三维荧光等高线特征谱

三维荧光等高线特征谱

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开放分类：化学模式识别

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图1 三维荧光图（左：三维表面右：等高线图）

三维荧光等高线特征谱为对三维荧光等高线指纹图谱进行图像信息统计后得到的一对特征谱IEm 和 IEx，该对特征谱既含有三维荧光光谱中荧光峰位置的信息又含有峰相对强度大小的信息，能较好地表达原始三维荧光光谱的荧光性质；它是图像信息数值化后的结果，具有较好的可计算性。将其与模式识别技术结合起来可实现对荧光物质的分类和鉴别。

图2 特征谱图（顶：IEm 右：IEx）

图1为三维荧光光谱图，荧光光谱图有两种表示形式，即左边三维表面的图形式和右边二维等高线图的形式。

图2中间为三维荧光等高线图，具有物质荧光特征的指纹性，故可称指纹图谱，可用于荧光物质的鉴别。顶部为IEm特征谱，右边位IEx特征谱，显然该二谱与等高线指纹图谱有很好的对应关系。在模式识别技术中，用其作为样本，可实现对荧光物质的分类和鉴别。

参考文献：

1. 三维荧光等高线特征谱及其应用研究. 分析测试学报.2008,27(11):1151-1156

2.三维荧光等高线特征谱提取程序的设计及其应用研究.计算机与应用化学.2010,27(2):26 2-266

三维荧光等高线特征谱为对三维荧光等高线指纹图谱进行图像信息统计后得到的一对特征谱（IEm和IEx），该对特征谱既含有三维荧光光谱中荧光峰位置的信息又含有峰相对强度大小的信息，能较好地表达原始三维荧光光谱的荧光性质。将其与模式识别技术结合起来可实现对荧光物质的分类和鉴别。

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