测量系统分析(1)
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5）计算测量结果的标准偏差并与测量过程偏差相比较，确定测量系统的重 复性是否适于应用。
测量系统分析(1)
2 .2 测量系统的分析 —— 偏倚
偏倚 为了在过程范围内指定的位置确定测量系统的偏倚，得到一个零
件可接受的基准值是必要的。通常可在工具室或全尺寸检验设备上完 成。基准值从这些读数中获得，然后这些读数要与量具R＆R研究中的 评价人的观察平均值（定为XA，XB，XC）进行比较。
基准值
偏倚
观测的平均值
测量系统分析(1)
ห้องสมุดไป่ตู้复性
重复性是由一个评价人，采用一 种测量仪器，多次测量同一零件的同 一特性时获得的测量值变差。
重复性
测量系统分析(1)
再现性
再现性是由不同的评价人， 采用相同的测量仪器，测量同 一零件的同一特性时测量平均 值的变差。
操作者B 操作者C
操作者A
再现性
测量系统分析(1)
基准值 X = 0.75 0.80
因此，在量具R＆R研究中使用的厚薄规的偏倚为－0.05mm。 这意味着测量观测值平均比基准值小0.05mm，是过程变差的7.1％
测量系统分析(1)
重复性 一个评价者使用一件测量仪器对同一零件的某一特性进行多次测量
下的变异。 再现性
不同评价者使用相同量具，测量一个零件的一个特性的测量平均 值的变异。 GRR或量具的重复性和再现性
稳定性
稳定性（或飘移），是测 量系统在某持续时间内测量同 一基准或零件的单一特性时获 得的测量值总变差。
稳定性
时间2 时间1
测量系统分析(1)
线性
线性是在量具预 期的工作范围内，偏 倚值的差值。
测量系统分析(1)
测量系统的分析
象每个过程一样，对用来描述测量系统变差的分布可以赋予下列特性：
1）位置 ·稳定性; ·偏倚; ·线性。
测量系统分析(1)
2 .2 测量系统的分析 —— 稳定性
确定稳定性用指南
确定稳定性用指南包括以下内容： 1）获取一样本并确定其相对于可追溯标准的基准值。如果不能得到，则选
择一个落在产品测量中程数的产品零件，并指定它作为标准样本进行稳定性 分析。对追踪测量系统的稳定性不需要的一个已知基准值；
可能需要具备预期测量的最低值、最高值及中程数的标准样本。建议对 各样本单独测量并作控制图。
测量系统分析(1)
2 .2 测量系统的分析 —— 偏倚
偏倚 如果偏倚相对比较大，查看这些可能的原因： 1）基准的误差； 2）磨损的零件； 3）制造的仪器尺寸不对； 4）仪器测量非代表性的特性； 5）仪器没有正确校准； 6）评价人员使用仪器不正确。
测量系统分析(1)
偏倚示例
偏倚＝观察平均值－基准值 偏倚＝0.75－0.80＝－0.05 偏倚占过程变差的百分比计算如下： 偏倚％＝100[ 偏倚 / 过程变差] 偏倚％=100[0.05/0.70]=7.1％
研究测量系统稳定性的一个方法是按常规画出基准或基准件重复读 数的平均值和极差(X-R控制图)。从这种分析中可以确定，例如，失控信 号是需要校准测量系统的标志。还有可能由于基准或基准件变脏而出现 失控信号。无论哪种情况，包含在控制信号内的信息的解释取决于对过 程的了解。
用于测量系统控制图的样本容量及抽样频率的确定也应依赖于对测 量系统的了解。主要考虑的还是使用过程中测量系统所有的外部条件。 例如,如果确信使用者在使用系统之前提供足够的预热时间,则应预热后才 进行抽样。
2）宽度或范围 ·重复性； ·再现性。
测量系统分析(1)
2 .2 测量系统的分析 —— 稳定性
稳定性 使用控制图来确定统计稳定性。控制图可提供方法来分离影响所有
测量结果的原因产生的变差（普通原因变差）和特殊条件产生的变差 （特殊原因变差）。控制图法可在质量与统计过程控制（SPC）一书中找 到。需要着重指出的是，使用控制图时，我们不仅必须注意落在控制限 以外的点，还应注意其他特殊原因信号如趋势和中心线附近的点。这些 信号的出现及控制限外一点或多点都表明“失控”或不稳定状态。
测量系统分析(1)
2020/11/25
测量系统分析(1)
术语
量具：任何用来获得测量结果的装置；经常用来特指用在车间装置；包 括用来测量合格/不合格的装置。
测量系统：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及 操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。
计量型：从一个过程中可得到的测量数。（如千分尺、卡尺、光澤儀等） 计数型：测量的数据只有两个值，合格/不合格、成功/失败、通过/不通过、
量具的重复性和再现性：测量系统重复性和再现性的联合估计值。
测量系统分析(1)
重复性和再现性
量具重复性和再现性（R&R）的可接受性的准则是： ·低于10％的误差——测量系统可接受； ·10％至30％的误差——根据应用的重要性，量具成本，维修的 费用等可能是可接受的； ·大于30％的误差－测量系统需要改进。进行各种努力发现问题 并改正。
如果不可能按这种方法对所有样件进行测量，可采用下列替代的 方法：
1）在工具室或全尺寸检验设备上对一个基准件进行精密测量； 2）让一位评价人用正被评价的量具测量同一零件至少10次； 3）计算读数的平均值。基准值与平均值之间的差值表示测量系统 的偏倚。
如果需要一个指数，把偏倚乘以100再除以过程变差（或容差）， 就把偏倚转化为过程变差（或容差）的百分比。
出席/缺席。（如針規等）
测量系统分析(1)
测量系统变差的类型 测量系统误差可以分成五种类型：偏倚，重复性，
再现性，稳定性以及线性。
• 现在广泽所用的测量系统分析： 重复性、再现性、风性分析法、小样法
测量系统分析(1)
偏倚
是测量结果的观测平均值与基准值 的差值。基准值，也称为可接受的基 准值或标准值，是充当测量值的一个 偏倚一致认可的基准，一个基准值可 以通过采用更高级别的测量设备（例 如，计量实验室或全尺寸检验设备） 进行多次测量，取其平均值来确定。
2）定期（天，周）测量基准样品3至5次。样本容量和频率应基于对测量系 统的了解。因素包括要求多长时间重新校准或维修，测量系统使用的频率， 以及操作条件如何重要。读数应在不同时间读取以代表测量系统实际使用的 情况。这些还包括预热，环境或其它在一天内可能变化的因素； 3）在X＆R 或X＆s控制图中标绘数据； 4） 确定每个曲线的控制限并按标准曲线图判断失控或不稳定状态；
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2 .2 测量系统的分析 —— 偏倚
偏倚 为了在过程范围内指定的位置确定测量系统的偏倚，得到一个零
件可接受的基准值是必要的。通常可在工具室或全尺寸检验设备上完 成。基准值从这些读数中获得，然后这些读数要与量具R＆R研究中的 评价人的观察平均值（定为XA，XB，XC）进行比较。
基准值
偏倚
观测的平均值
测量系统分析(1)
ห้องสมุดไป่ตู้复性
重复性是由一个评价人，采用一 种测量仪器，多次测量同一零件的同 一特性时获得的测量值变差。
重复性
测量系统分析(1)
再现性
再现性是由不同的评价人， 采用相同的测量仪器，测量同 一零件的同一特性时测量平均 值的变差。
操作者B 操作者C
操作者A
再现性
测量系统分析(1)
基准值 X = 0.75 0.80
因此，在量具R＆R研究中使用的厚薄规的偏倚为－0.05mm。 这意味着测量观测值平均比基准值小0.05mm，是过程变差的7.1％
测量系统分析(1)
重复性 一个评价者使用一件测量仪器对同一零件的某一特性进行多次测量
下的变异。 再现性
不同评价者使用相同量具，测量一个零件的一个特性的测量平均 值的变异。 GRR或量具的重复性和再现性
稳定性
稳定性（或飘移），是测 量系统在某持续时间内测量同 一基准或零件的单一特性时获 得的测量值总变差。
稳定性
时间2 时间1
测量系统分析(1)
线性
线性是在量具预 期的工作范围内，偏 倚值的差值。
测量系统分析(1)
测量系统的分析
象每个过程一样，对用来描述测量系统变差的分布可以赋予下列特性：
1）位置 ·稳定性; ·偏倚; ·线性。
测量系统分析(1)
2 .2 测量系统的分析 —— 稳定性
确定稳定性用指南
确定稳定性用指南包括以下内容： 1）获取一样本并确定其相对于可追溯标准的基准值。如果不能得到，则选
择一个落在产品测量中程数的产品零件，并指定它作为标准样本进行稳定性 分析。对追踪测量系统的稳定性不需要的一个已知基准值；
可能需要具备预期测量的最低值、最高值及中程数的标准样本。建议对 各样本单独测量并作控制图。
测量系统分析(1)
2 .2 测量系统的分析 —— 偏倚
偏倚 如果偏倚相对比较大，查看这些可能的原因： 1）基准的误差； 2）磨损的零件； 3）制造的仪器尺寸不对； 4）仪器测量非代表性的特性； 5）仪器没有正确校准； 6）评价人员使用仪器不正确。
测量系统分析(1)
偏倚示例
偏倚＝观察平均值－基准值 偏倚＝0.75－0.80＝－0.05 偏倚占过程变差的百分比计算如下： 偏倚％＝100[ 偏倚 / 过程变差] 偏倚％=100[0.05/0.70]=7.1％
研究测量系统稳定性的一个方法是按常规画出基准或基准件重复读 数的平均值和极差(X-R控制图)。从这种分析中可以确定，例如，失控信 号是需要校准测量系统的标志。还有可能由于基准或基准件变脏而出现 失控信号。无论哪种情况，包含在控制信号内的信息的解释取决于对过 程的了解。
用于测量系统控制图的样本容量及抽样频率的确定也应依赖于对测 量系统的了解。主要考虑的还是使用过程中测量系统所有的外部条件。 例如,如果确信使用者在使用系统之前提供足够的预热时间,则应预热后才 进行抽样。
2）宽度或范围 ·重复性； ·再现性。
测量系统分析(1)
2 .2 测量系统的分析 —— 稳定性
稳定性 使用控制图来确定统计稳定性。控制图可提供方法来分离影响所有
测量结果的原因产生的变差（普通原因变差）和特殊条件产生的变差 （特殊原因变差）。控制图法可在质量与统计过程控制（SPC）一书中找 到。需要着重指出的是，使用控制图时，我们不仅必须注意落在控制限 以外的点，还应注意其他特殊原因信号如趋势和中心线附近的点。这些 信号的出现及控制限外一点或多点都表明“失控”或不稳定状态。
测量系统分析(1)
2020/11/25
测量系统分析(1)
术语
量具：任何用来获得测量结果的装置；经常用来特指用在车间装置；包 括用来测量合格/不合格的装置。
测量系统：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及 操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。
计量型：从一个过程中可得到的测量数。（如千分尺、卡尺、光澤儀等） 计数型：测量的数据只有两个值，合格/不合格、成功/失败、通过/不通过、
量具的重复性和再现性：测量系统重复性和再现性的联合估计值。
测量系统分析(1)
重复性和再现性
量具重复性和再现性（R&R）的可接受性的准则是： ·低于10％的误差——测量系统可接受； ·10％至30％的误差——根据应用的重要性，量具成本，维修的 费用等可能是可接受的； ·大于30％的误差－测量系统需要改进。进行各种努力发现问题 并改正。
如果不可能按这种方法对所有样件进行测量，可采用下列替代的 方法：
1）在工具室或全尺寸检验设备上对一个基准件进行精密测量； 2）让一位评价人用正被评价的量具测量同一零件至少10次； 3）计算读数的平均值。基准值与平均值之间的差值表示测量系统 的偏倚。
如果需要一个指数，把偏倚乘以100再除以过程变差（或容差）， 就把偏倚转化为过程变差（或容差）的百分比。
出席/缺席。（如針規等）
测量系统分析(1)
测量系统变差的类型 测量系统误差可以分成五种类型：偏倚，重复性，
再现性，稳定性以及线性。
• 现在广泽所用的测量系统分析： 重复性、再现性、风性分析法、小样法
测量系统分析(1)
偏倚
是测量结果的观测平均值与基准值 的差值。基准值，也称为可接受的基 准值或标准值，是充当测量值的一个 偏倚一致认可的基准，一个基准值可 以通过采用更高级别的测量设备（例 如，计量实验室或全尺寸检验设备） 进行多次测量，取其平均值来确定。
2）定期（天，周）测量基准样品3至5次。样本容量和频率应基于对测量系 统的了解。因素包括要求多长时间重新校准或维修，测量系统使用的频率， 以及操作条件如何重要。读数应在不同时间读取以代表测量系统实际使用的 情况。这些还包括预热，环境或其它在一天内可能变化的因素； 3）在X＆R 或X＆s控制图中标绘数据； 4） 确定每个曲线的控制限并按标准曲线图判断失控或不稳定状态；