【CN110147301A】一种芯片验证系统及方法【专利】
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(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910333923.1
(22)申请日 2019.04.24
(71)申请人 深圳贝特莱电子科技股份有限公司
地址 518000 广东省深圳市南山区高新中
二道深圳国际软件园4栋506
(72)发明人 陈荣
(74)专利代理机构 深圳市兰锋知识产权代理事
务所(普通合伙) 44419
代理人 曹明兰
(51)Int.Cl.
G06F 11/263(2006.01)
G06F 11/22(2006.01)
(54)发明名称一种芯片验证系统及方法(57)摘要本发明公开了一种芯片验证方法，该方法包括如下步骤：步骤S1，系统初始化；步骤S2，对所述测试主界面输入的模块命令进行扫描；步骤S3，判断所述测试主界面是否输入的模块命令，若是，则执行步骤S4；步骤S4，识别所述模块命令并选中所述测试功能模块中对应的功能；步骤S5，识别所述测试功能模块输入的测试用例命令，并选中所述测试用例模块中对应的用例选项；步骤S6，跳转至所述测试用例模块被选中的用例选项，借由该用例选项对芯片的相应功能进行验证。本发明相比现有技术而言能够规范管理验证FW，能有效降低芯片验证的复杂度，可有效
提高芯片验证效率。权利要求书1页 说明书4页 附图7页CN 110147301 A 2019.08.20
C N 110147301
A
权 利 要 求 书1/1页CN 110147301 A
1.一种芯片验证系统，其特征在于，包括有测试主界面(1)、测试功能模块(2)和测试用例模块(3)，其中：
所述测试主界面(1)用于输入预设的模块命令来选择所述测试功能模块(2)中的相应功能；
所述测试功能模块(2)用于输入相应的测试用例命令来选择所述测试用例模块(3)中需要测试的用例选项；
所述测试用例模块(3)用于对芯片的相应功能进行验证。
2.一种芯片验证方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
步骤S1，系统初始化；
步骤S2，对所述测试主界面(1)输入的模块命令进行扫描；
步骤S3，判断所述测试主界面(1)是否输入的模块命令，若是，则执行步骤S4；
步骤S4，识别所述模块命令并选中所述测试功能模块(2)中对应的功能；
步骤S5，识别所述测试功能模块(2)输入的测试用例命令，并选中所述测试用例模块(3)中对应的用例选项；
步骤S6，跳转至所述测试用例模块(3)被选中的用例选项，借由该用例选项对芯片的相应功能进行验证。
3.如权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，还包括有：步骤S7，验证完成后，打印验证结果。
4.如权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，所述步骤S1中，所述初始化步骤包括：初始化UART timer配置步骤。
5.如权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，所述步骤S3中，若未检测到所述测试主界面(1)输入的模块命令，则检测是否有帮助命令，若是则返回至步骤S2，若否，则继续执行步骤S3，并且定时检测所述测试主界面(1)输入的模块命令。
6.如权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，所述步骤S4中，判断所述测试功能模块(2)是否检测到所述模块命令，若是，则执行步骤S5，若否，则返回至步骤S3。
7.如权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，所述步骤S5中，判断所述测试用例模块(3)是否检测到所述测试用例命令，若是，则执行步骤S6，若否，则返回至步骤S3。
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