SPC统计制程控制程序

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统计制程控制程序
分析控制图上的点是否随机分布(方法同 5.1.8 )
5.2.12计算过程能力指数
Cp=(USL-LSL)/ 6c R/d2 Cpk=min{(USL-X)/ 3c R/d2, (X-LSL ) / 3c R/d2} 其中(T'R/d2= R/d 2，式中d 2根据子组
容量查表得出
若有上述非随机分布现象，贝
①去除非随机点，重新计算控制界限，再次分析控制图;
②如需采取纠正措施，改进过程，则应在纠正措施实施有效后重新收集数据，制作控制 图并重新进行分析。

529计算初始过程能力指数：(试生产阶段进行或过程改变) P p = (USL-LSL ) /6(T S
式中：USL 规范的公差上限
LSL :规范的公差下限
C S :总体样本标准差
在过程有偏移的情况下
Ppk=min{(USL-X)/3 T S S , (X-LSL)/3 T S S }
(T s=
n
刀 Xi- X)2
/( n -1 )
1=1
Ppk > 1.67 :满足要求，可以进入批量生产阶段。

Ppk v 1.67 :初始能力需改进
①减少特殊原因引起的变差，将过程均值调整到接近目标值。

②减少特殊原因引起的变差，减少单个过程特性值的变差。

③改变规范使之与过程能力一致。

5.2.11生产现场品检人员制作控制用控制图:
5.2.11.1 将初始过程满足质量要求所到的控制中心线与上、下控制限画在控制图上。

5.2.11.2 按初始过程能力研究确定的子组大小收集样本，记录过程事件。

5.2.11.3 计算每组样本的均制和极差，并在控制图上描点。

5.2.11.4
统计制程控制程序。