光致发光量子产率的测量
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第三项是校正各向异性,通过测量发射 光和散射光的线性偏振态间接得到。 通常平行程度好的激发系统,ps近似为1 ,然而对于旋转运动的液体溶液,pf接近0。 因此第三项通常为大约0.75。
公式10严格适用于对入射光的偏振成都
不敏感的检测器,而且激发光应该是非偏振
的,在激发光谱范围内样品的吸收变化不能
F:积分球法(Integrating Spheres)
G:其他方法
氧化镁散射体作为标准(Magnesium Oxide as a Standard)
1924年苏联著名物理学家瓦维洛夫(Vavilov)首次用MgO为参考标准的光散射法测定 了染料溶液的量子产率。
测量仪器示意图是参照化学家Melhuish设计的实验装置
(1)
E:到达C的激发光强度(光子/秒,quanta/sec) Es: 每秒被氧化镁表面散射的光子总数 R:氧化镁表面对激发光的反射率 Ee:样品池内部的发射光的强度 Tx:样品池窗口的透过率 光强度=ETx Q:样品的绝对量子产率
Ee=ETxQ (2)
在样品池内部的激发
如果样品被视为一个点光源,发射 光被认为是为各向同性的,则从样品池 中的发射光强度为:Ee/4π,(光子每 秒每球面度,quanta/sec-steradian)。
为了依据检波器测到的数值得到被氧化镁表面 散射的光子数量,需要进一步假设这个散射体为理 想漫反射体,而根据理想漫反射体遵循朗伯余弦定 律可得到散射光强度:
I(Φ)=I0cosΦ (0≤Φ≤π/2) I(Φ)=0 (π/2≤Φ≤π) ( 4) I0=I (Φ=0) 单位:quanta/sec-steradian
这篇综述是一个尝试:
集中各种测量量子产率的仪器的信
息
指出各种测量方法的优点和缺点 阐释各种误差的来源和对结果影响的
重要性
针对一些测量方法提出改进的意见 展望一些相关的有发展潜力技术
量子产率的测量方法
(Methods of Measuring Quantum Yields)
A:氧化镁散射体作为标准(Magnesium Oxide as a Standard)
光密溶液的量子产率测量方法
与瓦维洛夫的测量方式相比,用一种标准化 合物的光密溶液取代散射器。 已知标准的量子产率,可用讲待测样品(用下标 x表示)与标准样品(用下标r表示)的结果带入式9, 并相除,得到下式:
公式10用于:
被标准样品和待测样品吸收的光均近似为点光源 检测器检测发冷光的总量
两种样品的反射和透射效应相同
以已知量子产率的物质为参比(Comparison with Compounds of Known Quantum Yields)
前面两种为绝对测量法,该法测量的是相 对测量法,分为: 光密溶液的量子产率测量方法(Optically Dense Measurements) 光疏溶液的量子产率测量方法(Optically Dilute Measurements)
量热法(Calorimetric Methods)
量热法是通过测定样品将吸收的光子能量转变
为热的效率来确定发光量子产率的。以一种不发光
的,光化学上惰性的物质作为参比,Байду номын сангаас热效率为100%,
而光致发光的样品能将吸收的光子能量借助发射光
子逸散。同样的激发光束对样品和参比产生不同的
热效应H,可由适当的检测器检测,其响应值是热的线
在通常情况下,发光量子产率的数值总是 小于1。发光量子产率的数值越大,化合物的 荧光或磷光越强。不发光的物质,其发光量 子产率的数值为零或非常接近于零。
荧光与磷光是竞争关系,荧光量子产
率减小,则磷光量子产率增加。
20世纪50年代以前,绝对量子产率的测量 通常受到强烈的干扰。在文献中的很多数据 都被证实是错误的。 很多工作者没有意识到错误,就在数据 没有经过校正,也没有对测量方法经过修正 就发表了。 当然,也有很多工作者已经指出对一些因 素进行校正的必要性。
如果选择硅溶胶和量子计数器测量量子 产率,得到的结果可能是最为精确的。后来 的研究者测到的数据与Melhuish的数据(a Vavilov method)对比,平均误差约为6%, 最大也也仅仅是12%。
误差分析:
激发光完全非偏振的假设不成立产生系统误差
散射溶液的吸光度测量误差 样品的吸光度最好低于0.05,否则公式10的第一项可能不 成立 激发光不是严格的单色激发光误差可达到100%或者更大 激发光波长最好选择300nm以上,且以硅溶胶为标准。 300nm以下,糖原不是理想散射物。
改进
1927年,Vavilov用光密溶液测得荧光素的相 对量子产率是激发波长的函数。这个发现避免了在 不同波长下吸收光的相对量的校正。 他假定即发射光谱与激发关谱是没有重叠,相 互独立的,并且在长波尾端处测量,此处的重吸收 影响可以忽略。 他就改白光激发为单色光激发,紫外区域的激 发光的强度可以由一个校正的汞弧和一个单色投射 器测得。 缺陷:当时所用分光光度计只能用于检测可见光 ,在400nm下毫无作用
立体角是以圆锥体的顶点为球心,半 径为1的球面被锥面所截得的面积来度量的, 度量单位称为“球面度”。
检波器覆盖的立体角为α,在正常的入射范围内 对着样品池表面,每秒钟到达检波器的光子数量为 Ne, 则 :
Ne=TeαEe/4πn2
( 3)
Te:样品池窗口的发射光的透过率 n2:溶剂在发射波长下的折射率,补偿在样品池界 面的折射 因为发射光谱宽度有限,Te和n随着带宽变化非 常显著。
另一重大改进是Bowen用量子计数器(quantum counter)取代分光计测量散射光和发射光的相对强 度。此条件下,Ks/Ke≈1 尽管可用范围在250-436nm,仍然是巨大的改进。
然而,与Vavilov一样,都忽略了折射率校正。 当折射率校正用于Bowen给的数据,有的量子产率甚 至大于1。 Forster意识到了折射率校正(在公式3和9中的 n2一项)。
下面的公式分别给出的是检波器对于散射光和发射 光的读数Ds和De:
原则上以公式2和8可以得到量子产率Q,但实际 上这下参数很难得到,用到散射体就是为了消除这 些参数,从公式1,2,7,8可以得到实际中用到的公式 :
准确性影响因素:
散射体的反射率 Te和Tx的复杂性 Ks和Ke很难评估 样品池内发射光各向同性假设的准确性 冷光的重吸收(当激发光谱与发射光谱重叠时) 任何不朝着检波器方向的光被完全忽略即完全检 测不到的假设的准确性
太大。
散射标准物质:
马肌肉和猫肝脏的糖原(glycogen) 硅溶胶
选择标准;所选溶液在恰当的波长范围内遵循瑞利 散射定律(吸光度乘以波长的四次方λ4等于常数)
优点:
Weber和Teale的方法考虑了偏振化程度,而且 因为数据来自稀溶液,自猝灭、重吸收和重发射被 明显消除。 然而在最低吸收条件下激发,重吸收还是会发 生。
具体的测量方法:
分别测量法 等吸收点激发-光谱积分面积比较法 等吸收点激发-峰高比较法 两点荧光法
评价:
这是测量量子产率最准确的常规方法
在同一在实验室测量结果重现性很好
但是不同的实验室之间可能因为分光计的校正、物质纯
化和样品制备的差别而使结果差别很大。
尽管如此,对于同行有良好声誉的工作者,结果的一致 性非常好,通常低于5%。
光致发光量子产率的测定-综 述
小组成员: 应化1201: 杜云飞 陈绍鹏 应化1201: 郑康 指导老师: 刘玲芝
介绍 量子产率的测定方法(选择4种来讲) 量子产率的标准物(略)
量子计数器(略)
分光计和检测器校正(略) 量子产率测定的校正(略)
Introduction
发光量子产率(用Q或Φ表示): 发射一个光子的分子在被直接激发的 分子中所占的比例。 发光量子产率指发光物质吸光后所发 射光的光子数与所吸收的激发光的光子数之 比值。 两种定义并不完全相等。在这篇文献中 没有视为相等。
改进方向:
需要发明一个检测范围更宽的量子计数器,打 破目前600nm的限制
光疏溶液的量子产率测量方法 建立在Beer定律的基础上,已知量子产率 的标准溶液(r)与未知量子产率溶液(x)间 关系如下:
A:激发光的吸光度(A=εbC) D:校正发射光谱的积分面积 n:溶液折射率
此式严格用于直角测量,且A≤0.05。 Paker指出A=0.05大约会引入5%的误差,而 Renschler认为应严格控制在0.02以内。
在每个发射谱带每个溶液的折射率为常数 已知待测和标准物的发射光谱,以及检波器对波 长的灵敏度
为了避免积分计算,常用量子计数器取 代检波器,则Kr/Kx=1,公式10可简化为:
总体评价:
(1)以标准物为参比,测量非常迅速; (2)准确性不如一些其他的方法; (3)如果不用校正的分光计,限于发射低于600nm 的物质
性函数。
测量H的方式较多,可分类为
△常规量热法,使用连续的激发光源,用一种简单的 温度敏感元件测量温度上升值; △短脉冲光源激发,测量因温度卜升引起的压力信号 ; △调制光源激发,测量热效应引起的声学信号(光声 光谱法),最为常用; △多级激发,用热透镜监测热效应。
评价:
由于量热法基于样品和参比间的热差,受限于 检测器的灵敏度,不适于Φ<0.1的测定,更适于发光 量子产额高的(Φ>0.5)或相对浓的浓溶液。
B:溶液散射体为标准(Solution Scatterers as Standards) C:以已知量子产率的物质为参比(Comparison with Compounds of Known Quantum Yields) D:量热法(Calorimetric Methods) E:几何学的绝对评价(Absolute Evaluation of the Geometry)
测量分为两步:
首先,装有样品的样品池放在图中C处,检波器记录样 品发冷光的信号强度。 通常要选择样品的浓度使99 %或者更多的激发光在几毫米内被吸收。 之后,样品池被涂有氧化镁薄层的盘子代替,用来散射 激发光,并获得另一个检波器读数。 从这两个数据和其他信息可以计算出样品的绝对量子产 率。
Es=ER
个人总结
量热法和以散射器为标准测量光致发光量子产 率是直接测量,而以已知量子产率的标准物为参比 进行测量,是间接测量。 除此之外还有一类是寿命测量法,量子产率等 于发冷光物质的辐射寿命与实际寿命的比值,原理 简单,但实验困难,不易直接测量辐射寿命。
溶液散射体为标准(Solution Scatterers as Standards)
Weber和Teale以光稀的胶体溶液为标准 ,因为其几乎为理想的偶极散射体。 偶极散射可以用于确定量子产率标准。
由于对光电管读数校正困难,用的检测器 局限于量子计数器。
量子产率表达式:
D:检测器读数 A:样品在激发波长下每厘米的吸光度 K:每个入射光子的检测器平均响应值 p:从透明样品池发射光线的线性偏振态 下标f和s分别表示发射的冷光和散射光 吸光度很低时,第一项分子和分母的图像均具有线性,需要知道 这个极限的斜率。
1955年,Melhuish进一步改进Vavilov的方法 ,使用罗丹明B量子计数器,检测范围220-600nm,从 而得以研究无数的分子。
小结:
Vavilov测量体系是少有的一种测量绝对量子产 率的方法。 由于复杂的误差来源,通过一系列校正,最好 的测量结果(如硫酸奎琳)也会有±5%的误差,对 于大多数分子, 则有±10%的不确定性。