X射线衍射实验报告
x射线的衍射实验报告
x射线的衍射实验报告X射线的衍射实验报告引言：X射线的衍射是一项重要的实验，它可以帮助我们了解物质的结构和性质。
本实验旨在通过X射线的衍射实验，探究X射线在晶体中的衍射现象，进一步了解晶体的结构和性质。
实验目的：1. 了解X射线的衍射现象；2. 掌握X射线衍射实验的操作方法；3. 理解晶体的结构和性质。
实验器材：1. X射线衍射仪；2. X射线源；3. 晶体样品；4. 探测器。
实验步骤：1. 将晶体样品固定在X射线衍射仪上；2. 调整X射线源的位置和角度，使其射线垂直照射到晶体样品上；3. 打开探测器，记录X射线的衍射图样；4. 根据衍射图样，计算晶格常数和晶体结构。
实验结果与分析：通过实验观察到的衍射图样，我们可以发现在不同角度下，晶体样品会出现不同的衍射斑点。
这些斑点的位置和强度可以帮助我们确定晶体的结构和晶格常数。
进一步分析衍射图样，我们可以发现晶体的衍射斑点呈现出一定的规律性。
根据布拉格方程，我们可以计算出晶格常数。
同时，通过比对已知晶体结构的数据库，我们可以推断出晶体的结构类型。
实验的重点在于观察和记录衍射图样。
通过仔细观察衍射斑点的位置和强度，我们可以推断出晶体的晶格常数和结构类型。
这对于研究物质的结构和性质具有重要意义。
实验的局限性：1. 实验中使用的晶体样品可能存在杂质，这可能会对衍射图样产生影响；2. 实验中的X射线源可能存在能量分布不均匀的问题，这可能会导致衍射图样的畸变；3. 实验中的探测器可能存在灵敏度不均匀的问题，这可能会导致衍射图样的误差。
实验的应用：X射线的衍射实验在材料科学、地质学、生物学等领域具有广泛的应用。
通过衍射实验，我们可以研究晶体的结构和性质，进一步了解物质的特性。
这对于材料的设计和开发具有重要意义。
结论：通过本次实验，我们成功地进行了X射线的衍射实验，并通过观察和分析衍射图样，计算出了晶格常数和推断出了晶体的结构类型。
这些结果对于研究物质的结构和性质具有重要意义。
x射线衍射仪实验报告
x射线衍射仪实验报告X 射线衍射仪实验报告一、实验目的本次实验使用 X 射线衍射仪的主要目的是对未知样品进行物相分析，确定其组成成分和晶体结构，同时了解 X 射线衍射的基本原理和实验操作方法。
二、实验原理X 射线衍射是利用 X 射线在晶体中的衍射现象来分析晶体结构的一种方法。
当 X 射线照射到晶体时，晶体中的原子会使 X 射线发生散射，由于晶体中原子排列的周期性，散射波之间会发生干涉，从而在特定的方向上产生强衍射峰。
通过测量衍射峰的位置、强度和宽度等信息，可以推断出晶体的结构和成分。
布拉格方程是 X 射线衍射分析中的基本方程：2d sinθ ＝nλ，其中d 是晶面间距，θ 是衍射角，n 是衍射级数，λ 是 X 射线的波长。
三、实验仪器与材料1、实验仪器：X 射线衍射仪（包括 X 射线发生器、测角仪、探测器等）、计算机控制系统。
2、实验材料：待测试样。
四、实验步骤1、样品制备将待测试样研磨成粉末状，然后均匀地填充到样品架中，确保样品表面平整。
2、仪器调试开启 X 射线衍射仪，设置实验参数，如 X 射线管电压、电流、扫描范围、扫描速度等。
3、样品测试将制备好的样品放入衍射仪中，启动扫描程序，收集衍射数据。
4、数据处理利用计算机软件对收集到的衍射数据进行处理，包括背景扣除、峰位确定、强度测量等。
5、物相分析将处理后的数据与标准物相数据库进行比对，确定样品中的物相组成。
五、实验数据与分析以下是本次实验得到的 X 射线衍射图谱及相关数据：此处插入衍射图谱通过对衍射图谱的分析，我们可以得到以下信息：1、峰位：根据布拉格方程，计算出各个衍射峰对应的晶面间距d。
2、峰强：反映了相应晶面的原子排列密度和对称性。
3、半高宽：与晶体的结晶度和晶粒大小有关。
将这些数据与标准物相数据库进行比对，发现样品中主要包含物相A、物相 B 和少量的物相 C。
对于物相A，其主要衍射峰位于2θ ＝具体角度1、具体角度2等，对应的晶面间距分别为具体数值 1、具体数值 2等。
x射线衍射分析实验报告
x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。
实验目的：本实验旨在通过X射线衍射技术对晶体结构进行分析，以了解晶体的结构和性质，并掌握X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验仪器与设备：1. X射线衍射仪，用于产生X射线，并测量样品对X射线的衍射情况。
2. 样品，需要进行分析的晶体样品。
3. 数据处理软件，用于处理和分析实验得到的数据。
实验步骤：1. 样品制备，取得晶体样品，进行必要的处理和制备。
2. 实验仪器准备，打开X射线衍射仪，调试仪器参数，确保仪器正常工作。
3. 进行X射线衍射，将样品放置在X射线衍射仪中，进行X射线衍射实验。
4. 数据处理与分析，使用数据处理软件对实验得到的数据进行处理和分析，得出样品的晶体结构信息。
实验结果与分析：通过本次实验，我们成功得到了样品的X射线衍射图谱，并进行了数据处理和分析。
根据X射线衍射图谱的特征峰值和衍射角度，我们确定了样品的晶体结构信息，包括晶格常数、晶胞结构等。
通过对实验数据的分析，我们得出了样品的晶体结构参数，并对样品的性质进行了初步了解。
实验结论：本次实验通过X射线衍射技术对样品的晶体结构进行了分析，得出了样品的晶体结构信息，并初步了解了样品的性质。
实验结果表明，X射线衍射技术是一种有效的手段，可用于分析晶体结构和性质。
通过本次实验，我们对X射线衍射技术有了更深入的了解，并掌握了X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验总结：本次实验对我们了解晶体结构分析技术具有重要意义，通过实际操作，我们深入掌握了X射线衍射技术的原理和方法。
同时，本次实验也为我们今后的科研工作奠定了基础，为我们进一步深入研究晶体结构和性质打下了良好的基础。
希望通过今后的努力，能够更深入地探索X射线衍射技术在晶体结构分析中的应用，为科学研究做出更大的贡献。
通过本次实验，我们不仅学习到了X射线衍射技术的基本原理和操作方法，还对晶体结构分析有了更深入的了解。
我们相信，通过不断的学习和实践，我们一定能够运用所学知识，取得更加丰硕的科研成果。
X射线衍射实验报告
X射线衍射实验报告实验目的：1.理解X射线的基本原理和衍射现象；2.学习使用X射线衍射技术进行晶体结构分析；3.掌握X射线衍射仪器的操作和数据处理方法。
实验原理：X射线衍射是利用物质对X射线的散射现象来研究物质的结构的一种方法。
当X射线照射到晶体上时，晶格中的原子会对X射线进行干涉和散射，形成一系列的衍射斑。
通过测量和分析这些衍射斑的位置和强度，可以确定晶体的晶格结构和晶胞参数。
实验步骤：1.将待测试的晶体样品固定在X射线衍射仪器的样品台上；2.调节X射线束的能量、强度和角度，使其照射到样品上；3.调整检测仪器的位置和参数，记录衍射斑的出现位置和强度；4.根据衍射斑的位置和强度，利用衍射理论计算晶体的晶格结构和晶胞参数；5.对实验数据进行处理和分析，得出相应的结论。
实验结果：根据实验测量到的衍射斑的位置和强度，通过衍射理论计算得到了待测晶体的晶胞参数和晶格结构。
比较实验结果与已知数据，验证了实验的准确性和可靠性。
实验讨论：2.实验方法的改进和优化；3.实验结果的意义和应用。
实验结论：通过X射线衍射实验，我们成功地测量和分析了待测晶体的晶格结构和晶胞参数，验证了X射线衍射技术在晶体结构分析中的可行性和应用价值。
同时，我们也进一步了解了X射线的基本原理和衍射现象，对X射线衍射仪器的操作和数据处理方法有了更深入的认识和理解。
总结：X射线衍射实验是一种重要的手段，用于研究物质的结构和性质。
通过实验，我们不仅学到了理论知识，还提高了实验操作和数据处理的能力。
这些都对我们今后的学习和工作具有重要意义。
需要进一步加强对实验原理和技术的理解，不断优化和改进实验方法，使实验结果更加准确、可靠和有意义。
xrd实验报告
xrd实验报告X射线衍射（XRD）实验报告一、实验目的：1. 理解X射线衍射的原理和方法；2. 掌握X射线衍射实验技术。
二、实验仪器和试样：1. 实验仪器：X射线衍射仪；2. 试样：晶体样品。
三、实验原理：当X射线照射到晶体上时，会发生衍射现象。
根据布拉格定律，晶体的面间距d与入射角θ、衍射角2θ之间的关系为：nλ = 2d sinθ，其中n为整数，λ为入射X射线的波长。
在实验中，通过调节入射角和测量衍射角的大小，可以确定晶体的面间距d。
四、实验步骤：1. 打开X射线衍射仪电源，接通电源；2. 放置试样：将试样固定在衍射仪的样品台上，并平稳调整样品位置，使得样品完全暴露在X射线束下；3. 调整角度：通过旋转样品台和检测器，使得X射线通过样品时的入射角和衍射角适中；4. 测量数据：用探测器测量各个入射角对应的衍射强度，并记录下来；5. 处理数据：根据测得的衍射角和入射角，计算晶体的面间距；6. 分析结果：根据计算的结果，分析晶体的结构和组成。
五、实验结果：1. 测得的入射角和衍射角数据如下：入射角（θ/°）衍射角（2θ/°）10 2020 4030 6040 8050 1002. 计算得到的晶体的面间距如下：面间距d = λ / (2sin(θ/2))= λ / (2sin(10/2))= λ / (2sin(5))= λ / (2×0.087)≈ 5.7Å六、实验结论：通过实验测得的X射线衍射数据和计算得到的晶体面间距，可以得出晶体的结构和组成。
根据测得的数据，在入射角为10°的情况下，衍射角为20°，计算得到面间距为5.7Å，可以初步推断晶体为立方晶系。
进一步根据其他测量数据分析晶体的具体组成和结构。
七、实验总结：X射线衍射实验是一种重要的结晶学方法，非常有助于研究晶体的结构和组成。
在实验过程中，需要仔细调节样品位置和角度，以获得准确的衍射数据。
xrd衍射分析的实验报告
xrd衍射分析的实验报告XRD 衍射分析的实验报告一、实验目的本次 XRD 衍射分析实验的主要目的是通过对样品进行 X 射线衍射测试，获取样品的晶体结构、物相组成等信息，从而深入了解样品的性质和特征。
二、实验原理X 射线衍射（Xray Diffraction，简称 XRD）是一种用于分析晶体结构和物相组成的重要技术。
当 X 射线照射到晶体样品时，晶体中的原子会对 X 射线产生散射。
由于晶体中原子的排列具有周期性，散射波之间会发生干涉，从而在特定的角度产生强度较高的衍射峰。
根据布拉格定律（2d sinθ ＝nλ），其中 d 为晶面间距，θ 为衍射角，n 为衍射级数，λ 为 X 射线波长，通过测量衍射角和衍射强度，可以计算出晶面间距和确定晶体结构。
不同的物相具有不同的晶体结构和特征衍射峰，因此可以通过与标准图谱对比来确定样品中的物相组成。
三、实验仪器与材料1、实验仪器X 射线衍射仪：采用具体型号 X 射线衍射仪，其工作电压为电压值，工作电流为电流值，配备有探测器类型探测器。
样品制备设备：包括研钵、压片机等。
2、实验材料待测试样品：样品名称及来源。
标准物质：标准物质名称及用途。
四、实验步骤1、样品制备将待测试样品研磨至粉末状，确保颗粒大小均匀。
取适量粉末样品，使用压片机在一定压力下压制成平整的薄片。
2、仪器调试开启 X 射线衍射仪，预热至稳定工作状态。
设置实验参数，包括 X 射线波长、工作电压、工作电流、扫描范围、扫描速度等。
3、样品测试将制备好的样品薄片放入样品台，确保样品表面与 X 射线入射方向垂直。
启动测试程序，进行 X 射线衍射扫描，记录衍射图谱。
4、数据处理对获得的衍射图谱进行平滑、背景扣除等预处理操作。
利用专业软件对衍射数据进行分析，包括物相鉴定、晶胞参数计算等。
五、实验结果与分析1、衍射图谱给出实验获得的 XRD 衍射图谱，并对图谱的整体特征进行描述，如衍射峰的强度、位置、宽窄等。
2、物相分析通过与标准图谱对比，确定样品中存在的物相。
X射线衍射实验报告
实验报告: X 射线衍射一、实验原理X 射线衍射分析技术是一种十分有效的材料分析方法,在众多领域的研究和生产中被广泛应用。
X 射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
当某物质(晶体或非晶体) 进行衍射分析时,该物质被X 射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。
X 射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
因此,X 射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
X 射线与物质的相互作用X 射线与物质的相互作用分为两个方面, 一是被原子吸收, 产生光电效应；二是被电子散射。
X 射线衍射中利用的就是被电子散射的X 射线。
X 射线散射: 当光子和原子上束缚较紧的电子相互作用时, 光子的行进方向受到影响而发生改变, 但它的能量并不损失, 故散射线的波长和原来的一样, 这种散射波之间可以相互干涉, 引起衍射效应, 这是相干散射, 是取得衍射数据的基础。
X 射线的相干散射是XRD 技术应用的基础, 接下来研究一下X 射线衍射的条件, 找到其与物质本身结构之间的关系。
X 射线衍射一束平行的X 光照到两个散射中心O 、M 上, 见下图O 与M 之间的距离远小于它们到观测点的距离, 从而可以认为, 观测到的是两束平行散射线的干涉。
下面考查散射角为2θ时散射线的干涉情况。
0ˆs 和ˆs分别表示入射线和散射线方向上的单位矢量。
两条散射线之间的光程差为mo on δ=+即00ˆˆˆˆ()sr s r s s r δ=-⋅+⋅=-⋅ 其中为两个散射中心之间的位置矢量, 与相应的相位差应为 0ˆˆ22s s r πφδπλλ-=⋅=⋅散射线之间的相位差φ是决定散射线干涉结果的关键量。
因此有必要再进一步讨论。
定义 0ˆˆss s λ-= 为散射矢量如右图所示, 散射矢量与散射角的角平分线垂直, 它的大小为由此可见, 散射矢量的大小只与散射角和所用波长有关, 而与入射线和散射线的绝对方向无关。
XRD实验报告
XRD 实验报告一、实验名称X 射线衍射(XRD)实验实验二、实验目的1. 了解X 射线衍射的工作原理和仪器结构；射线衍射的工作原理和仪器结构；2. 掌握X 射线衍射仪的操作步骤和注意事项；射线衍射仪的操作步骤和注意事项；三、实验原理X 射线是一种波长很短（约20～0.06Å）的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。
在用电子束轰击金属“靶”产生的X 射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X 射线，称为特征（或标识）X 射线。
射线。
X 射线在晶体中产生的衍射现象，是由于晶体中各个原子中电子对X 射线产生相干散射和相互干涉叠加或抵消而得到的结果。
晶体可被用作X 光的光栅，这些很大数目的粒子这些很大数目的粒子（原子、（原子、（原子、离子或分子）离子或分子）离子或分子）所产生的相干散射将会发生光的干涉所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而使得散射的X 射线的强度增强或减弱。
由于大量粒子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X 射线的衍射线。
射线的衍射线。
当一束单色X 射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X 射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X 射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X 射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。
这就是X 射线衍射的基本原理。
射线衍射的基本原理。
晶体对X 射线衍射示意图射线衍射示意图衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示：衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示：2sin d n q l =其中d 是晶体的晶面间距，θ为X 射线的衍射角，λ为X 射线的波长，n 为衍射级数。
应用已知波长的X 射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d ，这是用于X 射线结构分析；另一个是应用已知d 的晶体来测量θ角，从而计算出特征X 射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。
x射线衍射仪原理与结构实验报告
x射线衍射仪原理与结构实验报告X 射线衍射仪原理与结构实验报告一、实验目的本次实验的目的是深入了解 X 射线衍射仪的工作原理和结构组成，掌握其操作方法，并通过实际实验数据分析物质的晶体结构。
二、实验原理X 射线衍射是一种基于 X 射线与晶体相互作用产生衍射现象的分析技术。
当 X 射线照射到晶体时，由于晶体中原子排列的周期性，会使得 X 射线发生散射。
这些散射波相互干涉，在某些特定的方向上会产生加强的衍射峰。
布拉格定律是解释 X 射线衍射现象的重要定律，其表达式为：＄2d\sin\theta ＝ n\lambda$，其中$d$为晶面间距，＄＼theta$为入射 X 射线与晶面的夹角，＄n$为整数，称为衍射级数，＄＼lambda$为 X 射线的波长。
通过测量衍射角$＼theta$和 X 射线的波长$＼lambda$，可以计算出晶面间距$d$，从而推断出晶体的结构。
三、实验仪器本次实验使用的是_____型 X 射线衍射仪，主要由以下几个部分组成：1、 X 射线源X 射线源通常采用 X 光管，通过给灯丝加热产生热电子，在高压电场的作用下加速撞击阳极靶材，产生 X 射线。
2、测角仪测角仪用于精确测量衍射角$＼theta$，它由样品台和探测器臂组成，可以使样品和探测器在一定的角度范围内转动。
3、探测器探测器用于检测衍射 X 射线的强度，常见的探测器有正比计数器、闪烁计数器和固体探测器等。
4、控制与数据处理系统控制与数据处理系统用于控制仪器的运行参数、采集衍射数据，并对数据进行处理和分析。
四、实验步骤1、样品制备将待测样品研磨成粉末状，然后均匀地填充到样品槽中，确保样品表面平整。
2、仪器调试打开 X 射线衍射仪，设置 X 射线管的工作电压和电流，以及测角仪的扫描范围、步长和扫描速度等参数。
3、样品测量将制备好的样品放入样品台，启动测量程序，仪器会自动按照设定的参数进行扫描，并记录衍射数据。
4、数据处理测量完成后，使用配套的数据处理软件对衍射数据进行处理，包括扣除背景、平滑曲线、寻峰和指标化等操作，以获得晶体结构的相关信息。
XRD实验报告范文
XRD实验报告范文
X射线衍射（XRD）是一种常用的材料表征技术，通过衍射峰的位置
和强度，可以确定材料的晶体结构、晶胞参数、晶粒尺寸等信息。
本实验
使用X射线衍射技术对样品进行表征，得到了有关其结构特征的重要信息。
以下是X射线衍射实验的详细报告。
1.实验目的
通过X射线衍射技术对样品进行表征，了解其结构特征，包括晶体结构、晶胞参数和晶粒尺寸等信息。
2.实验仪器和试剂
实验仪器：X射线衍射仪
试剂：待测样品
3.实验步骤
1）将待测样品制备成粉末状，并均匀散布在样品台上；
2）将样品台放入X射线衍射仪中，调整好仪器参数；
3）开始扫描样品，记录X射线衍射图谱；
4）分析图谱，确定样品的晶体结构、晶胞参数和晶粒尺寸等信息。
4.实验结果与分析
通过X射线衍射实验，我们得到了样品的X射线衍射图谱，图中展示
了多个衍射峰的位置和强度。
通过分析图谱，我们确定了样品的晶体结构
为立方晶系，并计算得到了晶胞参数a=5 Å。
此外，通过衍射峰的宽度可以估计出样品的平均晶粒尺寸为100 nm。
5.结论
通过X射线衍射实验，我们成功地对样品进行了结构表征，获得了关于其晶体结构、晶胞参数和晶粒尺寸等重要信息。
这些结果对于进一步研究和应用样品具有重要的指导意义。
总结：X射线衍射技术是一种非常重要的材料表征手段，可以提供材料的结构信息，为材料的研究和开发提供重要支持。
本实验通过X射线衍射技术成功地对样品进行了结构表征，为后续的研究工作奠定了基础。
希望通过这次实验，同学们对X射线衍射技术有了更深入的了解，并能够运用它来解决实际问题。
XRD实验报告
XRD实验报告一、实验目的1.了解X射线衍射（XRD）技术的基本原理；2.学习XRD在矿石分析中的应用；3.掌握利用XRD技术鉴别蒙脱石的方法。
二、实验原理X射线衍射是一种通过物质对X射线的衍射现象来研究物质结构和性质的方法。
当X射线与物质中的原子或离子相互作用时，会受到散射并出现干涉现象，形成衍射图案。
在XRD实验中，我们使用的是钼靶X射线源，其波长为0.7112Å。
X射线射入样品后，会与样品中的晶体结构发生相互作用，产生不同的衍射角度，并通过X射线探测器检测并记录下来。
通过观察衍射谱图，可以得到样品的晶体结构和组成。
对于蒙脱石的鉴别，其主要特征是出现在5-8°范围内的两个衍射峰。
这两个峰分别对应（001）和（060）晶面的衍射峰。
通过观察这两个峰的位置、强度和形状，可以确定样品中是否存在蒙脱石。
三、实验步骤1.准备样品：将蒙脱石样品研磨成粉末状，将粉末均匀地撒在XRD样品台上。
2.调整XRD仪器：打开XRD仪器，调整样品台的位置和角度，使其与X射线源和X射线探测器对准。
3.收集衍射数据：开始收集衍射数据，设置扫描范围为2θ=3-30°，步进角度为0.02°。
通过点击“开始扫描”按钮，开始进行自动扫描。
4.分析数据：扫描结束后，得到一幅衍射谱图。
观察谱图中5-8°范围内的两个衍射峰，分析其位置、强度和形状，确定是否存在蒙脱石。
5.记录观察结果：根据分析结果，记录下样品中是否存在蒙脱石，以及相应的衍射峰特征。
四、实验结果与分析根据图谱分析，我们确定样品中存在蒙脱石。
两个衍射峰的位置分别为6.5°和7.2°，强度相对较强，峰形较尖锐。
这与蒙脱石的（001）和（060）晶面的衍射特征相符合。
五、实验总结通过本次XRD实验，我们学习了X射线衍射技术的基本原理，并成功运用XRD技术鉴别了蒙脱石样品。
实验结果表明，蒙脱石样品的衍射图谱中确实存在5-8°范围内的两个衍射峰，验证了蒙脱石的存在。
x射线衍射分析实验报告
x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。
实验目的，通过X射线衍射分析，了解晶体结构的性质和特点，掌握X射线衍射仪器的使用方法，提高实验操作能力。
实验仪器，X射线衍射仪、标本夹、标本台、X射线管、样品旋转台等。
实验原理，X射线衍射是一种通过晶体对入射X射线的衍射现象来研究晶体结构的方法。
当入射X射线照射到晶体上时，晶体中的原子会对X射线进行衍射，形成衍射图样。
通过分析衍射图样的特点，可以推断晶体的晶格结构和晶面间距。
实验步骤：1. 将待测样品放置在X射线衍射仪的标本夹上，固定好。
2. 调整X射线管的位置和角度，使得X射线能够正常照射到样品上。
3. 启动X射线衍射仪，进行衍射图样的采集。
4. 对采集到的衍射图样进行分析，推断样品的晶格结构和晶面间距。
实验结果分析：通过X射线衍射实验，我们成功获取了样品的衍射图样，并进行了分析。
根据衍射图样的特点，我们推断出样品的晶格结构为立方晶系，晶面间距为2.5 Å。
这与样品的实际晶体结构相符，说明X射线衍射分析是一种有效的手段，可以准确地研究晶体结构。
实验总结：通过本次实验，我们深入了解了X射线衍射分析的原理和方法，掌握了X射线衍射仪器的使用技巧。
实验结果表明，X射线衍射分析是一种可靠的手段，可以用于研究晶体结构。
在以后的科研工作中，我们将进一步运用X射线衍射分析技术，深入研究材料的晶体结构和性质，为材料科学领域的发展做出贡献。
结语：通过本次实验，我们对X射线衍射分析有了更深入的了解，也提高了实验操作能力。
希望通过不断的实践和学习，能够更好地运用X射线衍射分析技术，为科学研究做出更多的贡献。
以上就是本次X射线衍射分析实验的实验报告，谢谢阅读。
X射线衍射实验报告
华东理工大学实验报告实验名称：X射线衍射实验姓名：陈维学号：030100890专业：化学工程班级：工程105班X射线衍射实验报告实验目的1.学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理；2.掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤；3.给定实验样品，设计实验方案，做出正确分析鉴定结果。
实验原理根据晶体对X射线的衍射特征－衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法，就是X射线物相分析法。
每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。
没有任何两种物质，它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。
因此，当X射线被晶体衍射时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度I／I1来表征。
其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关，相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。
所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I／I1是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。
衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示：实验仪器本实验使用的X射线衍射仪是由日本理学制造的。
X射线衍射仪主要由X射线发生器（X射线管）、测角仪、X射线探测器、计算机控制处理系统等组成。
衍射仪的结构如下图所示。
1 X射线管X射线管主要分密闭式和可拆卸式两种。
广泛使用的是密闭式, 由阴极灯丝、阳极、聚焦罩等组成, 功率大部分在 1～2千瓦。
可拆卸式X射线管又称旋转阳极靶,其功率比密闭式大许多倍, 一般为 12～60千瓦。
常用的X射线靶材有 W、Ag、Mo、Ni、Co、Fe、Cr、Cu等。
选择阳极靶的基本要求：尽可能避免靶材产生的特征X 射线激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样的背底，使图样清晰。
2测角仪测角仪是粉末X射线衍射仪的核心部件，主要由索拉光阑、发散狭缝、接收狭缝、防散射狭缝、样品座及闪烁探测器等组成。
3 X射线探测记录装置衍射仪中常用的探测器是闪烁计数器(SC)，它是利用X射线能在某些固体物质(磷光体)中产生的波长在可见光范围内的荧光，这种荧光再转换为能够测量的电流。
X射线衍射实验报告
X射线衍射实验报告第一篇：X射线衍射实验报告X射线衍射实验报告一、实验目的（1）掌握X射线衍射仪的工作原理、操作方法；（2）掌握X射线衍射实验的样品制备方法；（3）掌握运用X射线衍射分析软件进行物相分析的原理和实验方法；（4）熟悉PDF卡片的查找方法和物相检索方法。
二、实验仪器X射线衍射仪，PDF卡。
X射线衍射仪，主要由X射线发生器、X射线测角仪、辐射探测器、辐射探测电路、计算机系统等组成。
（1）X射线发生器X射线管工作时阴极接负高压，阳极接地。
灯丝附近装有控制栅，使灯丝发出的热电子在电场的作用下聚焦轰击到靶面上。
阳极靶面上受电子束轰击的焦点便成为X射线源，向四周发射X射线。
在阳极一端的金属管壁上一般开有四个射线出射窗口。
转靶X射线管采用机械泵+分子泵二级真空泵系统保持管内真空度，阳极以极快的速度转动，使电子轰击面不断改变，即不断改变发热点，从而达到提高功率的目的，如下图1。
图1 X射线管（2）测角仪测角仪圆中心是样品台，样品台可以绕中心轴转动，平板状粉末多晶样品安放在样品台上，样品台可围绕垂直于图面的中心轴旋转；测角仪圆周上安装有X射线辐射探测器，探测器亦可以绕中心轴线转动；工作时，一般情况下试样台与探测器保持固定的转动关系（即θ-2θ连动），在特殊情况下也可分别转动；有的仪器中样品台不动，而X射线发生器与探测器连动，如下图2。
图2 测角仪（3）PDF卡的组成如下3图所示图3 PDF卡三、实验原理1、X射线的产生实验中通常使用X光管来产生X射线。
在抽成真空的X光管内，当由热阴极发出的电子经高压电场加速后，高速运动的电子轰击由金属做成的阳极靶时，靶就发射X射线。
发射出的X射线分为两类：（1）如果被靶阻挡的电子的能量不越过一定限度时，发射的是连续光谱的辐射。
这种辐射叫做轫致辐射；（2）当电子的能量超过一定的限度时，可以发射一种不连续的、只有几条特殊的谱线组成的线状光谱，这种发射线状光谱的辐射叫做特征辐射。
X射线衍射实验报告范文
X射线衍射实验报告范文X射线衍射实验报告模板一、实验目的1.了解X射线衍射仪的结构；2.熟悉X射线衍射仪的工作原理；3.掌握X射线衍射仪的基本操作。
二、实验原理X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。
晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。
由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。
满足衍射条件，可应用布拉格公式：2dsinθ=λ应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X 射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。
三、仪器组成X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。
（1）高稳定度X射线源提供测量所需的X射线,改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长,调节阳极电压可控制X射线源的强度。
（2）样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。
（3）射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。
（4）衍射图的处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统,它们的特点是自动化和智能化。
四、实验步骤1）开启循环水系统：将循环水系统上的钥匙拧向竖直方向，打开循环水上的控制器开关ON，此时界面会显示流量，打开按钮RUN即可。
调节水压使流量超过3.8L/min，如果流量小于3.8L/min，高压将不能开启。
2）开启主机电源：打开交流伺服稳压电源，即把开关扳到ON的位置，然后按开关上面的绿色按钮FASTSTART,此时主机控制面板上的“standby”灯亮。
3）按下Light（第三个按钮），打开仪器内部的照明灯。
4)关好门，把HT钥匙转动90°，拧向平行位置，按下X'Pert仪器上的Poweron（第一个按钮），此时HT指示灯亮，HT指示灯下面的四个小指示灯也会亮，并且会有电压（15KV）和电流（5mA）显示，等待电压电流稳定下来。
x射线 衍射实验报告
x射线衍射实验报告X射线衍射实验报告引言：X射线衍射是一种重要的实验方法，通过观察X射线在晶体中的衍射现象，可以得到晶体的结构信息。
本实验旨在通过测量X射线的衍射图样，分析晶体的晶格常数和晶体结构。
实验步骤：1. 实验仪器准备：实验中我们使用了一台X射线衍射仪，该仪器由X射线源、样品台和衍射屏组成。
在实验开始前，我们首先调整好仪器的位置和角度，确保X射线源正对着样品台，并使得衍射屏处于最佳观察位置。
2. 样品制备：为了进行衍射实验，我们需要制备一些晶体样品。
在本实验中，我们选择了晶体A和晶体B作为样品。
首先，我们将晶体A和晶体B分别放置在样品台上，并调整好其位置，使得晶体表面垂直于入射X射线。
3. 测量衍射图样：当样品台上的晶体A和晶体B受到X射线照射时，会产生衍射现象。
我们将观察衍射屏上的图样，并使用标尺测量不同衍射斑的位置和强度。
通过记录不同衍射斑的位置和强度，我们可以得到晶体的衍射图样。
结果与分析：通过实验测量得到的衍射图样，我们可以观察到明显的衍射斑。
根据这些衍射斑的位置和强度，我们可以计算出晶体的晶格常数和晶体结构。
首先，我们通过测量不同衍射斑的位置，可以利用布拉格方程计算晶体的晶格常数。
布拉格方程表示为：nλ = 2dsinθ，其中n为衍射阶数，λ为入射X射线的波长，d为晶格常数，θ为衍射角。
通过测量不同衍射斑的位置并代入布拉格方程，我们可以得到晶体的晶格常数。
其次，通过观察衍射斑的强度分布，我们可以推断出晶体的结构信息。
不同的晶体结构会导致不同的衍射斑强度分布。
通过与已知晶体结构的对比，我们可以确定晶体的结构类型。
讨论与结论：在本实验中，我们成功地进行了X射线衍射实验，并通过测量衍射图样得到了晶体的晶格常数和结构信息。
通过这些结果，我们可以进一步了解晶体的性质和结构。
然而，需要注意的是，X射线衍射实验只能提供晶体结构的一些基本信息，对于复杂的晶体结构，可能需要结合其他实验方法进行进一步研究。
现代分析xrd实验报告
现代分析xrd实验报告引言X射线衍射（X-ray Diffraction，简称XRD）是一种常用的材料分析方法，通过探测材料中的晶体结构与结晶性质，在材料科学、地质学、化学等领域有着广泛的应用。
本实验旨在利用现代分析XRD技术，研究样品的结晶性质及晶体结构，深入了解样品的微观结构和性质。
实验原理XRD实验基于布拉格方程：n\lambda = 2d\sin\theta其中，n为正整数，\lambda为入射X射线的波长，d为晶格间距，\theta为X 射线与晶体平面的夹角。
通过衍射仪表的旋转，可以连续扫描探测到一系列的衍射峰，每个峰对应一个特定的晶面间距和入射角。
通过分析这些数据，可以推断出晶体的晶胞参数以及晶体的晶体结构。
实验步骤1. 样品准备：将待测样品制备成粉末状，并将其均匀地散布在样品托盘上。
2. 仪器调试：按照仪器操作手册，正确调整XRD仪器的参数，确定好入射角范围、扫描速度等。
3. 样品加载：将样品托盘固定在仪器的样品台上，并确保样品与X射线束的垂直对准。
4. 开始扫描：启动XRD仪器，进行衍射扫描。
仪器会自动旋转样品台，并记录衍射峰的位置和强度。
5. 数据分析：将实验得到的数据导入分析软件，通过峰位和峰宽的测量，计算晶格常数和晶胞参数。
对数据进行拟合，得到最佳拟合曲线，并根据拟合结果确定晶体结构。
实验结果经过实验测量和数据分析，得到了如下结果：1. 样品X射线衍射图谱：经过峰形分析，得到了样品的X射线衍射图谱。
2. 衍射峰角度和强度数据：记录了每个衍射峰的角度和相对强度。
3. 拟合结果：通过拟合处理，得到了最佳的拟合曲线，并计算出样品的晶格常数和晶胞参数。
根据实验结果，可以得出样品的晶体结构、晶格常数等信息，进一步研究样品的晶体性质和结构性质。
结论通过现代分析XRD技术，我们成功地研究了样品的结晶性质和晶体结构。
获得了样品的X射线衍射图谱，并通过数据分析得到了样品的晶格常数和晶胞参数。
X射线衍射分析实验报告
X射线衍射分析实验报告一、实验目的1.学会X射线衍射实验的制样过程，了解X射线衍射仪的操作过程2.学会根据XRD图谱进行相应的定性和定量分析二.实验原理对于 X 射线衍射，当光程差等于波长的整数倍时，相邻晶面的“反射线”将加强，此时满足的条件为：2dsinθ=nλ其中，d为晶面间距，θ 为为半衍射角，λ为波长，n为反射级数。
该方程是晶体衍射的理论基础，它简单明确地阐明衍射的基本关系，从实验上可有两方面的应用：一是用已知波长的X射线去照射未知结构的晶体，通过衍射角的测量求得晶体中各晶面的间距d，从而揭示晶体的结构，这就是结构分析（衍射分析）；二是用已知晶面间距的晶体来反射从样品发射出来的X射线，通过衍射角的测量求得X 射线的波长，这就是 X射线光谱学。
该法除可进行光谱结构的研究外，从 X 射线波长也可以确定试样的组成元素。
三.实验仪器仪器型号：日本理学D/max2550主要技术指标：靶：铜靶X射线发生器功率：18 kW(40 kV,450 mA)X射线发生器稳定度：±0.01%最大计数：100万cps重复性：1°/10000四.实验步骤1.仪器准备（1）开机前检查实验环境，室温保持在20±5℃，湿度低于60%；（2）开D/max主机的主电源开关，手动开启真空系统，运行24小时后切换成自动，按D/max 主机面板上的“START”;（3）X射线发生器系统低于规定值时，启动X射线发生器外循环水冷系统；（4）打开控制系统通讯电源，进行阳极靶的老化。
2.样品制备将达到要求的粉末状试样（5-10μm）填入样品架，轻压使试样分布均匀3.谱图测定（1）将制好的样品放在样品台上，关上主机前门；（2）设定相应的仪器参数，start angle 为5°，stop angle为90°，scan speed为10°/min，扫描电压为40 kV，扫描电流为100 mA，开始测定。
X射线衍射实验报告
X射线衍射实验报告中南大学X射线衍射实验报告材料科学与工程学院材料国际专业1401 班级姓名蔡云伟学号0605140118 同组者实验日期2016 年05 月18 日指导教师黄继武评分分评阅人评阅日期一、实验目的1)掌握X射线衍射仪的工作原理、操作方法；2)掌握X射线衍射实验的样品制备方法；3)学会X射线衍射实验方法、实验参数设置，独立完成一个衍射实验测试；4)学会MDI Jade 6的基本操作方法；5)学会物相定性分析的原理和利用Jade进行物相鉴定的方法；6)学会物相定量分析的原理和利用Jade进行物相定量的方法。
本实验由衍射仪操作、物相定性分析、物相定量分析三个独立的实验组成，实验报告包含以上三个实验内容。
二、实验原理根据布拉格定律，我们可以知道，只有在特殊的入射角度时我们才能得到衍射图像。
所以，根据这一原理，我们在使用了把X射线和探测器放在环形导轨上的方法，把每个方向的结果都探测一遍，最终收集到能发生衍射的衍射峰。
根据结果，推算晶面，判断晶体构型，判断元素种类。
b a b O Al a O Al a bRIR RIR K K K ==3232, )(a b b a aa K I I I W +=五 实验数据处理1 物相鉴定结果2 定量分析结果（1）WCUSER: userJADE: Quantitative Analysis from Profile-Fitted PeaksDATE: Thursday, Jan 01, 2004 01:16aFILE: [005 WC.raw]SCAN: 25.0/125.0/0.02/1(sec), Cu(40kV,250mA), I(max)=40668,10-28-10 13:19PROC: [New Quantitative Analysis]Phase ID (2) Chemical Formula RIR Dx MAC LAC Wt% Wt(n)% Vol(n)% #L I%-I(r) {Area} {Height}Tungsten Carbide WC 15.71 15.672161.73 2534.7 82.0 (4.2) 82.0 (4.2) 83.3 (5.7) 1 0.0 479781(21469) 30158(1046)Tungsten carbide - $-epsilon W2C 10.80 17.162166.70 2861.0 18.0 (0.9) 18.0 (0.9) 16.7 (1.1) 1 0.0 72427(1893) 6967(142)2-Theta FWHM Height Height% Area(a1) Area% I(r) I(p) I%-I(r) ( h k l)35.616 (0.004) 0.213 (0.012) 30158 (1046) 100.0 479781 (21469) 100.0 100.0 100.0 0.0 ( 1 0 0)2-Theta FWHM Height Height% Area(a1)Area% I(r) I(p) I%-I(r) ( h k l)39.547 (0.002) 0.148 (0.005) 6967 (142) 100.0 72427 (1894)100.0 100.0 100.0 0.0 (-1-1 1)（2）LiCoOSiUSER: userJADE: Quantitative Analysis from Profile-Fitted PeaksDATE: Thursday, Jan 01, 2004 01:04aFILE: [LiCoOSi (39).raw]SCAN: 10.0/80.0/0.02/1(sec), Cu(40kV,250mA), I(max)=8718, 08-27-1313:27PROC: [New Quantitative Analysis]Phase ID (2) Chemical Formula RIR Dx MACLAC Wt% Wt(n)% Vol(n)% #L I%-I(r) {Area} {Height}Lithium cobalt(III) oxide LiCoO2 4.38 5.049 192.28970.8 48.3 (4.1) 48.3 (4.1) 30.1 (3.2) 1 0.0 44727(2619)5010(263)Silicon Si 4.55 2.329 60.60 141.1 51.7 (4.4) 51.7 (4.4) 69.9 (7.5) 1 0.0 49763(3069) 6558(343)2-Theta FWHM Height Height% Area(a1) Area% I(r) I(p) I%-I(r) ( h k l)18.897 (0.005) 0.144 (0.007) 5010 (263) 100.0 44727 (2620) 100.0 100.0 100.0 0.0 ( 0 0 3)2-Theta FWHM Height Height% Area(a1) Area% I(r) I(p) I%-I(r) ( h k l)28.409 (0.005) 0.131 (0.006) 6558 (343) 100.0 49763 (3070) 100.0 100.0 100.0 0.0 ( 1 1 1)3 点阵常数精确测定结果Tungsten Carbide - WC <Wt%=82.0 (4.2)>W2C <Wt%=18.0 (0.9)>Tungsten Carbide=82.0%W2C=18.0%Wt%Quantitative Analysis from Profile-Fitted PeaksLiCoO2 <Wt%=48.3 (4.1)>Silicon - Si <Wt%=51.7 (4.4)>LiCoO2=48.3%Wt%Silicon=51.7%Quantitative Analysis from Profile-Fitted Peaks具体PDF卡片结果：1.WCPDF#79-0743: QM=Calculated(C); d=Calculated; I=CalculatedTungsten CarbideW2 CRadiation=CuKa1 Lambda=1.54060 Filter= Calibration= 2T=18.769-89.599I/Ic(RIR)=10.80Ref: Calculated from ICSD using POWD-12++ (1997)Hexagonal - Powder Diffraction, P-31m (162) Z=3 mp=CELL: 5.19 x 5.19 x 4.724 <90.0 x 90.0 x 120.0> P.S=hP9 ($GE) (C5 W12)Density(c)=17.162 Density(m)=17.27AMwt=379.71 Vol=110.20F(23)=999.9(.0000,32/0)Ref: Epicier, T., Dubois, J., Esnouf, C., Fantozzi, G., Convert, P.Acta Metall., v36 p1903 (1988)Strong Lines: 2.27/X 2.36/2 2.60/2 1.50/2 1.35/2 1.27/2 1.75/2 1.25/1 1.14/1 1.18/1FIZ=065700: ITF TEM Mentioned.Neutron powder diffraction studies of transition metal hemicarbides M2 C1-x - II.In situ high temperature study on W2 C1-x and Mo2 C1-x k d c b a (P3-1M) NO22-Theta d(?) I(f) ( h k l) Theta 1/(2d) 2pi/d n^218.769 4.7240 0.1 ( 0 0 1) 9.384 0.1058 1.330119.736 4.4947 0.1 ( 1 0 0) 9.868 0.1112 1.397927.366 3.2563 0.1 ( 1 0 1) 13.683 0.1535 1.929634.535 2.5950 21.9 ( 1 1 0) 17.267 0.1927 2.421338.066 2.3620 23.6 ( 0 0 2) 19.033 0.2117 2.660139.592 2.2744 100.0 (-1-1 1) 19.796 0.2198 2.762543.234 2.0909 0.1 ( 1 0 2) 21.617 0.2391 3.005144.613 2.0294 0.1 ( 2 0 1) 22.306 0.2464 3.096152.332 1.7468 15.0 (-1-1 2) 26.166 0.2862 3.597156.472 1.6281 0.1 ( 2 0 2) 28.236 0.3071 3.859157.612 1.5986 0.1 (-2-1 1) 28.806 0.3128 3.930461.879 1.4982 16.2 ( 3 0 0) 30.939 0.3337 4.193865.281 1.4281 0.1 ( 3 0 1) 32.641 0.3501 4.399669.805 1.3462 15.2 (-1-1 3) 34.903 0.3714 4.667372.835 1.2975 2.0 ( 2 2 0) 36.417 0.3854 4.842575.011 1.2652 15.2 ( 3 0 2) 37.505 0.3952 4.966375.999 1.2512 11.5 (-2-2 1) 37.999 0.3996 5.021979.443 1.2053 0.1 ( 3 1 1) 39.721 0.4148 5.212881.419 1.1810 2.1 ( 0 0 4) 40.710 0.4234 5.320283.670 1.1549 0.1 (-2-1 3) 41.835 0.4330 5.440685.272 1.1372 2.8 (-2-2 2) 42.636 0.4397 5.525088.643 1.1025 0.1 (-3-1 2) 44.322 0.4535 5.699289.599 1.0932 0.1 ( 4 0 1) 44.800 0.4574 5.7477PDF#89-2727: QM=Calculated(C); d=Calculated; I=CalculatedTungsten CarbideW CRadiation=CuKa1 Lambda=1.54060 Filter= Calibration= 2T=31.509-84.081I/Ic(RIR)=15.71Ref: Calculated from ICSD using POWD-12++Hexagonal - Powder Diffraction, P-6m2 (187) Z=1 mp=CELL: 2.906 x 2.906 x 2.837 <90.0 x 90.0 x 120.0> P.S=hP2 (?)Density(c)=15.672 Density(m)=15.13AMwt=195.86 Vol=20.75F(9)=999.9(.0000,9/0)Ref: Parthe, E., Sadagopan, V.Monatsh. Chem., v93 p263 (1962)Strong Lines: 2.52/X 1.88/9 2.84/4 1.29/2 1.45/2 1.24/2 1.15/1 1.26/1 1.42/1 0.00/1FIZ=043380: PDF 00-025-1047.M Described also as mineral from Mengyin, Shadong and Da Sichuan, China.At least one TF implausible.ITF See PDF 01-072-0097.Neutronen- und Roentgenbeugungsuntersuchungen ueber die Struktur des Wolframcarbides W C und Vergleich mit aelteren Elektronenbeugungsdaten d a (P6-M2) NO2-Theta d(?) I(f) ( h k l) Theta 1/(2d) 2pi/d n^231.509 2.8370 44.0 ( 0 0 1) 15.754 0.1762 2.214735.645 2.5167 100.0 ( 1 0 0) 17.823 0.1987 2.496648.302 1.8827 88.2 ( 1 0 1) 24.151 0.2656 3.337464.029 1.4530 17.9 ( 1 1 0) 32.014 0.3441 4.324365.780 1.4185 5.4 ( 0 0 2) 32.890 0.3525 4.429573.113 1.2932 18.8 ( 1 1 1) 36.557 0.3866 4.858475.489 1.2583 9.0 ( 2 0 0) 37.745 0.3974 4.993377.121 1.2357 16.6 ( 1 0 2) 38.560 0.4046 5.084684.081 1.1503 13.9 ( 2 0 1) 42.041 0.4347 5.46242.LiCoOSiPDF#75-0532: QM=Calculated(C); d=Calculated; I=CalculatedLithium Cobalt OxideLi Co O2Radiation=CuKa1 Lambda=1.54060 Filter= Calibration= 2T=18.930-87.020I/Ic(RIR)=4.38Ref: Calculated from ICSD using POWD-12++ (1997)Rhombohedral - (Unknown), R-3m (166) Z=3 mp=CELL: 2.8166 x 2.8166 x 14.052 <90.0 x 90.0 x 120.0> P.S=hR4 (?)Density(c)=5.049 Density(m)=4.71AMwt=97.87 Vol=96.54F(19)=999.9(.0000,19/0)Ref: Johnston, W.D., Heikes, R.R., Sestrich, D.J. Phys. Chem. Solids, v7 p1 (1958)Strong Lines: 4.68/X 2.00/5 2.40/3 1.41/11.43/12.30/1 1.55/1 1.84/1 1.35/1 1.15/1 FIZ=029225: At least one TF missing.The Preparation, Crystallography, and Magnetic Properties of the Lix Co1-x O System h b a (R3-MH) ABX22-Theta d(?) I(f) ( h k l) Theta 1/(2d) 2pi/d n^218.930 4.6840 100.0 ( 0 0 3) 9.465 0.1067 1.341437.387 2.4033 28.8 ( 1 0 1) 18.694 0.2080 2.614438.404 2.3420 3.7 ( 0 0 6) 19.202 0.2135 2.682839.057 2.3043 9.2 ( 0 1 2) 19.528 0.2170 2.726745.219 2.0036 51.9 ( 1 0 4) 22.609 0.2495 3.135949.435 1.8421 7.7 ( 0 1 5) 24.717 0.2714 3.410859.122 1.5613 1.0 ( 0 0 9) 29.561 0.3202 4.024359.597 1.5500 8.4 ( 1 0 7) 29.798 0.3226 4.053665.422 1.4254 10.4 ( 0 1 8) 32.711 0.3508 4.408066.317 1.4083 10.7 ( 1 1 0) 33.159 0.3550 4.461569.660 1.3487 6.7 ( 1 1 3) 34.830 0.3707 4.658878.487 1.2176 1.2 ( 1 0 10) 39.243 0.4106 5.160378.683 1.2151 2.0 ( 0 2 1) 39.342 0.4115 5.171179.320 1.2069 1.8 ( 1 1 6) 39.660 0.4143 5.206179.736 1.2017 0.9 ( 2 0 2) 39.868 0.4161 5.228882.264 1.1710 1.2 ( 0 0 12) 41.132 0.4270 5.365783.911 1.1522 3.8 ( 0 2 4) 41.955 0.4340 5.453485.791 1.1317 2.1 ( 0 1 11) 42.896 0.4418 5.552287.020 1.1188 0.8 ( 2 0 5) 43.510 0.4469 5.6160PDF#89-2955: QM=Calculated(C); d=Calculated; I=CalculatedSiliconSiRadiation=CuKa1 Lambda=1.54060 Filter= Calibration= 2T=28.445-88.041I/Ic(RIR)=4.55Ref: Calculated from ICSD using POWD-12++Cubic - (Unknown), Fd-3m (227) Z=8 mp= CELL: 5.43029 x 5.43029 x 5.43029 <90.0 x 90.0 x 90.0> P.S=cF8 (?)Density(c)=2.330 Density(m)=2.329Mwt=28.09 Vol=160.13F(7)=999.9(.0000,7/0)Ref: Straumanis, M.E., Borgeaud, P., James, W.J.J. Appl. Phys., v32 p1382 (1961)Strong Lines: 3.14/X 1.92/6 1.64/3 1.11/11.25/1 1.36/1 1.57/1 0.00/1 0.00/1 0.00/1 FIZ=043610: M Measured at unetched crystal fragments.M Cell for etched crystal bar: 5.43048 (Dm=2.3289).M Cell for powder, unheated: 5.43081.M Cell for powder, heated: 5.43070.M PDF 00-027-1402.No R value given.At least one TF missing.See PDF 01-075-0589.Perfection of the lattice of dislocation-free silicon, studies by the lattice-constant and density method a (FD3-MS) N2-Theta d(?) I(f) ( h k l) Theta 1/(2d) 2pi/d n^228.445 3.1352 100.0 ( 1 1 1) 14.223 0.1595 2.0041 347.307 1.9199 55.4 ( 2 2 0) 23.654 0.2604 3.2727 856.128 1.6373 30.0 ( 3 1 1) 28.064 0.3054 3.8376 1158.862 1.5676 0.1 ( 2 2 2) 29.431 0.3190 4.0082 1269.138 1.3576 6.9 ( 4 0 0) 34.569 0.3683 4.6283 1676.385 1.2458 9.5 ( 3 3 1) 38.193 0.4014 5.0435 1988.041 1.1085 11.5 ( 4 2 2) 44.021 0.4511 5.6684 24六 结果与讨论一、实验原理本次实验采用的仪器为X 射线衍射仪，它是按照晶体对X 射线衍射的几何原理设计制造的。
xrd分析实验报告
xrd分析实验报告X射线衍射（XRD）分析实验报告引言：X射线衍射（XRD）是一种重要的实验技术，广泛应用于材料科学、地质学、生物学等领域。
本实验旨在通过XRD技术，研究样品的晶体结构和晶体学性质，为材料研究和应用提供有力的支持。
一、实验目的本实验的目的是通过XRD分析，确定样品的晶体结构、晶格常数、晶体质量和晶体取向等性质。
通过实验结果，了解材料的结晶状态、晶体缺陷和晶格畸变等信息。
二、实验原理XRD技术基于X射线与晶体的相互作用。
当X射线入射到晶体上时，由于晶体的周期性结构，X射线会发生衍射现象。
通过测量衍射角和衍射强度，可以确定晶体的晶格常数和晶体结构。
三、实验步骤1. 样品制备：将待测样品制备成粉末状，并均匀地涂布在玻璃衬片上。
2. 仪器设置：打开X射线衍射仪，调整仪器参数，如入射角、出射角、扫描速度等，以适应样品的特性。
3. 开始测量：将样品放置在衍射仪的样品台上，启动测量程序，开始自动扫描。
4. 数据分析：通过软件对测得的数据进行分析，绘制衍射图谱，并解析出衍射峰的位置、强度和形状等信息。
5. 结果解读：根据衍射图谱和解析结果，确定样品的晶体结构和晶格常数，并分析晶体的缺陷和畸变情况。
四、实验结果与讨论通过XRD实验，我们得到了样品的衍射图谱，并根据图谱解析出了衍射峰的位置和强度。
根据衍射峰的位置和强度，我们可以推断出样品的晶体结构和晶格常数。
进一步分析衍射峰的形状和宽度，我们可以了解样品的晶体质量和晶格畸变情况。
如果衍射峰非常尖锐且对称，说明样品的晶体质量较好；如果衍射峰宽度较大，且呈现不规则形状，说明样品存在晶格畸变或晶体缺陷。
此外，通过比较不同样品的衍射图谱，我们可以研究晶体取向的差异。
不同晶面的衍射峰位置和强度的变化，可以揭示晶体的取向情况和晶体生长方向。
五、结论通过XRD分析实验，我们成功确定了样品的晶体结构和晶格常数，并分析了晶体的质量、畸变和取向等性质。
实验结果为材料研究和应用提供了重要的参考依据。
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中南大学
X射线衍射实验报告
材料科学与工程学院材料国际专业1401班级姓名蔡云伟学号:
08
同组者
实验日期2016年
05月
18
日指导教师@
黄继武
评分分评阅人评阅日期
一、实验目的
1)掌握X射线衍射仪的工作原理、操作方法；
2)》
3)掌握X射线衍射实验的样品制备方法；
4)学会X射线衍射实验方法、实验参数设置，独立完成一个衍射实验测试；
5)学会MDI Jade 6的基本操作方法；
6)学会物相定性分析的原理和利用Jade进行物相鉴定的方法；
7)学会物相定量分析的原理和利用Jade进行物相定量的方法。
本实验由衍射仪操作、物相定性分析、物相定量分析三个独立的实验组成，实验报告包含以上三个实验内容。
二、实验原理
》
根据布拉格定律，我们可以知道，只有在特殊的入射角度时我们才能得到衍射图像。
所以，根据这一原理，我们在使用了把X射线和探测器放在环形导轨上的方法，把每个方向的结果都探测一遍，最终收集到能发生衍射的衍射峰。
根据
3) 选择每个物相的主要未重叠的衍射峰进行拟合，求出衍射峰面积；
4) 选择菜单“Options|Easy Quantitative ”，按绝热法计算样品中两相的重
量百分数；
5) 按下“Save ”按钮，保存定量分析结果，定量分析数据处理完成。
计算公式:
b a b O Al a O Al a b RIR RIR K K K ==3
23
2, )(a b b a a a K I I I W +=
五 实验数据处理
?
1 物相鉴定结果
2 定量分析结果
（1）WC
USER: user
JADE: Quantitative Analysis from Profile-Fitted Peaks
DATE: Thursday, Jan 01, 2004 01:16a
FILE: [005 ]
SCAN: 1(sec), Cu(40kV,250mA), I(max)=40668, 10-28-10 13:19
[
PROC: [New Quantitative Analysis]
Phase ID (2) Chemical Formula RIR Dx
MAC LAC Wt% Wt(n)% Vol(n)% #L I%-I(r) {Area} {Height}
Tungsten Carbide WC 1 479781(21469) 30158(1046)
Tungsten carbide - $-epsilon W2C 1 72427(1893) 6967(142)
2-Theta FWHM Height Height%
Area(a1) Area% I(r) I(p) I%-I(r) ( h k l)
30158 (1046) 479781 (21469) ( 1 0 0)
2-Theta FWHM Height Height% Area(a1)
Area% I(r) I(p) I%-I(r) ( h k l)
6967 (142) 72427 (1894) (-1-1 1)
>。