X线头影测量学
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X线头影测量学
X线头颅定位照Biblioteka 和头影图的描绘1.头颅定位X线照相
头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成 与地面平行的平面 自然头位法
X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
患者体位：ICP位，唇自然放松
2.头影图的描绘
下颌标志点
四.常用测量平面
1.基准平面：相对稳定 前颅底平面（SN）:由蝶鞍点与鼻
根点的连线组成 眶耳平面（FH）:由耳点与眶点的 连线组成 Bolton平面:由Bolton点与鼻根点 的连线组成
常用基准平面
前颅底平面（SN） 眶耳平面（FH）
Bolton平面
2.测量平面：
腭平面（PP）:由 前鼻棘点与后鼻棘点 的连线组成 面平面（N-Pog）： 由鼻根点与颏前点的 连线组成 Y轴（S-Gn）：蝶鞍 点与颏顶点的连线组 成
常用计测点
E线（审美平面）
由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难
上颌标志点
三.下颌标志点（7个）
髁顶点（Co）：髁 突影像最上点 下颌角点（Go）： 下颌角后下点 颏下点（Me）：颏 部之最下点
下颌标志点（7个）
颏前点（Pog）：颏 部之最前点 颏顶点（Gn）：颏下 点与颏前点之中点 下齿槽座点（B）： 颏前点与下齿槽缘 之间的凹点 下中切牙点（L1）： 下中切牙切缘之最 前点
描图工具： 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆 仪及硬质尖锐的铅笔等 注意： 当左右影像不完全重合时，应取 其平均中点来做描绘
常用标志点及测量 平面
一.颅部标志点（5个）
鼻根点（N）： 鼻额缝的最 前点
蝶鞍点（S）： 蝶鞍影像的 中心点
《X线头影测量学》课件
对于需要手术治疗的颅面畸形，X线头影测 量可以评估手术前后颅面形态的变化，指 导手术方案的制定和调整。
比较治疗效果
科学研究
通过比较治疗前后的X线头影测量结果，可 以评估治疗效果，为进一步治疗提供依据 。
X线头影测量在颅面外科研究中也有广泛应 用，如颅面生长的规律、手术效果的评价 等。
其他医学领域应用
头影测量的目的是为了了解颌面部软硬组织的生长发育状态、分析颌面部畸形 的病因、制定正畸治疗方案、评估治疗效果和预测未来生长趋势等。
头影测量学发展历程
早期头影测量学
早期的头影测量学主要依靠手工测量和目测，精度和可靠性较低。
数字化头影测量
随着计算机技术的发展，数字化头影测量逐渐取代手工测量，实现 了快速、准确、可重复的测量和分析。
04 X线头影测量学实 验操作
实验设备介绍
01
02
03
实验设备
X线机、头影测量分析软 件、测量工具等。
设备功能
X线机用于拍摄头颅X线片 ，头影测量分析软件用于 测量和分析X线片，测量 工具用于辅助测量。
设备要求
确保设备性能稳定、精度 高，以保证实验结果的准 确性和可靠性。
实验操作流程
实验准备
选择合适的实验对象，准备实验材料和设 备。
1 2 3
颞下颌关节紊乱病
X线头影测量可以用于颞下颌关节紊乱病的诊断 和治疗，帮助医生了解关节位置和形态，评估治 疗效果。
正颌外科
在正颌外科手术中，X线头影测量可以帮助医生 了解颌骨形态和位置，为手术设计提供依据，并 评估手术效果。
口腔颌面部肿瘤
对于口腔颌面部肿瘤患者，X线头影测量可以用 于肿瘤的诊断、手术前后评估以及放疗定位。
06 总结与展望
X 线头影测量学
应用
华 西口腔
• 5. 下颌功能分析
X 线头影测量学在正畸学中的作 用
1. 研究颅面的生长发育及生长预测 2. 牙颌颅面畸形的诊断分析及治疗设计 3. 研究矫治前后牙颌颅面形态结构的矫治
变 化和生长 改变 以及判断各种矫 治器的 作用机理 4. 外科正畸的术前诊断设计和术后疗效的 评价 5. 下颌功能分析
• 软组织颏下点 ( Me’ menton of soft tissue ): 软组织颏 之最下点 .
华 西口腔
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备注
• 正中矢状平面上 • 较难定位的点：
的参考点较 矢状 平面两侧 的参考 点准确； • 两侧的点取其中
眶点， A 点， 前鼻棘点，后鼻 棘点。
点。
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• 在颅面生长过程中，参考点的 稳 定性是有变 化的，所谓 “固定 的标 志点”是不存在的，但是靠 近颅 底的一些点（如蝶鞍点，鼻 根点，颅 底点）在出生后随生长 变 化很小
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测 量平面 腭平面 ANS-PNS /PP.(palatal plane)
有称上颌 平面， 由前鼻嵴 点和后 鼻嵴 点的连 线 构 成。常用于评 价 上颌 的位置和生 长 方向
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测 量平面 下颌平面 MP MP.(mandibular plane)
1. 通过颏下点与 下颌 角下缘 的 切线 ；
板，圆规，量角器、 3H 铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记, 可用强光局部观察 .
华 西ห้องสมุดไป่ตู้腔
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侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
华 西口腔
X线头影测量分析方法解析
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Steiner分析法
1)SNA角：前颅底平面-上齿槽 座点角。代表上颌基骨对颅部 2)SNB角：前颅底平面-下齿槽 座点角。代表下颌基骨对颅部
(5)下颌长度 (mandible length)此测 量不在眼耳平面，而在 下颌平面上进行。由髁 突后缘作切线垂直下颌 平面，再从颏前点作切 线垂直下颌平面，测量
(6)全面高(N-Me)：鼻 根点至颏下点的距离。
(7)面上部高(N-ANS)： 鼻根点至前鼻棘的距离。
(8)面下部高(ANS-Me)： 前鼻棘至颏下点的距离。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wits分析法
分别从上、下齿槽座点 AB向功能性合平面作垂线， 两垂足分别为Ao点和Bo点。 然后测量Ao点与Bo点间的 距离以反映上、下颌骨前 部的相互位置关系。
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wylie分析法
此分析法是对牙颌面形态结构深度及高度的测 量。所有的测量主要是线距的测量。面部深度 测量以蝶鞍点作为测量座标，以眼耳平面为基 准平面，由蝶鞍中心和所要测量的各标志点向 眼耳平面作垂线，测量标志点垂足与蝶鞍点垂 足之间距离，或测量标志点垂足之间的距离。
X线头影测量分析
X 线头影测量 , 主要是测量 X 线头颅定位照像 所得的影像 , 对牙颌, 颅面各标志点描绘出一 定的线角进行测量分析 , 从而了解牙颌、 颅面 软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 , 由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面（ FH ）的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点：
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
２ . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点！
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面（ FH ）的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点：
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
２ . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点！
慧心学牙笔记--第四节头影测量
慧心学牙笔记--第四节头影测量第四节头影测量学头影测量最重要的一件事是——知道要把点定在哪儿。
头影测量是制定矫治计划的重要参考因素，但不是决定因素。
决定因素还是医生。
矫治计划中能考虑更多的因素则是更完美的，但也要讲究工作效率。
定点是一切头影测量的基础。
常用23个点，必须记住的点有十几个。
（红字标注的点为重要的点，必须记住的）头影测量常用分析方法:*Down analysis*Tweed analysis*Steiner analysis*Wylie analysis*Rickettes analysisNJMU analysis（南医大分析法）国内牙医常用：南大派，北医派，四医大派，华西派，大同小异。
头影测量那么多数据，非常有用的是有限的。
对临床指导意义最大的，有用的数据掌握就够了。
先要记熟两件事儿:1.头影测量中的各种定点都定在什么位置，代表什么意思。
2.各种角都代表什么意思，正常范围是多少。
1.鼻根点（N）:位于沿额骨骨皮质影迹表面往下一小“缺口”。
此即为鼻额缝阴影的最前端。
这是前颅底部的标识点，是一条形态不规则的骨缝，在头影像上从后下往前上呈一条锯齿状的阴影，显示并不十分清楚。
（N点比软组织鼻根点要高一些）2.蝶鞍点（S）:位于垂体窝，即蝶鞍影像的中心点。
这是常用的一个颅部标识点，在生长发育过程中位置较为稳定，因此是构成基准平面和很多测量项目的基准点，也常作为颅底重叠的原点。
3.耳点（P）:外耳道阴影的最上点。
这是构成框耳平面（FH平面）的标志点之一，在侧位头影像上常呈双重圆形后椭圆形阴影，定点时应该注意取双重影像上耳点的平均中点。
注意区分外耳道影像，机械耳塞影像，内耳道影像。
确定耳点也可依据耳点，眶点与髁顶部三者的解剖关系来帮助定点。
眶耳平面（FH平面）高于髁顶部约1mm，其误差率仅1‰。
（机械耳点）定点：先找到Or点，与髁突最上点高1mm的位置连线，P点就在此条线上。
4.眶点（Or）:眶下缘的最低点。
X线头影测量分析方法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Coben分析法
测量内容包括： 全颅底长（Ba-N）； 中面部深度（Ba-A），包括 Ba-S、S-Ptm、Ptm-A距离； 下面部深度（Ba-Pog），包 括Ba-Ar、Ar-Go、Go-Pog 距离； 全面高（N-Me），包括NANS、ANS-UI、UI-LI、LIMe、ANS-Me 距离； 后面高（N-Go），包括N-S、 S-Ar、Ar-Go、S-Go 距离； 下颌支长度（AL）和下颌体 长度（MP）。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wits分析法
分别从上、下齿槽座点 AB向功能性合平面作垂线， 两垂足分别为Ao点和Bo点。 然后测量Ao点与Bo点间的 距离以反映上、下颌骨前 部的相互位置关系。
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wylie分析法
此分析法是对牙颌面形态结构深度及高度的测 量。所有的测量主要是线距的测量。面部深度 测量以蝶鞍点作为测量座标，以眼耳平面为基 准平面，由蝶鞍中心和所要测量的各标志点向 眼耳平面作垂线，测量标志点垂足与蝶鞍点垂 足之间距离，或测量标志点垂足之间的距离。
3.3X线头影侧位片的描测
行定点和描绘。
下面，我们看看 X线头影测量
常用的标志点及平面
首先，标志点：
是X光片中易于确定、 生长发育过程中相对稳定、 能代表一定解剖结构的点。
标志点分为五部分，分别是
颅部 上颌 下颌 牙及牙槽 和软组织的标志点
我们一边看示意图，
一边了解这些标志点的位置 及意义。
颅部的标志点
1.鼻根点(N):鼻额缝之最前点. 2.耳点(Po):外耳道的最上点 3.颅底点(Ba):枕骨大孔前缘之中点. 4.蝶鞍点(S):蝶鞍影像的中心. 5.Bolton点:枕骨髁突后切迹的最凹点.
X线头影测量 在正畸学中有什么作用呢？
（一）可以研究颅面生长 发育及生长预测
（二）辅助正畸学的诊断 分析和治疗方案的制定
（三）研究矫治前后颅颌面的 变化和矫治器的作用机理 （四）用于正畸-正颌联合的 术前诊断设计和术后疗效评价 （五）辅助下颌运动功能分析
常见的X线头影测量片 有哪些呢？
一般分为三种： 侧位片 正位片 颏顶位片
这就是颅部的五个标志点
鼻根点(N) ； 蝶鞍点(S)； 颅底点(Ba); Bolton点; 耳点(P)
上颌骨的标志 点有哪些呢？
1.眶点(Or):眶 下缘之最低点 。
2.前鼻棘点(ANS):前鼻棘之最 尖点;
3.后鼻棘点(PNS):硬腭后部骨 棘之最尖点 。
4.上齿槽座点(A):前鼻棘与前 鼻棘点与上齿槽缘点之间的骨 部最凹点,
3.上切牙切点（L1） : 下中切牙切缘之最前点. 4.下中切牙根尖点（LIA） 下中切牙根尖。
5. 近中颊沟点（U6）:上6近中 颊沟 6.近中颊尖点: 代表上6的近中颊尖 7.远中切点: 代表上6的远中邻面
下磨牙颊尖点（L6）: 代表近中颊尖点
下面，我们看看 X线头影测量
常用的标志点及平面
首先，标志点：
是X光片中易于确定、 生长发育过程中相对稳定、 能代表一定解剖结构的点。
标志点分为五部分，分别是
颅部 上颌 下颌 牙及牙槽 和软组织的标志点
我们一边看示意图，
一边了解这些标志点的位置 及意义。
颅部的标志点
1.鼻根点(N):鼻额缝之最前点. 2.耳点(Po):外耳道的最上点 3.颅底点(Ba):枕骨大孔前缘之中点. 4.蝶鞍点(S):蝶鞍影像的中心. 5.Bolton点:枕骨髁突后切迹的最凹点.
X线头影测量 在正畸学中有什么作用呢？
（一）可以研究颅面生长 发育及生长预测
（二）辅助正畸学的诊断 分析和治疗方案的制定
（三）研究矫治前后颅颌面的 变化和矫治器的作用机理 （四）用于正畸-正颌联合的 术前诊断设计和术后疗效评价 （五）辅助下颌运动功能分析
常见的X线头影测量片 有哪些呢？
一般分为三种： 侧位片 正位片 颏顶位片
这就是颅部的五个标志点
鼻根点(N) ； 蝶鞍点(S)； 颅底点(Ba); Bolton点; 耳点(P)
上颌骨的标志 点有哪些呢？
1.眶点(Or):眶 下缘之最低点 。
2.前鼻棘点(ANS):前鼻棘之最 尖点;
3.后鼻棘点(PNS):硬腭后部骨 棘之最尖点 。
4.上齿槽座点(A):前鼻棘与前 鼻棘点与上齿槽缘点之间的骨 部最凹点,
3.上切牙切点（L1） : 下中切牙切缘之最前点. 4.下中切牙根尖点（LIA） 下中切牙根尖。
5. 近中颊沟点（U6）:上6近中 颊沟 6.近中颊尖点: 代表上6的近中颊尖 7.远中切点: 代表上6的远中邻面
下磨牙颊尖点（L6）: 代表近中颊尖点
X线头影测量分析
3）下颌标志点
• 下齿槽缘点(Id.infradentale)：下齿槽 突之最前上点 • 下切牙点(Li.lower incisor)：下中切牙 切缘之最前点 • 颏前点(P.pogonion)：颏部之最突点 • 颏下点(Me.menton)：颏部之最下点 • 颏顶点(Gn.gnathion)：颏前点与颏下点 之中点
3、头影图的描绘
4、常用X线头影测量的 标志点及平面
（1）头影测量标志点 1）颅部标志点 2）上颌标志点 3）下颌标志点 4）常用软组织侧面标志点 （2）头影测量平面
1）颅部标志点
• 鼻根点(N.nasion)：鼻额缝的最前 点 • 蝶鞍点(S.sella)：蝶鞍影像的中心 • 耳点(P.porion)：外耳道之最上点 机械耳点，解剖耳点 • 颅底点(Ba.basion)：枕骨大孔前缘 中点 • Bolton点：枕骨髁突后切迹 • 的最凹点
上齿槽缘点(SPr.superior prosthion)：上齿槽突之最前 下点
上中切牙点(UI.upper incisor)： 上中切牙切缘之最前点
UI
3）下颌标志点
• 髁顶点(Co.condylion)：髁突的最上点 • 关节点(Ar.articulare)：颅底下缘与 下颌髁突颈后缘之交点 • 下颌角点(Go.gonion)：下颌角的后下 点：可通过下颌支平面和下颌平面交 角之分角线与下颌角之相交点来确定 • 下齿槽座点(B.supramental)：下齿槽 突缘点与颏前点间之骨部最凹点
前鼻棘(ANS.anterior nasal spine)：前鼻棘之尖
后鼻棘(PNS.posterior nasal spine)：硬腭后部骨棘之尖
翼上颌裂点(Ptm.)：翼上颌裂 轮廓之最下点 :翼上颌裂轮廓 之最下点
X线头影测量分析
X线头影测量分析D各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。
由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。
Brodi e1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。
Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。
林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。
林久祥、张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。
通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、性别间差异，以及颅面生长发育的预测。
2牙颌、颅面畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。
而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中去。
3确定错合畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案。
4研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化：X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。
如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化，都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。
5外科正畸的诊断和矫治设计：通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析，得出畸形的主要机制，以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量，同时应用X线头影图迹进行剪裁，模拟拼对手术后牙颌位置，得出术后牙颌、颅面关系的面型图，为外科正畸提供了充分的根据，从而提高了其诊断及矫治水平。
精华版X线头影测量分析方法课件
4)SND角：前颅底平面-骨性下 颌联合中点构成的角。代表下 颌整体对颅部的位置关系。
5)U1〖TXX-〗-NA(mm)：上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角：上 中切牙长轴与NA连线的交角。 代表上中切牙的倾斜度和突 度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm)：下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Delaire分析法
13)SL(mm)：蝶鞍点至颏前 点向SN平面作垂线的交点间 距离。代表下颌颏部对颅底
14)SE(mm)：蝶鞍点至髁突 最后点向SN平面作垂线的交 点间距离。代表下颌髁突对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
5)U1〖TXX-〗-NA(mm)：上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角：上 中切牙长轴与NA连线的交角。 代表上中切牙的倾斜度和突 度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm)：下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Delaire分析法
13)SL(mm)：蝶鞍点至颏前 点向SN平面作垂线的交点间 距离。代表下颌颏部对颅底
14)SE(mm)：蝶鞍点至髁突 最后点向SN平面作垂线的交 点间距离。代表下颌髁突对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
第5章X线头影测量诊断学
每次投照均严格按以上原则，方能保证不同 时间、不同个体影片测量结果的可靠性和可比性
X线头影测量片的传统 描图方法
• 在X线观片灯或专用描图桌上进行 • 工具：透明硫酸纸，刻度尺，三角
板，圆规，量角器、3H铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记,可用强光局部观察.
侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
首次使用头颅定位器及摄片技术
X线头影测量学在 正畸学中的作用
应用 • １.研究颅面生长发育及生长预测
应用
• ２.牙颌、颅面畸形的诊断分析和治疗方案设计
应用
• ３.研究矫治过程中及矫治前后牙颌、颅面 形态结构的矫治变化以及判断各种矫治器的 作用机理
应用 • 4.外科正畸的诊断、矫治设计和术后疗效评
• 按拍摄时不同头位分为 –侧位片 –正位片 –颏顶位片
X线头颅侧位片的获得
• 仪器：X线头颅定位仪 • 定位原理：
– 左右耳塞与眶针三者构成 一与地平面平行的恒定平 面；
– X线的中心点通过外耳道； – X线球管至头部矢状面的
距离不小于150cm； – 尽量减少头至胶片的距离
（10cm）。
➢ X线球管至患者正中 矢状面应不小于150cm
下颌骨的标志点
• 关节点(Ar. articulare ):颅 底下缘与下颌 髁突颈后缘之 交点 .(引伸标 志点)在Co不 易确定时代替 Co点.
下颌骨的标志点
• 下颌角点(Go. gonion ): 下颌角 的后下点.
下颌骨的标志点
• 髁突后缘点 （Pcd)。
• 颏联合中心点 (D):目测估计.
颅部的标志点
X线头影测量片的传统 描图方法
• 在X线观片灯或专用描图桌上进行 • 工具：透明硫酸纸，刻度尺，三角
板，圆规，量角器、3H铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记,可用强光局部观察.
侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
首次使用头颅定位器及摄片技术
X线头影测量学在 正畸学中的作用
应用 • １.研究颅面生长发育及生长预测
应用
• ２.牙颌、颅面畸形的诊断分析和治疗方案设计
应用
• ３.研究矫治过程中及矫治前后牙颌、颅面 形态结构的矫治变化以及判断各种矫治器的 作用机理
应用 • 4.外科正畸的诊断、矫治设计和术后疗效评
• 按拍摄时不同头位分为 –侧位片 –正位片 –颏顶位片
X线头颅侧位片的获得
• 仪器：X线头颅定位仪 • 定位原理：
– 左右耳塞与眶针三者构成 一与地平面平行的恒定平 面；
– X线的中心点通过外耳道； – X线球管至头部矢状面的
距离不小于150cm； – 尽量减少头至胶片的距离
（10cm）。
➢ X线球管至患者正中 矢状面应不小于150cm
下颌骨的标志点
• 关节点(Ar. articulare ):颅 底下缘与下颌 髁突颈后缘之 交点 .(引伸标 志点)在Co不 易确定时代替 Co点.
下颌骨的标志点
• 下颌角点(Go. gonion ): 下颌角 的后下点.
下颌骨的标志点
• 髁突后缘点 （Pcd)。
• 颏联合中心点 (D):目测估计.
颅部的标志点
X线头影测量学
2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角 (2)L1-MP角 (3)U1-NA角 (4)U1-NA距 (5)L1-NB角 (6)L1-NB距 (7)U1-L1角
3.面部高度的常用测量项目
全面高:N’-Me’ 上面高:N’-ANS’ 下面高:ANS’-Me’
P
为各点在FH平面垂线 上投影之距离（与教 材不同）
X线头影测量分析
Cephalometrics
四川大学华西口腔医学院 正畸学系 李宇
Beauty is only skin deep ?
X线头影测量分析
1 概念、应用、拍摄及描图 2 常用头影测量标志点及平面 3 常用硬组织、软组织测量项目 4 常用X线头影测量分析法
临床实例
什么是X线头影测量？
Y轴(Y axis):S与Gn的 连线，代表面部生长发 育方向
S
N
Po Gn
常用硬组织测量项目
1.上下颌骨的常用测量项目
SNA 角：反映上颌相对
N
于颅部的前后位置关系
S
SNB 角：反映下颌相对
于颅部的前后位置关系
A
ANB 角=SNA-SNB，反映
上下颌骨对颅部的相互
B
位置关系
面角（NP-FH）：面平
不同人群的FMIA目标有差异
Tweed 三角
下中切牙－FH平面（FMIA）
正常值 白人 北京 成都 65° 56° 54°
FH平面－MP平面角（FMA） 25° 31° 28°
下中切牙－MP平面（IMPA） 90° 94° 98°
下前牙再定位—计算法
绘出Tweed三角 测量FMIA=55 ° 标准值(65°)-测量值
X线头影测量分析1
二.X线头影测量的由来
三. X线头影测量的主要应用
1.研究颅面生长发育； 2.牙颌颅面畸形的诊断分析； 3.确定错合畸形的矫治设计； 4.研究矫治过程中.矫治后的牙颌颅面形 态结够的变化； 5.外科正畸的诊断和矫治设计； 6.下颌功能分析；
四.头颅定位X线照像与头影图的描绘
Tweed分析方法:
在下列情况下,不适于进行Tweed三角中下切牙唇舌 向倾斜度的校正: 1. 如果患者由于下頜后缩而表现的安氏２类１分类 错合,这时直立下切牙将会加重已存在的深复盖. 2. 某些頦唇沟较深的安氏２类２分类错合,使下切 牙内收则会加重畸形,且效果也不会稳定. 3. 对于正处在生长发育阶段的患者,要确定上下 切牙的最后位置.
S P N
Or
Y轴角（NSGn）
蝶鞍点至頦顶点 连线与前颅底平 面（S-N）所构成。
Gn
常用头影测量项目
7. 下颌平面角（FMA）：下颌 平面与眼耳平面的交角。
根据下颌平面角将垂直骨面形 分为3种 （1）正常型：均值27.2° 、 标准差4.7 ° （2）高角型：垂直向发育过 度大于32 ° ( 3) 低角型：垂直向发育 不足小于22 °
常 用 头 影 测 量 项 目
眼耳平面
16. /1-眼耳平面 角：下中切牙长轴与 眼耳平面之交角。 （FMIA）
常 用 头 影 测 量 项 目
S
N
17.前、后面高比 （S-Go/N-Me）。
Go
Me
常用头影测量项目
17.前、后面高比（S-Go/N-Me） 根据X线头影前-后面高的比例，面部的生长 型可分为三种类型： （1）正常生长型；面部生长均衡，后面高与前 面高的比值在65%左右。 （2）水平生长型；面部生长方向较为水平，后 面高与前面的比值一般大于68%。 （3）垂直生长型；面部生长方向较垂直，后面 高与前面高的比值一般小于62%。
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合平面
合平面（OP）:
解剖合平面
功能合平面
下颌平面（MP）： 颏下点与下颌角 下缘的切线 通过下颌骨下缘 最低点的切线 下颌角点与颏顶 点的连线（Go-Gn）
常用测量项目
常用的角度测量值
上齿槽座角（SNA）： 前颅底平面与鼻根点 和上齿槽座点连线所 形成的后下交角 下齿槽座角（SNB）： 前颅底平面与鼻根点 和下齿槽座点连线所 形成的后下交角 上下齿槽座角（ANB） ：SNA与SNB之差
X线头颅定位照相和头Fra bibliotek影图的描绘1.头颅定位X线照相
头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成 与地面平行的平面 自然头位法
X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
患者体位：ICP位，唇自然放松
2.头影图的描绘
由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难
上颌标志点
三.下颌标志点（7个）
髁顶点（Co）：髁 突影像最上点 下颌角点（Go）： 下颌角后下点 颏下点（Me）：颏 部之最下点
下颌标志点（7个）
颏前点（Pog）：颏 部之最前点 颏顶点（Gn）：颏下 点与颏前点之中点 下齿槽座点（B）： 颏前点与下齿槽缘 之间的凹点 下中切牙点（L1）： 下中切牙切缘之最 前点
描图工具： 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆 仪及硬质尖锐的铅笔等 注意： 当左右影像不完全重合时，应取 其平均中点来做描绘
常用标志点及测量 平面
一.颅部标志点（5个）
鼻根点（N）： 鼻额缝的最 前点
蝶鞍点（S）： 蝶鞍影像的 中心点
颅部标志点（5个）
耳点（Po）： 机械耳点---定 位仪耳塞影像的最 上点 解剖耳点---骨 性外耳道影像的最 上点 颅底点（Ba）：枕骨 大孔前缘中点 Bolton点（Bo）：枕 骨髁突后切迹之最 凹点
二.上颌标志点（6个）
眶点（Or）：眶下 缘最下点 翼上颌裂点（Ptm） ：翼上颌裂影像 的最下点 前鼻棘点（ANS）： 前鼻棘的尖端
上颌标志点（6个）
后鼻棘点（PNS） ：硬腭后部骨棘 之尖 上齿槽坐点（A） ：前鼻棘与上齿 槽缘间的最凹点 上中切牙点（U1） ：上中切牙切缘 之最前点
注意：
下颌标志点
四.常用测量平面
1.基准平面：相对稳定 前颅底平面（SN）:由蝶鞍点与鼻
根点的连线组成 眶耳平面（FH）:由耳点与眶点的 连线组成 Bolton平面:由Bolton点与鼻根点 的连线组成
常用基准平面
前颅底平面（SN） 眶耳平面（FH）
Bolton平面
2.测量平面：
腭平面（PP）:由 前鼻棘点与后鼻棘点 的连线组成 面平面（N-Pog）： 由鼻根点与颏前点的 连线组成 Y轴（S-Gn）：蝶鞍 点与颏顶点的连线组 成
条件 正畸治疗主要依靠改变下中切牙的 位置和倾斜度来完成 以下颌分析为依据
常用软组织测量标志
额点（G）：额部之最前点 软组织鼻根点（Ns）：软组织侧面上相应之鼻根点 鼻尖点（Prn）：鼻尖之最前突点 鼻下点（Sn）：鼻小柱与上唇之连接点 软组织颏前点（Pog`）：软组织颏部之最前点 H线：软组织颏前点与上唇间切线 审美平面（E线）:通过鼻尖与颏部最凸点的切线
下颌平面角（MP-FH）: 下颌平面与FH平面的交 角 Y轴角：蝶鞍中心点与 颏顶点连线与眶耳平面 之前下交角 面角（NPog-FH）： 面平面与眶耳平面相交 的后下交角
上中切牙－前颅底平面角 （U1-SN）：上中切牙长轴 与前颅底平面的前下交角 下中切牙－下颌平面角 （L1-MP）：下中切牙长轴 与下颌平面的后上交角 上下中切牙角（U1-L1） ：上下中切牙长轴的交角
常用计测点
E线（审美平面）
X线头影测量学
（Cephalometry)
四川大学华西口腔医院 正畸教研室
定 义
X线头影测量是对标准化定位 的X线片所得的软硬组织影像进 行定量的测量分析，从而了解牙 合颅面软硬组织的结构，使对牙 合颅面的检查诊断由表面形态深 入到内部的骨骼结构中去。
应
用
研究颅面生长发育 牙合颅面畸形的诊断分析 确定错合畸形的矫治设计 研究矫治过程中及矫治后的牙合颅 面形态结构变化 外科正畸预测手术及矫治效果 下颌功能分析
Tweed分析法：
测量由眶耳 平面（FH）、下 颌平面（MP）、 下中切牙长轴延 长线所组成的代 表面部形态结构 的颌面三角形
正常值
眶耳平面－下颌平面角（FMA）
成都
28°
白人
25° 65°
下中切牙－眶耳平面角（FMIA ） 下中切牙－下颌平面角（IMPA ）
54°
98°
90°
意义：
FMIA为54 °是建立良好面形的重要
常用的面部高度测量值
上前面高（N-ANS）： 以FH为参照，N点和ANS 点两点间的垂直距离 下前面高（ANS-ME）： 以FH为参照，ANS点和 ME点两点间的垂直距离 全面高（N-ME） ：从 前鼻棘至颏下点的距离
常用的头影测量分析法
Tweed测量分析法
华西医大测量分析法 Downs测量分析法 Wylie测量分析法