检查:实验中,如果电路不能完成预定的逻辑功能时,就称电路有故障,产生故障的原因大致可以归纳以下四个方面:
1.操作不当(如布线错误等)
2.设计不当(如电路出现险象等)
3.元器件使用不当或功能不正常
4.仪器(主要指稳压电源)、集成器件以及开关器件本身出现故障。

因此,上述四点应作为检查故障的主要线索,以下介绍几种常见的故障检查方法:
1.查线法。

由于在实验中大部分故障都是由于布线错误引起的,因此,在故障发生时,复查电路连线为排除故障的有效方法。

应着重注意:导线是否导通,有无漏线、错线,导线与插孔接触是否可靠,集成电路是否插牢、集成电路是否插反、是否完好等。

2.观察法。

用万用表直接测量各集成块的V
端是否加上电源电压;输入信号、
cc
时钟脉冲等是否加到实验电路上,观察输出端有无反应。

重复测试观察故障现象,然后对某一故障状态,用万用表测试各输入/输出端的直流电平,从而判断出是否是插座板、集成块引脚连接线等原因造成的故障。

3.信号注入法。

在电路的每一级输入端加上特定信号,观察该级输出响应,从而确定该级是否有故障,必要时可以切断周围连线,避免相互影响。

4.信号寻迹法。

在电路的输入端加上特定信号,按照信号流向逐级检查是否有响应和是否正确,必要时可多次输入不同信号。

5.替换法。

对于多输入端器件,如有多余端则可调换另一输入端试用。

必要时可更换器件,以检查器件功能不正常所引起的故障。

6.动态逐线跟踪检查法。

对于时序电路,可输入时钟信号按信号流向依次检查各级波形,直到找出故障点为止。

7.断开反馈线检查法。

对于含有反馈线的闭合电路,应该设法断开反馈线进行检查,或进行状态预置后再进行检查。

以上检查故障的方法,是指在仪器工作正常的前提下进行的,如果实验时电路功能测不出来,则应首先检查供电情况,若电源电压已加上,便可把有关输出端直接接到0—1显示器上检查,若逻辑开关无输出,或单次CP无输出,则是开关接触不好或是内部电路坏了,一般就是集成器件坏了。

需要强调指出,实验经验对于故障检查是大有帮助的,但只要充分预习,掌握基本理论和实验原理,就不难用逻辑思维的方法较好地判断和排除故障。

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