开环增益测试

二、开环增益的仿真测试

开环增益能够在一定程度上反映出运放电路的好坏，那么就需要对开环增益进行相应的测试，以评估运放的性能，同时为运放的提出改进的方法。我就采用下面的电路对此参数进行测试。

图4.2.1 开环增益输入激励测试图 在上图的电路中，在VIN1端加交流信号，而其中VIN2端接上电阻呈现出一个负反馈，同时接上一个电容到地。采用理想运放的状态去分析。那么就根据虚短虚断，下面为数学分析

Vin1=vin2，那么1Vin Vout Vin R SC

=+即增益为11Vout Avd SRC J RC Vin

ω==+=+。 两边同时确对数

20lg Avd =当1RC

ω=

时，20lg Avd =Avd 的值接近于零。 当1RC ω时，220lg 10lg1()Avd RC ω=+,从中可以增益Avd 近似的等于RC ω。 从上述的分析中，我们发现Avd 的值与RC 的值有很大的关联。为了验证分析的正确性，就通过

PSpice 软件仿真得到来验证两者之间的关系。下图为仿真参数设置图

图4.2.2 交流仿真参数设置图

图3.2 Avd与RC之间的关系图

图3.3 理论分析图（参考图）

在仿真图与理论分析图来看，Avd与RC的呈现一定的反比关系，会随着RC的增大而增大，在实际的仿真过程中，改变R或C的值，那么增益在不同频率的会出现不同的值，且改变电容C的值，对增益的影响相对 R来说更大。为了能够得到相对正确的增益仿真图像，就接上一个大电容和一个相对大的电阻。下图就是采用此种方式得到的最终的增益的图形。

图开环增益

在上图中我们得到增益的大小为83dB，这个结果与上图方正中的最高点的值相差不多，通说运放电路在理论分析中的值也是接近80dB，那么就认为此次设计电路的仿真是相对正确的。