第八章 光电图像传感器
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输出形成图像信号 或视频信号
8.1.2 图像传感器基本技术参数
光学成像物镜
焦距 相对孔径 视场角
光电成像器件
扫描速率 分辨率
1. 光学成像物镜的主要参数
(1)成像物镜的焦距 f ' 决定被摄景物成在光电成像器件上像的大小,在物距相同的情
况下焦距越长,所成像的尺寸越大。
(2)相对孔径
TH
Tyz 场扫描速度:传感器在垂直方向的像敏单元 行数与场扫描时间之比。
yz
(2)分辨率
光机扫描方式的图像传感器 水平方向的分辨率:与机械扫描长度A与光电传感器 在水平方向的长度a有关 A
a
最终成像的水平分辨率还与成像物镜的水平分辨率
有关。 垂直分辨率与光电传感器在垂直方向的长度b、扫描 行数及行间距有关。
8.3.2 电注入
电注入:以电流或电压的方式向CCD势阱中注 入信号电荷。 (1) 电流注入法 (2) 电压注入法
N+扩散区和P型衬 底构成注入二极管
IG为输入栅极,加适 当正偏电压使栅极下 的势阱保持一定深度
注入原理:N+区为源,CR2为漏,在栅极IG电压的 控制下ID下方势阱中的电荷通过IG进入到CR2下方 的势阱中。
8.2 CCD的电荷存储和电荷耦合
CCD (Charge Coupled Device) 电荷耦合器件
CCD器件不同于其他光电器件的突出特点:以电荷 作为信号,即信息用电荷量(称为电荷包)代表,而 其他器件则都是以电压或电流作为信号的。
广泛用于影像传感、数字存储和信息处理等三个领 域,其中最重要的应用是作为固态摄像器件,其次 是作为存储器件。
8.3.3 电荷的检测(输出方式)
电源UD、电阻R、衬底P和N+区构成输出二极管的反向偏置 电路,输出电流Id与注入到二极管中的电荷量QS成线性关系: Qs=Iddt
由于Id的存在,使A点电位下降。可以检测A点电位来检测 注入到输出二极管中的电荷Qs。
检测二极管
来自百度文库章重点
CCD 的 工 作 过 程 , 即 电 荷 的 产 生 (注入)、存储、转移(耦合)、 检测(输出)
CCD (Charge Coupled Devices) 电荷耦合器件
特点:以电荷为信号载体; 基本工作过程:信号电荷的产生、存储、转移、 检测
应用:CCD光电图像传感器
构成CCD的基本单元:MOS结构
两种类型:表面沟道CCD、体沟道CCD
CCD器件成像的基本原理
结构:CCD器件的感光部分由MOS结构的二 维阵列组成。 当具有不同明暗信息的图像信号入射到该阵 列时,每个感光单元(MOS结构)会存储入 射到该单元的光流量(MOS结构利用深耗尽 状态下形成的深势阱来存储光生载流子)。 整个二维阵列将入射图像转换成一个具有有 限像素的电荷图像。
描和场扫描。
景物 成像物镜 摄像管靶面:靶面电位、电阻分 布存储光强分布 电子束 图像显示器: 还原景物图像 视频信号
3. 固体自扫描图像传感器
20世纪70年代发展起来的新型图像传感器件,如 面阵CCD器件、CMOS图像传感器件等。
成像物镜 景物
光敏面 光学图像
电荷密度分布 电荷图像 驱动脉冲
图像显示器: 还原景物图像
Neo:入射光的光子流速率;A:光敏单元的受光面 积;tc:光的注入时间。
分析:CCD确定后,η、q、A为常数,tc由驱动器转移 脉冲的周期决定,若保证注入时间稳定不变,则Qin仅 与Neo 成正比。又
N eo
e ,
h
故此时光注入的电荷量与入射的光谱辐射通量成线性 关系。——应用CCD检测光谱强度和进行多通道光谱 分析的理论基础。
1 CCD的电荷存储
CCD的基本单元:MOS(金属-氧化物-半导体)结构
(a)栅极G施加电压UG 之前,P型半导体中的空穴
(多数载流子)分布是均匀的。
(b)栅极电压UG≤P型半导体的阈值电压Uth,P型半
导体中的空穴将开始被排斥,并在半导体中产生如
图所示耗尽区。
(C)UG 继续增加,耗尽区将向半导体体内延伸,
第八章
光电图像传感器
引言
景物 成像物镜
像面:二维空间的光强分布图像
图像传感器
图像显示器: 还原景物图像
一维时序电信号
放大和 同步控制
图像传感器的作用:将二维空间的光强分布转变成一维时 序电信号;
图像传感器与图像显示器之间的信号传输与接收都要遵守 一定的规则,这个规则被称为制式或电视制式。
按电视制式输出的一维时序信号又被称为视频信号。
(2)多元光机扫描方式 采用多个光电传感器,并将其排列成一行,构成 线阵列光电传感器扫描图像的光机扫描方式。机械扫 描只需要进行 y 方向的一维扫描便可以将整幅图像转 换成视频信号输出。
2. 电子束扫描图像传感器
电真空摄像管,真空视像管,以及红外成像系
统中的热释电摄像管等。
电子束在摄像管偏转线圈的作用下,进行行扫
hz 行扫描速率:读取一行光敏单元所需的
时间与一行内光敏单元数 N hz 场扫描速率:光学图像在垂直方向的
尺寸和行正程时间
A Txz
尺寸和场正程时间 B yz 场扫描速率:光学图像在垂直方向的尺 水平扫描速度:传感器水平行的像敏单元数 Tyz 寸和场正程时间 B 与行扫描时间之比;
D f'
相对孔径的大小决定了物镜的分辨率、像面照度和成像物镜成 像质量。 (3)视场角 2
决定能在光电图像传感器上成良好像的空间范围,成像物镜所 成的景物图像要大于图像传感器的有效面积。
2. 光电成像器件有关的参数
(1)扫描速率
单元光机扫描方式 多元光机扫描方式 固体自扫描图像 传感器
行扫描速率:光学图像在水平方向的
UG>Uth后,耗尽区的深度与UG成正比。
电荷存储:电子被加有栅极电压的MOS结构吸引到半
导体与氧化层的 交界面处,因为那里的势能最低。
2
CCD的电荷耦合
(a):电极①为高电平10V,仅在第1个电极下面的深势 阱里存有电荷,其它电极上所加的电压低于阈值(例如 2V); (b):第1个电极仍保持为10V,第2个电极上的电压由 2V变为10V,由于① ②两个电极靠得很近(间隔小于 3μm),两个势阱将合并在一起,原来在① 电极下的电 荷变为两个电极下联合起来的势阱所共有; (c):形成从图(b)到(c)过渡; (d): ① 电极上的电压由10V变为2V, ② 电极上的电 压仍为10V,则共有的电荷将逐渐转移到② 电极下面的势 阱中,形成图(e)所示状况。 通过按一定规律变化(三相交叠规律)的电压加到 CCD的各个电极上,电极下的电荷包以及深势阱就能沿 半导体表面按一定的方向移动。
8.3 电荷的注入和检测
8.3.1光注入
当 光 照 射 到 CCD 硅 片 上时,在栅极附近的半
导体体内将产生本征吸
收,生成电子-空穴对, 多子被栅极电压排斥, 少子被收集在势阱中形 成信号电荷,构成光电
子注入方式。
光注入的电荷:Qin=ηqNeoAtc η:材料的量子效率;q:电子电荷量;
8.1 图像传感器的基本原理
8.1.1 图像传感器的基本结构
三种类型的光电图像传感器:
光机扫描型图像传感器:光电传感器与机
械扫描装置相配合
电子束扫描图像传感器 固体自扫描图像传感器
1. 光机扫描式图像传感器
(1)单元光电传感器的扫描方式 行扫描:机械扫描机构带动单元光电传感器的光敏面 在光学图像的像面沿水平方向(x方向)做高速往返 运动。 场扫描:在垂直方向 (y方向)做较低速度 的往返运动。