快速恢复二极管及其模块
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快速软恢复二极管及其模块
王培清 张斌
清华大学电力电子厂 北京 102201
摘 要 在高频应用中为了减少电路损耗和防止过电压尖峰对器件的损坏,需要快速软恢复二极管。硬开关过程中存在二极管反向恢复电流(Irm )增加了开关器件开通损耗率和过电压尖峰,并且在快速di/dt 开关时能够产生电磁干扰。本文介绍了采用特殊工艺设计的快速软恢复二极管。该二极管是为高频应用而设计的,在高频应用方面具有稳定的开关特性。本文还介绍了用该二极管制造的200A 绝缘型和非绝缘型快速软恢复二极管模块及其应用。
关键词 快速 软恢复二极管 模块
1.快速软恢复二极管介绍
大功率快速软恢复二极管主要应用在高频电力电子电路中,它与主回路中的晶闸管或IGBT 等新型电力半导体开关器件相并联,开关器件反向时,流过负载中的无功电流,减小电容的充电时间,同时抑制因负载电流瞬时反向而感应的过电压尖峰。为了提高开关器件及电力电子线路的可靠性和稳定性,必须使用快速软恢复二极管。
快速软恢复二极管可以减少高频电路的损耗。在硬开关过程中存在的主要问题是:二极管反向恢复电流(Irm )增加了开关器件开通损耗率,并且在快速di/dt 开关时能够产生电磁干扰。如果反向恢复电流很快回到零点,就会产生尖峰电压和电磁干扰。降低开关速度或使用缓冲电路可以降低尖峰电压。增加缓冲电路会增加电路成本并且使电路设计变复杂。这都是我们所不希望的。
本文介绍了快速软恢复二极管及其模块。该模块电压范围从400V 到1200V ,额定电流从60A ~400A 不等。设计上该模块采用外延二极管芯片,该芯片采用平面结终止结构,玻璃钝化(图1[1])并有硅橡胶保护。恢复特性如图2[2]所示。
快速软恢复二极管的基区和阳极之间采用缓冲层结构,使得在空间电荷区扩展后的剩余基区内驻留更多的残存电荷,并且驻留时间更长,提高了二极管的软度。快恢复二极管的软度由图2定义,
软度因子 a
b t t
S =
图
1
图2
反向峰值电压由下式确定:
⎟⎠⎞⎜⎝
⎛
+×=S V V R RM 11
V R 为加在二极管上的反向电压。
二极管道软度因子越大,在关断过程中产生的反向峰值电压越低,使开关器件及整个电路处于较安全的状态。一般国内生产的快速二极管其反向恢复时间较长,大约在1~6μs,软度因子约为0.3,国内有多家整流器制造公司也在研究快速软恢复二极管,电流较大,但软度因子在0.4~0.6之间[3]。
传统的快速整流二极管使用掺金或铂的外延片以控制载流子寿命,但这些二极管表现出了以下的技术缺点:
1.正向电压降V f随着温度的升高而降低;
2.高温下漏电流大;
3.高温下快速di/dt时开关不稳定。
有一种二极管称为SONIC二极管[1],其反向恢复时间比较长,约0.2~0.4μs,软度因子在0.7左右。在制造中除了采用平面结终止结构,玻璃钝化并有硅橡胶保护外,还采用了从硅片背面进行深扩散磷和控制轴向寿命抑制因素,使快速二极管的反向恢复电流衰减较慢,具有反向“软恢复”特性,防止在高频应用时在硬关断过程中产生过高的反向尖峰电压,保护了开关器件及其二极管自身。该二极管在整个工作温度范围内性能稳定,并且对于温度的变化正向电压降的变化可以忽略不计。该二极管是为高频应用设计的,在高频应用时稳定可靠。
新的快速软恢复二极管-SONIC二极管系列克服了这些缺点,它们的优点为:
1.并联二极管工作时正向电压降Vf与温度无关;
2.阻断电压稳定,漏电流比掺金和铂的小;
3.快速软恢复二极管在高温下反向漏电流从25℃到125℃比掺铂FRED少50%。
SONIC二极管采用磷深扩散和轴向寿命抑制因素,电压从600V至1800V,如图3所示。在硼中受控的轴向寿命抑制因素用来控制区域1中空穴的发射效率。区域2所示的软N区为软恢复提供了额外电荷。空穴的较低的发射效率使得器件的正向电压降对温度不太敏感,这有利于二极管并联工作,并且在高温时开关损耗最小。利用电子辐照作为附加的标准寿命抑制因素,二极管的软度可以得到进一步控制[1]。
图3 SONIC软恢复二极管的寿命控制
该二极管恢复波形异常的平滑没有振荡,所以电磁干扰EMI值非常低。这种软恢复二极管不仅导致开关损失减少,而且允许去除二极管的并联RC缓冲器。采用轴向寿命抑制因素可以得到最佳性能的二极管。
电力电子学中的功率开关器件(IGBT、MOSFET、BJT、GTO)总是和快速二极管相并联,在增加开关频率时,除传导损耗以外,功率开关的固有的功能和效率均由二极管的反向恢复特性决定(由图2的Qrr, I RM 和Irr特性表示)。所以对二极管要求正向瞬态压降小,反向恢复时间断,反向恢复电荷少,并且具有软恢复特性。
反向峰值电流I RM是另一个非常重要的特性。反向电流衰变的斜率di rr/dt由芯片的工艺技术和扩散参数决定。在电路中,这个电流斜率与寄生电感有关,例如连接引线,引起过电压尖峰和高频干扰电压。di rr/dt 越高(“硬恢复”特性),二极管和并联的开关上产生的附加电压越高。反向电流的缓慢衰减(“软恢复”特性)是令人满意的特性。所有的FRED二极管都采用了“软恢复”特性,SONIC二极管的恢复特性更“软”,它们的阻断电压范围宽,使这些快速软恢复二极管能够作为开关电源(SMPS)的输出整流器,以及逆变器和焊接电源中的功率开关的保护二极管和续流二极管。2.快速软恢复二极管的一种方法
2.1采用缓冲层结构的软恢复二极管[4]
采用缓冲层结构显著改善了二极管的反向恢复特性。为了缩短二极管的反向恢复时间,提高反向恢复软度,同时使二极管具有较高的耐压,采用了缓冲层结构,即利用杂质控制技术由轻掺杂的N1区及较重掺杂的N2区组成N基区;二极管的阳极采用由轻掺杂的P区与重掺杂的P+区镶嵌组成,该P-P+结构可以控制空穴的注入效应,从而达到控制自调节发射效率和缩短反向恢复时间的目的。
图4 采用缓冲层结构二极管示意图
2.2 芯片设计
2.2.1 原始硅片
根据二极管电压要求,同常规低导通压降二极管设计参数相同。
2.2.2扩散参数设计
阴极