自制卡规校验规程

自制卡规校验规程

1.0目的

为确保检验﹑测量和试验用的自制卡规能溯源至国家标准，保持其量值的准确可靠，规范内校操作，特制订本校验规程。

2.0范围

本公司0-100㎜范围的自制塞规均适用。包括单头双极限卡规、高低卡规及各式组合卡规。

卡规属于光滑极限量规的一种，是没有刻度的定尺寸专用量规，用于检验轴径及长方形、多边形等的外尺寸。卡规的最大极限尺寸一端叫做通端，最小极限尺寸一端叫做止端。

3.0校验设备

电子数显卡尺,精度:±0.03mm

所用装置应有CNAS认可的计量机构进行校准合格，每年需校准一次。并在校准有效期内使用。

4.0环境条件

室内温度要求控制在温度20℃±5℃湿度50%±20% RH%。

校准前应将卡规和电子数显卡尺放在校准室内平衡温度时间不少于1小时。5.0校验方法

5.1外观检查

➢卡规的表面应无影响使用的锈蚀和无毛刺。

➢卡规的工作面(与被测物相接触面)应光滑无凹凸不平现象。

5.2尺寸误差

5.2.1用标准电子数显卡尺进行校准。

5.2.2校准图1所示卡规时,使用卡尺外测量爪测量A、B的尺寸,用内测量爪测量F的尺寸,计算得到C和D的尺寸。C和D的尺寸是所需要的测量尺寸。

校准图2所示卡规时,使用卡尺深度杆测量得到E的尺寸。E的尺寸就是所需要的测量尺寸。

校准图3所示卡规时,使用卡尺内测量爪测量得到G和H的尺寸。G和H的尺寸是所需要的测量尺寸。

校准图4所示卡规时,使用卡尺内测量爪测量I和K的尺寸,通过计算得到M尺寸。I和M的尺寸是所需要的测量尺寸。

校准图5所示卡规时,使用卡尺内测量爪测量J的尺寸, 用深度杆测L的尺寸,通过L减去J计算出N尺寸。L、N的尺寸就是所需要的测量尺寸。

校准图6所示卡规时,使用卡尺内测量爪测量孔0的内径,两端孔0的内径即所需要测量的尺寸。

校准图7所示卡规时,使用卡尺深度杆测量P的尺寸,P的尺寸即所需要的测量尺寸。

校准图8所示卡规时,使用卡尺内测量爪直接测出S 、T 、U 、V 的尺寸,然后用卡尺的外测量爪分别测出A1、B1的尺寸,通过A1减去B1即可计算出C1的尺寸,再用卡尺的内测量爪测量E1的尺寸,C1加上E1的尺寸即D1的尺寸,用同样的方法测量并可计算得出W 、X 的尺寸;最后使用卡尺的外测量爪直接测出Y 的尺寸,用卡尺内测量爪测出H1的尺寸,H1加上Y 的尺寸就是Z 的尺寸,S 、T 、U 、V 、C1、D1、W 、X 、Y 、Z 的尺寸即所需要的测量尺寸。 5.2.3示值误差的计算:

示值误差 ＝ 标称尺寸 – 测量尺寸

5.2.4允许示值误差:

D 、H 、I 、L 、P 、S 、T 、W 、Y 、C1、J1: C 、G 、M 、N 、U 、V 、X 、Z 、D1:

E 、O: ±0.1mm

5.2.5在一套卡规中,各卡规示值误差会有不同,取绝对值最大者为此套卡规的示值误差。

+0

-0.1mm

+0.1mm -0

图2

A 图1

B

C

D

F E

H G

I 图4

M

K

6.0校验结果处理和校验周期

6.1校验结果在合格范围内为合格,贴上合格标贴并填写校准报告,否则为不合格,不合格根据其实际情况做出维修和报废处理,维修后须再做校准。 6.2校验记录

校准完后需填写校准记录由实验室或档案室保存至少3年。 6.3校验周期 一次性校准。 7.0参考文件

JJG343-1996《光滑极限量规检定规程》

O

图6

图7

P

图5

L N J

图8

V

U

下限值卡规

A 1

B 1

I1 S

E 1

H1

F1

D 1 W X

Z C 1

T 上限值卡规

Y G1

图9

J1

JJF1071国家计量校准规范编写规则

JJF1001通用计量术语及定义

GBT/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定8.0记录表格

内校合格证

卡规校验记录表