集成电路测试基础
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第三章 逻辑与故障模拟 ......................................................................................11
3.1 用于模拟的模型电路 .......................................................................................................... 11 3.2 真值模拟算法...................................................................................................................... 11
1.3 故障模型................................................................................................................................ 4 1.3.1 “不正确”的表达方式 ............................................................................................. 4
4.2 布尔差分法.......................................................................................................................... 17 -I-
4.2.1 布尔差分法的基本原理 ............................................................................................. 17 4.2.2 单条路径敏化 ............................................................................................................. 19 4.3 D 算法 .................................................................................................................................. 20 4.3.1 ATPG 代数 .................................................................................................................... 20 4.3.2 立方............................................................................................................................. 21 4.3.3 D 前沿，J 前沿和测试立方 ................................................................................. 22 4.3.4 D 算法求组合电路中单固定故障的一个测试码 ................................................ 22 4.4 PODEM 算法 ........................................................................................................................ 23 4.4.1 PODEM 算法原理......................................................................................................... 23 4.4.2 PODEM 算法的特点..................................................................................................... 24 4.5 FAN 算法 .............................................................................................................................. 25
1.2 集成电路测试中的基本概念 ................................................................................................ 3 1.2.1 可测性设计................................................................................................................... 3 1.2.2 良率............................................................................................................................... 3 1.2.3 缺陷级别....................................................................................................................... 4
第二章 故障建模 ...................................................................................................7
2.1 故障形式................................................................................................................................ 7 2.2 故障建模................................................................................................................................ 7
集成电路测试基础 课程讲义
--Байду номын сангаас
集成电路测试基础课程讲义
目录
第一章 测试基础 ...................................................................................................1
1.1 集成电路测试概述 ................................................................................................................ 1 1.1.1 测试的基本原理和概念 ............................................................................................... 1 1.1.2 可测性设计的经济学 ................................................................................................... 1 1.1.3 集成电路测试分类 ....................................................................................................... 2
2.2.1 故障建模的基本概念 ................................................................................................. 7 2.2.2 常见故障模型 ............................................................................................................. 8
第四章 测试向量的生成 ......................................................................................14
4.1 测试向量生成概述 .............................................................................................................. 14 4.1.1 结构测试与功能测试 ................................................................................................. 14 4.1.2 自动测试向量生成器（ATPG） ................................................................................. 15 4.1.3 搜索空间的抽象 ......................................................................................................... 15 4.1.4 算法完备性................................................................................................................. 16
3.2.1 编码模拟................................................................................................................... 11 3.2.2 事件驱动模拟 ........................................................................................................... 11 3.3 故障模拟.............................................................................................................................. 12 3.3.1 串行故障模拟 ........................................................................................................... 12 3.3.2 并行故障模拟 ........................................................................................................... 12 3.3.3 演绎故障模拟 ........................................................................................................... 12 3.3.4 故障模拟的统计学算法 ........................................................................................... 13
3.1 用于模拟的模型电路 .......................................................................................................... 11 3.2 真值模拟算法...................................................................................................................... 11
1.3 故障模型................................................................................................................................ 4 1.3.1 “不正确”的表达方式 ............................................................................................. 4
4.2 布尔差分法.......................................................................................................................... 17 -I-
4.2.1 布尔差分法的基本原理 ............................................................................................. 17 4.2.2 单条路径敏化 ............................................................................................................. 19 4.3 D 算法 .................................................................................................................................. 20 4.3.1 ATPG 代数 .................................................................................................................... 20 4.3.2 立方............................................................................................................................. 21 4.3.3 D 前沿，J 前沿和测试立方 ................................................................................. 22 4.3.4 D 算法求组合电路中单固定故障的一个测试码 ................................................ 22 4.4 PODEM 算法 ........................................................................................................................ 23 4.4.1 PODEM 算法原理......................................................................................................... 23 4.4.2 PODEM 算法的特点..................................................................................................... 24 4.5 FAN 算法 .............................................................................................................................. 25
1.2 集成电路测试中的基本概念 ................................................................................................ 3 1.2.1 可测性设计................................................................................................................... 3 1.2.2 良率............................................................................................................................... 3 1.2.3 缺陷级别....................................................................................................................... 4
第二章 故障建模 ...................................................................................................7
2.1 故障形式................................................................................................................................ 7 2.2 故障建模................................................................................................................................ 7
集成电路测试基础 课程讲义
--Байду номын сангаас
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目录
第一章 测试基础 ...................................................................................................1
1.1 集成电路测试概述 ................................................................................................................ 1 1.1.1 测试的基本原理和概念 ............................................................................................... 1 1.1.2 可测性设计的经济学 ................................................................................................... 1 1.1.3 集成电路测试分类 ....................................................................................................... 2
2.2.1 故障建模的基本概念 ................................................................................................. 7 2.2.2 常见故障模型 ............................................................................................................. 8
第四章 测试向量的生成 ......................................................................................14
4.1 测试向量生成概述 .............................................................................................................. 14 4.1.1 结构测试与功能测试 ................................................................................................. 14 4.1.2 自动测试向量生成器（ATPG） ................................................................................. 15 4.1.3 搜索空间的抽象 ......................................................................................................... 15 4.1.4 算法完备性................................................................................................................. 16
3.2.1 编码模拟................................................................................................................... 11 3.2.2 事件驱动模拟 ........................................................................................................... 11 3.3 故障模拟.............................................................................................................................. 12 3.3.1 串行故障模拟 ........................................................................................................... 12 3.3.2 并行故障模拟 ........................................................................................................... 12 3.3.3 演绎故障模拟 ........................................................................................................... 12 3.3.4 故障模拟的统计学算法 ........................................................................................... 13