含双缺陷光子晶体的缺陷模特性及应用

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ｔｅｉｄｘｏｅｅｔａｅｓＴｅｇｅｔｒｈｅｒｃｉｅｉｄｘｉ，ｅｌｎｅｈａｅｅｇｈｃｒｅｐｎｉｇｔｈｅｅｔｉｎｅｆｗｏｄｆｃｙｒ．ｈｒａｅｅｒｆａｔｅｓｔｏｇｒｅｗｖｌｎｏｒｓｏｄｎｏｔｅｄｆｃｖｔｌｔｖｎｈｔｔ
含双缺陷光子晶体的缺陷模特性及应用
李文胜付艳华张琴是度芳，，，
（．１湖北汽车工业学院理学系，湖北十堰４２０；．４０２２华中科技大学物理系，湖北武汉４０７３０４）
摘要：用传输矩阵法，算了含双缺陷的一维准周期光子晶体的透射谱，分析了缺陷模利计并
ＡｂｔａｔＴｈｅｔａｓｓｉｎｓｅｔｕｏａｉｐｅｏｃ１・ｐｈｔｎｉｒｓａｏｔｉｉｇｔｆｃｓｗａａｃｌｔｄｂｙｓｒｃ：ｒｎｍｉｓｏｐｃｒｍｆｑｕｓ・ｒｄｉ－－ｉＤｏｏｃｃｙｔｌｃｎａｎｎｗｏｄｅｅｔｓｃｕａｅｌ
第４Ｏ卷第４期
２１００年４月
激光与红外
ＬＡＳＥＲ＆ＩＮＦＲＡＲＥＤ
Ｖ０．Ｏ．．１４Ｎｏ４
Ａｐｒｌ２０ｉ，０１
文章编号：０－７（０００－３－１１０８２１）４４１３０５００
・光学材料器件与薄膜・
的特征。结果表明：当两缺陷层的折射率为１时，该光子晶体的透射谱有一包含可见光所有波
长的带隙。而当两缺陷层的折射率为１１时，带隙中产生了一缺陷模，此缺陷模的位置和．原且
透射峰值都随两缺陷层折射率不同而变化。折射率越大，陷模位置对应的波长越长，陷模缺缺
ｃｙｔｌｃｎａｎｎｗｏｄｅｅｔｒｓａｏｔｉｉｇｔｆｃｓ
Ｌｎｓｅｇ，ＵＹｎｈａ，ＨＮｉＳＩＤ — ｎＩＷｅ．ｈｎＦａ—ｕＺＡＧＱｎ，Ｈｕｆｇ＇ａ
（．ｅａｍｎｏａｉＳｉｃｕｅＡｔｍｔｅＩｄｓｅｓｔｅＳｉａ４０２，ｈｎ；１ＤｐｒｅｔｆｓｃｎｅＨｂｉｕｏｏｖｕｔｓｎｔｕ，ｈｙｎ４２０ＣｉｔＢｃｅｉｎｒＩｉｔｉａ２ＤｐｒｅｔｆｈｓｓｆｕｚｏｇＵｖｒｉｆｃｎｅａｄＴｃｎｌｙＷｕａ３０４Ｃｉａ．ｅａｔｎｙｉａｈｎｎｅｓｙｏｉｃｎｅｈｏｇ，ｈｎ４０７，ｈｎ）ｍｏＰｃｏＨｔＳｅｏ
ｍｏｅｌａｉｎｉ，ｎｈｅｋｏｅｄｆｃｄｓｉｓｒａｅ．ｈｓｆｔｉｆａｕｅｏｅｄｆｃｄｓｙｕｃｎｄｏｔｓａｄｔｅｐａｆｈｅｅｔｒｆｈｅｅｔｃｏｔｌｈｔｍｏｅ，ｏａ
ｔａｓｅｔｘｍｅｈｄａｄｔｅｅｈｓｓｗｓｐｔｏｅａａｙｉｏｅｃａａｔｒｔｓｏｅｄｆｃｄ．ｈｅｕｔｒｎｆｒｍａｒｔｏ，ｎｈｍｐａｉａｕｎｔｎｓｓｆｔｈｒｃｅｉｉｆｔｅｅｔｍｏｅＴｅｒｓｌｉｈｌｈｓｃｈｓｉｄｃｔｔａ：ｈｎｔｅｒｆａｔｅｉｄｘｏｅｔｅｅｔｌｙｒｉ１ｔｅｔａｓｓｉｎｓｅｔｍｆｈｈｔｎｃｃｓａｎｉａｅｈｔＷｅｈｅｒｃｉｅｆｈｖｎｔｗｏｄｆｃｓａｅ，ｈｎｍｉｏｐｃｒｏｅｐｏｏｉｒｔｓｒｓｕｔｙｌｈｓａｂｎ — ａｏｔｉｉｇａｌｗｖｌｎｔｆｔｅｖｓｂｅｌｈ，ｕｈｎｔｅｒｆｃｉｅｉｄｘｏｅｔｏｄｆｃｓｌｙｒｉａａｄｇｐｃｎａｎｎｌａｅｅｇｈｏｉｉｌｉｔｂｔｗｅｈｅｒｔｎｅｆｔｗｅｅｔａｅｓｈｇａｖｈ１１ａｄｆｃｄｐｅｒｎｔｅｏｇｎｌａｄｇｐｔｅｌｃｔｎａｄｔｅｐａｆｔｅｄｆｃｄａｔｅｒｆａ — ．，ｅｅｔｍｏｅａｐａｓｉｈｒｉａｂｎ — ａ，ｈｏａｉｎｈｅｋｏｅｅｔｍｏｅｖｒｗｉｔｅｒｃｉｏｈｙｈｈ
的峰值也越大。利用缺陷模的这一特性，以设计一种微型的烟雾传感器。可
关键词：光子晶体；传感器；输矩阵；射谱；陷模传透缺中图分类号：７４０３文献标识码：Ａ
Ｃｈｒｃｅｉｔｃｎｐｌｃｔｏｆｄｆｃｏｅｏｈｏｏｉａａｔｒｓｉｓａｄａｐｉａｉｎｏｅｅｔｍｄｆｐｔｎｃ