晶体缺陷及运动
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晶体中缺陷和运动
晶体缺陷(crystal defect)
1定义:
实际晶体中原子规则排列遭到破坏而偏离理想结构的区域。在理想完整晶体中,原子按一定的次序严格地处在空间有规则的、周期性的格点上。但在实际的晶体中,由于晶体形成条件、原子的热运动及其它条件的影响,原子的排列不可能那样完整和规则,往往存在偏离了理想晶体结构的区域。这些与完整周期性点阵结构的偏离就是晶体中的缺陷,它破坏了晶体的对称性。
2类型
晶体结构中质点排列的某种不规则性或不完善性。又称晶格缺陷。表现为晶体结构中局部范围内,质点的排布偏离周期性重复的空间格子规律而出现错乱的现象。根据错乱排列的展布范围,分为以下4种主要类型。
2.1点缺陷——点缺陷与材料的电学性质、光学性质、材料的高温动力学过程等有关
点缺陷只涉及到大约一个原子大小范围的晶格缺陷。它包括:晶格位置上缺失正常应有的质点而造成的空位;由于额外的质点充填晶格空隙而产生的填隙;由杂质成分的质点替代了晶格中固有成分质点的位置而引起的替位等(图1)。在类质同象混晶中替位是一种普遍存在的晶格缺陷。
2.1.1点缺陷定义
由于晶体中出现填隙原子和杂质原子等等,它们引起晶格周期性的破坏发生在一个或几个晶格常数的限度范围内,这类缺陷统称为点缺陷。这些空位和填隙原子是由热起伏原因所产生的,因此又称为热陷。
2.1.2空位、填隙原子和杂质
■空位:晶体内部的空格点就是空位。由于晶体中原子热运动,某些原子振动剧烈而脱离格点跑到表面上,在内部留下了空格点,即空位。
■填隙原子:由于晶体中原子的热运动,某些原子振动剧烈而脱离格点进入晶格中的间隙位置,形成了填隙原子。即位于理想晶体中间隙中的原子。
■杂质原子:杂质原子是理想晶体中出现的异类原子。
2.1.3几种点缺陷的类型
■弗仑克尔缺陷:原子(或离子)在格点平衡位置附近振动,由于非线性的影响,
使得当粒子能量大到某一程度时,原子就会脱离格点,而到达邻近的原子空隙中,当它失去多余动能后,就会被束缚在那里,这样产生一个暂时的空位和一个暂时的填隙原子,当又经过一段时间后,填隙原子会与空位相遇,并同空位复合;也有可能跳到较远的间隙中去。若晶体中的空位与填隙原子的数目相等,这样的热缺陷称为弗仑克尔缺
■肖特基缺陷:空位和填隙原子可以成对地产生(弗仑克尔缺陷),也可以在晶体内单独产生。若脱离格点的原子变成填隙原子,经过扩散跑到晶体表面占据正常格点位置,则在晶体内只留下空位,而没有填隙原子,仅由这种空位构成的缺陷称之为肖特基缺陷. 形成填隙原子时,原子挤入间隙位置所需的能量比产生肖特基缺陷空位所需的能量大,一般地,
当温度不太高时,肖特基缺陷的数目要比弗仑克尔缺陷的数目大得多。
■杂质原子:实际晶体中存在某些微量杂质。一方面是晶体生长过程中引入的;另一方面是有目的地向晶体中掺入的一些微量杂质。当晶体存在杂质原子时,晶体的内能会增加,由于少量的杂质可以分布在数量很大的格点或间隙位置上,使晶体组态熵的变化也很大。因此温度T下,杂质原子的存在也可能使自由能降低。(F=U-TS)
当杂质原子取代基质原子占据规则的格点位置时,形成替位式杂质,如图a;若杂质原子占
据间隙位置,形成间隙式杂质,如图
b
对一定晶体,杂质原子是形成替位式杂质还是间隙式杂质,主要取决于杂质原子与基质原子几何尺寸的的相对大小及其电负性。杂质原子比基质原子小得多时,形成间隙式杂质;替位式杂质在晶体中的溶解度也决定于原子的几何尺寸和化学因素。
■色心:色心是一种非化学计量比引起的空位缺陷。该空位能够吸收可见光使原来透明的晶体出现颜色,因而称它们为色心, 最简单的色心是F心。
所谓F心是离子晶体中的一个负离子空位束缚一个电子构成的点缺陷。与F心相对的色心是V心。V心和F心在结构上是碱卤晶体中两种最简单的缺陷。
2,2线缺陷——线缺陷的产生及运动与材料的韧性、脆性密切
相关。
2.2.1.线缺陷的定义:
当晶格周期性的破坏发生在晶体内部一条线的周围则称为线缺陷,通常又称之为位错。它是由于应力超过弹性限度而使晶体发生范性形变所产生的,从晶体内部看,它就是晶体的一部分相对于另一部分发生滑移,以致在滑移区的分界线上出现线状缺陷。
2.2.2位错的基本类型:
常见的位错有两种形式:刃位错和螺位错。
■刃位错:亦称棱位错。其特点是:原子的滑移方向与位错线的方向相垂直。
■螺位错:特点:是原子的滑移方向与位错线平行,且晶体内没有多余的半个晶面。垂直于位错线的各个晶面可以看成由一个晶面以螺旋阶梯的形式构成。当晶体中存在螺位错时,原来的一族平行晶面就变成为以位错线为轴的螺旋面。
螺位错
■位错线的特征:
1.滑移区与未滑移区的分界线;
2.位错线附近原子排列失去周期性;
3.位错线附近原子受应力作用强,能量高,位错不是热运动的结果;
4.位错线的几何形状可能很复杂,可能在体内形成闭合线,可能在晶体表面露头,不可能在体内中断。
刃型位错的特点是位错线垂直于滑移矢量b;
螺型位错的特点是位错线平行于滑移矢量b。
b又称为伯格斯(Burgers)矢量,它的模等于滑移方向上的平衡原子间距,它的方向代表滑移方向。
■除此之外,还存在位错线于滑移矢量既不平行又不垂直的混合型位错。混合位错的原子排列介于刃型位错和螺型位错之间,可以分解为刃型位错和螺型位错。
2.3面缺陷——面缺陷的取向及分布与材料的断裂韧性有关
2.3.1面缺陷的定义:
当晶格周期性的破坏发生在晶体内部一个面的周围则称为面缺陷。
2.3.2常见的面缺陷的类型:
■层错:是由于晶面堆积顺序发生错乱而引入的面缺陷,又称堆垛层错。堆垛层错是指沿晶格内某一平面,质点发生错误堆垛的现象。如一系列平行的原子面,原来按ABCABCABC……的顺序成周期性重复地逐层堆垛,如果在某一层上违反了原来的顺序,如表现为ABCABCAB│ABCABC……,则在划线处就出现一个堆垛层错,该处的平面称为层错面。堆垛层错也可看成晶格沿层错面发生了相对滑移的结果。
■小角晶界:具有完整结构的晶体两部分彼此之间的取向有着小角度θ的倾斜,在角θ里的部分是由少数几个多余的半晶面所组成的过渡区,这个区域称小角晶界。小角晶界是晶粒内两部分晶格间不严格平行,以微小角度的偏差相互拼接而形成的界面。它可以看成是由一系列位错平行排列而导致的结果。
2.3.4体缺陷:
在体缺陷中比较重要的是包裹体。包裹体是晶体生长过程中界面所捕获的夹杂物。它可能是晶体原料中某一过量组分形成的固体颗粒,也可能是晶体生产过程中坩埚材料带入的杂质微粒。体缺陷主要是沉淀相、晶粒内的气孔和第二相夹杂物等。
3按缺陷产生的原因分类:
热缺陷、杂质缺陷、非化学计量缺陷、其它原因(如电荷缺陷,辐照缺陷等)。
3.1热缺陷
定义:热缺陷亦称为本征缺陷,是指由热起伏的原因所产生的空位或间隙质点(原子或离子)。
类型:弗仑克尔缺陷(Frenkel defect)和肖脱基缺陷(Schottky defect)
热缺陷浓度与温度的关系:温度升高时,热缺陷浓度增加
3.2杂质缺陷
定义:亦称为组成缺陷,是由外加杂质的引入所产生的缺陷。