矿体等X图(X为深度,厚度,品位)

矿体产状、厚度、品位等情况的统计性图表的编制
2011-3-18 11:35:55 中国选矿技术网浏览174 次收藏我来说两句
一、各类等量线图
各类等量线图包括等高(或等深)线图、等厚线图、等品位线(或含量等值线)图等。

（一）等高(深)线图；其目的是为了研究特定层面的深部构造特别是褶皱构造，也可用于研究断层、矿床预测、指导勘探和开采以及储量计算。

1、等高(深)线图有下列几种：
（1）一定地层层面的等高(深)线图，多用于研究褶皱构造：当所选择的层面代表一定地层单位的界面时，特称为层位等高(深)线图，多用于研究一定等构造层褶皱构造，当用于成矿预测或指导勘探时，多选择矿层(或含矿层)顶板或顶板以上有一定距离的标志层或矿化遮挡层；当用于指导开采时，多选择矿层或含矿层顶或底板。

（2）若干相邻地层层面等高(深)线重叠的图(重叠的图最好用不同色例)：多用于研究大地构造运动或上、下构造层褶皱构造的关系或含矿层的赋存空间。

当选择的层面为若干相邻的不(或假)整合面时，多用于大地构造运动，特别是海侵、海退规律，用于沉积矿产的矿床预测：预测含油、气构造及铁、铝土矿成矿有利地段。

（3）一定地层单位的层位等高(深)线与等厚线重迭的图，多用于研究大地构造运动或一定地质时代的古地理环境，用于沉积矿产的成矿研究。

（4）一定构造线界面的等高(深)线图以及综合层面或层位与构造线界面的等高(深)线图，多用于研究断裂的类型及位移要素，特别是后者能全面反映断层不同线段的位移要素，比断层图解法要全面些，一般用于指导勘探或成矿预测(图1示其一例)。

图1 用以研究断层的构造等深线图
(A)：断层下盘；(B)：断层上盘；1：断层地表迹线；2(a)、(b)：分别为断层面与下、上盘下白垩统顶部交切线的投影线；3(a)、(b)：分别为断层与下、上盘上侏罗统顶部的交切线的投影线；4、5 分别为下白垩统顶部与上侏罗统顶部的等深线。

地质判读：断层为正断层，但北部落差小，南部大，倾角自北向南逐步变陡，并有水平位移(上盘南移)；下白垩统与上侏罗统之间为不整合接触，不整合面为一曲面，向西倾伏。

垂直断层作平行剖面可求得断层各点的倾角变化及位移要素。

（5）浸入岩接触面的等高(深)线图，用于指导勘探及成矿预测。

（二）编制这类图纸要具备一定的条件，主要如下：
1、目的层(即编图对象)的产状要有一定的平面延展，如产状近于直立，不宜编制。

2、一般只适宜于成层岩石，尤其是其厚度(和岩性)变化比较稳定者所构成的构造。

3、研究断层时，一般只限于主要断裂，当被其他断层切割剧烈时，编图有困难。

4、目的层及其上覆地层，要有实测厚度资料，包括实测剖面测定的和(或)深部工程揭露的。

所需实测资料的多少视具体情况及图纸用途而定，除用于储量计算及指导开采外，应允许相当一部分参数是根据类比推定的。

5、尽可能取得与目的层的物性相适应的地球物理资料，作对比参考之用。

6、作为成矿预测之用时，矿化体应严格或主要控制在一定的层位或构造界面内，即上覆岩层底面或构造线的上盘就是或主要是矿体的顶板或上盘，或矿体距某标志层有一定的相对稳定的距离。

（三）等高线法或等深线法的选择：
1、等高线法适用于编图区地形高差较大的地区，但同时需用另一色例标明地形等高线。

优点是地质构造形态没有编图技术上的歪曲，缺点是因重叠有地形等高线，图面较复杂。

2、等深线法适用于编图区地形高差很小的地区。

优点是图面较清楚，能直接读出每一点的埋藏深度，不需换算；缺点是除平原地区外，一般对地质构造的形态不免多少有编图技术上的歪曲(因地形多少有些起伏)。

二、等厚线图
其目的是为了研究特定地层的厚度变化规律，用于指导找矿勘探和开采、储量计算及成矿规律与成矿预测的研究。

根据目的层的不同而有下列三种：
(一)一定地层单位的等厚线图：当配合其他图纸时，可用以研究大地构造运动和古地理
环境，用于沉积矿床预测。

适宜于成层岩石地区，不受构造条件的限制，但单斜而倾斜较陡时，编图有困难。

(二)含矿层或含矿带的等厚线图；当配合其他图纸时，可用于内、外生矿床的成矿规律和成矿预测的研究，用于指导勘探。

适宜于有一定延展的含矿层(或带)。

一般情形下不受目的层产状的限制，但如产状较陡时，如有褶皱应限于舒缓波状。

(三)矿体等厚线图：用于储量计算和指导开采。

适宜于层状、似层状或透镜状矿体，矿床构造及矿体形态复杂，厚度变化太大者，其应用受到限制，不受矿体产状的限制。

等厚线图所需目的层的实测厚度资料，主要是从实测剖面测量及探矿工程揭露获得。

所需资料的多少也视具体情况及图纸用途而定。

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三、等品位线图
其目的是为了研究矿体或含矿层的品位变化规律，用手指导勘探和开采；也可作成矿预测之用，例如，在岩相古地理图上投上含矿层的等品位线，可以较准确地预测沉积成矿富集地段。

另有一种厚度与品位的乘积的等值线图，用于有色金属或贵金属的储量计算。

这一类图纸适宜于层状、似层状或透镜状矿体，不受矿体产状的限制，但构造复杂、矿体形态变化大者，其应用受到限制。

对于矿体分割为若干品级的辅助原料及铝土矿等矿床，不宜编制。

编图时要有实测品位资料，最好有一定的网度控制，网度的稀密视具体情况及图纸用途而定。

四、准备底图
各类等量线图的底图因研究目的及图纸用途的不同而不同：
(一)用于研究大地构造运动、古地理条件和区域构造的等高(深)线图和等厚线图，以同比例尺区域地质图为底图，保留经纬线、水系及目的层界面地表界线，勾出目的层沉积当
时的剥蚀区(用于研究区域构造者不画剥蚀区)。

(二)用于研究矿区或矿床构造、矿层或含矿层厚度变化和品位变化的各类等量线图均以同比例尺矿区或矿床地质图(或水平投影图)为底图，保留座标线、勘探线及目的层界面地表界线。

当矿层或含矿层产状较陡时，可根据具体情况及图纸用途选择平行倾斜投影图或纵投影图为底图编制等厚线图或等品位线图，但不宜编制等高线图，保留基本线条和矿体边界线，
五、等厚线图厚度参数的准则，根据研究目的及所采用的底图而选择
(一)以平面地质图为底图，用以研究大地构造运动、古地理条件及内、外生矿床的成矿规律和成矿预测的一定地层单位(包括含矿层或带)的等厚线图，以目的层真厚度为准。

此时不受褶皱构造的限制，但被断层切割，增益的厚度和剥蚀残余的厚度，虽然也应标出(用不同图例)，但只供参考。

(二)以各类投影图为底图，用以指导勘探、开采和储量计算的矿体等厚线图，以垂直于图面的厚度为准。

此时被断层增益的厚度及剥蚀残余的厚度与正常厚度同等对待，但褶皱很发育时，不甚合适。

(三)研究含矿层或含矿带的厚度变化规律，以阐明成矿规律和成矿预测者，用纵或平行倾斜投影图为底图时，以垂直于图面的厚度为准。

此时被断层增益的厚度及剥蚀残余的厚度同样只供参考，而褶曲发育时，亦不甚合适。

六、参数点的分类
包括深部工程点、地表剖面点及深部剖面点。

后两种剖面点指实测剖面线上的某些点。

(一)深部工程点为深部工程与目的层某一特定界面的交点。

(二)地表剖面点为实测剖面线截取目的层的一段剖面的某一端点或目的层某一界面在地表出露之点，也包括地表工程揭露的剖面点。

以上两种参数点所获参数都是实测的，但对于等厚线图来说，地表剖面点的参数有一定的推定性质，目的层厚度愈大，推定性愈大。

(三)深部剖面点为实测剖面线上目的层以上某些地层单元的界面点或某些特定的点。

与这些点有关的目的层参数是根据实测剖面成果进行剖面对比，确定地层柱状，推定目的层以上的地层真厚度，换算为所需的参数。

故均为推定参数。

七、参数点的应用及定位
(一)等高(探)线图：除用于指导开采和储量计算的等高线图外，其他等高(深)线图，三种参数点均可应用，特别是区域性等高(深)线图，深部剖面点占有相当大一部份数量。

但用于指导开采和储量计算者，不能使用深部剖面点，或者仅供计算地质储量之用。

各参数点的定位以工程或剖面线与选定的界面的交点的投影位置为准。

(二)等厚线图：一般情形下，只能使用深部工程点及地表剖面点。

参数点的定位一般规定以工程或剖面线与目的层底板的交点的投影位置为准。

但地表剖面点的定位有三种情况：
1、剖面线与目的层底板的交点，此处的厚度参数为零。

2、剖面线与目的层顶板的交点，此处的厚度参数为目的层的全厚。

3、剖面线与目的层层内某一特定面的交点，此点的厚度参数为该点以下至目的层底板的一段地层厚度。

当目的层厚度较大特别是目的层为数种不同岩性的岩层组成的某一地层单元时，常需布设此种参数点，在编制区域性等厚线图时，常遇到这种情况。

(三)等品位线图：任何情形下，只能用深部工程点和地表剖面点，即深部采样线和地表采样线与目的层底板的交点的投影位置。

(四)各参数点的投影方法，可选用解析法或座标值法或作图法。

八、编图方法及步骤
(一)整理、核实和(必要时)换算参数。

对于等高(深)线图及等厚线图，要精确度量目的层及其上覆地层的真实厚度，即从观察所得的实际真层厚，或按实测原始资料计算的真层厚，不应有任何假设，即不能把被侵蚀或被断层破坏的部份厚度根据推测而减或加进去。

注意厚度变化规律。

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(二）编制卡片：卡片内容，因图纸种类及使用参数点类别之不同而不同，很难作统一规定。

仅举等高(深)线图为例，以供参考。

其卡片内容包括：顺序号、勘探线或实测剖面线编号、参数点类别及编号、目的层界面、参数[包括：地层真厚度(指自参数点以下至目的层界面一段的地层真厚度)，地层倾角、地层垂直厚度(或垂深)、地表标高读数(指参数点所在投影位置的地表标高)、目的层界面标高]、备注。

(三)在准备好的底图上，画上勘探线及(或)实测剖面线，注明编号。

投上参数点及其编号，注明有关参数。

(四)以插入法绘出平滑的等量线。

(二)变化规律图表这是一些以勘探线为横坐标以不同标高或深度为纵坐标的统计图表，借以分析沿走向、自地表至深部的矿体厚度、矿体产状或矿石品位变化规律，用于指导生产、阐明矿体的空间分布规律或研究矿床勘探类型。

图表格式要根据具体情况去设计。

一般需要有一定的深部工程才能编制，否则，只能编制地表部份沿走向的变化图表。

今举两例，以供参考：
1、以曲线或柱状表达的；有矿体厚度变化规律图、矿石有益元素及(或)有害元素含量变化规律图(图
2、3)。

利用各勘探线与各水平剖面交截线上的厚度或平均品位编制。

当没有交截线上的实测资料时；对于厚度可用内插法获得；对于平均品位，可用各水平面影响范围内的工程平均品位。

一般情形下可用算术平均。

这一类变化规律图与有关等量线图(矿体等厚线图或含量等值线图)比较，各有优缺点。

一般情况下，对于倾斜较大的矿体或内生矿床，多编制变化规律图。

对于不宜编制等厚线图或含量等值线图的矿床，也可编制这种图。

当矿体分割为若干品级时，或必须同时阐明有益和有害组份的变化规律时，可用各交截线上主要有益组份的平均含量和主要有害组份的平均含量重叠的曲线或柱状编制。

2、以数字表达的：有矿体产状或矿体产状与厚度(及夹层厚度)变化表（附表1），其编制方法及条件同上。

(三)级频率图
这是一种以矿石的主要有益元素含量分级为横坐标，以试样个数为纵坐标的柱状统计图(图4)，用于研究：
图4 级频率图
1、矿石主要有益元素分布的均匀程度和矿石品位变化情况；
2、全矿床的矿石主要属于何品级(贫、中或富)；
3、平均品位计算方法的选择：当级频率的高峰位于图的中央(分级的中间)部份，同时两侧又大致对称时，算术平均与加权平均结果比较应相近，当级频率的高峰偏左或偏右时，亦相应的偏低或偏高。

但具体选择何种平均品位方法尚须结合其他条件。

参加编制级频率图的试样为有用矿体内参加平均品位计算的或边界品位以上的全部普通试样。

有益元素的含量分级根据具体情况而定，一般采用等间距的分级。

统计每一分级内的试样个数，进行编制。

（四）不同组份的相关关系图
这是一种分别以不同组份的含量分级为纵、横坐标的统计图。

以矿体内全部试样或有代表性的或主要地段的试样的不同组份的含量，求出每个试样的投影点。

参加制图的试样，有组合试样、全分析样及普通试样，根据制图目的及试验项目选择。

注明参加统计的试样个数。

如相关关系不很明显，可在各点分布范围内的适中位置画出直线、甚至折线。

借以阐明不同组份(或在不同组份含量区间内)的正或负相关关系(图5)，用于研究组份的共生关系和矿化作用的特征。

参加编图的试样不宜过少，否则所求得的相关关系不甚可靠。

根据地质特征，必要时，可以分别按不同矿石类型或工业品级、不同区段或深度编制相关关系图。

图5 相关关系图（××个试样统计）
（A）正相关（关系明显）；（B）负相关关系（关系不明显）。

沿走向自地表至深部矿体产状、矿体厚度（及夹层厚度）变化表附表1
厚度单位：米产状单位：度
注：30+10+5＝45 为自下盘至上盘各矿层厚度相加＝矿体全厚，（5+2＝7）为相应的夹层厚度相加＝夹层全厚。