华南理工大学半导体物理第五章课件
【精品】半导体物理(SEMICONDUCTOR PHYSICS )PPT课件
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如在绝缘衬底上制备的硫化镉(CdS)薄膜,无光照时的暗电阻为几十 MΩ,当受光照后电阻值可以下降为几十KΩ
• 此外,半导体的导电能力还随电场、磁场等的作用而改变
• 本课程的内容安排
以元素半导体硅(Si)和锗(Ge)为对象: • 介绍了半导体的晶体结构和缺陷,定义了晶向和晶面 • 讨论了半导体中的电子状态与能带结构,介绍了杂质半导体及其 杂质能级 • 在对半导体中载流子统计的基础上分析了影响因素,讨论了非平 衡载流子的产生与复合 • 对半导体中载流子的漂移运动和半导体的导电性进行了讨论,介 绍了载流子的扩散运动,建立了连续性方程 • 简要介绍了半导体表面的相关知识
• 化学比偏离还可能形成所谓反结构缺陷,如GaAs晶体中As 的成份偏多,不仅形成Ga空位,而且As原子还可占据Ga空 位,称为反结构缺陷。
• 此外高能粒子轰击半导体时,也会使原子脱离正常格点位 置,形成间隙原子、空位以及空位聚积成的空位团等。
• 位错是晶体中的另一种缺陷,它是一种线缺陷。
• 半导体单晶制备和器件生产的许多步骤都在高温下进行,因而在 晶体中会产生一定应力。
共价键方向是四面体对称的,即共价键是从正四面体中心原子出 发指向它的四个顶角原子,共价键之间的夹角为109°28´,这种正四面 体称为共价四面体。
图中原子间的二条连线表示共有一对价电子,二条
线的方向表示共价键方向。
共价四面体中如果把原子粗
略看成圆球并且最近邻的原
子彼此相切,圆球半径就称 为共价四面体半径。
图1.6 两种不同的晶列
• 晶列的取向称为晶向。 • 为表示晶向,从一个格点O沿某个晶向到另一格点P作位移 矢量R,如图1.7,则
R=l1a+l2b+l3c • 若l1:l2:l3不是互质的,通过
半导体光电子学第五章第九章-PPT
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大家好 15
J th
4.5 103
i
d
20
i
d
[
(1
)
out
1 ln L
1 R
fc ]
GaAlAs/GaAs特征温度120-180℃ InGaAsP/InP T0=65K
大家好 16
四、阈值特性关系小结
1、低维量子材料 2、增益介质 3、侧向折射率波导
大家好 17
作业: 教材181页第1、2题
大家好 13
Ith e(WdL)Nth / s
大家好 14
三、温度对阈值电流的影响
J th
(T
)
J
th
(Tr
)
T exp(
Tr T0
)
T0为一个表征半导体激 光器温度稳定性的重要
参数称为特征温度,T0
与材料和结构相关,由 式看出T0越高LD的温度 稳定性越高,T0趋于无 穷则Jth不随温度而变化
1、名词解释:
功率效率、內量子效率、外量子效率、外微分量子效率
2、写出外微分量子效率的表达式,并指出哪些具体措施能提 高半导体激光器的微分量子效率。
大家好 27
5.3 半导体激光器的远场特性
大家好 28
LD输出光场分近场与远场。近场分布是指光强在解
理面上或解理面一个光波长范围内的分布(与横模,
侧模有关)。远场是指距输出这常常与光束的发散
12分钟→数十万小时
对LD可靠性研究包括其长期工作后性能退化和突然 失效的机理和提高可靠性的方法、途径,以提高工作寿命。 LD的可靠性与工作方式(连续或脉冲),有源区的材料, 有源区与限制层材料的晶格匹配、热沉,腔面情况等多种 因素有关,高可靠性的激光器是上述诸因素的综合效果。
半导体物理第五章(教材)
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05 半导体的热电性质
热电效应与温差电器件
热电效应
当半导体材料两端存在温度差时,会产生热电势差,即热电效应。热电效应是半导体材料热电转换的基础。
温差电器件
利用半导体材料的热电效应,可以制作出温差电器件,如温差发电器和温差制冷器。这些器件在能源转换和温度 控制等领域有广泛应用。
塞贝克效应与温差电偶
半导体材料与器件的绿色化
发展环保、低能耗的半导体材料和器件,以适应体技术与其他领域(如生物、医学、环境等)的交叉融合,将 产生新的应用方向和产业机遇。
THANKS FOR WATCHING
感谢您的观看
致冷器件
利用帕尔贴效应,可以制作出致冷器 件,如半导体制冷器。这些器件在电 子设备冷却、局部制冷等领域有广泛 应用。
06 第五章总结与展望
关键知识点回顾
半导体能带结构
包括价带、导带和禁带的概念,以及半导体中电子和空 穴的能量分布。
半导体中的复合与产生
阐述了半导体中电子和空穴的复合过程以及载流子的产 生机制。
03
半导体器件的伏安特性曲线和 参数
02 半导体中的载流子
载流子的类型与特性
载流子类型
半导体中的载流子主要包括电子和空穴两种类 型。
电子特性
电子带负电荷,具有较小的有效质量和较高的 迁移率。
空穴特性
空穴带正电荷,具有较大的有效质量和较低的迁移率。
载流子的浓度与分布
载流子浓度
半导体中载流子的浓度与温度、掺杂 浓度和禁带宽度等因素密切相关。
半导体物理第五章教材
目 录
• 第五章概述 • 半导体中的载流子 • 半导体中的电流 • 半导体的光电性质 • 半导体的热电性质 • 第五章总结与展望
《半导体物理第五章》课件
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第六节:PN结的非平衡态
PN结非平衡态简析
简单剖析非平衡态下PN结的电压 -电流特性。
简单PN结非平衡态的VE特性 光电导效应的非平衡态
研究非平衡态下PN结的电压-电 流特性。
探究非平衡态下光电导效应在PN 结中的特点与应用。
探讨PN结太阳能电池的构造和独特特点。
3 PN结太阳能电池的主要性能参数
深入了解PN结太阳能电池的重要性能参数及其影响因素。
第五节:PN结的热平衡态
PN结的热平衡态简析
简要分析PN结的热平衡态及其 相关特性。
热平衡态下PN结的IV特性
详细讨论热平衡态下PN结的电 流-电压特性。
自扩散效应的热平衡 态
详细讨论电子和空穴在PN结中的运动方式。
光谱响应及其特征
探究PN结对光谱的响应,以及其特征与应用。
第二节:P-N结的动态响应
PN结的快速响应
探索PN结在快速响应方面的特性 与应用。
PN结快速开关电路
介绍PN结在快速开关电路中的工 作原理与应用。
鼓型PN结
研究鼓型PN结的结构和相关特点。
第三节:PN结的光探测器
1
光电导效应及其应用
深入解析光电导效应在光探测器中的应用。
2
光电二极管的工作原理
详细讨论光电二极管的工作原理和特性。
3及其在光能转换中的应用。
第四节:单晶硅PN结太阳能电池
1 太阳能电池的基本原理
详细介绍太阳能电池的基本原理和工作方式。
2 PN结太阳能电池的构造及其特点
《半导体物理第五章》 PPT课件
这是《半导体物理第五章》的PPT课件,旨在介绍半导体物理的相关知识。通 过本次分享,我们将深入探讨半导体的基本性质、动态响应、光探测器、太 阳能电池、热平衡态以及非平衡态等内容。
半导体物理第五章1
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第 5 章 额外载流子§5.1 半导体的非平衡状态一、非平衡状态的建立和驰豫用光注入或电注入(抽取)的方式使半导体中载流子密度相对于热平衡状态下的密度 n 0 和 p 0 有所富余(对抽取则为欠缺)的状态。
这时n n 0n ; p p 0pnp n 0p 0 n i2 n 和 p 被称为额外载流子( extra carrier ) ,国人旧时习惯称非平衡载流子。
非平衡态靠光注入或电注入(抽取)建立,且必须用光注入或电注入(抽取)来维持 。
1、额外载流子的注入1)光注入光照在半导体中可能引起的电子跃迁过程:⑴ 价带电子吸收能量大于等于禁带宽度的光子激发到导带,形成一对自由电子和空穴; ⑵ 在禁带中的两个能量差为 h 的能级之间,较低能级上的电子吸收能量为 h 的光子激发 到较高能级产生一对束缚的电子和空穴;⑶ 禁带中的一个能级与导带或价带之间的光激发。
产生一个束缚载流子和一个自由载流子。
过程(1)和(3)有注入: (1)注入 1 对额外载流子, (3)注入一个额外载流子。
过程(2)没有载流子注入。
所以,不能说光注入一定有 n=p ,光照被半导体吸收也不一定会 发生载流子注入。
通常所谓光注入指的是过程(1)。
2)电注入处在正偏置状态下的 pn 结,其两侧通过 pn 结相互注入少数载流子。
金属探针与半导体接触 时,也可以用电的方法注入额外载流子。
3)大注入和小注入在—般情况下,注入的额外载流子密度比热平衡时的多数载流子密度低得多,对 n 型材料,∆n<<n 0,∆p<<n 0,满足这个条件的注入称为小注入。
例如 1Ω • c m 的 n 型硅中,n 0≈5.5×1015 cm -3,p 0 ≈3.1× 104 cm -3 ,若注入额外载流子∆n=∆p=1010cm -3 ,∆n<<n 0,是小注入,但∆p 几乎是 p 0 的 106倍,即∆p>>p 0 。
课件:半导体物理第5章
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欧姆定律
I U R
E
R I
U
为了半导体内部常遇到电流分布不均匀的情况, 推导出欧姆定律的微分形式
J E
式中 σ=1/ρ为半导体电导率。
§5.1载流子的漂移运动和迁移率
§5.1.2 漂移速度和迁移率
• 无外场时,半导体中的载流子作无规则的热运 动
• 在外电场下,载流子受到电场力F
mn*
p
pq p
pq 2 p
m*p
混合型:
p
pq p
nqn
pq2 p
m*p
nq2
mn*
n
§5.3 迁移率与杂质浓度和温度的关系
§5.3.2电导率、迁移率与平均自由时间的关系
对于等能面为旋转椭球面的多极值半导体
J
n 3
q1
E
x
n 3
q
2
E
x
n 3
q
3
E
x
1 3
nq
(1
2
3)Ex
令 J x nqc Ex
• 总的效果是,载流子在电场力的作用下作定向 运动—漂移运动:
a
dv dt
F mn*
§5.1载流子的漂移运动和迁移率
§5.1.2 漂移速度和迁移率
载流子在电场力作用下 的运动称为漂移运动, 其定向运动的速度称为 漂移速度。
带电粒子的定向运动 形成电流,所以对电子 而言,电流密度应为
J n(q) v d
第5章 半导体的导电性
本章主要讨论载流子在外加电场作用下的 运动规律,介绍描述半导体导电性的重要物理 量——电导率和迁移率,引入了载流子散射的 概念和各种散射机构,进一步讨论半导体的迁 移率、电阻率随杂质浓度和温度的变化规律。 定性介绍强电场下的效应,应用谷间散射简要 解释耿氏效应。
《半导体物理学》课件
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半导体物理学是现代电子科技和信息 科技的基础,对微电子、光电子、电 力电子等领域的发展具有至关重要的 作用。
半导体物理学的发展历程
19世纪末期
半导体概念的形成,科学家开始认识到 某些物质具有导电性介于金属和绝缘体
之间。
20世纪中叶
晶体管的商业化应用,集成电路的发 明,推动了电子科技和信息科技的发
半导体中的热电效应
总结词
解释热电效应的原理及其在半导体中的应用。
详细描述
当半导体受到温度梯度作用时,会在两端产生电压差 ,这一现象被称为热电效应。热电效应的原理在于不 同温度下,半导体内部载流子的分布不同,导致出现 电势差。热电效应在温差发电等领域有应用价值,可 以通过优化半导体的材料和结构来提高热电转换效率 。
分析器件在长时间使用或恶劣环 境下的性能退化,以提高其可靠 性。
THANKS
THANK YOU FOR YOUR WATCHING
06
半导体材料与工艺
半导体材料的分类和特性
元素半导体
如硅、锗等,具有稳定的化学性质和良好的半导 体特性。
化合物半导体
如砷化镓、磷化铟等,具有较高的电子迁移率和 光学性能。
宽禁带半导体
如金刚石、氮化镓等,具有高热导率和禁带宽度 大等特点。
半导体材料的制备和加工
气相沉积
通过化学气相沉积或物理气相沉积方法制备 薄膜。
05
半导体器件的工作原理
二极管的工作原理
总结词
二极管是半导体器件中最简单的一种 ,其工作原理基于PN结的单向导电性 。
详细描述
二极管由一个P型半导体和一个N型半 导体结合而成,在交界处形成PN结。 当正向电压施加时,电子从N区流向P 区,空穴从P区流向N区,形成电流; 当反向电压施加时,电流极小或无电流 。
华南理工大学半导体物理绪论课件
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长江中上游地区
人口: 348 mln US$245 bn 出口: US$11 bn
长三角地区
人口: 136 mln GDP: US$256 bn 出口: US$100 bn
西南地区
人口: 137 mln GDP: US$72 bn 出口: US$4 bn
珠三角地区
人口: 119 mln GDP: US$344 bn 出口: US$156 bn
内容简介
• • • • • • • • 绪言 半导体的晶体结构 半导体能带 半导体中载流子的统计分布 半导体的导电性 非平衡载流子 半导体表面及MIS结构 半导体的物理效应
二十世纪是科学革命的世纪,重大的科学发现与理论 创新不但改变了科学技术本身,也改变了人们的自然观、世 界观,改变了人类社会的文明进程
世界第一只晶体管
• 世界第一块集 成电路(TI, 1958)) • J. S. Kilby
集成电路的战略地位和关键作用
• 信息是客观事物状态和运动特征的一种普遍形式,与材料 和能源一起是人类社会的三大资源。知识经济的支柱产 业—微电子产业和科学技术对我国以及世界经济都有着举 足轻重的作用,成为一个国家综合国力的重要标志之一。 • 微电子芯片和软件是信息产业的基础和核心。原始硅材料 经过人们的设计和一系列特定的工艺技术加工创造,将体 现信息采集、加工、运算、传输、存储和随动执行功能的 信息系统集成并固化在硅芯片上,成为信息化的基础,一 芯千金。 • 现代经济发展的数据表明,GDP每增长100需要10元左右 电子信息工业产值和1元集成电路产值的支持。以单位质量 钢筋对GDP的贡献为1计算,则小汽车为5,彩电为30,计 算机为1000,而集成电路的贡献率则高达2000。微电子 技术和产业成为世界各国综合国际竞争力的标志之一。
半导体物理第5章_图文(精)
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半导体物理 SEMICONDUCTOR PHYSICS 编写:刘诺独立制作:刘诺电子科技大学微电子与固体电子学院微电子科学与工程系刘诺第五篇非平衡载流子 §5.1 非平衡载流子的注入与复合一、非平衡载流子及其产生非平衡态:系统对平衡态的偏离。
相应的:n=n0+ ⊿n p=p0+ ⊿p 且⊿n= ⊿p 非平衡载流子:⊿n 和⊿p(过剩载流子)刘诺当非平衡载流子的浓度△n和△p《多子浓度时,这就是小注入条件。
结论⇒小注入条件下非平衡少子∆p对平衡少子p0的影响大非平衡载流子⇐非平衡少子刘诺二、产生过剩载流子的方法光注入电注入高能粒子辐照… 刘诺注入的结果产生附加光电导σ = nq µ n + pq µ p = (n0 qµn + p0 qµ p + (∆nqµn + ∆pqµ p = (n0 + ∆n qµn + ( p0 + ∆p qµ p = σ 0 + ∆σ 故附加光电导∆σ 0 = ∆nqµ n +∆pqµ p = ∆nq (µ n + µ p 刘诺三、非平衡载流子的复合光照停止,即停止注入,系统从非平衡态回到平衡态,电子空穴对逐渐消失的过程。
即:△n=△p 0 刘诺§5.2 非平衡载流子的寿命 1、非平衡载流子的寿命寿命τ ⇐非平衡载流子的平均生存时间1 τ ⇐单位时间内非平衡载流子的复合几率⎧1 ⎯→ ⎪τ ⎯单位时间内非平衡电子的复合几率⎪ n ⎨ 1 ⎪⎯单位时间内非平衡空穴的复合几率⎯→⎪τ p 刘诺⎩例如d [∆p (t ] 则在单位时间内非平衡载流子的减少数= − dt ∆p 而在单位时间内复合的非平衡载流子数= τp 如果在t = 0时刻撤除光照在小注入条件下,τ为常数.解方程(1得到则d [∆p (t ] ∆p − = ⎯ (1 ⎯→ dt τp − t ∆p(t = ∆p(0e − t τp ⎯ (2 ⎯→ 同理也有∆n(t = ∆n(0 e 刘诺τn ⎯ (3 ⎯→对 (2 式求导 2、寿命的意义∆p (t d [∆ p (t ] = − τp ∞ dt ⇒衰减过程中从 t到 t + dt 内复合掉的过剩空穴因此⇐(∆p 0 个过剩载流子的平均可生存时间为∫ td [∆p(t ]= τ t= ∫ d [∆p(t ] − 0 ∞ 0 p ⎯ (3 同理⎯→∫ td [∆n(t ] = τ t= ∫ d [∆n(t ] ∞ − 0 ∞ 0 n ⎯ (4 ⎯→τ − ⎧ 1 τ ⎯→ ⎪ ∆ p (τ = (∆ p 0 e = (∆ p 0 ⎯ (5 ⎪ e 可见⎨τ − ⎪ ∆ n (τ = (∆ n e τ = 1 (∆ n ⎯ (6 0 0 ⎯→ ⎪ e ⎩ 1 ⇒ τ就是∆p (t 衰减到(∆p 0的所需的时间刘诺 e§5.3 准费米能级非平衡态的电子与空穴各自处于热平衡态准平衡态,但具有相同的晶格温度: 1 ⎧⎯⎯→ (1 E−E ⎪ f n (E = ⎪⎪ 1 + e k 0T ⎨ 1 ⎪ f p (E = ⎯⎯→(2 p EF −E ⎪⎪ 1 + e k 0T ⎩ n EF ⎯电子准费米能级⎯→ p 刘诺 EF ⎯空穴准费米能级⎯→ n F刘诺§5.4 复合理论(2)间接复合 Ec 1、载流子的复合形式:(1)直接复合刘诺 Ev复合率 R=rnp 2、带间直接复合:(1)其中,r是电子空穴的复合几率,与n 和p无关。
半导体物理课件1-7章(第五章)

•★非平衡态的特点:产生率不等于复合率
4、★光注入: 非平衡载流子 n p
Ec
Eg
Ev
n n0 n
p p0 p 7
对N型半导体,电子为非平衡多数载流子,空 穴称为非平衡少数载流子。
复合过程的性质
• 由于半导体内部的相互作用,使得任何半导体在 平衡态总有一定数目的电子和空穴。 •从微观角度讲: •平衡态指的是由系统内部一定的相互作用所引起的 微观过程之间的平衡;这些微观过程促使系统由非 平衡态向平衡态过渡,引起非平 衡载流子的复合; •因此,复合过程是属于统计性的过程。
复合理论
p
1
Ud r(n0 p0 p)
•寿命不仅与平衡载流子浓度有关,还与非平 衡载流子浓度有关。
•1.小注入条件下 :
•不同的材料寿命很不相同。
•即使是同种材料,在不同的条件下的寿命 也可以有很大范围的变化。
第五章 非平衡载流子
•5.1 非平衡载流子的注入与复合 •5.2 非平衡载流子的寿命 •5.3 准费米能级 •5.4 复合理论 •5.5 陷阱效应 •5.6 载流子的扩散运动 •5.7 载流子的漂移运动,爱因斯坦关系式 •5.8 连续性方程式 •5.9 硅的少数载流子寿命与扩散长度
np
n0
p0
exp
EFn EFp k0T
ni2
exp
EFn EFp k0T
与n0p0=ni2比较,可以看出EFn和EFp之间的距 离的大小,直接反映了半导体偏离平衡态的 程度。
①两者的距离越大,偏离平衡态越显著;
②两者的距离越小,就越接近平衡态;
半导体物理学PPT课件(共7章)第05章 金属和半导体的接触
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WS Ec EF
Eg Ev
无表面态时的n型半导体
qVD
Ec
qΦ0
EF
Ev
存在表面态时的n型半导体
由于n型半导体的费米能级EFn处于禁带上半部,其位置必高于EFS0。根据 费米能级的物理内涵,EFS0和 EFn高低不等必然导致体内电子向表面转移, 使表面带负电,同时在靠近表面的近表面附近形成正空间电荷区,从而产
a) 表面态改变了半导体的功函数,使金-半接触的势垒高度不等 于功函数差
由于n型半导体的EF高于q0,而q0以上的表面态空着,所以近表面区的导带 电子就会来填充这些能级,于是使表面带负电,同时在近表面附近产生正的 空间电荷区,形成电子势垒,平衡时的势垒高度qVD使电子不再向表面填充。
b) 表面态密度很高时-势垒钉扎
➢ 1904年,美国电气工程师鲍斯获得Si和PbS点接触整流器的专利权 ➢ 1906年,美国电气工程师皮卡德获得点接触晶体检波器的专利权,这种器
件是晶体检波接收机(即矿石收音机)的关键部件;
➢ 1920年,硒(Se)金-半接触整流器投入应用; ➢ 1926年,Cu2O点接触整流二极管问世,并在二战中应用于雷达检波。
2022年1月26日星期三
3
第五章 金属和半导体的接触
5.1金属半导体接触及其平衡态
5.1.1 金属和半导体的功函数 5.1.2 有功函数差的金-半接触 5.1.3 表面态对接触电势差的影响 5.1.4 欧姆接触
5.2 金属半导体接触的非平衡状态
5.2.1 不同偏置状态下的肖特基势垒 5.2.2 正偏肖特基势垒区中的费米能级 5.2.3 厚势垒区金属半导体接触的伏安特性 5.2.4 薄势垒区金属半导体接触的伏安特性 5.2.5 金半接触的少子注入问题 5.2.6 非平衡态肖特基势垒接触的特点及其应用
《半导体物理复习》课件
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第3章复习题
判断题 答案:正确。 题目:论述半导体中载流子的传输机制。
题目:在半导体中,空穴的运动速度通常比电子慢。
论述题
答案:在半导体中,载流子的传输主要通过扩散和漂移 两种机制进行。扩散是由于浓度梯度引起的自然扩散, 而漂移则是由于电场引起的定向运动。
THANK YOU
感谢聆听
半导体的定义是指那些在一定温度下,其导电性能介于金属与绝 缘体之间的材料。根据导电性能的不同,半导体可以分为n型和p 型两种类型。
半导体中的电子状态
总结词
了解半导体中的电子状态是理解半导体物理的关键,它决定了半导体的导电性 能。
详细描述
在半导体中,电子的状态可以通过能带模型来描述。在满带和空带之间有一个 禁带,电子需要吸收或释放能量才能从满带跃迁到空带,形成导电的电子和空 穴。
太阳能电池
总结词
太阳能电池是一种利用太阳能转换为电能的装置,是可再生能源利用的重要形式 之一。
详细描述
太阳能电池的基本原理是光伏效应,即当光照射在半导体材料上时,光子能量会 激发电子从价带跃迁到导带,形成光生电流。太阳能电池的转换效率取决于半导 体的材料、质量和纯度,以及光照条件和电池的结构设计。
02
半导体中的输运现象
半导体中的热平衡
热平衡状态
在绝对零度以上,半导体内部原子或分子的运动速 度不会完全相同,而是按照一定的分布规律随机运 动,达到热平衡状态。
热平衡下的载流子浓度
在热平衡状态下,半导体内部的载流子浓度是一定 的,与温度和材料有关。
热平衡下的费米能级
在热平衡状态下,费米能级是一个固定的值,它决 定了半导体内部载流子的分布情况。
光敏器件
总结词
光敏器件是一种能够将光信号转换为电信号 的传感器件,广泛应用于光电检测、自动控 制和通信等领域。
半导体物理学PPT课件
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半导体的掺杂
Ⅲ、Ⅴ族杂质在Si、Ge晶体中分别为受 主和施主杂质,它们在禁带中引入了能 级;受主能级比价带顶高 EA,施主能级 比导带底低 ED,均为浅能级,这两种 杂质称为浅能级杂质。
杂质处于两种状态:中性态和离化态。 当处于离化态时,施主杂质向导带提供 电子成为正电中心;受主杂质向价带提 供空穴成为负电中心。
解:(a)
r 1 (1 24
3a)
3a 8
(b)
8 4r3
3 a3
3
16
0.34
间隙式杂质、替位式杂质
杂质原子位于晶格原子间的间隙位置, 该杂质称为间隙式杂质。
间隙式杂质原子一般比较小,如Si、Ge、 GaAs材料中的离子锂(0.068nm)。
杂质原子取代晶格原子而位于晶格点处, 该杂质称为替位式杂质。
半导体物理学
一.半导体中的电子状态 二.半导体中杂质和缺陷能级 三.半导体中载流子的统计分布 四.半导体的导电性 五.非平衡载流子 六.pn结 七.金属和半导体的接触 八.半导体表面与MIS结构
半导体的纯度和结构
纯度
极高,杂质<1013cm-3
结构
晶体结构
单胞
对于任何给定的晶体,可以用来形成其晶体结构的 最小单元
半导体中净杂质浓度称为有效杂质 浓度(有效施主浓度;有效受主浓 度)
杂质的高度补偿( NA ND )
现
肖特基缺陷
只存在空位而无间隙原子 间隙原子和空位这两种点缺陷受温度影响较
大,为热缺陷,它们不断产生和复合,直至 达到动态平衡,总是同时存在的。 空位表现为受主作用;间隙原子表现为施主 作用
E(0)
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热平衡状态特点
• 半导体受均匀不变的温度,不受外界作用
• 处于热平衡态的半导体,在一定温度下,载 流子浓度是恒定的。用n0和p0分别表示平衡 电子浓度和平衡空穴浓度。
在非简并情况下,它们的乘积满足下式
n0p0NcNvexpkE 0(T g )ni2
• 半导体中载流子的产生和复合过程保持动 态平衡 载流子的产生率=载流子的复合率
,则可将价带的电子激发到导带,使导带比平衡 时多出一部分电子Δn,价带比平衡时多出一部分 空穴Δp。在这种情况下,电子浓度和空穴浓度分 别为:
n n 0 n p p 0 p
而且Δn= Δp,其中Δn和Δp就是非平衡载流子浓 度。
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对N型半导体,电子为非平衡多数载流子,空 穴称为非平衡少数载流子。
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大多数情况下,非平衡载流子都是在 半导体的局部区域产生的。它们除了在电 场作用下的漂移运动以外,还要作扩散运 动。
晶体管通过非平衡载流子的注入和收 集实现功率放大。半导体的发光和光电现 象,也都是与非平衡载流子的行为密切相 关。
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载流子的产生 价带电子获得足够大的能量激发到导带, 杂质能级被激发而电离,上述两个过程都 在半导体中不断产生载流子。
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• 对半导体施加外界作用,可使其处于非 平衡状态,此时比平衡态多出来的载流 子,称为过剩载流子或非平衡载流子。
• 如果半导体受到例如光照等外界因素作 用,这就使半导体处于与热平衡态相偏 离的状态,称为非平衡态。
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非平衡态的特点
• 半导体有外界因素作用 • 产生率不等于复合率 • 若用光子的能量大于禁带宽度的光照射半导体时
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第五章 非平衡载流子
• 5.1 非平衡载流子的注入与复合 • 5.2 非平衡载流子的寿命 • 5.3 准费米能级 • 5.4 复合理论 • 5.5 载流子的扩散运动 • 5.6 载流子的漂移运动,爱因斯坦关系
式 • 5.7 连续性方程式
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非平衡载流子的注入与复合
• 当有非平衡载流子存在时,不再存在统一 的费米能级。但是在一个能带范围内的非 平衡载流子,通过和晶格的频繁碰撞,在比 它们的寿命短得多的时间内,使自身的能 量相应于平衡分布.在这种情况下,处于非 平衡状态的电子系统和空穴系统,可以定 义各自的费米能级,称为准费米能级。
• 半导体的热平衡态与非平衡态 在前面讲的电导现象中,外场的作用,
只是改变载流子在一个能带中能级之间的分 布,而没有引起电子在能带之间的跃迁,在 导带和价带中的载流子数目都没有改变。这 种处于热平衡状态下的载流子浓度,称为平 衡载流子浓度。
有另外一种情况:在外界作用下,能带 中的载流子数目发生明显改变,即产生非平 衡载流子。
对P型半导体,空穴称为非平衡多数载流子, 而电子称为非平衡少数载流子。
如果非平衡少数载流子的浓度远小于平衡多数 载流子的浓度,则称为小注入。 例如,在室温下n0=1.5×1015cm-3的N型硅中,空 穴浓度p0= 1.5×105cm-3。如果引入非平衡载流子 Δn= Δp=1010cm-3,则Δp<<n0。
式 • 5.7 连续性方程式
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准费米能级
• 在热平衡情况下可以用统一的费米能级 EF描述半导体中电子在能级之间的分布。
• 在非简并半导体中,电子和空穴浓度以及 它们的乘积可以分别表示为
n0
Nc
exp
Ec EF kT
p0
Nv
exp
EF kT
Ev
Hale Waihona Puke n0p0n
2 i
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• 小注入:
寿命
,
复合几率
1
非平衡载流子的复合率
p
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dp(t) p(t)
dt
• 边界条件
p(0)(p)0
•解
t
p(t)(p)0e
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• 非平衡载流子寿命的物理意义
t td p (t) d p (t) te td t/ e td t
0
0
0
0
载流子的产生率:单位时间单位体积半导 体内产生电子-空穴对的数目。
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载流子的复合 在半导体中的载流子存在着与产生相反的 过程: 电子从导带跃迁到价带与空穴相遇消失, 导带电子跃迁到(施主)杂质能级, (受主)杂质能级上的电子跃迁到价带上 与空穴相遇消失。 载流子的复合率:单位时间在单位体积半 导体内复合掉的电子-空穴对的数目。
电压变化反映了附加电阻率的变化,从 而检测了非平衡少数载流子的注入。
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• 除了光注入,还可以用电注入方法或其 他能量传递方式产生非平衡载流子。给 P-N 结加正向电压,在接触面附近产生 非平衡载流子,就是最常见的电注入的 例子。另外,当金属与半导体接触时, 加上适当极性的电压,也可以注入非平 衡载流子。
令
t
p(t)(p)0/e
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• 寿命的测量
– 锗:104μs – 硅:103μs – 砷化镓:10-8~10-9s
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第五章 非平衡载流子
• 5.1 非平衡载流子的注入与复合 • 5.2 非平衡载流子的寿命 • 5.3 准费米能级 • 5.4 复合理论 • 5.5 载流子的扩散运动 • 5.6 载流子的漂移运动,爱因斯坦关系
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第五章 非平衡载流子
• 5.1 非平衡载流子的注入与复合 • 5.2 非平衡载流子的寿命 • 5.3 准费米能级 • 5.4 复合理论 • 5.5 载流子的扩散运动 • 5.6 载流子的漂移运动,爱因斯坦关系
式 • 5.7 连续性方程式
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非平衡载流子的寿命
非平衡载流子寿命:非平衡载流子的平均 生存时间。
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• Δp>>p0 说明即使在小注入情况下,虽然多 数载流子浓度变化很小,可以忽略,但非 平衡少数载流子浓度还是比平衡少数载流 子浓度大很多,因而它的影响是十分重要 的。相对来说,非平衡多数载流子的影响 可以忽略。实际上,非平衡载流子起着主 要作用,通常所说的非平衡载流子都是指 非平衡少数载流子。
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非平衡载流子的注入和检验
• 注入的非平衡载流子可以引起电导调制 效应,使半导体的电导率由平衡值σ 0增 加为σ0 + Δσ,附加电导率Δσ可表示为
nqnpqp
np
pqnp
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通过附加电导率的测量可以直接检验非平 衡载流子的存在。
小注入时
00
电阻变化
r l/S[ l/S (0 2]