第六章 粉体学基础
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• 粒度分布（particles size distribution)表示不同
粒径的粒子群在粉体中所分布的情况，反映粒子大小
的均匀程度。 • 粒子群的粒度分布可用简单的表格、绘画和函数等形 式表示。
1. 频率分布与累积分布
• 频率分布表示与各个粒径相对应得粒子在全粒子群中
所占的百分数（微分型） • 累积分布表示小于（pass）或大于（on）某粒径的粒 子在全粒子群中所占的百分数（积分型）。 • 百分数的基准可用个数基准、质量基准、面积基准、 体积基准、长度基准等表示。 • 表示粒度分布时必须注明测定基准，不同的测定基准， 所获得的粒度分布曲线也不一样。
index）和形状系数（shape factor）。将粒子的各种
无因次组合称为形状指数，将立体几何各变量的关系 定义为形状系数。
（一）形状指数
• 1.球形度（degree of sphericility）亦称真球度，表 示粒子接近球体的程度。某粒子的球形度越接近于 1 ， 该粒子越接近于球。
s πDv /S
Andreasen吸管法。测得的
粒径分布是以重量为基准的。
4. 比表面积法（specific surface area method）
• 是利用粉体的比表面积随粒径的减少而迅速增加的原
理，通过粉体层中比表面积的信息与粒径的关系求得 平均粒径的方法。 • 可测定100μm的粒子，只能测定平均粒径，但不能测 定粒度分布。
某些固体药物有“重质”和“轻质”之分，主要是 因为其堆密度不同，堆密度小堆容积大的为“轻质”的， 其堆密度大而堆容积较小为“重质”，“轻质”与“重 质”与其真密度无关。
1~600 1~100 0.03~1
1.显微镜法（microscopic method）
• 将粉末用适宜的液体分散介质稀释后涂片，采用成像
法直接观察和测量颗粒的平面投影图像，主要测定几 何粒径。
•光学显微镜可以测定微米级的粒径，电 子显微镜可以测定纳米级的粒径。测定 时应避免粒子间的重叠，以免产生测定 的误差。 •分散媒应不溶解样品，并有较低的折射
几何学粒子径
球相当径
筛分径
1.几何学粒子径(二维平面)
• 根据几何学尺寸定义的粒子径，一般用显微镜法、库 尔特计数法等测定。 (1)三轴径：在粒子的平面投影图上测定长径l与短径b， 在投影平面的垂直方向测定粒子的厚度h。反映粒子的 实际尺寸。
(2)定方向径（投影径）： 在粒子的投影平面上，某定方向直线长度。
从而出现不同的表现形式，
分为：
• 单个粒子叫一级粒子
• 聚结粒子叫二级粒子
第一节
概
述
• 粉体（powder）是无数个固体粒子的集合体。
• 粉体学(micromeritics)是研究粉体所表现的基本性质及其 应用的科学。 • 粉体的物态特征——第四种物态： ①具有与液体相类似的流动性； ②具有与气体相类似的压缩性； ③具有固体的抗变形能力。
2
式中，Dv—粒子的球相当径；S—粒子的实际体表面积。 一般不规则粒子的表面积不好测定，用式计算更实用。
粒子投影面相当径 粒子投影面最小外接圆 直径
• 2. 圆形度（ degree of circularity ）表示粒子的投影
面接近于圆的程度：
c DH / L
式中：DH—Heywood径；L—粒子的投影周长。
3.比表面积形态系数 Φ= Φs/Φv
• 粒子的比表面积形状系数越接近于6，该粒子越接近于球
体或立方体。
三、粒子的比表面积
（一）比表面积的表示方法
1、体积比表面：单位体积粉体的表面积，Sv , cm2/cm3
s d 2 n 6 Sv 3 v d d n 6
d：面积平均径
2、重量比表面：单位重量粉体的表面积，SW , cm2/g
5. 筛分法（sieving
method）
• 是应用最广的测量方法。常用 的测定范围在45μm以上。 • 方法：将筛子由粗到细按筛号 顺序上下排列，将一定量粉体 样品置于最上层中，振动一定 时间，称量各个筛号上的粉体 重量，求得各筛号上的不同粒 径重量百分数，获得以重量为 基准的筛分粒径分布及平均粒 径。
投影面积圆相当径，是与 粒子投影面积相同的圆的 直径.
（二）形状系数
• 在立体几何中，用特征长度计算体积或面积时，往往乘以
系数，这种系数就叫形状系数，球的形状系数为π/6 • 将平均粒径为D，体积为Vp，表面积为S的粒子的各种形态 系数包括： 1.体积形态系数 Φv=Vp/D3
2.表面积形态系数 Φs=S/D2
率，全氟萘烷是常用的分散介质之一。
2.库尔特计数法（coulter counter method）
•根据库尔特原理测定混悬于液体中粒子的粒度分布
•测定时，将待测的粉粒混悬于适宜的电解质溶液中，采
用负压虹吸方式，迫使样品通过宝石微孔
•当微粒通过小孔是，两电 极之间的电阻瞬间增加产 生一个其大小与粒子体积 成比例的电压脉冲，经电 子分析器放大并转变成微
求得的密度，多用气体（氮）置换去测定容积而求得。
W t Vt
2.颗粒密度：
排除粒子间的空隙，但不排除粒子本身的细小孔隙， 即粉体质量除以包括开口细孔与封闭细孔在内的颗粒体积 所求得的密度称，多用汞置换法测定容积而求得。
W g Vg
W 3.堆密度： b V 指粉体质量除以该粉体所占容器的体积求得的密度。
5. 筛分法（sieving
method）
• 筛号与筛号尺寸：筛号常用“目”表示。“目”系指在
筛面的25.4mm（1英寸）长度上开有的孔数。
各国的标准筛号及筛孔
尺寸有所不同，中国药
典在R40/3系列规定了药 筛的九个筛号。表中列 出一些国家标准筛系的 对照关系，我国常用的 标准筛号与尺寸见表右。
粒的粒度。
利用电阻与粒子的体积成正比的关
系将电信号换算成粒径，以测定粒 径与其分布 测得的是等体积球相当径，粒径分 布以个数或体积为基准 混悬剂、乳剂、脂质体、散剂等可 以用本法测定
3. 沉降法（sedimentation
method）
• 是液相中混悬的粒子在重力 场中恒速沉降时，根据 Stocks方程求出粒径的方法。 • Stocks方程适用于100μm以 下的粒径的测定，常用
s d 2 n 6 Sw ρ：粉体的粒密度 3 w d d n 6
（二）比表面积的测定方法
1、气体吸附法：
粉粒可以吸附与其接近的气体分子或从
溶液中将溶质吸附在其表面，吸附作用的强
弱与粉粒的表面积有关，所以，可以用粉粒
吸附物质的量来测定其比表面积。 2、气体透过法： 使气体或液体透过粉粒层，利用透过前 后的压力变化以及透过速度与粉粒表面积的
• 粉体学是药剂学的基础理论，对制剂的处方设计、
制剂的制备、质量控制、包装等都有重要指导意义。
（1） 粉体粒子会影响溶出度和生物利用度 （2） 粉体的性质会影响片剂的成型及崩解
（3） 粉体的流动性、相对密度等性质会影响分剂量
（4） 粉体的密度、分散度、形态等性质会影响药物混合
的均匀性。
第二节
粉体粒子的性质
19.5 45.1 69.2 86.4 94.0 97.6 100.0
（三）平均粒子径
• 是指由不同粒径组成的粒子群的平均粒径。中位径是
最wk.baidu.com用的平均径，也叫中值径，在累积分布中累积值
正好为50%所对应的粒子径，常用D50表示。
名 1. 2. 3.
称
公
式
算术平均径 几何平均径 调和平均径
nd / n
• 定方向接线径(DF)：在一定方向上将粒子的投影面外接
的平行线之间的距离。
• 定方向等分径(DM)：即一定方向的线将粒子投影面积等
份分割时的长度。
• 定方向最大径(Dk)：即在一定方向上分割粒子投影面的
最大长度。
(3)圆相当径：
投影面积圆相当径（DH）：即与粒子的投影面积相同 圆的直径。 投影面周长相当径（DL）：将投影面的周长L当作圆周 长计算求得的直径。
第六章 粉体学基础
学 习 要 求
• 掌握粉体的概念 • 掌握粉体的流动性与堆密度
• 了解粉体的压缩性在片剂等制剂中的重要 指导意义
第一节
概
述
“粉”：<100μm的粒子，容易产生粒子
间的相互作用而流动性较差；
“粒”：>100μm的粒子，粒子的自重大 于粒子间相互作用而流动性较好。
粒子是粉体运动的最小单位， 粒子间存在一定的相互作用，
（4）球相当径（三维）
等体积（球）相当径（Dv）：与粒子的体积相同的球体直 径，用库尔特计数器测得。粒子的体积V=πDv3/6 等表面积（球）相当径（Ds）：S=πDS2 等比表面积相当径（DSV）：DSV=Dv3/DS2
2.沉降速度相当径
• 粒径相当于在液相中具有相同沉降速度的球形颗粒的
二、粒子形态（自学）
三、粒子的比表面积（自学）
粒子的比表面积： (一)形状指数 体积比表面积SV 1. 球形度 重量比表面积 SW 意义 2.圆形度 1.比表面积是表征粉体中 (二)形状系数 粒子粗细的一种量度 2.表示固体吸附能力的重 要参数。
二、粒子形态（自学）
三、粒子的比表面积（自学）
• 系指一个粒子的轮廓或表面上各点所构成的图像。 • 定量描述粒子几何形状的方法：形状指数（shape
• 又称细孔通过相当径。当粒子通过粗筛网且被截留在细
筛网时，粗细筛孔直径的算术或几何平均值称为筛分经，
记作DA 。 算术平均径 几何平均径 DA=(a+b)/2 DA=(ab)1/2
式中，a—粒子通过的粗筛网直径；
b—粒子被截留的细筛网直径。
粒径的表示方式是（-a,+b），即粒径小于a，大于b。
（二）粒度分布
一、粒子径与粒度分布 二、粒子形状 三、粒子的比表面积
一、粒子径与粒度分布
粉体的粒子大小也称粒度，含有粒子大小和粒度分布 双重含义，是粉体的基础性质。
形态规则的球形微粒的大小可简单用球的直径来表示。
对于一个不规则粒子，其粒子径的测定方法不同，其
物理意义不同，测定值也不同。
（一）粒子径的表示方法
3
/
4
nd
/
2
nd
2
nd
3
nd / n nd / n
3
1/ 2
1/ 3
/ S w
（四）粒子径的测定方法
粒径的测定方法与适用范围
测定方法
粒子径(μm)
测定方法
粒子径(μm)
光学显微镜 电子显微镜 筛分法 沉降法
0.5~ 0.01~ 45~ 0.5~100
库尔特计数法 气体透过法 氮气吸附法
• 不同基准的粒度分布理论上可以互相换算。
• 实际应用较多的是质量和个数基准分布。
频率粒度分布和累积粒度分布表
（百分含量的基准采用个数基准和质量基准）
频率粒度分布
粒径 μm
累积粒度分布
质量（%） 个数（%）
质量 （%）
个数 （%） ＞粒径
＜粒径
＞粒径
＜粒径
＜20 20~25 25~30 30~35 35~40 40~45 ＞45
n2 nn 1/ n ( d1n1 d2 d n )
n / (n / d )
频数最多的粒子直径 累积中间值（ D50）
4. 众数径 5. 中位径 6. 长度平均径 7. 面积平均径 8. 重量平均径 9. 平均面积径 10.平均体积径 11. 比表面积径
nd / nd
2
nd
直径。该粒经根据Stocks方程计算所得，因此有叫
Stocks 径或有效径（effect diameter） ，记作 DStk.
18 h Dstk ( p l ) g t
式中， ρp ，ρ1—分别表示被测粒子与液相的密度； η—液相的粘度；h——等速沉降距离；t—沉降时间。
3.筛分径（sieving diameter）
6.5 15.8 23.2 23.9 24.3 8.8 7.5
19.5 25.6 24.1 17.2 7.6 3.6 2.4
100.0 93.5 77.7 54.5 30.6 16.3 7.5
6.5 22.3 45.5 69.4 83.7 92.5 100.0
100.0 80.5 54.9 30.8 13.6 6.0 2.4
关系式，而求得比表面积。
第三节
一、密度与空隙率
（一）粉体密度的概念
粉体的性质
一、密度与空隙率
• 粉体的密度系指单位体积粉体的质量。
• 由于粉体的颗粒内部和颗粒间存在空隙，粉体的体积具
有不同的含义。 • 粉体的密度根据所指的体积不同分为：真密度、颗粒密 度、松密度三种。
1.真密度：
指粉体质量除以不包括颗粒内外空隙的固体体积而
粒径的粒子群在粉体中所分布的情况，反映粒子大小
的均匀程度。 • 粒子群的粒度分布可用简单的表格、绘画和函数等形 式表示。
1. 频率分布与累积分布
• 频率分布表示与各个粒径相对应得粒子在全粒子群中
所占的百分数（微分型） • 累积分布表示小于（pass）或大于（on）某粒径的粒 子在全粒子群中所占的百分数（积分型）。 • 百分数的基准可用个数基准、质量基准、面积基准、 体积基准、长度基准等表示。 • 表示粒度分布时必须注明测定基准，不同的测定基准， 所获得的粒度分布曲线也不一样。
index）和形状系数（shape factor）。将粒子的各种
无因次组合称为形状指数，将立体几何各变量的关系 定义为形状系数。
（一）形状指数
• 1.球形度（degree of sphericility）亦称真球度，表 示粒子接近球体的程度。某粒子的球形度越接近于 1 ， 该粒子越接近于球。
s πDv /S
Andreasen吸管法。测得的
粒径分布是以重量为基准的。
4. 比表面积法（specific surface area method）
• 是利用粉体的比表面积随粒径的减少而迅速增加的原
理，通过粉体层中比表面积的信息与粒径的关系求得 平均粒径的方法。 • 可测定100μm的粒子，只能测定平均粒径，但不能测 定粒度分布。
某些固体药物有“重质”和“轻质”之分，主要是 因为其堆密度不同，堆密度小堆容积大的为“轻质”的， 其堆密度大而堆容积较小为“重质”，“轻质”与“重 质”与其真密度无关。
1~600 1~100 0.03~1
1.显微镜法（microscopic method）
• 将粉末用适宜的液体分散介质稀释后涂片，采用成像
法直接观察和测量颗粒的平面投影图像，主要测定几 何粒径。
•光学显微镜可以测定微米级的粒径，电 子显微镜可以测定纳米级的粒径。测定 时应避免粒子间的重叠，以免产生测定 的误差。 •分散媒应不溶解样品，并有较低的折射
几何学粒子径
球相当径
筛分径
1.几何学粒子径(二维平面)
• 根据几何学尺寸定义的粒子径，一般用显微镜法、库 尔特计数法等测定。 (1)三轴径：在粒子的平面投影图上测定长径l与短径b， 在投影平面的垂直方向测定粒子的厚度h。反映粒子的 实际尺寸。
(2)定方向径（投影径）： 在粒子的投影平面上，某定方向直线长度。
从而出现不同的表现形式，
分为：
• 单个粒子叫一级粒子
• 聚结粒子叫二级粒子
第一节
概
述
• 粉体（powder）是无数个固体粒子的集合体。
• 粉体学(micromeritics)是研究粉体所表现的基本性质及其 应用的科学。 • 粉体的物态特征——第四种物态： ①具有与液体相类似的流动性； ②具有与气体相类似的压缩性； ③具有固体的抗变形能力。
2
式中，Dv—粒子的球相当径；S—粒子的实际体表面积。 一般不规则粒子的表面积不好测定，用式计算更实用。
粒子投影面相当径 粒子投影面最小外接圆 直径
• 2. 圆形度（ degree of circularity ）表示粒子的投影
面接近于圆的程度：
c DH / L
式中：DH—Heywood径；L—粒子的投影周长。
3.比表面积形态系数 Φ= Φs/Φv
• 粒子的比表面积形状系数越接近于6，该粒子越接近于球
体或立方体。
三、粒子的比表面积
（一）比表面积的表示方法
1、体积比表面：单位体积粉体的表面积，Sv , cm2/cm3
s d 2 n 6 Sv 3 v d d n 6
d：面积平均径
2、重量比表面：单位重量粉体的表面积，SW , cm2/g
5. 筛分法（sieving
method）
• 是应用最广的测量方法。常用 的测定范围在45μm以上。 • 方法：将筛子由粗到细按筛号 顺序上下排列，将一定量粉体 样品置于最上层中，振动一定 时间，称量各个筛号上的粉体 重量，求得各筛号上的不同粒 径重量百分数，获得以重量为 基准的筛分粒径分布及平均粒 径。
投影面积圆相当径，是与 粒子投影面积相同的圆的 直径.
（二）形状系数
• 在立体几何中，用特征长度计算体积或面积时，往往乘以
系数，这种系数就叫形状系数，球的形状系数为π/6 • 将平均粒径为D，体积为Vp，表面积为S的粒子的各种形态 系数包括： 1.体积形态系数 Φv=Vp/D3
2.表面积形态系数 Φs=S/D2
率，全氟萘烷是常用的分散介质之一。
2.库尔特计数法（coulter counter method）
•根据库尔特原理测定混悬于液体中粒子的粒度分布
•测定时，将待测的粉粒混悬于适宜的电解质溶液中，采
用负压虹吸方式，迫使样品通过宝石微孔
•当微粒通过小孔是，两电 极之间的电阻瞬间增加产 生一个其大小与粒子体积 成比例的电压脉冲，经电 子分析器放大并转变成微
求得的密度，多用气体（氮）置换去测定容积而求得。
W t Vt
2.颗粒密度：
排除粒子间的空隙，但不排除粒子本身的细小孔隙， 即粉体质量除以包括开口细孔与封闭细孔在内的颗粒体积 所求得的密度称，多用汞置换法测定容积而求得。
W g Vg
W 3.堆密度： b V 指粉体质量除以该粉体所占容器的体积求得的密度。
5. 筛分法（sieving
method）
• 筛号与筛号尺寸：筛号常用“目”表示。“目”系指在
筛面的25.4mm（1英寸）长度上开有的孔数。
各国的标准筛号及筛孔
尺寸有所不同，中国药
典在R40/3系列规定了药 筛的九个筛号。表中列 出一些国家标准筛系的 对照关系，我国常用的 标准筛号与尺寸见表右。
粒的粒度。
利用电阻与粒子的体积成正比的关
系将电信号换算成粒径，以测定粒 径与其分布 测得的是等体积球相当径，粒径分 布以个数或体积为基准 混悬剂、乳剂、脂质体、散剂等可 以用本法测定
3. 沉降法（sedimentation
method）
• 是液相中混悬的粒子在重力 场中恒速沉降时，根据 Stocks方程求出粒径的方法。 • Stocks方程适用于100μm以 下的粒径的测定，常用
s d 2 n 6 Sw ρ：粉体的粒密度 3 w d d n 6
（二）比表面积的测定方法
1、气体吸附法：
粉粒可以吸附与其接近的气体分子或从
溶液中将溶质吸附在其表面，吸附作用的强
弱与粉粒的表面积有关，所以，可以用粉粒
吸附物质的量来测定其比表面积。 2、气体透过法： 使气体或液体透过粉粒层，利用透过前 后的压力变化以及透过速度与粉粒表面积的
• 粉体学是药剂学的基础理论，对制剂的处方设计、
制剂的制备、质量控制、包装等都有重要指导意义。
（1） 粉体粒子会影响溶出度和生物利用度 （2） 粉体的性质会影响片剂的成型及崩解
（3） 粉体的流动性、相对密度等性质会影响分剂量
（4） 粉体的密度、分散度、形态等性质会影响药物混合
的均匀性。
第二节
粉体粒子的性质
19.5 45.1 69.2 86.4 94.0 97.6 100.0
（三）平均粒子径
• 是指由不同粒径组成的粒子群的平均粒径。中位径是
最wk.baidu.com用的平均径，也叫中值径，在累积分布中累积值
正好为50%所对应的粒子径，常用D50表示。
名 1. 2. 3.
称
公
式
算术平均径 几何平均径 调和平均径
nd / n
• 定方向接线径(DF)：在一定方向上将粒子的投影面外接
的平行线之间的距离。
• 定方向等分径(DM)：即一定方向的线将粒子投影面积等
份分割时的长度。
• 定方向最大径(Dk)：即在一定方向上分割粒子投影面的
最大长度。
(3)圆相当径：
投影面积圆相当径（DH）：即与粒子的投影面积相同 圆的直径。 投影面周长相当径（DL）：将投影面的周长L当作圆周 长计算求得的直径。
第六章 粉体学基础
学 习 要 求
• 掌握粉体的概念 • 掌握粉体的流动性与堆密度
• 了解粉体的压缩性在片剂等制剂中的重要 指导意义
第一节
概
述
“粉”：<100μm的粒子，容易产生粒子
间的相互作用而流动性较差；
“粒”：>100μm的粒子，粒子的自重大 于粒子间相互作用而流动性较好。
粒子是粉体运动的最小单位， 粒子间存在一定的相互作用，
（4）球相当径（三维）
等体积（球）相当径（Dv）：与粒子的体积相同的球体直 径，用库尔特计数器测得。粒子的体积V=πDv3/6 等表面积（球）相当径（Ds）：S=πDS2 等比表面积相当径（DSV）：DSV=Dv3/DS2
2.沉降速度相当径
• 粒径相当于在液相中具有相同沉降速度的球形颗粒的
二、粒子形态（自学）
三、粒子的比表面积（自学）
粒子的比表面积： (一)形状指数 体积比表面积SV 1. 球形度 重量比表面积 SW 意义 2.圆形度 1.比表面积是表征粉体中 (二)形状系数 粒子粗细的一种量度 2.表示固体吸附能力的重 要参数。
二、粒子形态（自学）
三、粒子的比表面积（自学）
• 系指一个粒子的轮廓或表面上各点所构成的图像。 • 定量描述粒子几何形状的方法：形状指数（shape
• 又称细孔通过相当径。当粒子通过粗筛网且被截留在细
筛网时，粗细筛孔直径的算术或几何平均值称为筛分经，
记作DA 。 算术平均径 几何平均径 DA=(a+b)/2 DA=(ab)1/2
式中，a—粒子通过的粗筛网直径；
b—粒子被截留的细筛网直径。
粒径的表示方式是（-a,+b），即粒径小于a，大于b。
（二）粒度分布
一、粒子径与粒度分布 二、粒子形状 三、粒子的比表面积
一、粒子径与粒度分布
粉体的粒子大小也称粒度，含有粒子大小和粒度分布 双重含义，是粉体的基础性质。
形态规则的球形微粒的大小可简单用球的直径来表示。
对于一个不规则粒子，其粒子径的测定方法不同，其
物理意义不同，测定值也不同。
（一）粒子径的表示方法
3
/
4
nd
/
2
nd
2
nd
3
nd / n nd / n
3
1/ 2
1/ 3
/ S w
（四）粒子径的测定方法
粒径的测定方法与适用范围
测定方法
粒子径(μm)
测定方法
粒子径(μm)
光学显微镜 电子显微镜 筛分法 沉降法
0.5~ 0.01~ 45~ 0.5~100
库尔特计数法 气体透过法 氮气吸附法
• 不同基准的粒度分布理论上可以互相换算。
• 实际应用较多的是质量和个数基准分布。
频率粒度分布和累积粒度分布表
（百分含量的基准采用个数基准和质量基准）
频率粒度分布
粒径 μm
累积粒度分布
质量（%） 个数（%）
质量 （%）
个数 （%） ＞粒径
＜粒径
＞粒径
＜粒径
＜20 20~25 25~30 30~35 35~40 40~45 ＞45
n2 nn 1/ n ( d1n1 d2 d n )
n / (n / d )
频数最多的粒子直径 累积中间值（ D50）
4. 众数径 5. 中位径 6. 长度平均径 7. 面积平均径 8. 重量平均径 9. 平均面积径 10.平均体积径 11. 比表面积径
nd / nd
2
nd
直径。该粒经根据Stocks方程计算所得，因此有叫
Stocks 径或有效径（effect diameter） ，记作 DStk.
18 h Dstk ( p l ) g t
式中， ρp ，ρ1—分别表示被测粒子与液相的密度； η—液相的粘度；h——等速沉降距离；t—沉降时间。
3.筛分径（sieving diameter）
6.5 15.8 23.2 23.9 24.3 8.8 7.5
19.5 25.6 24.1 17.2 7.6 3.6 2.4
100.0 93.5 77.7 54.5 30.6 16.3 7.5
6.5 22.3 45.5 69.4 83.7 92.5 100.0
100.0 80.5 54.9 30.8 13.6 6.0 2.4
关系式，而求得比表面积。
第三节
一、密度与空隙率
（一）粉体密度的概念
粉体的性质
一、密度与空隙率
• 粉体的密度系指单位体积粉体的质量。
• 由于粉体的颗粒内部和颗粒间存在空隙，粉体的体积具
有不同的含义。 • 粉体的密度根据所指的体积不同分为：真密度、颗粒密 度、松密度三种。
1.真密度：
指粉体质量除以不包括颗粒内外空隙的固体体积而